所屬的技術(shù)人員知道，本申請(qǐng)可以實(shí)現(xiàn)為系統(tǒng)、方法或計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。因此，本公開(kāi)可以具體實(shí)現(xiàn)為以下形式，即：可以是完全的硬件、也可以是完全的軟件(包括固件、駐留軟件、微代碼等)，還可以是硬件和軟件結(jié)合的形式，本文一般稱(chēng)為“模塊”或“系統(tǒng)”。此外，在一些實(shí)施例中，本申請(qǐng)還可以實(shí)現(xiàn)為在一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的形式，該計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中包含計(jì)算機(jī)可讀的程序代碼。計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)例如可以是但不限于——電、磁、光、電磁、紅外線、或半導(dǎo)體的系統(tǒng)、裝置或器件，或者任意以上的組合。在本說(shuō)明書(shū)的描述中，參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本申請(qǐng)的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說(shuō)明書(shū)中，對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不必須針對(duì)的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外，在不相互矛盾的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說(shuō)明書(shū)中描述的不同實(shí)施例或示例以及不同實(shí)施例或示例的特征進(jìn)行結(jié)合和組合。盡管上面已經(jīng)示出和描述了本申請(qǐng)的實(shí)施例，可以理解的是，上述實(shí)施例是示例性的，不能理解為對(duì)本申請(qǐng)的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本申請(qǐng)的范圍內(nèi)可以對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。

背景技術(shù)：

1、晶硅電池的提效降本是太陽(yáng)電池技術(shù)發(fā)展的關(guān)鍵，其轉(zhuǎn)化效率受到電池本身和太陽(yáng)光兩大因素的影響。表面鈍化以及減小表面反射損失一直是太陽(yáng)電池的研究主題，因此對(duì)太陽(yáng)電池的生產(chǎn)工藝和質(zhì)量都提出了更高的要求。這些需求使得太陽(yáng)企業(yè)迫切需要先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備對(duì)太陽(yáng)電池進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，以提高檢測(cè)準(zhǔn)確性和檢測(cè)效率。因此，亟需一種能夠?qū)μ?yáng)電池進(jìn)行高效且準(zhǔn)確的自動(dòng)檢測(cè)的方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述問(wèn)題，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法及相關(guān)設(shè)備。

2、第一方面，為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法，包括：

3、獲取待測(cè)太陽(yáng)電池的表面薄膜的測(cè)點(diǎn)位置，并基于待測(cè)太陽(yáng)電池確定檢測(cè)光源；

4、利用檢測(cè)光源對(duì)位于測(cè)點(diǎn)位置的測(cè)點(diǎn)薄膜進(jìn)行照射，得到測(cè)點(diǎn)薄膜的反射率；

5、基于表面薄膜、檢測(cè)光源和反射率，得到測(cè)點(diǎn)薄膜的膜厚；

6、基于反射率和膜厚得到待測(cè)太陽(yáng)電池的檢測(cè)結(jié)果。

7、第二方面，本申請(qǐng)還提供了一種太陽(yáng)電池檢測(cè)裝置，應(yīng)用一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法；裝置包括檢測(cè)光源、光譜探測(cè)模塊和探頭；檢測(cè)光源和光譜探測(cè)模塊均通過(guò)光纖與探頭連接；

8、在對(duì)待測(cè)太陽(yáng)電池的表面薄膜進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，控制檢測(cè)光源發(fā)出的光通過(guò)探頭對(duì)位于表面薄膜的測(cè)點(diǎn)位置的測(cè)點(diǎn)薄膜進(jìn)行照射，并利用光譜探測(cè)模塊得到測(cè)點(diǎn)薄膜的反射率，以基于表面薄膜、檢測(cè)光源和反射率，得到測(cè)點(diǎn)薄膜的膜厚。

9、第三方面，本申請(qǐng)還提供了一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)系統(tǒng)，包括：

10、獲取模塊，用于獲取待測(cè)太陽(yáng)電池的表面薄膜的測(cè)點(diǎn)位置，并基于待測(cè)太陽(yáng)電池確定檢測(cè)光源；

11、照射模塊，用于利用檢測(cè)光源對(duì)位于測(cè)點(diǎn)位置的測(cè)點(diǎn)薄膜進(jìn)行照射，得到測(cè)點(diǎn)薄膜的反射率；

12、第一得到模塊，用于基于表面薄膜、檢測(cè)光源和反射率，得到測(cè)點(diǎn)薄膜的膜厚；

13、第二得到模塊，用于基于反射率和膜厚得到待測(cè)太陽(yáng)電池的檢測(cè)結(jié)果。

14、第四方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并在處理器上運(yùn)行的程序，處理器執(zhí)行程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述的一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法的步驟。

15、第五方面，本申請(qǐng)還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令，當(dāng)指令在終端設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，使得終端設(shè)備執(zhí)行一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法的步驟。

16、本申請(qǐng)的有益效果是：由于待測(cè)太陽(yáng)電池的表面薄膜的測(cè)點(diǎn)位置為均勻設(shè)置的多個(gè)位置，檢測(cè)時(shí)利用待測(cè)太陽(yáng)電池確定出的檢測(cè)光源對(duì)位于各個(gè)測(cè)點(diǎn)位置的測(cè)點(diǎn)薄膜一一進(jìn)行照射檢測(cè)，得到各個(gè)測(cè)點(diǎn)薄膜的反射率，并基于表面薄膜、檢測(cè)光源和反射率，得到各個(gè)測(cè)點(diǎn)薄膜的膜厚。然后在確定待測(cè)太陽(yáng)電池的檢測(cè)結(jié)果時(shí)考慮了待測(cè)太陽(yáng)電池各個(gè)測(cè)點(diǎn)薄膜的膜厚和反射率，即考慮了待測(cè)太陽(yáng)電池相對(duì)比較全面的整體薄膜情況，提高了待測(cè)太陽(yáng)電池的檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。同時(shí)，本申請(qǐng)自動(dòng)化的檢測(cè)方式也實(shí)現(xiàn)了待測(cè)太陽(yáng)電池的高效檢測(cè)。

技術(shù)特征：

1.一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待測(cè)太陽(yáng)電池確定檢測(cè)光源，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述制造參數(shù)包括預(yù)設(shè)鍍膜厚度、膜料類(lèi)型和膜厚制造誤差；

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述檢測(cè)光源對(duì)位于所述測(cè)點(diǎn)位置的測(cè)點(diǎn)薄膜進(jìn)行照射，得到所述測(cè)點(diǎn)薄膜的反射率，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述基于所述表面薄膜、所述檢測(cè)光源和所述反射率，得到所述測(cè)點(diǎn)薄膜的膜厚，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述表面薄膜得到對(duì)應(yīng)的折射率和消光系數(shù)，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述反射率包括多個(gè)率值，所述膜厚包括多個(gè)厚度值；所述基于所述反射率和所述膜厚得到所述待測(cè)太陽(yáng)電池的檢測(cè)結(jié)果，包括：

8.一種太陽(yáng)電池檢測(cè)裝置，其特征在于，應(yīng)用如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法；所述裝置包括檢測(cè)光源、光譜探測(cè)模塊和探頭；所述檢測(cè)光源和所述光譜探測(cè)模塊均通過(guò)光纖與所述探頭連接；

9.一種計(jì)算設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并在所述處理器上運(yùn)行的程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令，當(dāng)所述指令在終端設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，使得所述終端設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種用于太陽(yáng)電池的檢測(cè)方法及相關(guān)設(shè)備，方法包括：獲取待測(cè)太陽(yáng)電池的表面薄膜的測(cè)點(diǎn)位置，并基于待測(cè)太陽(yáng)電池確定檢測(cè)光源；利用檢測(cè)光源對(duì)位于測(cè)點(diǎn)位置的測(cè)點(diǎn)薄膜進(jìn)行照射，得到測(cè)點(diǎn)薄膜的反射率；基于表面薄膜、檢測(cè)光源和反射率，得到測(cè)點(diǎn)薄膜的膜厚；基于反射率和膜厚得到待測(cè)太陽(yáng)電池的檢測(cè)結(jié)果。使用本申請(qǐng)的方法能夠?qū)μ?yáng)電池進(jìn)行高效且準(zhǔn)確的自動(dòng)檢測(cè)。

技術(shù)研發(fā)人員：趙戴玥,袁程,何文澤,趙孟鋼
受保護(hù)的技術(shù)使用者：無(wú)錫研譜智能科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9