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一種板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):12252242閱讀:538來(lái)源:國(guó)知局
一種板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法與工藝

本實(shí)用新型涉及通信技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)。



背景技術(shù):

目前,冶金工業(yè)中矯直機(jī)的應(yīng)用已經(jīng)十分廣泛,然而由于板帶矯直機(jī)在生產(chǎn)過(guò)程中的工作輥撓度值只能靠理論計(jì)算得到,因此,無(wú)法為矯直機(jī)二級(jí)模型提供實(shí)時(shí)的工作輥撓度值,從而使得矯直二級(jí)模型在設(shè)定輥縫時(shí)的精度無(wú)法進(jìn)一步提高,進(jìn)而影響矯直質(zhì)量。

由此可見(jiàn),目前亟需一種實(shí)時(shí)檢測(cè)工作輥撓度值的系統(tǒng),以解決現(xiàn)有技術(shù)中不能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)板帶矯直機(jī)的工作輥撓度的問(wèn)題。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本實(shí)用新型的目的在于提供一種板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng),用以解決現(xiàn)有技術(shù)中不能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)工作輥撓度的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本實(shí)用新型提供一種板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng),該系統(tǒng)包括:

線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器,設(shè)置成出光面朝向所述板帶矯直機(jī)的工作輥,將線結(jié)構(gòu)光投射到所述工作輥的表面;

圖像傳感器,設(shè)置成其成像面位于預(yù)設(shè)光路上,所述預(yù)設(shè)光路為所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器的出光經(jīng)所述工作輥表面反射后的反射光路,以按照設(shè)定頻率采集反射的線結(jié)構(gòu)光在所述成像面形成的圖像;

數(shù)據(jù)處理服務(wù)器,與所述圖像傳感器通信連接,接收所述圖像以供計(jì)算工作輥撓度。

優(yōu)選地,所述圖像傳感器采用互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)圖像傳感器或電荷耦合(Charge Coupled Device,CCD)圖像傳感器實(shí)現(xiàn)。

優(yōu)選地,所述數(shù)據(jù)處理服務(wù)器包括:中央處理器(Central Processing Unit,CPU)、圖形處理器(Graphics Processing Unit,GPU)、微處理器(Micro Processor Unit,MPU)、數(shù)字信號(hào)處理器(Digital signal Processor,DSP)、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(Field Programmable Gate Array,F(xiàn)PGA)或集成電路芯片。

優(yōu)選地,所述數(shù)據(jù)處理服務(wù)器還包括:存儲(chǔ)器。

優(yōu)選地,所述系統(tǒng)還包括:

支架,所述支架的中軸線與所述板帶矯直機(jī)的中軸線對(duì)齊,所述圖像傳感器和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器設(shè)置于所述支架的中軸線上,且所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器設(shè)置于所述圖像傳感器的上方。

優(yōu)選地,所述圖像傳感器和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器套設(shè)于連接軸與所述支架連接。

優(yōu)選地,所述圖像傳感器和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器通過(guò)所述連接軸可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置于所述支架,所述工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)有供設(shè)置所述支架的工位,且于所述工位設(shè)有限制所述圖像傳感器和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器轉(zhuǎn)動(dòng)的限位結(jié)構(gòu)。

優(yōu)選地,所述連接軸帶有可調(diào)節(jié)的刻度。

優(yōu)選地,所述線結(jié)構(gòu)光為激光。

本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng),包括:線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器,設(shè)置成出光面朝向所述板帶矯直機(jī)的工作輥,將線結(jié)構(gòu)光投射到所述工作輥的表面;圖像傳感器,設(shè)置成其成像面位于預(yù)設(shè)光路上,所述預(yù)設(shè)光路為所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器的出光經(jīng)所述工作輥表面反射后的反射光路,以按照設(shè)定頻率采集反射的線結(jié)構(gòu)光在所述成像面形成的圖像;數(shù)據(jù)處理服務(wù)器,與所述圖像傳感器通信連接,接收所述圖像以供計(jì)算工作輥撓度。如此,本實(shí)用新型實(shí)施例通過(guò)線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器、圖像傳感器及數(shù)據(jù)處理服務(wù)器能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)板帶矯直機(jī)的工作輥撓度的實(shí)時(shí)檢測(cè),為矯直機(jī)二級(jí)模型實(shí)時(shí)提供工作輥撓度檢測(cè)值,從而提高矯直機(jī)二級(jí)模型設(shè)定精度,達(dá)到提高矯直質(zhì)量的目的。

附圖說(shuō)明

圖1顯示為本實(shí)用新型的板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2顯示為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例中的板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

以下通過(guò)特定的具體實(shí)例說(shuō)明本實(shí)用新型的實(shí)施方式,本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說(shuō)明書(shū)所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本實(shí)用新型還可以通過(guò)另外不同的具體實(shí)施方式加以實(shí)施或應(yīng)用,本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用,在沒(méi)有背離本實(shí)用新型的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。

請(qǐng)參閱附圖。需要說(shuō)明的是,本實(shí)施例中所提供的圖示僅以示意方式說(shuō)明本實(shí)用新型的基本構(gòu)想,遂圖式中僅顯示與本實(shí)用新型中有關(guān)的組件而非按照實(shí)際實(shí)施時(shí)的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪制,其實(shí)際實(shí)施時(shí)各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變,且其組件布局型態(tài)也可能更為復(fù)雜。

下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型再做進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)示意圖,如圖1所示,該系統(tǒng)包括:

線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器100,設(shè)置成出光面朝向所述板帶矯直機(jī)的工作輥,將線結(jié)構(gòu)光投射到所述工作輥的表面;

圖像傳感器101,設(shè)置成其成像面位于預(yù)設(shè)光路上,所述預(yù)設(shè)光路為所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器的出光經(jīng)所述工作輥的表面反射后的反射光路,以按照設(shè)定頻率采集反射的線結(jié)構(gòu)光在所述成像面形成的圖像;

數(shù)據(jù)處理服務(wù)器102,與所述圖像傳感器通信連接,接收所述圖像以供計(jì)算工作輥撓度。

其中,所述線結(jié)構(gòu)光為激光。

在實(shí)際應(yīng)用中,所述圖像傳感器101采用面陣CMOS圖像傳感器或面陣CCD圖像傳感器實(shí)現(xiàn),采用面陣CMOS或面陣CCD圖像傳感器實(shí)現(xiàn)對(duì)反射的線結(jié)構(gòu)光在所述成像面形成的圖像進(jìn)行采集,在圖像采集過(guò)程中不易受雜光干擾,且采集的圖像質(zhì)量高。

在實(shí)際應(yīng)用中,所述數(shù)據(jù)處理服務(wù)器包括:中央處理器CPU、圖形處理器GPU、微處理器MPU、數(shù)字信號(hào)處理器DSP、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列FPGA或集成電路芯片。

進(jìn)一步地,所述數(shù)據(jù)處理服務(wù)器還包括:存儲(chǔ)器。

進(jìn)一步地,所述系統(tǒng)還包括:

支架103,所述支架103的中軸線與所述板帶矯直機(jī)的中軸線對(duì)齊,所述圖像傳感器101和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器100設(shè)置于所述支架103的中軸線上,且所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器100設(shè)置于所述圖像傳感器101的上方。

優(yōu)選地,所述圖像傳感器101和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器100套設(shè)于連接軸與所述支架連接;其中,所述圖像傳感器101和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器100通過(guò)所述連接軸可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置于所述支架103,所述工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)有供設(shè)置所述支架103的工位,且于所述工位設(shè)有限制所述圖像傳感器101和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器100轉(zhuǎn)動(dòng)的限位結(jié)構(gòu)。

優(yōu)選地,所述連接軸帶有可調(diào)節(jié)的刻度,以使所述圖像傳感器101和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器100能夠相對(duì)于所述支架103進(jìn)行自由調(diào)節(jié),且調(diào)節(jié)位置可以通過(guò)所述連接軸的刻度讀數(shù)進(jìn)行調(diào)控。

下面在實(shí)際應(yīng)用中結(jié)合圖2,對(duì)所述板帶矯直機(jī)工作輥撓度的實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)的具體組成結(jié)構(gòu)及實(shí)現(xiàn)過(guò)程進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明:

如圖2所示,所述板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)安裝在所述板帶矯直機(jī)8的傳輸輥道10兩旁的地面上,安裝的具體位置在板帶矯直機(jī)的出口位置;該板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)包括:線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1,設(shè)置成出光面朝向所述板帶矯直機(jī)的工作輥;面陣CCD圖像傳感器3,設(shè)置成其成像面位于預(yù)設(shè)光路上;數(shù)據(jù)處理服務(wù)器6,與所述面陣CCD圖像傳感器3通信連接;支架5;

其中,所述支架5的中軸線與所述板帶矯直機(jī)8的中軸線對(duì)齊,所述面陣CCD圖像傳感器3和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1設(shè)置于所述支架5的中軸線,且所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1設(shè)置于所述面陣CCD圖像傳感器3的上方;所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1和所述面陣CCD圖像傳感器3套設(shè)于帶有可調(diào)節(jié)的刻度的連接軸4與所述支架5相連,所述工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)有供設(shè)置所述支架5的工位,且于所述工位設(shè)有限制所述面陣CCD圖像傳感器和所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1轉(zhuǎn)動(dòng)的限位結(jié)構(gòu);所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1和所述面陣CCD圖像傳感器3通過(guò)所述連接軸4能夠相對(duì)于所述支架5運(yùn)動(dòng),但在所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1和所述面陣CCD圖像傳感器3進(jìn)入工作位后相對(duì)于所述支架5靜止,且所述支架5與所述板帶矯直機(jī)8不能有相對(duì)運(yùn)動(dòng)。若所述矯直機(jī)8的入口設(shè)有導(dǎo)板擋住所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1投射線結(jié)構(gòu)光,則可以通過(guò)在所述導(dǎo)板的合適位置開(kāi)孔來(lái)解決這一問(wèn)題。

該系統(tǒng)的具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程為:所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器1檢測(cè)到所述板帶矯直機(jī)8的工作輥9滾動(dòng)時(shí),將線結(jié)構(gòu)光2投射到板帶矯直機(jī)8的工作輥9表面,所述線結(jié)構(gòu)光2通過(guò)所述工作輥表面反射到面陣CCD圖像傳感器3的成像面;面陣CCD圖像傳感器3按照設(shè)定頻率采集反射的線結(jié)構(gòu)光在所述成像面形成的圖像,再采集的圖像通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸線7傳送到所述數(shù)據(jù)處理服務(wù)器6,由所述數(shù)據(jù)處理服務(wù)器根據(jù)所述圖像計(jì)算工作輥撓度。

需要說(shuō)明的是:本實(shí)用新型實(shí)施例可以結(jié)合計(jì)算工作輥撓度的邏輯流程來(lái)實(shí)現(xiàn),但本實(shí)用新型是保護(hù)硬件系統(tǒng),而非保護(hù)該工作輥撓度計(jì)算的方法流程。

綜上所述,本實(shí)用新型提供的板帶矯直機(jī)的工作輥撓度實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng),包括:線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器,設(shè)置成出光面朝向所述板帶矯直機(jī)的工作輥,將線結(jié)構(gòu)光投射到所述工作輥的表面;圖像傳感器,設(shè)置成其成像面位于預(yù)設(shè)光路上,所述預(yù)設(shè)光路為所述線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器的出光經(jīng)所述工作輥表面反射后的反射光路,以按照設(shè)定頻率采集反射的線結(jié)構(gòu)光在所述成像面形成的圖像;數(shù)據(jù)處理服務(wù)器,與所述圖像傳感器通信連接,接收所述圖像以供計(jì)算工作輥撓度。如此,本實(shí)用新型實(shí)施例中通過(guò)線結(jié)構(gòu)光發(fā)射器、圖像傳感器及數(shù)據(jù)處理服務(wù)器能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)板帶矯直機(jī)的工作輥撓度的實(shí)時(shí)檢測(cè),為矯直機(jī)二級(jí)模型實(shí)時(shí)提供工作輥撓度值,從而提高矯直機(jī)二級(jí)模型的設(shè)定精度,達(dá)到提高矯直質(zhì)量的目的。

上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本實(shí)用新型的原理及其功效,而非用于限制本實(shí)用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實(shí)用新型的精神及范疇下,對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此,舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本實(shí)用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變,仍應(yīng)由本實(shí)用新型的權(quán)利要求所涵蓋。

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