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一種多通道電路測試裝置的制作方法

文檔序號:11757446閱讀:301來源:國知局
一種多通道電路測試裝置的制作方法

本實用新型涉及電路測試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種多通道電路測試裝置。



背景技術(shù):

目前,進(jìn)行多通道電路的耐壓測試或?qū)y試時,需要人工將測試儀的兩個測試端分別與待測通道兩端的電極接通進(jìn)行測試,在測量完一個通道后再將兩個測試端分別移到另一個待測通道兩端的電極上以完成另一通道的測試。例如,包含多個觸點的腦深部電極由于其觸點較多,相同截面積的電極導(dǎo)線密度大,生產(chǎn)工藝復(fù)雜,最終的成品要通過耐壓測試進(jìn)行嚴(yán)格篩選。當(dāng)前主要使用的耐壓測試方法是通過耐壓儀的兩個輸出電極接口直接夾在被測電極觸點上進(jìn)行測試,每測試完一組電極,就需要人工干預(yù)重新布線和重啟耐壓儀,操作流程復(fù)雜。另一方面,由于電極觸點較多,人工布線很容易出現(xiàn)重復(fù)測試或者漏測的情況,對于產(chǎn)品篩選存在隱患。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

因此,本實用新型要解決的技術(shù)問題在于待測通道數(shù)量較多時,采用人工逐個連接測試電路不僅操作繁瑣而且容易導(dǎo)致漏測的情況出現(xiàn),測試結(jié)果的可靠性低。

為此,本實用新型實施例提供了如下技術(shù)方案:

一種多通道電路測試裝置,包括主測試電路,還包括被測通道切換電路,被測通道切換電路包括主處理器和至少兩個由主處理器控制通斷的可控開關(guān),可控開關(guān)分別串聯(lián)在主測試電路與各待測通道電極組成的電路回路中。

可選地,可控開關(guān)為固態(tài)繼電器,固態(tài)繼電器的兩個輸入端分別與主處理器連接,其中一路輸出的兩端分別與主測試電路供壓電路的一端、待測通道的其中一個電極連接,另一路輸出的兩端分別與主測試電路供壓電路的另一端、待測通道的另一個電極連接。

可選地,主測試電路包括用于采集被測通道兩端電壓的電壓采集電路,電壓采集電路的輸出端與主處理器連接。

可選地,還包括用于顯示測試參數(shù)和測試狀態(tài)的顯示電路,顯示電路包括顯示器件和連接器,顯示器件通過連接器與主處理器連接。

可選地,還包括至少一路按鍵電路,按鍵電路分別與主處理器連接,用于控制測試流程的啟動和停止、設(shè)定測試的起始通道和結(jié)束通道以及選擇不同的測試參數(shù)。

可選地,按鍵電路包括按鍵元件、第一電容和第一電阻,第一電容與第一電阻并聯(lián)后一端與按鍵元件的一端連接、另一端接地,按鍵元件的另一端接供電電源。

可選地,還包括電源管理電路和儲能模塊,電源管理電路包括充放電管理電路和電壓轉(zhuǎn)換電路,充放電管理電路用于控制儲能模塊的充放電過程,電壓轉(zhuǎn)換電路用于將儲能模塊的輸出電壓轉(zhuǎn)換為待供電電路所需的電壓。

可選地,充放電管理電路包括充電管理芯片,充電管理芯片的狀態(tài)指示輸出端與主處理器連接。

可選地,還包括用于檢測儲能模塊電壓的電壓檢測電路,電壓檢測電路與主處理器連接。

可選地,電壓轉(zhuǎn)換電路包括電壓轉(zhuǎn)換芯片,電壓轉(zhuǎn)換芯片的電能輸入端與儲能模塊連接、電能輸出端與待供電電路連接。

本實用新型技術(shù)方案,具有如下優(yōu)點:

本實用新型實施例提供的測試裝置,其主處理器可以通過控制不同可控開關(guān)的通斷使得主測試電路與不同的待測通道接通,從而可以實現(xiàn)多個待測通道的自動測試過程。與人工進(jìn)行待測通道的切換方法相比,操作流程簡單,降低了測試人員的工作量、提高了測試效率,另外也避免了在電極觸點較多時人工布線很容易出現(xiàn)的重復(fù)測試或者漏測情況,大大增加了測試的準(zhǔn)確性和可靠性。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型具體實施方式或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對具體實施方式或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本實用新型的一些實施方式,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型實施例中的主處理器及其周邊電路圖;

圖2為本實用新型實施例中的電壓采集電路圖;

圖3為本實用新型實施例中的固態(tài)繼電器引腳連接圖;

圖4為本實用新型實施例中的顯示電路圖;

圖5為本實用新型實施例中的按鍵電路圖;

圖6為本實用新型實施例中的充放電管理電路圖;

圖7為本實用新型實施例中的電壓轉(zhuǎn)換電路圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合附圖對本實用新型的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本實用新型一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本實用新型保護的范圍。

此外,下面所描述的本實用新型不同實施方式中所涉及的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互結(jié)合。

實施例

如圖1-2所示,本施例提供了一種多通道電路測試裝置,包括主測試電路,其用于提供測試所用的電壓、檢測并輸出被測通道兩端的電壓,該主測試電路具體可以是耐壓儀,該裝置還包括被測通道切換電路,該被測通道切換電路包括主處理器和至少兩個由主處理器控制通斷的可控開關(guān),可控開關(guān)分別串聯(lián)在主測試電路與各待測通道電極組成的電路回路中。其中,上述主處理器可以采用基于ARM的32位微控制器STM32F103VET6,該主處理器可以通過控制不同可控開關(guān)的通斷使得主測試電路與不同的待測通道接通,從而可以實現(xiàn)多個待測通道的自動測試過程??煽亻_關(guān)的數(shù)量與待測通道的數(shù)量相對應(yīng),具體可以是圖3所示的18個,也可以是其它大于2的合理數(shù)量,從而實現(xiàn)各個待測通道依次與主測試電路導(dǎo)通。

本實施例提供的測試裝置可以用于檢測待測通道的絕緣阻抗和工頻耐壓是否滿足設(shè)計標(biāo)準(zhǔn),具體測試過程可以是:按照主處理器中預(yù)設(shè)的算法依次控制其中一路待測通道的兩端與耐壓儀的輸出電壓端導(dǎo)通,從而將耐壓儀輸出的工頻電壓加在待測通道兩端,并通過耐壓儀實時檢測并輸出待測通道兩端的電壓,如果待測通道兩端的電壓非正常跌落,則判定被測通道的耐壓測試不合格。其中,被測通道兩端是電極觸點,也即電路回路的連接是通過電極觸點實現(xiàn)的。該測試裝置具體可以應(yīng)用于多觸點腦深部電極的耐壓測試。與目前主流的通過耐壓儀的兩個輸出電極接口直接夾在被測電極觸點上進(jìn)行測試的耐壓測試方法相比,省去了每測試完一組電極就需要人工干預(yù)重新布線和重啟耐壓儀的過程,操作流程簡單,降低了測試人員的工作量、提高了測試效率,另外也避免了在電極觸點較多時人工布線很容易出現(xiàn)的重復(fù)測試或者漏測情況,大大增加了測試的準(zhǔn)確性和可靠性。

上述測試裝置還可以用于其它類型的測試,例如用于測試各待測通道之間的導(dǎo)通性能等。

在具體的實施方案中,上述主測試電路包括用于采集被測通道兩端電壓的電壓采集電路,該電壓采集電路的輸出端與主處理器連接,具體是主處理器的PC1端口,以使得主處理器可以實時獲取待測通道的測試電壓,從而判斷待測通道是否測試合格。如圖2所示,該電壓采集電路主要包括串聯(lián)的電阻R438和R439,用于對待測通道兩端的電壓進(jìn)行分壓后輸入主處理器;還包括電容C419,用于為反相的交流信號提供通路。另外,如圖3所示,上述可控開關(guān)可以為固態(tài)繼電器,例如COTOmos的雙通道固態(tài)繼電器CT338,固態(tài)繼電器的兩個輸入端分別與主處理器連接以接收主處理器的通斷控制信號,其中一路輸出的兩端分別與主測試電路供壓電路的一端、待測通道的其中一個電極連接,另一路輸出的兩端分別與主測試電路供壓電路的另一端、待測通道的另一個電極連接。從而,可以導(dǎo)通待測通道兩端的電極與主測試電路供壓電路的回路,同時也可以導(dǎo)通主測試電路中用于檢測待測通道兩端電壓的電壓采集電路。

如圖4所示,本實施例提供的測試裝置還包括用于顯示測試參數(shù)和測試狀態(tài)的顯示電路,例如用于顯示測試起始通道、測試結(jié)束通道、通電時間、時間間隔、儲能電源的充放電狀態(tài)和通道的測試狀態(tài)等,該顯示電路包括顯示器件和連接器J30,顯示器件通過連接器J30與主處理器連接。具體地,顯示器件可以是液晶顯示屏,連接器J30可以是具有20個端口的FH12A-20S-0.5SH。其中,主處理器作為主設(shè)備、顯示器件作為從設(shè)備,主處理器的SPI通信接口PB12_SPI2_NSS與顯示器件的片選端CS連接,主處理器的PD11端口與顯示器件的數(shù)據(jù)/命令選擇端RS連接,主處理器的SPI通信時鐘信號端PB13_SPI2_SCK與顯示器件接收時鐘信號的端口SCL連接,主處理器SPI通信數(shù)據(jù)輸出接口PB15與顯示器件的數(shù)據(jù)接收端口SDI連接,主處理器的復(fù)位信號輸出端PD13與顯示器件的復(fù)位信號接收端RESET連接,主處理器的使能信號輸出端PE0和PE1分別與可控開關(guān)Q31、Q30的控制端連接,可控開關(guān)Q31用于控制連接器J30供電電源的通斷、可控開關(guān)Q30用于控制其中一個顯示部件LED-A與其供電電源的通斷。該顯示電路可以配合作為控制電路的主處理器實現(xiàn)人機交互功能。

另外,該裝置還包括至少一路按鍵電路,該按鍵電路分別與主處理器連接,用于控制測試流程的啟動和停止、設(shè)定測試的起始通道和結(jié)束通道以及選擇不同的測試參數(shù)。在具體實施方案中,按鍵電路需結(jié)合顯示電路才能實現(xiàn)測試通道和測試參數(shù)的準(zhǔn)確設(shè)定。上述按鍵電路包括按鍵元件、第一電容和第一電阻,第一電容與第一電阻并聯(lián)后一端與按鍵元件的一端連接、另一端接地,按鍵元件的另一端接供電電源,該供電電源可以是裝置的儲能模塊或者電壓轉(zhuǎn)換電路。具體如圖5所示,本實施例中可以設(shè)置4路按鍵電路,分別用于實現(xiàn)不同的功能,且每一按鍵電路的回路(按鍵元件與第一電容、第一電阻的連接處)均分別與主處理器的一個輸入接口(分別是端口PA0、PD8、PD9和PC11)連接以使得主處理器可以分別接收各個按鍵操作發(fā)出的控制信號。

本實施例提供的測試裝置可以提供多達(dá)18個電極觸點之間的通道測試,但在實際使用時待測通道的數(shù)量可能較少,那么就可以通過按鍵電路設(shè)定測試的起始通道和結(jié)束通道。從而,對于沒有連接待測電極觸點的測試回路就不進(jìn)行測試流程。也即,該測試裝置被測通道的數(shù)量可以根據(jù)需要靈活設(shè)置,提高了裝置的通用性。另外,通過按鍵電路還可以設(shè)置通電時間和間隔時間等測試參數(shù),使得主處理器可以按照用戶設(shè)定的起始通道、結(jié)束通道、通電時間和間隔參數(shù)對待測通道進(jìn)行遍歷測試,并實時獲取電壓采集電路采集到的電壓信號,最后根據(jù)該電壓信號判斷當(dāng)前被測通道是否通過測試,具體的判斷邏輯是:如果電壓信號大于預(yù)設(shè)閾值,則判定當(dāng)前被測通道測試通過,并在顯示電路的顯示器件上顯示“測試通過”的提示信息;如果電壓信號小于預(yù)設(shè)閾值,則判定當(dāng)前被測通道測試不合格,并在顯示電路的顯示器件上顯示測試失敗的提示,具體可以用紅色字體顯示測試失敗的電極觸點編號,同時在顯示界面連續(xù)閃爍5次以提示用戶檢查被測電極觸點。

作為其它的具體實施方式,該測試裝置還包括電源管理電路和儲能模塊,該儲能模塊具體可以是儲能電池BAT,電源管理電路包括充放電管理電路和電壓轉(zhuǎn)換電路。充放電管理電路用于控制儲能模塊的充放電過程,以及用于識別外部輸入直流電源。電壓轉(zhuǎn)換電路用于將儲能模塊的輸出電壓轉(zhuǎn)換為待供電電路所需的電壓,實現(xiàn)用電管理、完成電源分配。其中,待供電電路包括主處理器及其周邊電路、顯示電路。

具體地,如圖6所示,上述充放電管理電路包括充電管理芯片U21,其具體可以選用bq24103ARHLR芯片,該充電管理芯片U21的狀態(tài)指示輸出端與主處理器連接,即可以用于指示正在充電狀態(tài)的STAT1端口與主處理器的PC9端口連接、可以用于指示充電完成狀態(tài)的STAT2端口與主處理器的PC7端口連接、可以用于指示電池狀態(tài)的端口與主處理器的PC8端口連接。另外,主處理器還與儲能模塊的電壓檢測電路連接以獲取儲能模塊的當(dāng)前電壓。該儲能模塊的電壓檢測電路包括串聯(lián)的電阻R23和R23,用于將儲能模塊的電壓分壓后輸入主處理器。充電管理芯片U21的電能輸出端OUT通過依次串聯(lián)連接的電感L21和電阻R22后與儲能模塊連接,電感L21和電阻R22的連接處通過電容C24接地。充電管理芯片U21的電流檢測輸入端SNS與電能輸出端OUT的電路回路連接,其溫度檢測輸入端與用于檢測儲能模塊溫度的溫度檢測器件P20的輸出端連接,以根據(jù)儲能模塊當(dāng)前的溫度狀態(tài)判斷是否適宜進(jìn)行充電。

具體地,如圖7所示,上述電壓轉(zhuǎn)換電路包括電壓轉(zhuǎn)換芯片U22,具體可以選用tps62745DSST,電壓轉(zhuǎn)換芯片的電能輸入端與儲能模塊連接、電能輸出端與待供電電路連接。其中,該電壓轉(zhuǎn)換芯片U22的使能端EN也與儲能模塊連接,其電能輸出端VOUT輸出3.3V電壓。

顯然,上述實施例僅僅是為清楚地說明所作的舉例,而并非對實施方式的限定。對于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而由此所引伸出的顯而易見的變化或變動仍處于本發(fā)明創(chuàng)造的保護范圍之中。

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