本發(fā)明涉及電子儀器儀表，尤其涉及斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀及其工作方法。

背景技術(shù)：

1、斷路器是指能夠關(guān)合、承載和開斷正?；芈窏l件下的電流并能在規(guī)定的時間內(nèi)關(guān)合、承載和開斷異常回路條件下的電流的開關(guān)裝置。

2、斷路器分合閘線圈主要由線圈、鐵芯、銜鐵構(gòu)成，當(dāng)線圈通電時，產(chǎn)生電磁力吸附銜鐵，通過物理模型簡化，可以將線圈看成一個rl串聯(lián)電路。當(dāng)斷路器分合閘線圈出現(xiàn)老化、損壞以及斷路器卡澀時，跳合閘線圈的動作電流特征也會隨之發(fā)生變化。老化后的線圈波形與正常狀態(tài)下的波形雖然特征很像，但整體幅值有所下降；斷路器機(jī)構(gòu)卡澀時則波形平緩，缺少了峰頂和峰谷特征。

3、在變電站斷路器傳動和遙控試驗中，斷路器由于機(jī)構(gòu)卡澀、線圈老化、人為操作不當(dāng)?shù)仍?，發(fā)生斷路器據(jù)動，此時斷路器跳合閘線圈長時間得電導(dǎo)通，很容易燒毀線圈；同時，很多運行年限較久的變電站，斷路器跳合閘線圈都有不同程度的老化和損傷，而運檢人員很難通過外表和常規(guī)試驗來判斷線圈是否老化損傷，若老化或者有損傷的線圈得不到及時更換，為電網(wǎng)安全穩(wěn)定運行埋下了巨大隱患。

4、為了防止斷路器傳動試驗時燒毀跳合閘線圈，同時分析斷路器跳合閘線圈是否老化損壞，研制了一種斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，設(shè)計一種新的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，這個斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀結(jié)構(gòu)完善，解決了斷路器發(fā)生據(jù)動，斷路器跳合閘線圈長時間得電導(dǎo)通，線圈很容易損毀的問題，同時解決了斷路器老化或是損傷，但運檢人員未及時發(fā)現(xiàn)，為電網(wǎng)安全穩(wěn)定運行埋下巨大隱患的問題。

2、本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的方案為：

3、一種斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，包含外殼，其特征在于，所述外殼內(nèi)部設(shè)置有霍爾傳感器、處理模塊、保護(hù)模塊和顯示屏；

4、所述霍爾傳感器用于采集電路器分合閘回路電流，

5、所述處理模塊用于將采集的電流進(jìn)行轉(zhuǎn)換并對對轉(zhuǎn)換后的電流進(jìn)行處理，

6、所述保護(hù)模塊用來控制電路器控制回路斷線，保護(hù)跳合閘線圈不被燒毀，

7、所述顯示屏將斷路器分合閘回路的電流以波形的方式輸出，

8、所述霍爾傳感器的輸入端連接斷路器分合閘回路，所述霍爾傳感器的輸出端連接處理模塊，所述處理模塊連接所述保護(hù)模塊，所述保護(hù)模塊連接斷路器分合閘回路，所述處理模塊連接所述顯示屏。

9、作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式，所述霍爾傳感器設(shè)置有第一輸入端和第二輸入端，所述第一輸入端接入斷路器合閘回路，所述第二輸入端接入斷路器分閘回路。

10、作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式，所述處理模塊包含ad模數(shù)轉(zhuǎn)換器和stm32單片機(jī)，所述ad模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端連接所述霍爾傳感器的輸出端，所述ad模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸出端連接所述stm32單片機(jī)的輸入端；

11、所述ad轉(zhuǎn)換器將采集的電流進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，

12、所述stm32單片機(jī)對轉(zhuǎn)換后的電流進(jìn)行處理。

13、作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式，所述保護(hù)模塊包含共陰極二極管、延時保護(hù)繼電器和光耦繼電器，所述共陰極二極管的陽極分別與斷路器合閘回路、斷路器分閘回路并接，所述共陰極二極管的陰極與延時保護(hù)繼電器串接，所述延時保護(hù)繼電器與斷路器控制回路負(fù)電串接，所述光耦繼電器串接入斷路器控制回路；

14、作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式，所述延時保護(hù)繼電器設(shè)置有常閉節(jié)點sj、sj，所述光耦繼電器設(shè)置有常閉節(jié)點go和go；

15、所述延時繼電器的常閉節(jié)點sj串接入斷路器合閘回路，所述延時繼電器的常閉節(jié)點sj串接入斷路器分閘回路，所述光耦繼電器的常閉節(jié)點go串接入斷路器合閘回路，所述光耦繼電器的常閉節(jié)點go串接入斷路器分閘回路。

16、作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式，所述stm32單片機(jī)連接有放大電路，所述放大電路連接所述光耦繼電器。

17、作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式，所述stm32單片機(jī)輔助接口連接有移動存儲器。

18、作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式，一種斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀的工作方法，包括以下步驟：

19、s1.霍爾傳感器采集電流，并通過ad數(shù)模轉(zhuǎn)換將電流的數(shù)字量傳送給stm32單片機(jī)；

20、s2.若電流正常且未超時，則斷路器控制回路正常，斷路器正常動作，若電流長時間存在，則延時保護(hù)繼電器達(dá)到時間定值而動作，常閉節(jié)點斷開，斷路器控制回路斷線；

21、s3.stm32單片機(jī)通過判斷電流的大小輸出高電平或者低電平，當(dāng)電流過大時，stm32單片機(jī)輸出高電平，通過放大電路控制光耦繼電器動作，常閉節(jié)點斷開，控制回路斷線；

22、流記錄處理，發(fā)送給顯示屏顯示波形，并通過移動存儲器存儲實驗數(shù)據(jù)，還可以通過串口連接電腦進(jìn)行人機(jī)交互。

23、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下有益效果：

24、1.在斷路器分合閘回路中并接共陰極二極管，在共陰極二極管陰極與控制回路負(fù)電之間接入延時繼電器，同時將延時繼電器常閉節(jié)點串接至斷路器分合閘回路，需要斷路器傳動但一定時間內(nèi)斷路器據(jù)動，則延時繼電器常閉節(jié)點斷開，斷路器控制回路斷線，從而達(dá)到延時保護(hù)斷路器跳合閘線圈的效果。

25、2.將光耦繼電器的常閉節(jié)點分別串接至斷路器分合閘回路，stm32單片機(jī)輸出一路高/低電平來控制光耦繼電器，當(dāng)stm32單片機(jī)輸入的電流較大時，輸出高電平，觸發(fā)光耦繼電器，光耦繼電器常閉節(jié)點斷開，斷路器控制回路斷線，從而達(dá)到?jīng)_擊電流過大保護(hù)斷路器跳合閘線圈的效果。

26、3.stm32單片機(jī)連接有顯示屏，stm32單片機(jī)可以將將采集的電流處理后以圖像的形式輸出到顯示屏上，可以直觀的與線圈得電時正常的電流波形對比，幫助運檢人員分析線圈是否存在老化或者損傷的想象。

27、4.stm32單片機(jī)連接有移動存儲器，stm32單片機(jī)可以將采集的電流處理以后可以通過移動存儲器進(jìn)行存儲，保存多次試驗結(jié)果，有利于對比分析，提高運檢人員對線圈特性的判斷。

技術(shù)特征：

1.一種斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，包含外殼，其特征在于，所述外殼內(nèi)部設(shè)置有霍爾傳感器(1)、處理模塊(2)、保護(hù)模塊(3)和顯示屏(4)；

2.如權(quán)利要求1所述的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，其特征在于，所述霍爾傳感器(1)設(shè)置有第一輸入端和第二輸入端，所述第一輸入端接入斷路器合閘回路，所述第二輸入端接入斷路器分閘回路。

3.如權(quán)利要求1所述的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，其特征在于，所述處理模塊(2)包含ad模數(shù)轉(zhuǎn)換器(20)和stm32單片機(jī)(21)，所述ad模數(shù)轉(zhuǎn)換器(20)的輸入端連接所述霍爾傳感器(1)的輸出端，所述ad模數(shù)轉(zhuǎn)換器(20)輸出端連接所述stm32單片機(jī)(21)的輸入端；

4.如權(quán)利要求1所述的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，其特征在于，所述保護(hù)模塊(3)包含共陰極二極管(30)、延時保護(hù)繼電器(31)和光耦繼電器，所述共陰極二極管(30)的陽極分別與斷路器合閘回路、斷路器分閘回路并接，所述共陰極二極管(30)的陰極與延時保護(hù)繼電器(31)串接，所述延時保護(hù)繼電器(31)與斷路器控制回路負(fù)電串接，所述光耦繼電器串接入斷路器控制回路。

5.如權(quán)利要求4所述的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，其特征在于，所述延時保護(hù)繼電器(31)設(shè)置有常閉節(jié)點sj1、sj2，所述光耦繼電器設(shè)置有常閉節(jié)點go1和go2；

6.如權(quán)利要求3所述的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，其特征在于，所述stm32單片機(jī)(21)連接有放大電路(5)，所述放大電路(5)連接所述光耦繼電器。

7.如權(quán)利要求3所述的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，其特征在于，所述stm32單片機(jī)(21)輔助接口連接有移動存儲器(6)。

8.一種斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀的工作方法，其特征在于，采用如權(quán)利要求1-7中任一所述的斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀，包括以下步驟：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了斷路器傳動試驗保護(hù)分析儀及其工作方法，涉及電子儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域，包含外殼，外殼內(nèi)部設(shè)置有霍爾傳感器、處理模塊、保護(hù)模塊和顯示屏，霍爾傳感器的輸入端連接斷路器分合閘回路，霍爾傳感器的輸出端連接處理模塊，處理模塊連接保護(hù)模塊，保護(hù)模塊連接斷路器分合閘回路，處理模塊連接顯示屏。本發(fā)明主要應(yīng)用于高壓斷路器傳動試驗，對斷路器跳合閘線圈進(jìn)行保護(hù)和分析，便于斷路器跳合閘線圈的檢修、維護(hù)和更換。

技術(shù)研發(fā)人員：阿布都卡哈爾·阿布力米提,莊紅山,阿布都艾尼·阿布都克力木,艾尼瓦爾·吐爾遜,朱應(yīng)欽,范多經(jīng),竇峰川,迪力夏提·艾買爾,程天山,胡創(chuàng)宏,張思遠(yuǎn),李文彬,劉俊磊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：國網(wǎng)新疆電力有限公司喀什供電公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6