技術總結
本發(fā)明公開了一種紅外熱像儀測量物體表面發(fā)射率的方法，使用穩(wěn)定了10?min以上的熱像儀，調(diào)整熱像儀的焦距，使被測物體、面源黑體和標準漫反射板能夠清晰成像，將熱像儀中心像素點P對準面源黑體，調(diào)整面源黑體表面溫度，使P?點灰度為H2，重復測量，使H1＝H2，記錄面源黑體溫度與標準漫反射板溫度，利用熱像儀像素點P?測量被測物體表面，使P點灰度為H3，將熱像儀中心像素點P再次對準面源黑體，調(diào)整面源黑體溫度使P點灰度為H2，重復測量，使H2=?H3，記錄面源黑體溫度與被測物體表面溫度，分析測量數(shù)據(jù)獲得物體表面發(fā)射率，該方法提高了發(fā)射率測量精度，誤差小，對發(fā)射率偏低的設備，測量精度提升較為明顯。
技術研發(fā)人員：沈慶剛;夏玉保;夏飛云
受保護的技術使用者：桂林市新業(yè)機械制造有限責任公司
文檔號碼：201510301822
技術研發(fā)日：2015.06.05
技術公布日：2016.12.21