本發(fā)明涉及顯示面板領(lǐng)域，特別是涉及基板邊緣裂紋的檢測方法和結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)：

對lcd和oled整體屏體切割后，由于切割工藝的影響，會導致獨立屏體的邊緣出現(xiàn)裂紋。針對切割工藝，獨立屏體的邊緣存在一個允許出現(xiàn)切割誤差的切割精度區(qū)域，切割精度區(qū)域具有一定的寬度，位于布線區(qū)域外側(cè)。屏體切割時切割邊界在切割精度區(qū)域中認為屏體切割位置合格，切割邊界在布線區(qū)域中則認為屏體切割位置不合格。切割精度區(qū)域內(nèi)允許出現(xiàn)與切割方向垂直的裂紋，當切割產(chǎn)生的裂紋出現(xiàn)在切割精度區(qū)域中，認為不會對布線區(qū)域內(nèi)的電路單元的信號線造成損壞。

但是受基板內(nèi)應力等因素影響，部分裂紋會具有由切割精度區(qū)域向屏體中部的布線區(qū)域延伸，進而造成延伸路徑上位于布線區(qū)域內(nèi)諸如gip單元和控制單元的信號線被損壞。因此對裂紋的準確和及時檢測關(guān)系到屏體的良品指標。

現(xiàn)有技術(shù)中，通常在布線區(qū)域邊緣設置一圈金屬走線，在金屬走線的兩端設置焊盤，測量焊盤間的金屬走線阻值，當電阻無窮大，說明有裂紋延伸至金屬走線處破壞了金屬走線。

上述這種測量方法無法有效檢測切割精度區(qū)域內(nèi)的裂紋。這是由于無法區(qū)分電阻無窮大的狀態(tài)究竟是由于裂紋造成還是切割造成，由此影響了對裂紋延伸程度和趨勢的判斷。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了測量屏體邊緣裂紋的方法和結(jié)構(gòu)，用于解決無法對屏體邊緣切割精度區(qū)域內(nèi)裂紋精確測量的技術(shù)問題。

本發(fā)明的測量屏體邊緣裂紋的方法包括：

設置基準導線，所述基準導線位于所述屏體的布線區(qū)域內(nèi)；

設置分別與所述基準導線相連的第一檢測導線和第二檢測導線，所述第一檢測導線和所述第二檢測導線的主體部分位于所述屏體的切割精度區(qū)域內(nèi)，所述第一檢測導線和所述第二檢測導線的主體部分在延伸方向上存在對應部分；

通過在所述基準導線、所述第一檢測導線和所述第二檢測導線上分別加載測試信號獲得的屏體的顯示狀態(tài)，由此判斷裂紋的延伸程度。

通過在所述基準導線、所述第一檢測導線和所述第二檢測導線上分別加載測試信號獲得的屏體的顯示狀態(tài)，由此判斷裂紋的延伸程度包括：

向所述基準導線發(fā)送驅(qū)動信號；

判斷所述屏體顯示狀態(tài)是否正常，不能正常顯示表明所述基準導線或所述屏體損壞；能夠正常顯示則停止向所述基準導線發(fā)送驅(qū)動信號，并

向所述第二檢測導線發(fā)送驅(qū)動信號；

判斷所述屏體顯示狀態(tài)是否正常，不能正常顯示表明所述第二檢測導線和所述第一檢測導線被切割破壞；能夠正常顯示則停止向所述第二檢測導線發(fā)送驅(qū)動信號，并

向所述第一檢測導線發(fā)送驅(qū)動信號；

判斷所述屏體顯示狀態(tài)是否正常，不能正常顯示表明所述第一檢測導線被切割產(chǎn)生的裂紋破壞，能夠正常顯示則表明切割形成的所述屏體為良品。

本發(fā)明的測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)，包括基準導線、第一檢測導線和第二檢測導線，所述基準導線布設在所述屏體的布線區(qū)域的一側(cè)，所述第一檢測導線和第二檢測導線各自包括與所述基準導線相連的接線部分、位于切割精度區(qū)域內(nèi)的主體部分和測試部分，所述第一檢測導線的主體部分和第二檢測導線的主體部分在延伸方向上存在對應部分。

所述基準導線包括接線端和測試端，所述第一檢測導線的接線部分連接在所述基準導線的接線端，第二檢測導線的接線部分靠近所述基準導線的測試端連接。

所述第二檢測導線的主體部分采用金、銅或鋁材料。

所述第二檢測導線的主體部分長度為2至10微米。

所述對應部分構(gòu)造為第二檢測導線的主體部分在所述第一檢測導線的主體部分的上方或下方與所述第一檢測導線的主體部分絕緣重疊。

所述第二檢測導線的測試部分彎折形成的測試端，與所述第一檢測導線的測試端并列。

所述對應部分構(gòu)造為同軸向絕緣相鄰的第二檢測導線的主體部分和所述第一檢測導線的主體部分。

所述第一檢測導線的測試部分彎折形成的測試端，與所述第二檢測導線的測試端并列。

本發(fā)明的測量屏體邊緣裂紋的方法和測量結(jié)構(gòu)，利用基準導線作為切割參考方向，利用基準導線連接的切割精度區(qū)域內(nèi)的第一檢測導線和第二檢測導線的主體部分形成同一方向順序延伸的兩段獨立電路，使得兩段獨立導線的延伸方向與切割參考方向相關(guān)，通過測量不同檢測導線的測量信號帶來的狀態(tài)變化，排除切割狀態(tài)對裂紋狀態(tài)的干擾，使得裂紋的準確測量范圍擴大至切割精度區(qū)域內(nèi)，并且可以用于對切割精度區(qū)域內(nèi)裂紋延伸的測量。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例測量屏體邊緣裂紋的方法的流程圖。

圖2為本發(fā)明實施例測量屏體邊緣裂紋的方法中一種屏體裂紋判斷的流程圖。

圖3為本發(fā)明一實施例測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明另一實施例測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

附圖中的步驟編號僅用于作為該步驟的附圖標記，不表示執(zhí)行順序。

圖1為本發(fā)明實施例測量屏體邊緣裂紋的方法的流程圖。如圖1所示包括：

步驟100：設置基準導線，基準導線位于屏體的布線區(qū)域內(nèi)。

布線區(qū)域包括顯示主體和顯示主體外圍的布線部分，基準導線位于顯示區(qū)域外圍的布線部分。基準導線可以是布線區(qū)域內(nèi)電路單元的獨立信號導線，如gip(gatedriveicinpanel)單元的信號線，也可以是控制gip單元的信號線。

基準導線的一端作為接線端，另一端作為測試端?；鶞蕦Ь€與屏體邊緣延伸方向相同。

步驟200：設置分別與基準導線相連的第一檢測導線和第二檢測導線，第一檢測導線和第二檢測導線的主體部分位于屏體的切割精度區(qū)域內(nèi)，第一檢測導線和第二檢測導線的主體部分在延伸方向上存在對應部分。

第一檢測導線和第二檢測導線各自包括與基準導線相連的接線部分、位于同側(cè)切割精度區(qū)域內(nèi)的主體部分和測試部分，主體部分的一端與接線部分相連，主體部分的另一端和測試部分相連，測試部分形成測試端。優(yōu)選地，第一檢測導線和第二檢測導線的主體部分、測試部分與基準導線大體平行。

測試端用于輸入測試信號，測試信號可以是直流信號或交流信號，測試信號也可以是驅(qū)動屏體顯示的gip驅(qū)動信號。

第一檢測導線和第二檢測導線的主體部分在延伸方向上的對應部分可以構(gòu)造為上下方向的重疊或前后方向的對齊。

步驟300：通過在基準導線、第一檢測導線和第二檢測導線上分別加載測試信號獲得的屏體的顯示狀態(tài)，由此判斷裂紋的延伸程度。

本發(fā)明實施例的測量屏體邊緣裂紋的方法利用基準導線與切割方向基本相同，基準導線的方向作為切割精度區(qū)域內(nèi)第一檢測導線和第二檢測導線的主體部分的參考方向，且主體部分在延伸方向上形成對應部分。當上述各導線分別輸入測試信號后，測量測試信號驅(qū)動屏體后的顯示狀態(tài)，就可以判斷屏體顯示故障是由切割造成還是由切割后的裂紋造成。進一步可以將對裂紋生成和延伸的判斷位置精確到切割精度區(qū)域內(nèi)。

圖2為本發(fā)明實施例測量屏體邊緣裂紋的方法中一種屏體裂紋判斷的流程圖。如圖2所示步驟300包括：

步驟305：基準導線采用gip信號線，測試信號采用驅(qū)動信號。

步驟310：向基準導線發(fā)送驅(qū)動信號。

步驟315：判斷屏體顯示狀態(tài)是否正常，不能正常顯示表明基準導線或屏體損壞；能夠正常顯示則停止向基準導線發(fā)送驅(qū)動信號，并執(zhí)行步驟320。

步驟320：向第二檢測導線發(fā)送驅(qū)動信號。

步驟325：判斷屏體顯示狀態(tài)是否正常，不能正常顯示表明第二檢測導線和第一檢測導線被切割破壞；能夠正常顯示則停止向第二檢測導線發(fā)送驅(qū)動信號，并執(zhí)行步驟330。

步驟330：向第一檢測導線發(fā)送驅(qū)動信號。

步驟335：判斷屏體顯示狀態(tài)是否正常，不能正常顯示表明第一檢測導線被切割后產(chǎn)生的裂紋破壞，能夠正常顯示則表明切割形成的屏體為良品。

本發(fā)明實施例的測量屏體邊緣裂紋的方法在切割精度區(qū)域內(nèi)設置相同方向且部分重疊的第一檢測導線和第二檢測導線，利用第一檢測導線判斷裂紋延伸狀態(tài)，利用第二檢測導線判斷切割狀態(tài)。通過第一檢測導線和第二檢測導線分別與布線區(qū)域內(nèi)的基準導線形成信號連接，可以將不同檢測導線的位置信息反應在基準導線驅(qū)動的屏體顯示狀態(tài)上。通過在不同線路上加載驅(qū)動信號就可以順序根據(jù)屏體顯示狀態(tài)判斷出屏體切割和裂紋的缺陷。進而使得裂紋的準確檢測范圍擴大至切割精度區(qū)域內(nèi)，實現(xiàn)了對切割精度區(qū)域內(nèi)裂紋和裂紋延伸程度的準確測量。

圖3為本發(fā)明一實施例測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為本發(fā)明另一實施例測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3和圖4所示，本發(fā)明實施例的測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)包括基準導線30、第一檢測導線40和第二檢測導線50。基準導線30布設在屏體的布線區(qū)域20的一側(cè)，基準導線30的延伸方向優(yōu)選地與屏體邊緣的延伸方向大體相同?；鶞蕦Ь€的一端作為接線端31，另一端作為測試端32。第一檢測導線40包括與基準導線相連的接線部分41、位于切割精度區(qū)域10內(nèi)的主體部分42和測試部分43，主體部分42的一端與接線部分41相連，主體部分42的另一端和測試部分43相連。測試部分43形成測試端44。第二檢測導線50包括與基準導線相連的接線部分51、位于切割精度區(qū)域10內(nèi)的主體部分52和測試部分53。主體部分52的一端與接線部分51相連，主體部分52的另一端和測試部分53相連，測試部分53形成測試端54。從整體上看，第一檢測導線40的主體部分42與第二檢測導線50的主體部分52與基準導線30大體平行。此外，第一檢測導線40的測試部分43與第二檢測導線50的測試部分53與基準導線30也大體平行。第一檢測導線40的主體部分42與第二檢測導線50的主體部分52在延伸方向上存在對應部分。

如圖3和圖4所示，第一檢測導線40的接線部分41連接在基準導線30的接線端31，第二檢測導線50的接線部分51靠近基準導線30的測試端32連接。

如圖3所示，在本發(fā)明一實施例的測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)中在切割精度區(qū)域10內(nèi)，第一檢測導線40的主體部分42和第二檢測導線50的主體部分52與屏體的布線區(qū)域20內(nèi)的基準導線30平行。此外，第一檢測導線40的測試部分43與第二檢測導線50的測試部分53與基準導線30也大體平行。第二檢測導線50的主體部分52在第一檢測導線40的主體部分42的上方或下方與第一檢測導線40的主體部分42絕緣重疊(即延伸方向形成上下的重疊)，絕緣重疊部分構(gòu)成第二檢測導線50和第一檢測導線40的對應部分。第二檢測導線50的測試部分53彎折形成的測試端54與第一檢測導線的測試端44并列。

第二檢測導線50的主體部分52與第一檢測導線40的主體部分42絕緣重疊的位置靠近第一檢測導線40的主體部分42的測試端43。

第二檢測導線50的主體部分52的長度在2至10微米之間。即第二檢測導線50的主體部分52與第一檢測導線40的主體部分42形成的對應部分(即絕緣重疊部分)的長度在2至10微米之間。意外發(fā)現(xiàn)，對應部分的這種長度可以有效地避開裂紋破壞第二檢測導線50的主體部分52與第一檢測導線40的主體部分42的對應部分，從而能更準確地判斷裂紋擴展程度。

第二檢測導線采用金屬導線，例如金、鋁或銅材質(zhì)的導線。這些材質(zhì)的導線具有足夠的延展性能以滿足主體部分的線徑和主體部分兩端的彎折角度。

本發(fā)明實施例的測量結(jié)構(gòu)實現(xiàn)了對切割精度區(qū)域10內(nèi)的裂紋測量，提高了裂紋測量的精確度。尤其適合對受屏體應力影響向布線區(qū)域20延伸的裂紋進行測量，可以避免由于無法測量出切割精度區(qū)域10內(nèi)的裂紋延伸最終導致布線區(qū)域20內(nèi)信號線損壞的潛在危害。

如圖4所示，在本發(fā)明一實施例的測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)中在切割精度區(qū)域10內(nèi)，第一檢測導線40的主體部分42和第二檢測導線50的主體部分52與屏體的布線區(qū)域20內(nèi)的基準導線30平行。此外，第一檢測導線40的測試部分43與第二檢測導線50的測試部分53與基準導線30也大體平行。第一檢測導線40的主體部分42延伸靠近基準導線30的測試端32，第二檢測導線50的主體部分52與第一檢測導線40的主體部分42同軸向絕緣相鄰(即延伸方向前后的對齊)，同軸向絕緣相鄰部分構(gòu)成第二檢測導線50和第一檢測導線40的對應部分。第一檢測導線40的測試部分43彎折形成的測試端44與第二檢測導線50的測試端54并列。

第二檢測導線50的主體部分52與第一檢測導線40的主體部分42的同軸向絕緣相鄰的位置靠近第一檢測導線40的主體部分42的測試端43。

第二檢測導線50的主體部分52的長度在2至10微米之間。即第二檢測導線50的主體部分52與第一檢測導線40的主體部分42形成的對應部分(即同軸向絕緣相鄰部分)的長度在2至10微米之間。意外發(fā)現(xiàn)，對應部分的這種長度可以有效地避開裂紋破壞第二檢測導線50的主體部分52與第一檢測導線40的主體部分42的對應部分，從而能更準確地判斷裂紋擴展程度。

第二檢測導線采用金屬導線，例如金、鋁或銅材質(zhì)的導線。這些材質(zhì)的導線具有足夠的延展性能以滿足主體部分的線徑和主體部分兩端的彎折角度。

本發(fā)明實施測量結(jié)構(gòu)尤其適合對受屏體應力影響向布線區(qū)域20延伸的裂紋進行測量，可以避免由于無法測量出切割精度區(qū)域10內(nèi)的裂紋延伸最終導致布線區(qū)域20內(nèi)信號線損壞的潛在危害。同時，測試部分的彎折滿足了布線的靈活性。

本發(fā)明實施例還包括一種包括上述實施例測量屏體邊緣裂紋的測量結(jié)構(gòu)的屏體。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。