一種公座連接器測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種公座連接器測試裝置，它包括底座、上針塊、下針塊和兩組雙頭探針，所述上針塊和下針塊之間通過螺絲固定，且上針塊和下針塊之間均具有用于放置兩組雙頭探針的通孔，所述上針塊上端上設(shè)有一凸起，所述凸起上具有一凹槽，所述凹槽底面上設(shè)有一凸塊，下針塊下端上固定有一轉(zhuǎn)換PCB；所述兩組雙頭探針的上端和下端均分別為上針桿和下針桿，所述上針桿和下針桿均可伸出和縮回，上針桿穿過凸起上的上針桿通孔位于所述凹槽內(nèi)，且上針桿一側(cè)靠近所述凸塊側(cè)面，另一側(cè)與所述凹槽側(cè)面之間形成一容納空間，下針桿頂端與所述轉(zhuǎn)換PCB電性連接。其有益效果在于：本實用新型可實現(xiàn)對公座連接器的測試，測試過程快且不會對公座連接器造成損傷，效率高。
【專利說明】一種公座連接器測試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種測試裝置，尤其是涉及一種PCB板對PCB板或PCB板對FPC公座連接器測試裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]PCB是重要的電子部件，是電子元件的支撐體，是電子元器件線路連接的提供者。PCB板對PCB板或PCB板對FPC的連接器一般分為公座連接器和母座連接器，而PCB板對PCB板或PCB板對FPC的連接器測試，由于連接器引腳間距較小，公座連接器和母座連接器多采用手工對插的方式來實現(xiàn)測試，即手工將公座連接器和母座連接器手工插好后再測試，完成測試后再手工分離拔出。目前，現(xiàn)有的母座連接器可用探針直接接觸母座連接器內(nèi)的金屬簧片來進行測試，但是公座連接器卻無法實現(xiàn)。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型的目的在于有效克服上述技術(shù)的不足，提供一種公座連接器測試裝置，可實現(xiàn)對公座連接器的測試。
[0004]本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:它包括底座、上針塊、下針塊和兩組雙頭探針，其改進之處在于:所述上針塊和下針塊之間通過螺絲固定，且上針塊和下針塊之間均具有用于放置所述兩組雙頭探針的通孔，所述上針塊上端上設(shè)有一凸起，所述凸起上具有一凹槽，所述凹槽底面上設(shè)有一凸塊，所述下針塊下端上固定有一轉(zhuǎn)換PCB ;所述兩組雙頭探針的上端和下端均分別為上針桿和下針桿，所述上針桿和下針桿均可伸出和縮回，上針桿穿過凸起上的上針桿通孔位于所述凹槽內(nèi)，且上針桿一側(cè)靠近所述凸塊側(cè)面，另一側(cè)與所述凹槽側(cè)面之間形成一容納空間，下針桿頂端與所述轉(zhuǎn)換PCB電性連接。
[0005]上述結(jié)構(gòu)中，所述兩組雙頭探針均由上針桿、針管、壓縮彈簧和下針桿組成，所述壓縮彈簧設(shè)置在所述針管內(nèi)，所述上針桿和下針桿的底端均設(shè)置在針管內(nèi)，且上針桿和下針桿的底端分別抵壓在所述壓縮彈簧的兩端上。
[0006]上述結(jié)構(gòu)中，所述上針桿和下針桿的頂端均呈尖頭狀。
[0007]上述結(jié)構(gòu)中，所述底座、轉(zhuǎn)換PCB、下針塊和上針塊上均設(shè)有定位銷孔，底座、轉(zhuǎn)換PCB、下針塊和上針塊之間通過定位銷定位。
[0008]本實用新型的有益效果在于:本實用新型提供的一種公座連接器測試裝置，可實現(xiàn)對公座連接器的測試，將公座連接器插入凹槽內(nèi)，使公座連接器側(cè)端卡入容納空間內(nèi)，公座連接器的金屬簧片會與上針桿側(cè)面接觸，在公座連接器被壓下時，上針桿側(cè)面與金屬簧片導(dǎo)通，即可進行測試，測試完成后直接分開即可，本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，測試過程快且不會對公座連接器造成損傷，效率高，易操作，實用性強，極大的滿足了市場需求。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型一種公座連接器測試裝置的分解圖
[0010]圖2為本實用新型一種公座連接器測試裝置的剖面示意圖
[0011]圖中:1、底座；2、上針塊；3、下針塊；4、凸起；5、凹槽；6、凸塊;7、轉(zhuǎn)換PCB ;8、上針桿；9、下針桿；10、針管；11、容納空間；12、定位銷；13、螺絲；14、連接器；15、金屬簧片。

【具體實施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步的描述。
[0013]參照圖1和圖2所示，本實用新型揭示的一種公座連接器測試裝置，可實現(xiàn)對公座連接器的測試，它包括底座1、上針塊2、下針塊3和兩組雙頭探針，兩組雙頭探針并排設(shè)置，上針塊2和下針塊3之間通過螺絲13固定，且上針塊2和下針塊3之間均具有用于放置兩組雙頭探針的通孔，上針塊2上端上設(shè)有一凸起4，凸起4上具有一凹槽5，與公座連接器的大小相適配，便于插入公座連接器，凹槽5底面上設(shè)有一凸塊6，當(dāng)將公座連接器插入凹槽5中時，用于對公座連接器的插入深度進行限定，下針塊3下端上固定有一轉(zhuǎn)換PCB7。在本實施例中，兩組雙頭探針均由上針桿8、針管10、壓縮彈簧和下針桿9組成，壓縮彈簧設(shè)置在針管10內(nèi)，上針桿8和下針桿9的底端均設(shè)置在針管10內(nèi)，且上針桿8和下針桿9的底端分別抵壓在壓縮彈簧的兩端上，因而上針桿8和下針桿9均可在外力作用下向針管10內(nèi)縮回，當(dāng)外力消失時，在壓縮彈簧的作用下伸出針管10外，上針桿8穿過凸起4上的上針桿通孔位于凹槽5內(nèi)，且上針桿8 一側(cè)靠近凸塊6側(cè)面，另一側(cè)與凹槽5側(cè)面之間形成一容納空間11，與公座連接器的側(cè)端相卡合，公座連接器的金屬簧片15與上針桿8的側(cè)面接觸，上針桿8側(cè)面與金屬簧片15導(dǎo)通，下針桿9頂端與轉(zhuǎn)換PCB7電性連接，上針桿8和下針桿9的頂端均呈尖頭狀，便于下針桿9與轉(zhuǎn)換PCB7的電性連接。
[0014]在本實施例中，底座1、轉(zhuǎn)換PCB7、下針塊3和上針塊2上均設(shè)有定位銷孔，底座1、轉(zhuǎn)換PCB7、下針塊3和上針塊2之間通過定位銷12定位，定位銷12為兩個，對底座1、轉(zhuǎn)換PCB7、下針塊3和上針塊2之間能起到很好的定位作用。
[0015]通過上述結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)換PCB7固定在下針塊3的下端上，使下針桿9的頂端與轉(zhuǎn)換PCB7電性連接，再通過轉(zhuǎn)換PCB7上的線路與其底部焊接的連接器14對應(yīng)管腳導(dǎo)通，再由FPC連接器與轉(zhuǎn)換PCB7對接后引出相應(yīng)的電氣信號，從下針桿9到轉(zhuǎn)換PCB7，再到FPC連接器對接后引出來的部分，一直處于連接、導(dǎo)通狀態(tài)。將公座連接器插入凹槽5內(nèi)，使公座連接器側(cè)端卡入容納空間11內(nèi)，公座連接器的金屬簧片15會與上針桿8側(cè)面接觸，在公座連接器被壓下時，上針桿8側(cè)面與金屬簧片15導(dǎo)通，即可進行測試，測試完成后直接分開即可，本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，測試過程快且不會對公座連接器造成損傷，效率高，易操作，實用性強，極大的滿足了市場需求。
[0016]以上所描述的僅為本實用新型的較佳實施例，上述具體實施例不是對本實用新型的限制。在本實用新型的技術(shù)思想范疇內(nèi)，可以出現(xiàn)各種變形及修改，凡本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)以上描述所做的潤飾、修改或等同替換，均屬于本實用新型所保護的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種公座連接器測試裝置，它包括底座、上針塊、下針塊和兩組雙頭探針，其特征在于:所述上針塊和下針塊之間通過螺絲固定，且上針塊和下針塊之間均具有用于放置所述兩組雙頭探針的通孔，所述上針塊上端上設(shè)有一凸起，所述凸起上具有一凹槽，所述凹槽底面上設(shè)有一凸塊，所述下針塊下端上固定有一轉(zhuǎn)換PCB ;所述兩組雙頭探針的上端和下端均分別為上針桿和下針桿，所述上針桿和下針桿均可伸出和縮回，上針桿穿過凸起上的上針桿通孔位于所述凹槽內(nèi)，且上針桿一側(cè)靠近所述凸塊側(cè)面，另一側(cè)與所述凹槽側(cè)面之間形成一容納空間，下針桿頂端與所述轉(zhuǎn)換PCB電性連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種公座連接器測試裝置，其特征在于:所述兩組雙頭探針均由上針桿、針管、壓縮彈簧和下針桿組成，所述壓縮彈簧設(shè)置在所述針管內(nèi)，所述上針桿和下針桿的底端均設(shè)置在針管內(nèi)，且上針桿和下針桿的底端分別抵壓在所述壓縮彈簧的兩端上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種公座連接器測試裝置，其特征在于:所述上針桿和下針桿的頂端均呈尖頭狀。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種公座連接器測試裝置，其特征在于:所述底座、轉(zhuǎn)換PCB、下針塊和上針塊上均設(shè)有定位銷孔，底座、轉(zhuǎn)換PCB、下針塊和上針塊之間通過定位銷定位。
【文檔編號】G01R31/04GK204203401SQ201420683562
【公開日】2015年3月11日 申請日期:2014年11月14日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月14日
【發(fā)明者】宋濤 申請人:深圳市明信測試設(shè)備有限公司