本發(fā)明涉及信號測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種DC/DC測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

直流轉(zhuǎn)直流電源(Direct Current/Direct Current，DC/DC)可以將輸入的直流電轉(zhuǎn)換為需要的直流電，例如在AMOLED顯示器中，需要將輸入的直流電壓利用DC/DC轉(zhuǎn)換為AVDD、ELVDD、ELVSS三路直流輸出電壓。針對AMOLED DC/DC有一項重要的測試：功率效率測試。傳統(tǒng)的功率效率測試方案為：在不同的輸入電壓、輸出電壓、不同帶載情況下利用萬用表和示波器等設(shè)備測試DC/DC的輸入、輸出電壓和電流參數(shù)。但是由于各參數(shù)要求同時測試，就需要多臺設(shè)備同時使用，并且從諸多設(shè)備上獲取測試數(shù)據(jù)的過程也非常費時，導(dǎo)致功率效率測試的過程較繁瑣。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例的目的是提供一種DC/DC測試系統(tǒng)及方法，用于簡化DC/DC測試的過程。

本發(fā)明實施例的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的：

一種DC/DC測試系統(tǒng)，包括測試主機、主控單元、直流轉(zhuǎn)直流電源DC/DC單元、可編程電源、輸入監(jiān)測單元、輸出監(jiān)測單元、負載單元，其中：

所述主控單元分別與所述測試主機、所述可編程電源、所述負載單元、所述輸入監(jiān)測單元、所述輸出監(jiān)測單元連接；

所述可編程電源還與所述輸入監(jiān)測單元連接；

所述負載單元還與所述輸出監(jiān)測單元連接；

所述DC/DC單元分別與所述輸入監(jiān)測單元和所述輸出監(jiān)測單元連接；

所述主控單元，用于在所述測試主機的指示下，控制所述可編程電源輸出不同的電壓信號，以及控制所述負載單元提供測試DC/DC單元所需的負載，接收所述輸入監(jiān)測單元監(jiān)測到的所述DC/DC單元的輸入電壓電流以及所述輸出監(jiān)測單元監(jiān)測到的所述DC/DC單元的輸出電壓電流，并將監(jiān)測結(jié)果反饋給所述測試主機。

較佳地，所述可編程電源，包括第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC和第一功率放大器；

其中，所述第一DAC的輸入端與所述主控單元連接，輸出端與所述第一功率放大器的輸入端連接；

所述第一功率放大器的輸出端與所述輸入監(jiān)測單元的輸入端連接。

較佳地，所述輸入監(jiān)測單元，包括：第一采樣電阻、第一運算放大器、第二運算放大器、第一模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC和第二ADC；

所述第一采樣電阻的兩端分別與所述可編程電源的輸出端、所述DC/DC單元的輸入端連接；所述第一運算放大器的第一輸入端和第二輸入端分別與所述第一采樣電阻的兩端連接，輸出端與所述第一ADC的輸入端連接；所述第一ADC的輸出端與所述主控單元連接；所述第二運算放大器的輸入端與所述DC/DC的輸入端連接，輸出端與所述第二ADC的輸入端連接；所述第二ADC的輸出端與所述主控單元連接。

較佳地，所述輸出監(jiān)測單元包括第一子輸出監(jiān)測單元、第二子輸出監(jiān)測單元和第三子輸出監(jiān)測單元；

所述第一子輸出監(jiān)測單元分別與所述DC/DC單元的ELVDD輸出端、所述負載單元的ELVDD輸入端、所述主控單元連接，用于監(jiān)測所述DC/DC單元的ELVDD輸出端的電壓電流；

所述第二子輸出監(jiān)測單元分別與所述DC/DC單元的ELVSS輸出端、所述負載單元的ELVSS輸入端、所述主控單元連接，用于監(jiān)測所述DC/DC單元的ELVSS輸出端的電壓電流；

所述第三子輸出監(jiān)測單元分別與所述DC/DC單元的AVDD輸出端、所述負載單元的AVDD輸入端、所述主控單元連接，用于監(jiān)測所述DC/DC單元的AVDD輸出端的電壓電流。

較佳地，所述第一子輸出監(jiān)測單元包括第二采樣電阻、第三運算放大器、第四運算放大器、第三ADC、第四ADC；其中：

所述第二采樣電阻的兩端分別與所述DC/DC單元的ELVDD輸出端、所述負載單元的ELVDD輸入端連接；所述第三運算放大器的第一輸入端和第二輸入端分別與所述第二采樣電阻的兩端連接，輸出端與所述第三ADC的輸入端連接；所述第三ADC的輸出端與所述主控單元連接；所述第四運算放大器的輸入端與所述DC/DC單元的ELVDD輸出端連接，輸出端與所述第四ADC的輸入端連接；所述第四ADC的輸出端與所述主控單元連接。

較佳地，所述第二子輸出監(jiān)測單元包括第三采樣電阻、第五運算放大器、第六運算放大器、第五ADC、第六ADC；其中：

所述第三采樣電阻的兩端分別與所述DC/DC單元的ELVSS輸出端、所述負載單元的ELVSS輸入端連接；所述第五運算放大器的第一輸入端和第二輸入端分別與所述第三采樣電阻的兩端連接，輸出端與所述第五ADC的輸入端連接；所述第五ADC的輸出端與所述主控單元連接；所述第六運算放大器的輸入端與所述DC/DC單元的ELVSS輸出端連接，輸出端與所述第六ADC的輸入端連接；所述第六ADC的輸出端與所述主控單元連接。

較佳地，所述第三子輸出監(jiān)測單元包括第四采樣電阻、第七運算放大器、第八運算放大器、第七ADC、第八ADC；其中：

所述第四采樣電阻的兩端分別與所述DC/DC單元的AVDD輸出端、所述負載單元的AVDD輸入端連接；所述第七運算放大器的第一輸入端和第二輸入端分別與所述第四采樣電阻的兩端連接，輸出端與所述第七ADC的輸入端連接；所述第七ADC的輸出端與所述主控單元連接；所述第八運算放大器的輸入端與所述DC/DC單元的AVDD輸出端連接，輸出端與所述第八ADC的輸入端連接；所述第八ADC的輸出端與所述主控單元連接。

較佳地，所述負載單元，包括控制單元、切換開關(guān)、第一MOS管、第二MOS管、第二功率放大器、第三功率放大器、第二DAC、第三DAC；其中：

所述控制單元的第一端與所述主控單元連接，第二端與所述切換開關(guān)連接；

所述第一MOS管的柵極與所述第二功率放大器的輸出端連接；所述第二功率放大器的第一輸入端、第二輸入端分別與所述第二運算放大器的輸出端、所述第二DAC的輸出端連接；所述第二DAC的輸入端與所述控制單元連接；

所述第二MOS管的柵極與所述第三功率放大器的輸出端連接，源極接地；所述第三功率放大器的第一輸入端、第二輸入端分別與所述第七運算放大器的輸出端、所述第三DAC的輸出端連接；所述第三DAC的輸入端與所述控制單元連接；

所述控制單元，用于在所述主控單元的控制下，控制所述切換開關(guān)將所述第一MOS管的漏極、源極分別與所述第一子輸出監(jiān)測單元、所述第二子輸出監(jiān)測單元導(dǎo)通并且將所述第二MOS管的漏極與所述第三子輸出監(jiān)測單元導(dǎo)通，以及控制所述第二DAC、第三DAC輸入不同的電流信號。

較佳地，所述負載單元，還包括AMOLED模組；

所述控制單元還用于在所述主控單元的控制下，控制所述切換開關(guān)在以下兩種狀態(tài)之間切換：狀態(tài)一、將所述AMOLED模組的ELVDD、ELVSS、AVDD輸入端分別與所述第一子輸出監(jiān)測單元、所述第二子輸出監(jiān)測單元、所述第三子輸出監(jiān)測單元導(dǎo)通；狀態(tài)二、將所述第一MOS管的漏極、源極分別與所述第一子輸出監(jiān)測單元、所述第二子輸出監(jiān)測單元導(dǎo)通并且將所述第二MOS管的漏極與所述第三子輸出監(jiān)測單元導(dǎo)通。

較佳地，所述負載單元，包括：控制單元、切換開關(guān)、AMOLED模組；

所述控制單元用于在所述主控單元的控制下，控制所述切換開關(guān)將所述AMOLED模組的ELVDD、ELVSS、AVDD輸入端分別與所述第一子輸出監(jiān)測單元、所述第二子輸出監(jiān)測單元、所述第三子輸出監(jiān)測單元導(dǎo)通。

較佳地，所述系統(tǒng)還包括信號發(fā)生器；所述信號發(fā)生器的一端與所述AMOLED模組的信號輸入端連接，另一端與所述主控單元連接；所述信號發(fā)生器用于在所述主控單元的控制下，為所述AMOLED模組提供不同的顯示信號。

一種如以上任一項所述的DC/DC測試系統(tǒng)的測試方法，包括：

主控單元在測試主機的指示下，控制可編程電源輸出不同的預(yù)設(shè)電壓信號；

在每一預(yù)設(shè)電壓下，所述主控單元控制負載單元作為測試DC/DC所需的不同負載；

輸入監(jiān)測單元監(jiān)測DC/DC的輸入端，輸出監(jiān)測單元監(jiān)測DC/DC單元3輸出的電壓電流，并反饋給所述主控單元；

所述主控單元將接收的電壓電流的監(jiān)測結(jié)果反饋給所述測試主機。

較佳地，控制所述可編程電源輸出不同的預(yù)設(shè)電壓信號，包括：控制所述不同的預(yù)設(shè)電壓按照預(yù)定的步長變化。

較佳地，控制負載單元作為測試DC/DC所需的不同負載，包括：控制負載單元中的電流按照預(yù)定的步長變化。

本發(fā)明實施例的有益效果如下：

本發(fā)明實施例提供的一種DC/DC測試系統(tǒng)及方法中，基于測試主機、主控單元、DC/DC單元、可編程電源、輸入監(jiān)測單元、輸出監(jiān)測單元、負載單元構(gòu)成的測試系統(tǒng)，可實現(xiàn)自動對DC/DC單元的效率測試，還可以實現(xiàn)線性調(diào)整率和負載調(diào)整率的測試，提高了測試效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例提供的一種DC/DC測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的另一種DC/DC測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例提供的一種DC/DC測試系統(tǒng)方法流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明提供的一種DC/DC測試系統(tǒng)及方法進行更詳細地說明。

本發(fā)明實施例提供一種DC/DC測試系統(tǒng)，如圖1所示，包括測試主機1、主控單元2、DC/DC單元3、可編程電源4、輸入監(jiān)測單元5、輸出監(jiān)測單元6、負載單元7，其中：

主控單元分別與測試主機、可編程電源、負載單元、輸入監(jiān)測單元、輸出監(jiān)測單元連接；

可編程電源還與輸入監(jiān)測單元連接；

負載單元還與輸出監(jiān)測單元連接；

DC/DC單元分別與輸入監(jiān)測單元和輸出監(jiān)測單元連接；

主控單元，用于在測試主機的指示下，控制可編程電源輸出不同的電壓，以及控制負載單元提供測試DC/DC單元所需的負載，接收輸入監(jiān)測單元監(jiān)測到的DC/DC單元的輸入電壓電流以及輸出監(jiān)測單元監(jiān)測到的DC/DC單元的輸出電壓電流，并將監(jiān)測結(jié)果反饋給測試主機。

本發(fā)明實施例的方案中，基于測試主機、主控單元、DC/DC單元、可編程電源、輸入監(jiān)測單元、輸出監(jiān)測單元、負載單元構(gòu)成的測試系統(tǒng)，可實現(xiàn)自動對DC/DC單元的效率測試，還可以實現(xiàn)線性調(diào)整率和負載調(diào)整率的測試，提高了測試效率。

其中，測試主機控制整個測試的開始、結(jié)束、參數(shù)的設(shè)置、數(shù)據(jù)的采集、分析處理等等。測試主機接收到主控單元反饋的測試結(jié)果后，會根據(jù)DC/DC的輸入的電壓電流，ELVDD、ELVSS、AVDD輸出的電壓電流分別得到輸入的功率以及輸出的功率，進而計算輸出與輸入的比值，進而得到DC/DC的轉(zhuǎn)換效率。

具體實施時，可編程電源作為DC/DC測試時的輸入來源，進行效率測試時，會在不同的輸入電壓下測試DC/DC，通過可編程電源可達到改變其輸入電壓的目的。在進行線性調(diào)整率測試時，也可使用可編程電源產(chǎn)生跳變電壓的電源。

本發(fā)明實施例提供的可編程電源4的結(jié)構(gòu)有多種，較佳地，如圖2所示，可編程電源4，包括第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器(Digital to Analog Converter，DAC)41和第一功率放大器42；

其中，第一DAC41的輸入端與主控單元2連接，輸出端與第一功率放大器42的輸入端連接；

第一功率放大器42的輸出端與輸入監(jiān)測單元5的輸入端連接。

實施中，可編程電源4的具體輸出電壓由主控單元2控制第一DAC41產(chǎn)生，第一DAC41輸出的電壓經(jīng)第一功率放大器42放大后輸出。

以上僅是舉例說明可編程電源的具體結(jié)構(gòu)，在具體實施時，可編程電源的具體結(jié)構(gòu)不限于本發(fā)明實施例提供的上述結(jié)構(gòu)，還可以是本領(lǐng)域技術(shù)人員可知的其他結(jié)構(gòu)，只要能夠提供可變的直流電源即可，在此不做限定。

具體實施時，輸入監(jiān)測單元5的結(jié)構(gòu)有多種，較佳地，如圖2所示，輸入監(jiān)測單元5包括：第一采樣電阻(圖中R1)51、第一運算放大器(圖中簡稱運放)52、第二運算放大器53、第一模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analog to Digital Converter，ADC)54和第二ADC55；

第一采樣電阻51的兩端分別與可編程電源4的輸出端、DC/DC單元3的輸入端連接；第一運算放大器52的第一輸入端和第二輸入端分別與第一采樣電阻51的兩端連接，輸出端與第一ADC54的輸入端連接；第一ADC54的輸出端與主控單元2連接；第二運算放大器53的輸入端與DC/DC單元3的輸入端連接，輸出端與第二ADC53的輸入端連接；第二ADC53的輸出端與主控單元3連接。

具體實施時，輸入監(jiān)測單元5的結(jié)構(gòu)有多種，較佳地，如圖2所示，輸出監(jiān)測單元6包括第一子輸出監(jiān)測單元61、第二子輸出監(jiān)測單元62和第三子輸出監(jiān)測單元63；

第一子輸出監(jiān)測單元61分別與DC/DC單元3的ELVDD輸出端、負載單元7的ELVDD輸入端、主控單元2連接，用于監(jiān)測DC/DC單元3的ELVDD輸出端的電壓電流；

第二子輸出監(jiān)測單元62分別與DC/DC單元3的ELVSS輸出端、負載單元7的ELVSS輸入端、主控單元2連接，用于監(jiān)測DC/DC單元3的ELVSS輸出端的電壓電流；

第三子輸出監(jiān)測單元63分別與DC/DC單元3的AVDD輸出端、負載單元7的AVDD輸入端、主控單元2連接，用于監(jiān)測DC/DC單元3的AVDD輸出端的電壓電流。

具體實施時，第一子輸出監(jiān)測單元61的結(jié)構(gòu)有多種，較佳地，如圖2所示，第二子輸出監(jiān)測單元61包括第二采樣電阻(圖中R2)611、第三運算放大器612、第四運算放大器613、第三ADC614、第四ADC615；其中：

第二采樣電阻611的兩端分別與DC/DC單元3的ELVDD輸出端、負載單元7的ELVDD輸入端連接；第三運算放大器612的第一輸入端和第二輸入端分別與第二采樣電阻611的兩端連接，輸出端與第三ADC614的輸入端連接；第三ADC614的輸出端與主控單元2連接；第四運算放大器613的輸入端與DC/DC單元3的ELVDD輸出端連接，輸出端與第四ADC615的輸入端連接；第四ADC615的輸出端與主控單元2連接。

具體實施時，第二子輸出監(jiān)測單元62的結(jié)構(gòu)有多種，較佳地，如圖2所示，第二子輸出監(jiān)測單元62包括第三采樣電阻(圖中R3)621、第五運算放大器622、第六運算放大器623、第五ADC624、第六ADC625；其中：

第三采樣電阻621的兩端分別與DC/DC單元3的ELVSS輸出端、負載單元7的ELVSS輸入端連接；第五運算放大器622的第一輸入端和第二輸入端分別與第三采樣電阻621的兩端連接，輸出端與第五ADC624的輸入端連接；第五ADC624的輸出端與主控單元2連接；第六運算放大器623的輸入端與DC/DC單元3的ELVSS輸出端連接，輸出端與第六ADC625的輸入端連接；第六ADC625的輸出端與主控單元2連接。

具體實施時，第三子輸出監(jiān)測單元63的結(jié)構(gòu)有多種，較佳地，如圖2所示，第三子輸出監(jiān)測單元63包括第四采樣電阻(圖中R4)631、第七運算放大器632、第八運算放大器633、第七ADC634、第八ADC635；其中：

第四采樣電阻631的兩端分別與DC/DC單元3的AVDD輸出端、負載單元7的AVDD輸入端連接；第七運算放大器632的第一輸入端和第二輸入端分別與第四采樣電阻631的兩端連接，輸出端與第七ADC634的輸入端連接；第七ADC634的輸出端與主控單元2連接；第八運算放大器633的輸入端與DC/DC單元3的AVDD輸出端連接，輸出端與第八ADC635的輸入端連接；第八ADC635的輸出端與主控單元2連接。

其中，第一、第二、第三、第四采樣電阻為阻值極小(阻值小于預(yù)設(shè)值)的采樣電阻，電流流過后會產(chǎn)生微小壓降，電流、電壓經(jīng)過運算放大器放大后，由DAC采集電流，并反饋給主控單元。

以上僅是舉例說明輸入、輸出監(jiān)測單元的具體結(jié)構(gòu)，在具體實施時，監(jiān)測單元的具體結(jié)構(gòu)不限于本發(fā)明實施例提供的上述結(jié)構(gòu)，還可以是本領(lǐng)域技術(shù)人員可知的其他結(jié)構(gòu)，只要能夠?qū)崟r自動監(jiān)測DC/DC的輸入輸出的電壓電流即可，在此不做限定。

具體實施時，較佳地，負載單元7的結(jié)構(gòu)有多種，如圖2所示，較佳地，負載單元7，包括控制單元71、切換開關(guān)72、第一金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體(metal oxide semiconductor，MOS)管73、第二MOS管74、第二功率放大器(圖中簡稱功放)75、第三功率放大器76、第二DAC77、第三DAC78；其中：

控制單元71的第一端與主控單元2連接，第二端與切換開關(guān)72連接；

第一MOS管73的柵極與第二功率放大器75的輸出端連接；第二功率放大器75的第一輸入端、第二輸入端分別與第二運算放大器75的輸出端、第二DAC77的輸出端連接；第二DAC77的輸入端與控制單元71連接；

第二MOS管74的柵極與第三功率放大器76的輸出端連接，源極接地；第三功率放大器76的第一輸入端、第二輸入端分別與第七運算放大器632的輸出端、第三DAC78的輸出端連接；第三DAC78的輸入端與控制單元71連接；

控制單元71，用于在主控單元2的控制下，控制切換開關(guān)72將第一MOS管73的漏極、源極分別與第一子輸出監(jiān)測單元61、第二子輸出監(jiān)測單元62導(dǎo)通并且將第二MOS管74的漏極與第三子輸出監(jiān)測單元63導(dǎo)通，以及控制第二DAC77、第三DAC78輸入不同的電流信號。

本發(fā)明實施例中，將兩個MOS管作為功率消耗器件，MOS管與運算放大器構(gòu)成反饋回路形成恒流電子負載，具體電流由控制單元控制第二DAC和第三DAC輸入。由于ELVDD、ELVSS電壓一正一負，且在實際應(yīng)用中，電流幾乎相同，故公用一個MOS管作為負載，AVDD使用另一個MOS管作為負載。

較佳地，如圖2所示，負載單元7，還包括有源矩陣有機發(fā)光二極管(Active-matrix organic light emitting diode，AMOLED)模組79；

相應(yīng)的，控制單元71還用于在主控單元2的控制下，控制切換開關(guān)72在以下兩種狀態(tài)之間切換：狀態(tài)一、將AMOLED模組79的ELVDD、ELVSS、AVDD輸入端分別與第一子輸出監(jiān)測單元61、第二子輸出監(jiān)測單元62、第三子輸出監(jiān)測單元63導(dǎo)通；狀態(tài)二、將第一MOS管73的漏極、源極分別與第一子輸出監(jiān)測單元61、第二子輸出監(jiān)測單元62導(dǎo)通并且將第二MOS管74的漏極與第三子輸出監(jiān)測單元63導(dǎo)通。

本發(fā)明實施例中，設(shè)置兩種負載，一種是MOS管，一種是AMOLED模組，可以在兩種負載之間進行切換，更加靈活，利用AMOLED模組作為負載，可以測試實際使用時的效率，測試更加準確。

當然，也可以采用其它的采用DC/DC供電的顯示模組作為負載。

具體實施時，較佳地，基于圖2所示的結(jié)構(gòu)，可以去掉MOS管的相關(guān)設(shè)置，這樣，負載單元7，僅包括：控制單元71、切換開關(guān)72、AMOLED模組79；

控制單元71用于在主控單元2的控制下，控制切換開關(guān)72將AMOLED模組79的ELVDD、ELVSS、AVDD輸入端分別與第一子輸出監(jiān)測單元61、第二子輸出監(jiān)測單元62、第三子輸出監(jiān)測單元63導(dǎo)通。

以上僅是舉例說明負載單元7的具體結(jié)構(gòu)，在具體實施時，負載單元的具體結(jié)構(gòu)不限于本發(fā)明實施例提供的上述結(jié)構(gòu)，還可以是本領(lǐng)域技術(shù)人員可知的其他結(jié)構(gòu)，在此不做限定。

較佳地，如果采用AMOLED模組79作為負載時，如圖2所示，本發(fā)明實施例提供的測試系統(tǒng)還包括信號發(fā)生器8；信號發(fā)生器8的一端與AMOLED模組的信號輸入端連接，另一端與主控單元2連接；信號發(fā)生器8用于在主控單元2的控制下，為AMOLED模組提供不同的顯示信號。

本發(fā)明實施例中，主要通過亮度的調(diào)節(jié)為AMOLED模組提供不同的信號。

下面以對DC/DC進行效率測試為例，對圖1和圖2所示的測試系統(tǒng)的工作原理進行說明：

實施中，測試主機1向主控單元2發(fā)送開始進行DC/DC效率測試的指示，主控單元2接收到指示后，會根據(jù)預(yù)先設(shè)置控制可編程電源4輸出不同的電壓；可編程電源4輸出的電壓經(jīng)過輸入監(jiān)測單元5后，供給DC/DC單元3，同時輸入監(jiān)測單元5會將監(jiān)測到的供給DC/DC單元3的電壓電流反饋給主控單元2；DC/DC單元將輸入的電壓轉(zhuǎn)換后，有ELVDD、ELVSS、AVDD三路輸出，供給負載單元7，其中，負載單元7在主控單元2的控制下，會有不同的DC/DC負載電流，輸出監(jiān)測單元6會監(jiān)測DC/DC單元3的三路輸出在不同的負載電流情況下的輸出，并反饋給主控單元2。主控單元2將接收到的監(jiān)測結(jié)果反饋給測試主機1，測試主機1對接收到的數(shù)據(jù)進行分析處理，得到被測DC/DC單元3在不同情況下的效率。

其中，圖2中的箭頭可以示意出信號的走向。

基于同樣的發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實施還提供一種如以上任意實施例所提供的DC/DC測試系統(tǒng)的測試方法，如圖3所示，至少包括如下步驟：

步驟310、主控單元在測試主機的指示下，控制可編程電源輸出不同的預(yù)設(shè)電壓信號；

步驟320、在每一預(yù)設(shè)電壓下，主控單元控制負載單元作為測試DC/DC所需的不同負載；

步驟330、輸入監(jiān)測單元監(jiān)測DC/DC單元的輸入端，輸出監(jiān)測單元監(jiān)測DC/DC單元輸出的電壓電流，并反饋給主控單元；

步驟340、主控單元將接收的電壓電流的監(jiān)測結(jié)果反饋給測試主機。

本發(fā)明實施例中，基于測試主機、主控單元、DC/DC單元、可編程電源、輸入監(jiān)測單元、輸出監(jiān)測單元、負載單元構(gòu)成的測試系統(tǒng)，可實現(xiàn)自動對DC/DC單元的效率測試，還可以實現(xiàn)線性調(diào)整率和負載調(diào)整率的測試，提高了測試效率。

基于本發(fā)明實施例提供的測試系統(tǒng)，可以進行線性調(diào)整率測試，具體的，上述步驟320中，控制可編程電源輸出不同的預(yù)設(shè)電壓，具體可以是：控制不同的預(yù)設(shè)電壓按照預(yù)定的步長變化。記錄DC/DC單元的不同輸入電壓下的ELVDD、ELVSS、AVDD輸出電壓，以計算線性調(diào)整率。

基于本發(fā)明實施例提供的測試系統(tǒng)，還可以進行負載調(diào)整率測試，具體的，上述步驟330中，控制負載單元中作為測試DC/DC所需的不同負載，具體可以是：控制負載單元中的電流按照預(yù)定的步長變化。記錄DC/DC單元的不同ELVDD、ELVSS、AVDD電流下的各路輸出電壓，以計算負載調(diào)整率。

基于本發(fā)明實施例提供的測試系統(tǒng)，還可以進行時分多址(time division multiple access，TDMA)測試，將可編程電源設(shè)定為不斷在兩個設(shè)定電壓之間跳變，加入示波器監(jiān)視DC/DC單元各路電源輸出狀況，可以模擬手機上射頻(Radio Freqency，RF)工作時瞬間大電流對電池輸出電壓造成的波動，測試DC/DC的抗干擾性能。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。