本申請(qǐng)涉及發(fā)光裝置檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及發(fā)光裝置檢測(cè)方法、系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、消費(fèi)者對(duì)mini?led(mini?light?emitting?diode，次毫米發(fā)光二極管)/microled(micro?light?emitting?diode，微型發(fā)光二極管)直接顯示技術(shù)的良率要求較高，甚至到99.9999％～100％，在高分辨、高對(duì)比度下，少量的亮點(diǎn)與暗點(diǎn)均會(huì)顯著影響顯示效果，故需要對(duì)亮點(diǎn)或是暗點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)和修復(fù)。但在檢測(cè)的過程中，往往存在多項(xiàng)檢測(cè)的項(xiàng)目，檢測(cè)的效率低。

2、因此，如何提高micro?led背板等發(fā)光裝置檢測(cè)的效率是亟需解決的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、鑒于上述相關(guān)技術(shù)的不足，本申請(qǐng)的目的在于提供一種發(fā)光裝置檢測(cè)方法、系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，旨在解決發(fā)光裝置檢測(cè)效率低問題。

2、一種發(fā)光裝置檢測(cè)方法，包括：

3、獲取發(fā)光裝置的光學(xué)檢測(cè)結(jié)果；

4、根據(jù)所述光學(xué)檢測(cè)結(jié)果確定出所述發(fā)光裝置中的光學(xué)異常區(qū)域的位置坐標(biāo)；以及

5、根據(jù)所述光學(xué)異常區(qū)域的位置坐標(biāo)，控制一目標(biāo)檢測(cè)相機(jī)與所述光學(xué)異常區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述光學(xué)異常區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)得到外觀檢測(cè)結(jié)果。

6、上述發(fā)光裝置檢測(cè)方法通過對(duì)發(fā)光裝置的光學(xué)情況和外觀情況兩方面進(jìn)行檢測(cè)。先獲取發(fā)光裝置的光學(xué)檢測(cè)結(jié)果，以將光學(xué)檢測(cè)結(jié)果提供給后續(xù)的步驟作為參考，后續(xù)的步驟可以基于先執(zhí)行的步驟的成果而得到更高效率、簡(jiǎn)便的執(zhí)行過程，從而在一些實(shí)施過程中提高了檢測(cè)的效率。

7、可選地，所述光學(xué)檢測(cè)結(jié)果包括所述被測(cè)區(qū)域的亮度值，所述光學(xué)異常區(qū)域包括暗點(diǎn)區(qū)域；所述控制一目標(biāo)檢測(cè)相機(jī)與所述光學(xué)異常區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述光學(xué)異常區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)得到外觀檢測(cè)結(jié)果，包括：

8、控制一缺芯檢測(cè)相機(jī)與所述暗點(diǎn)區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述暗點(diǎn)區(qū)域進(jìn)行缺芯檢測(cè)得到缺芯檢測(cè)結(jié)果。

9、上述發(fā)光裝置檢測(cè)方法不僅能夠檢測(cè)暗點(diǎn)區(qū)域，還對(duì)暗點(diǎn)區(qū)域是否缺失芯片作出判斷，將檢測(cè)的結(jié)果進(jìn)一步細(xì)化，這使得在后續(xù)的修復(fù)過程中，可以根據(jù)更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行修復(fù)。在一些實(shí)施過程中，通過先找到暗點(diǎn)區(qū)域，再進(jìn)行缺芯檢測(cè)能夠提高檢測(cè)的效率，且對(duì)發(fā)光裝置進(jìn)行缺芯檢測(cè)有助于激光修復(fù)設(shè)備精準(zhǔn)確定所要激光修復(fù)的區(qū)域，避免對(duì)沒有設(shè)置發(fā)光芯片的被測(cè)區(qū)域進(jìn)行激光掃描，降低激光修復(fù)對(duì)發(fā)光裝置的損傷。

10、可選地，所述控制一缺芯檢測(cè)相機(jī)與所述暗點(diǎn)區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述暗點(diǎn)區(qū)域進(jìn)行缺芯檢測(cè)得到缺芯檢測(cè)結(jié)果，包括：

11、通過所述缺芯檢測(cè)相機(jī)獲取所述暗點(diǎn)區(qū)域的檢測(cè)圖像；

12、通過預(yù)先訓(xùn)練的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)所述檢測(cè)圖像進(jìn)行分析以輸出缺芯檢測(cè)結(jié)果；所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型被配置為：將所述暗點(diǎn)區(qū)域不存在發(fā)光芯片的情況判定為缺失發(fā)光芯片，所述暗點(diǎn)區(qū)域存在完整或殘缺的所述發(fā)光芯片的情況判定為不缺失發(fā)光芯片。

13、缺失發(fā)光芯片處的電極和殘缺的發(fā)光芯片形貌差異較大、形態(tài)種類多，通過預(yù)先訓(xùn)練的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，能夠取得較好的判斷效果。且神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型被配置為將存在殘缺的發(fā)光芯片的情況判定為不缺失發(fā)光芯片，有助于激光修復(fù)設(shè)備精準(zhǔn)確定所要激光修復(fù)的區(qū)域。

14、可選地，所述發(fā)光裝置檢測(cè)方法還包括：

15、形成異常定位圖像，所述異常定位圖像中標(biāo)示出至少一種異常區(qū)域的位置且關(guān)聯(lián)有所述異常區(qū)域的位置坐標(biāo)；

16、獲取基于異常定位圖像發(fā)出的定位指令，確定出所述定位指令所指向的目標(biāo)異常區(qū)域的所述位置坐標(biāo)；

17、根據(jù)所述目標(biāo)異常區(qū)域的所述位置坐標(biāo)，控制一目標(biāo)檢測(cè)設(shè)備與所述目標(biāo)異常區(qū)域?qū)?zhǔn)以進(jìn)行復(fù)判檢測(cè)。

18、通過形成異常定位圖，獲取基于異常定位圖像發(fā)出的定位指令找到目標(biāo)異常區(qū)域進(jìn)行復(fù)判檢測(cè)，復(fù)判檢測(cè)的過程方便且直觀，方便技術(shù)人員操作。

19、基于同樣的發(fā)明構(gòu)思，本申請(qǐng)還提供一種發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)，包括：

20、光學(xué)檢測(cè)單元，被配置為獲取發(fā)光裝置的光學(xué)檢測(cè)結(jié)果；

21、坐標(biāo)獲取單元，被配置為根據(jù)所述光學(xué)檢測(cè)結(jié)果確定出所述發(fā)光裝置中的光學(xué)異常區(qū)域的位置坐標(biāo)；

22、外觀檢測(cè)單元，被配置為根據(jù)所述光學(xué)異常區(qū)域的位置坐標(biāo)，控制一目標(biāo)檢測(cè)相機(jī)與所述光學(xué)異常區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述光學(xué)異常區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)得到外觀檢測(cè)結(jié)果。

23、上述發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)通過光學(xué)檢測(cè)單元獲取發(fā)光裝置的光學(xué)檢測(cè)結(jié)果，以將光學(xué)檢測(cè)結(jié)果作為外觀檢測(cè)的參考，外觀檢測(cè)的步驟基于先執(zhí)行的光學(xué)檢測(cè)的成果而得到更高效率、簡(jiǎn)便的執(zhí)行過程，從而在一些實(shí)施過程中提高了檢測(cè)的效率。

24、可選地，所述光學(xué)檢測(cè)單元包括亮度檢測(cè)單元，所述亮度檢測(cè)單元被配置為對(duì)所述發(fā)光裝置的亮度進(jìn)行檢測(cè)以得到亮度檢測(cè)結(jié)果；

25、所述坐標(biāo)獲取單元被配置為根據(jù)所述亮度檢測(cè)結(jié)果確定出所述發(fā)光裝置中的暗點(diǎn)區(qū)域的位置坐標(biāo)；

26、所述外觀檢測(cè)單元包括缺芯檢測(cè)單元，所述缺芯檢測(cè)單元被配置為控制一缺芯檢測(cè)相機(jī)與所述暗點(diǎn)區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述暗點(diǎn)區(qū)域進(jìn)行缺芯檢測(cè)得到缺芯檢測(cè)結(jié)果。

27、上述發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)不僅能夠檢測(cè)暗點(diǎn)區(qū)域，還能夠?qū)Π迭c(diǎn)區(qū)域是否缺失芯片作出判斷，將檢測(cè)的結(jié)果進(jìn)一步細(xì)化，這使得在后續(xù)的修復(fù)過程中，可以根據(jù)更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行修復(fù)。

28、可選地，所述發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)還包括以下至少一個(gè)單元：

29、缺芯全掃描單元，被配置為獲取所述發(fā)光裝置的所有被測(cè)區(qū)域的外觀檢測(cè)圖像，并根據(jù)所述外觀檢測(cè)圖像確定出缺失芯片的所述被測(cè)區(qū)域；

30、復(fù)判檢測(cè)單元，所述復(fù)判檢測(cè)單元被配置為根據(jù)目標(biāo)異常區(qū)域的坐標(biāo)，控制一目標(biāo)檢測(cè)設(shè)備與所述目標(biāo)異常區(qū)域?qū)?zhǔn)以進(jìn)行復(fù)判檢測(cè)；所述坐標(biāo)獲取單元還被配置為獲取基于異常定位圖像發(fā)出的定位指令，確定出所述定位指令所指向的所述目標(biāo)異常區(qū)域的坐標(biāo)，所述異常定位圖像中標(biāo)示出至少一種異常區(qū)域的位置且關(guān)聯(lián)有所述異常區(qū)域的位置坐標(biāo)；

31、搬運(yùn)單元，被配置為按照預(yù)定順序，將待測(cè)的所述發(fā)光裝置在所述發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)的其他單元之間傳送。

32、上述發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)還可包括其他檢測(cè)單元或搬運(yùn)單元的組合，在一些實(shí)施過程中能夠滿足更多的檢測(cè)要求，提供更多種的檢測(cè)結(jié)果，保證檢測(cè)的全面和準(zhǔn)確。

33、基于同樣的發(fā)明構(gòu)思，本申請(qǐng)還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有一個(gè)或多個(gè)程序，所述一個(gè)或多個(gè)程序可被一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)如上所述的發(fā)光裝置檢測(cè)方法的步驟。

34、上述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)的程序被執(zhí)行可實(shí)現(xiàn)上述發(fā)光裝置檢測(cè)方法的步驟，先獲取發(fā)光裝置的光學(xué)檢測(cè)結(jié)果，以將光學(xué)檢測(cè)結(jié)果提供給后續(xù)的步驟作為參考，后續(xù)的步驟可以基于先執(zhí)行的步驟的成果而得到更高效率、簡(jiǎn)便的執(zhí)行過程，從而在一些實(shí)施過程中提高了檢測(cè)的效率。

技術(shù)特征：

1.一種發(fā)光裝置檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置檢測(cè)方法，其特征在于，所述獲取發(fā)光裝置的光學(xué)檢測(cè)結(jié)果，包括：

3.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置檢測(cè)方法，其特征在于，所述光學(xué)檢測(cè)結(jié)果包括被測(cè)區(qū)域的亮度值，所述光學(xué)異常區(qū)域包括暗點(diǎn)區(qū)域；所述控制一目標(biāo)檢測(cè)相機(jī)與所述光學(xué)異常區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述光學(xué)異常區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)得到外觀檢測(cè)結(jié)果，包括：

4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光裝置檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述光學(xué)檢測(cè)結(jié)果確定出所述發(fā)光裝置中的光學(xué)異常區(qū)域的位置坐標(biāo)，包括：

5.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光裝置檢測(cè)方法，其特征在于，所述控制一缺芯檢測(cè)相機(jī)與所述暗點(diǎn)區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述暗點(diǎn)區(qū)域進(jìn)行缺芯檢測(cè)得到缺芯檢測(cè)結(jié)果，包括：

6.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置檢測(cè)方法，其特征在于，所述發(fā)光裝置檢測(cè)方法還包括：

7.一種發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括：

8.如權(quán)利要求7所述的發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述光學(xué)檢測(cè)單元包括亮度檢測(cè)單元，所述亮度檢測(cè)單元被配置為對(duì)所述發(fā)光裝置的亮度進(jìn)行檢測(cè)以得到亮度檢測(cè)結(jié)果；

9.如權(quán)利要求7所述的發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)光裝置檢測(cè)系統(tǒng)還包括以下至少一個(gè)單元：

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有一個(gè)或多個(gè)程序，所述一個(gè)或多個(gè)程序可被一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的發(fā)光裝置檢測(cè)方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種發(fā)光裝置檢測(cè)方法、系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。發(fā)光裝置檢測(cè)方法包括：獲取發(fā)光裝置的光學(xué)檢測(cè)結(jié)果；根據(jù)所述光學(xué)檢測(cè)結(jié)果確定出所述發(fā)光裝置中的光學(xué)異常區(qū)域的位置坐標(biāo)；以及根據(jù)所述光學(xué)異常區(qū)域的位置坐標(biāo)，控制一目標(biāo)檢測(cè)相機(jī)與所述光學(xué)異常區(qū)域?qū)?zhǔn)以對(duì)所述光學(xué)異常區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)得到外觀檢測(cè)結(jié)果，在一些實(shí)施過程中提高了檢測(cè)的效率。

技術(shù)研發(fā)人員：蔣光平,林浩翔,蕭俊龍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：重慶康佳光電科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6