技術(shù)特征：

1.一種微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，該校正方法包括以下步驟：

1)采集測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，判斷測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否異常以及異常類型；

2)根據(jù)異常類型選取異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值；

3)利用異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)的相似性計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，根據(jù)可信度判斷異常數(shù)據(jù)是否可信；

4)當(dāng)異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，將平均值代替異常數(shù)據(jù)作為校正值；若異常數(shù)據(jù)可信，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征加上其對(duì)應(yīng)的平均值作為異常數(shù)據(jù)的校正值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，所述的異常數(shù)據(jù)至少包括以下任意一種：存在極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小；存在不同井段間縱向電導(dǎo)率差異大于設(shè)定值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，當(dāng)異常數(shù)據(jù)為極板或電扣數(shù)據(jù)與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小時(shí)，其平均值計(jì)算為：

I.根據(jù)極板和電扣在儀器上的排列規(guī)律，在橫向上和縱向上找出異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)；

II.利用相鄰正常數(shù)據(jù)，通過(guò)反距離加權(quán)插值法依次計(jì)算出異常數(shù)據(jù)深度位置的正常數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，當(dāng)不同井段間縱向電導(dǎo)率差異大于設(shè)定值時(shí)，其對(duì)應(yīng)的平均值計(jì)算過(guò)程為：

a.設(shè)異常數(shù)據(jù)深度范圍為B-C，其相鄰正常深度范圍為A-B與C-D，深度方向上A＜B＜C＜D；

b.計(jì)算A-B的平均值為P，C-D的平均值為Q；

c.將B-C深度范圍劃分為n段，計(jì)算每一段的平均值V_i，

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，所述步驟3)中異常數(shù)據(jù)可信度的計(jì)算如下：

將異常數(shù)據(jù)B和與其相鄰的正常數(shù)據(jù)A和C均平均分為m段，并計(jì)算異常數(shù)據(jù)中每一段的平均值B_i、與其相鄰的正常數(shù)據(jù)中每一段的平均值A(chǔ)_i和C_i，1≤i≤m-1；

分別統(tǒng)計(jì)A_i+1-A_i與B_i+1-B_i以及C_i+1-C_i與B_i+1-B_i符號(hào)相同的個(gè)數(shù)，計(jì)算B與C以及B與A的相同率R_B-C和R_B-A，R_B-C和R_B-A中的較大者即為異常數(shù)據(jù)B的可信度。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，當(dāng)異常數(shù)據(jù)可信時(shí)，其校正過(guò)程如下：

(1)在異常范圍內(nèi)將異常數(shù)據(jù)平均分為至少兩段，每一段中每個(gè)電扣有n個(gè)數(shù)據(jù)；

(2)計(jì)算所述n個(gè)數(shù)據(jù)的平均值P，并計(jì)算每個(gè)數(shù)據(jù)相對(duì)于P的增量Wi，W_i＝V_i/p(1≤i≤n)；

(3)將增量W_i“加”到Q上，即Z_i＝W_i*Q，其中Z_i即為校正后的值。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，所述的異常數(shù)據(jù)還包括檢測(cè)的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，若檢測(cè)的數(shù)據(jù)為負(fù)數(shù)，則將其映射為正數(shù)，并判斷映射的數(shù)據(jù)是否存在偏大或偏小的異常，若存在則利用步驟2)-4)進(jìn)行校正。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正方法，其特征在于，將負(fù)的測(cè)井?dāng)?shù)映射為正的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)的過(guò)程如下：

A.設(shè)某極板的某電扣在某一深度范圍的數(shù)據(jù)為V₁、V₂...V_n，其中V₁和V_n為正數(shù)，而V₂到V_n-1全為負(fù)數(shù)；

B.求出V₂到V_n-1范圍內(nèi)的最小值V_min，且V_min所在的深度為D；

C.求出相鄰正常電扣在深度D處的平均值V_aver；

D.通過(guò)線性映射方程y＝kx+b，將V₂到V_min之間的值映射到V_aver與V₁范圍內(nèi)，線性映射處理后，V₁到V_min之間的數(shù)值都為正數(shù)，

其中b＝V₁；

E.同理，對(duì)于V_min到V_n-1之間的數(shù)據(jù)映射方法，其映射方程也為y＝kx+b，其中b＝V_n。

9.一種微電阻率掃描成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)異常校正裝置，其特征在于，該校正裝置包括異常判斷模塊、均值計(jì)算模塊、可信度計(jì)算模塊和校正模塊，

所述的異常判斷模塊用于采集測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，判斷測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是否異常以及異常類型；

所述的均值計(jì)算模塊用于根據(jù)異常類型選取異常數(shù)據(jù)相鄰的正常數(shù)據(jù)計(jì)算平均值；

所述的可信度計(jì)算模塊利用異常數(shù)據(jù)與相鄰正常數(shù)據(jù)的相似性計(jì)算異常數(shù)據(jù)的可信度，根據(jù)可信度判斷異常數(shù)據(jù)是否可信；

所述的校正模塊用于當(dāng)異常數(shù)據(jù)不可信時(shí)，將平均值代替異常數(shù)據(jù)作為校正值；若異常數(shù)據(jù)可信，則提取異常數(shù)據(jù)的變化特征，并將變化特征加上其對(duì)應(yīng)的平均值作為異常數(shù)據(jù)的校正值。