本發(fā)明屬于機(jī)械制造檢測，具體是一種測量合格孔徑深度的方法及其工具。

背景技術(shù)：

1、在機(jī)械加工領(lǐng)域，對于一些高精度孔需要對其孔徑及孔深進(jìn)行準(zhǔn)確測量，普通的塞規(guī)只能測量孔直徑是否符合精度要求，但一些較深的孔無法判斷孔精度要求是否符合相應(yīng)的深度。目前，也有能夠?qū)崿F(xiàn)高精度測量孔徑及孔深的裝置，但成本高，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，操作難度大。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種測量合格孔徑深度的方法及其工具，目的是測量孔徑深度是否合格，同時(shí)降低成本和操作難度。

2、為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：一種測量合格孔徑深度的方法，包括以下步驟：

3、s1、根據(jù)被測孔直徑φd的公差帶選擇相應(yīng)的通端量頭；

4、s2、將通端量頭安裝在測量尺底端，并將測量尺伸入孔中，直至無法繼續(xù)伸入；

5、s3、讀取測量尺上與測量座的零刻度線對齊的刻度值h1;

6、s4、將通端量頭改為止端量頭，重復(fù)步驟s1和s3，讀取此時(shí)測量尺上刻度值h2；

7、s5、比較h1與被測孔深度h，若h1=h且h2=0，則被測孔深度h合格且被測孔直徑公差合格。

8、所述被測孔直徑的上偏差為φdes，被測孔直徑的下偏差為φdei，磨損極限預(yù)留量為dm，通端量頭外徑為φt，φt=φdei+dm，止端量頭外徑為φz，φz=φdes-?dm。

9、所述磨損極限預(yù)留量dm的范圍為0.001mm～0.003mm。

10、上述方法所使用的一種測量孔徑深度的工具，包括測量尺、測量座和量頭，所述量頭包括通端量頭和止端量頭，量頭為圓柱狀并與測量尺連接，測量座滑動(dòng)套設(shè)在測量尺上，所述測量座底部開設(shè)凹槽，所述量頭的高度與凹槽的深度保持一致，量頭上端面到測量尺的零刻度線距離與凹槽的底端面到測量座的零刻度線距離保持一致。通端量頭通端量頭外徑為φt，φt=φdei+dm，止端量頭外徑為φz，φz=φdes-?dm，φdes為被測孔直徑的上偏差，φdei為磨損極限預(yù)留量，磨損極限預(yù)留量dm的范圍為0.001mm～0.003mm。

11、本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明通過選用不同精度的量頭可測量不同精度零件孔徑及孔深，通過判斷不合格孔徑及孔深范圍，可以準(zhǔn)確反饋零件加工質(zhì)量狀態(tài)，降低生產(chǎn)成本；與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，操作簡單，可在生產(chǎn)現(xiàn)場使用，適用性強(qiáng)。

技術(shù)特征：

1.一種測量合格孔徑深度的方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測量合格孔徑深度的方法，其特征在于，所述被測孔直徑的上偏差為φdes，被測孔直徑的下偏差為φdei，磨損極限預(yù)留量為dm，通端量頭（3）外徑為φt，φt=φdei+dm，止端量頭（4）外徑為φz，φz=φdes-?dm。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種測量合格孔徑深度的方法，其特征在于，所述磨損極限預(yù)留量dm的范圍為0.001mm～0.003mm。

4.一種測量孔徑深度的工具，包括測量尺（1）、測量座（2）和量頭，其特征在于，所述量頭包括通端量頭（3）和止端量頭（4），量頭為圓柱狀并與測量尺（1）連接，測量座（2）滑動(dòng)套設(shè)在測量尺（1）上，所述測量座（2）底部開設(shè)凹槽，所述量頭的高度與凹槽的深度保持一致，量頭上端面到測量尺（1）的零刻度線距離與凹槽的底端面到測量座（2）的零刻度線距離保持一致。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種測量孔徑深度的工具，其特征在于，所述通端量頭通端量頭（3）外徑為φt，φt=φdei+dm，止端量頭（4）外徑為φz，φz=φdes-?dm，φdes為被測孔直徑的上偏差，φdei為磨損極限預(yù)留量，磨損極限預(yù)留量dm的范圍為0.001mm～0.003mm。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種測量合格孔徑深度的方法及其工具，所采用的一種測量合格孔徑深度的方法，包括以下步驟：S1、根據(jù)被測孔直徑ΦD的公差帶選擇相應(yīng)的通端量頭；S2、將通端量頭安裝在測量尺底端，并將測量尺伸入孔中，直至無法繼續(xù)伸入；S3、讀取測量尺上與測量座的零刻度線對齊的刻度值H1;S4、將通端量頭改為止端量頭，重復(fù)步驟S1和S3，讀取此時(shí)測量尺上刻度值H2；S5、比較H1與被測孔深度H，若H1=H且H2=0，則被測孔深度H合格且被測孔直徑公差合格。使用上述方法可選用不同精度的量頭測量不同精度零件孔徑及孔深，且與該方法相對應(yīng)的工具結(jié)構(gòu)簡單、操作容易以及適用性好。

技術(shù)研發(fā)人員：李中杰,師文博,黃玉同,李立桃,龍湘華,文中波
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國航發(fā)貴州紅林航空動(dòng)力控制科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9