本技術(shù)涉及電子設(shè)備，特別涉及一種光發(fā)射模組、深度相機(jī)、電子設(shè)備及異常檢測方法。

背景技術(shù)：

1、隨著科技的進(jìn)步，電子設(shè)備通過內(nèi)置的深度相機(jī)采集現(xiàn)實目標(biāo)場景的3d(threedimensional，三維)信息，比如采集用戶的3d人臉圖像，進(jìn)行3d人臉識別，從而實現(xiàn)人臉解鎖、人臉支付等功能。深度相機(jī)可以包括光發(fā)射模組和光接收模組，在進(jìn)行3d人臉識別時，光發(fā)射模組發(fā)射的光信號的光斑需要覆蓋人臉，如果勻光器件破損或脫落，光發(fā)射模組發(fā)射的光信號將直射人眼，造成眼部疲勞、損傷等不良影響。因此，有必要對光發(fā)射模組的勻光器件進(jìn)行異常檢測。

2、目前，主要采用光電探測器(photoelectric?detector，簡稱pd)接收經(jīng)由勻光器件反射的激光信號，將接收的反射光信號轉(zhuǎn)換為檢測光電流，進(jìn)而將檢測光電流與勻光器件處于完好狀態(tài)下的參考光電流進(jìn)行比較，如果檢測光電流小于參考光電流，則可以確定勻光器件破損或脫落。

3、然而，光發(fā)射模組外部一般設(shè)置有玻璃蓋板，玻璃蓋板也會反射光信號，如果勻光器件破損或脫落，雖然經(jīng)由勻光器件反射的激光信號會減弱，但是經(jīng)由玻璃蓋板反射的激光信號或透傳的環(huán)境光信號會增強(qiáng)，使得光電探測器將接收到的光信號轉(zhuǎn)換得到的檢測光電流相比于參考光電流不會明顯減小，因此，無法檢測出勻光器件破損或脫落等異常情況。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實施例提供了一種光發(fā)射模組、深度相機(jī)、電子設(shè)備及異常檢測方法，能夠準(zhǔn)確檢測出勻光器件破損或脫落等異常情況。所述技術(shù)方案如下：

2、第一方面，提供了一種光發(fā)射模組，所述光發(fā)射模組包括：支托結(jié)構(gòu)、基板、光發(fā)射器、第一光電探測器及勻光器件；

3、所述支托結(jié)構(gòu)包括包圍框和安裝平面，所述包圍框沿著所述基板的上表面的邊緣將所述基板的上表面包圍，所述安裝平面為與所述基板的上表面平行的平面，所述安裝平面包括從所述包圍框四個側(cè)壁延伸出來的支撐部件、透光窗口及從所述支撐部件任一側(cè)延伸出來的遮擋部件，所述支撐部件上安裝有所述勻光器件；

4、所述基板的上表面安裝有所述光發(fā)射器，所述光發(fā)射器位于所述透光窗口的正下方，且所述光發(fā)射器的出光面朝向所述勻光器件，所述光發(fā)射器發(fā)射的激光信號通過所述透光窗口透傳給所述勻光器件，使得所述勻光器件對穿透的激光信號進(jìn)行勻光處理；

5、所述基板的上表面還安裝有所述第一光電探測器，所述第一光電探測器位于所述遮擋部件的正下方，且與所述光發(fā)射器的發(fā)光中心之間的距離在第一距離范圍內(nèi)，所述第一距離范圍為所述第一光電探測器能夠接收到所述勻光器件反射的激光信號的距離范圍，當(dāng)外部光信號沿著光傳播路徑向所述第一光電探測器傳播時，所述外部光信號被所述遮擋部件反射而無法傳播至所述第一光電探測器，使得所述第一光電探測器根據(jù)所述勻光器件反射的激光信號對所述勻光器件的異常情況進(jìn)行檢測。

6、在第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，所述第一距離范圍中的最小距離為第一距離，所述第一距離根據(jù)所述透光窗口的尺寸確定。

7、在第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述第一距離范圍中的最大距離為第二距離，所述第二距離根據(jù)所述透光窗口的尺寸、所述光發(fā)射器的光束發(fā)散角、所述光發(fā)射器與所述勻光器件之間的距離、所述遮擋部件的厚度、所述第一光電探測器與所述遮擋部件之間的距離確定。

8、在第一方面的第三種可能的實現(xiàn)方式中，所述光發(fā)射模組還包括第二光電探測器，所述第二光電探測器安裝在所述基板的上表面，且不在所述遮擋部件的正下方，所述第二光電探測器用于檢測所述光發(fā)射模組的遮擋狀態(tài)。

9、在第一方面的第四種可能的實現(xiàn)方式中，所述光發(fā)射模組還包括控制芯片，所述控制芯片與所述第一光電探測器、所述第二光電探測器及所述光發(fā)射器電性連接，所述控制芯片用于根據(jù)所述第一光電探測器的檢測結(jié)果或第二光電探測器的檢測結(jié)果，控制所述光發(fā)射器發(fā)射的激光信號。

10、在第一方面的第五種可能的實現(xiàn)方式中，所述基板為陶瓷基板。

11、在第一方面的第六種可能的實現(xiàn)方式中，所述光發(fā)射器內(nèi)的激光源為面光源。

12、第二方面，提供了一種異常檢測方法，所述方法應(yīng)用于第一方面所述的光發(fā)射模組，所述方法包括：

13、所述光發(fā)射器發(fā)射第一激光信號；

14、所述第一光電探測器接收第一反射光信號，并將所述第一反射光信號轉(zhuǎn)換為第一檢測光電流，所述第一反射光信號為所述勻光器件對所述第一激光信號進(jìn)行反射得到的光信號；

15、當(dāng)所述第一檢測光電流小于第一參考光電流，且與所述第一參考光電流之間的差值超過第一閾值，所述第一光電探測器確定所述勻光器件異常，所述第一參考光電流為所述勻光器件處于完好狀態(tài)時所述第一光電探測器轉(zhuǎn)換得到的光電流。

16、在第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，所述第一光電探測器確定所述勻光器件異常之后，還包括：

17、所述第一光電探測器向所述控制芯片發(fā)送第一通知消息；

18、當(dāng)接收到所述第一通知消息，所述控制芯片向所述光發(fā)射器發(fā)送第一控制指令，所述第一控制指令用于控制所述光發(fā)射器停止發(fā)射所述第一激光信號。

19、在第二方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述方法還包括：

20、當(dāng)所述第一檢測光電流與所述第一參考光電流之間的差值不超過所述第一閾值，所述第一光電探測器向所述控制芯片發(fā)送第二通知消息；

21、當(dāng)接收到所述第二通知消息，所述控制芯片向所述光發(fā)射器發(fā)送第二控制指令，所述第二控制指令用于控制所述光發(fā)射器發(fā)射第二激光信號，所述第二激光信號的功率大于所述第一激光信號的功率。

22、在第二方面的第三種可能的實現(xiàn)方式中，所述控制芯片向所述光發(fā)射器發(fā)送第二控制指令之后，還包括：

23、在所述光發(fā)射器發(fā)射第二激光信號的過程中，所述第二光電探測器接收第二反射光信號，并將所述第二反射光信號轉(zhuǎn)換為第二檢測光電流；

24、當(dāng)所述第二檢測光電流大于第二參考光電流，且與所述第二參考光電流之間的差值超過第二閾值，所述第二光電探測器確定所述光發(fā)射模組處于遮擋狀態(tài)，所述第二參考光電流為所述光發(fā)射模組未處于遮擋狀態(tài)時所述第二光電探測器轉(zhuǎn)換得到的光電流。

25、在第二方面的第四種可能的實現(xiàn)方式中，所述第二光電探測器確定所述光發(fā)射模組處于遮擋狀態(tài)之后，還包括：

26、所述第二光電探測器向所述控制芯片發(fā)送第三通知消息；

27、當(dāng)接收到所述第三通知消息，所述控制芯片向所述光發(fā)射器發(fā)送第三控制指令，所述第三控制指令用于控制所述光發(fā)射器停止發(fā)射所述第二激光信號

28、第三方面，提供了一種深度相機(jī)，所述深度相機(jī)包括光發(fā)射模組和光接收模組，所述光發(fā)射模組與所述光接收模組電性連接；

29、所述光發(fā)射模組如第一方面所述的光發(fā)射模組，用于產(chǎn)生并發(fā)射勻光信號；

30、所述光接收模組用于接收所述勻光信號被物體反射得到的反射光信號。

31、第四方面，提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括殼體、顯示屏及深度相機(jī)，所述深度相機(jī)設(shè)置于所述殼體與所述顯示屏之間，所述深度相機(jī)如第三方面所述的深度相機(jī)。

32、在第四方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，所述顯示屏包括玻璃蓋板，所述深度相機(jī)中所述光發(fā)射模組的出光面朝向所述玻璃蓋板。

33、在第四方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述殼體包括玻璃蓋板，所述深度相機(jī)中所述光發(fā)射模組的出光面朝向所述玻璃蓋板。

34、本技術(shù)實施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是：

35、本技術(shù)實施例提供了一種新的光發(fā)射模組，該光發(fā)射模組的支托結(jié)構(gòu)包括包圍框和安裝平面，該包圍框用于將安裝有光發(fā)射器和第一光電探測器的基板包圍，與基板形成空腔結(jié)構(gòu)，從而起到保護(hù)光發(fā)射器和第一光電探測器的作用。該安裝平面不僅包括支撐部件和透光窗口，而且還包括遮擋部件，第一光電探測器位于該遮擋部件的正下方，被遮擋部件完全遮擋。當(dāng)外部光信號沿著光的傳播路徑向第一光電探測器傳播時，由于遮擋部件的遮擋，無法傳播至第一光電探測器，而被遮擋部件反射。這樣，第一光電探測器就不會收到外部光信號，只是接收勻光器件反射的激光信號，當(dāng)勻光器件破損或脫落時，勻光器件反射的激光信號將變?nèi)酰谝还怆娞綔y器接收到的反射光信號變?nèi)跎踔料?，相?yīng)地轉(zhuǎn)換的檢測光電流將明顯減小，從而可根據(jù)檢測光電流的變化，準(zhǔn)確檢測出勻光器件的異常。

36、另外，本技術(shù)實施例提供的光發(fā)射模組還包括第二光電探測器，該第二光電探測器安裝在基板的上表面，且未位于遮擋部件的正下方，該第二光電探測器可以檢測光發(fā)射模組的遮擋情況。當(dāng)光發(fā)射模組被遮擋，通過勻光器件處理后的勻光信號無法傳播出去，將被反射到光發(fā)射模組內(nèi)，第一光電探測器由于遮擋部件的遮擋不會接收到該光信號，第二光電探測器未位于遮擋部件的正下方，可以接收到該光信號。由于接收到的光信號增強(qiáng)，相應(yīng)地轉(zhuǎn)換的檢測光電流增大，從而可以檢測出光發(fā)射模組存在遮擋。