一種多電阻測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】一種多電阻測(cè)試裝置，設(shè)置有水平載料臺(tái)、縱向支架、檢測(cè)單元、滑動(dòng)導(dǎo)軌和縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；水平載料臺(tái)與縱向支架呈垂直設(shè)置，所述測(cè)單元設(shè)置于水平載料臺(tái)上方，滑動(dòng)導(dǎo)軌一端固定于水平載料臺(tái)，且滑動(dòng)導(dǎo)軌穿設(shè)于檢測(cè)單元并活動(dòng)裝配于檢測(cè)單元，縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)固定于縱向支架，縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述測(cè)單元縱向移動(dòng)；檢測(cè)單元設(shè)置有基板以及裝配于基板的多個(gè)探針，探針露出所述基板的一端用于與待測(cè)基板電阻接觸，探針露出所述基板的另一端與檢測(cè)電路的輸入端連接。該多電阻測(cè)試裝置可以通過(guò)探針一次檢測(cè)多組電阻，不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且具有檢測(cè)方便、檢測(cè)效率高、結(jié)果精確的特點(diǎn)。
【專利說(shuō)明】-種多電阻測(cè)試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及電子產(chǎn)品檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種多電阻測(cè)試裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 電阻是電子產(chǎn)品廣泛使用的元器件之一，電阻阻值的精確度是眾多器件有效工作 的重要保障?，F(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)厚膜電阻測(cè)試通常是通過(guò)萬(wàn)用表逐個(gè)進(jìn)行檢測(cè)，不僅效率低， 而且容易出現(xiàn)差錯(cuò)的情況。
[0003] 因此，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、可以一次進(jìn)行多個(gè)電阻檢測(cè)的多電 阻測(cè)試裝置以克服現(xiàn)有技術(shù)不足甚為必要。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本實(shí)用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處而提供一種多電阻測(cè)試裝置，具 有檢測(cè)結(jié)果精確，適用性強(qiáng)的特點(diǎn)。
[0005] 本實(shí)用新型的上述目的通過(guò)如下技術(shù)手段實(shí)現(xiàn)。
[0006] -種多電阻測(cè)試裝置，設(shè)置有水平載料臺(tái)、縱向支架、檢測(cè)單元、滑動(dòng)導(dǎo)軌和縱向 驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；
[0007] 所述水平載料臺(tái)與所述縱向支架呈垂直設(shè)置，所述檢測(cè)單元設(shè)置于所述水平載料 臺(tái)上方，所述滑動(dòng)導(dǎo)軌一端固定于所述水平載料臺(tái)，且所述滑動(dòng)導(dǎo)軌穿設(shè)于所述檢測(cè)單元 并活動(dòng)裝配于所述檢測(cè)單元，所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)固定于所述縱向支架，所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu) 驅(qū)動(dòng)所述檢測(cè)單元縱向移動(dòng)；
[0008] 所述檢測(cè)單元設(shè)置有基板以及裝配于基板的多個(gè)探針，所述探針固定裝配于所述 基板，所述探針露出所述基板的一端用于與待測(cè)基板上的電阻接觸，所述探針露出所述基 板的另一端與檢測(cè)電路的輸入端連接。
[0009] 上述基板設(shè)置有裝配孔，所述探針裝配于所述裝配孔。
[0010] 上述檢測(cè)單元還設(shè)置有蓋板，所述蓋板罩設(shè)于所述探針上方并固定于所述基板， 所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述蓋板固定連接。
[0011] 優(yōu)選的，上述蓋板與所述基板設(shè)置為一體成型結(jié)構(gòu)。
[0012] 上述探針露出所述基板的一端為探針具有彈性結(jié)構(gòu)的一端。
[0013] 上述滑動(dòng)導(dǎo)軌套設(shè)有軸承。
[0014] 優(yōu)選的，上述多電阻測(cè)試裝置還設(shè)置有緩沖彈簧，所述緩沖彈簧套設(shè)于所述滑動(dòng) 導(dǎo)軌且所述緩沖彈簧位于所述基板與所述水平載料臺(tái)之間。
[0015] 上述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)置有連桿、固定座、測(cè)試手柄和連接耳,所述固定座固定設(shè)置 于所述縱向支架，所述固定座設(shè)置有上連接端和下連接端；
[0016] 所述連桿的一端與所述蓋板固定連接，所述連桿穿過(guò)所述固定座的下連接端并與 所述連接耳的一端軸接，所述連接耳的另一端與所述測(cè)試手柄的中部軸接，所述測(cè)試手柄 的固定端與所述固定座的上連接端軸接。
[0017] 優(yōu)選的，上述多電阻測(cè)試裝置還設(shè)置有底座，所述水平載料臺(tái)固定設(shè)置于所述底 座。
[0018] 優(yōu)選的，上述多電阻測(cè)試裝置還設(shè)置有顯示屏幕，所述檢測(cè)電路的輸出端與所述 顯示屏連接。
[0019] 本實(shí)用新型的多電阻測(cè)試裝置，設(shè)置有水平載料臺(tái)、縱向支架、檢測(cè)單元、滑動(dòng)導(dǎo) 軌和縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；所述水平載料臺(tái)與所述縱向支架呈垂直設(shè)置，所述檢測(cè)單元設(shè)置于所 述水平載料臺(tái)上方，所述滑動(dòng)導(dǎo)軌一端固定于所述水平載料臺(tái)，且所述滑動(dòng)導(dǎo)軌穿設(shè)于所 述檢測(cè)單元并活動(dòng)裝配于所述檢測(cè)單元，所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)固定于所述縱向支架，所述縱 向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述檢測(cè)單元縱向移動(dòng)；所述檢測(cè)單元設(shè)置有基板以及裝配于基板的多個(gè) 探針，所述探針固定裝配于所述基板，所述探針露出所述基板的一端用于與待測(cè)基板上的 電阻接觸，所述探針露出所述基板的另一端與檢測(cè)電路的輸入端連接。該多電阻測(cè)試裝置 可以通過(guò)探針一次檢測(cè)多組電阻，不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且具有檢測(cè)方便、檢測(cè)效率高、結(jié)果精 確的特點(diǎn)。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0020] 利用附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說(shuō)明，但附圖中的內(nèi)容不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的 任何限制。
[0021] 圖1是本實(shí)用新型一種多電阻測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0022] 圖2是本實(shí)用新型一種多電阻測(cè)試裝置的檢測(cè)處理單元的電路示意圖。
[0023] 在圖1、圖2中，包括：
[0024] 水平載料臺(tái)100、
[0025] 縱向支架200、
[0026] 檢測(cè)單元300、
[0027] 基板 310、
[0028] 探針 320、
[0029] 蓋板 330、
[0030] 滑動(dòng)導(dǎo)軌400、軸承410、
[0031] 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、
[0032] 連桿 510、
[0033] 固定座 520、
[0034] 上連接端521、下連接端522、
[0035] 測(cè)試手柄530、
[0036] 測(cè)試手柄的固定端531、
[0037] 連接耳 540、
[0038] 底座 600、
[0039] 檢測(cè)樣品700、
[0040] 數(shù)碼顯示10、
[0041] 數(shù)碼管電路11、段限流電路12、驅(qū)動(dòng)電路13、
[0042] 報(bào)警單元20、信號(hào)采集單元30、濾波單元40、
[0043] 電源退耦單元50、微處理器60、
[0044] 觸發(fā)開(kāi)關(guān)單元70、復(fù)位單元80、指示單元90。

【具體實(shí)施方式】
[0045] 結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
[0046] 實(shí)施例1。
[0047] 一種多電阻測(cè)試裝置，如圖1所示，設(shè)置有水平載料臺(tái)100、縱向支架200、檢測(cè)單 元300、滑動(dòng)導(dǎo)軌400和縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)。該多電阻測(cè)試裝置還設(shè)置有底座600,水平載料臺(tái) 100固定設(shè)置于底座600。
[0048] 水平載料臺(tái)100用于承載待檢測(cè)的多個(gè)電阻單元，縱向支架200提供安裝縱向結(jié) 構(gòu)的支架，檢測(cè)單元300用于對(duì)待檢測(cè)的樣品進(jìn)行電性能檢測(cè)。
[0049] 具體的，水平載料臺(tái)100與縱向支架200呈垂直設(shè)置，檢測(cè)單元300設(shè)置于水平載 料臺(tái)100上方，滑動(dòng)導(dǎo)軌400 -端固定于水平載料臺(tái)100,且滑動(dòng)導(dǎo)軌400穿設(shè)于檢測(cè)單元 300并活動(dòng)裝配于檢測(cè)單元300,縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)固定于縱向支架200,縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)檢 測(cè)單元300縱向移動(dòng)。通過(guò)縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)單元300縱向移動(dòng)，可以調(diào)整檢測(cè)單元 300靠近或者遠(yuǎn)離帶檢測(cè)的基板上的電阻，以便有效控制檢測(cè)過(guò)程?；瑒?dòng)導(dǎo)軌400提供了在 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)下，檢測(cè)單元300移動(dòng)的軌道，使得檢測(cè)單元300能夠沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400 上下移動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)單元300靠近或者遠(yuǎn)離水平載料臺(tái)100。
[0050] 檢測(cè)單元300設(shè)置有基板310以及裝配于基板310的多個(gè)探針320,探針320固 定裝配于基板310,探針320露出基板310的一端用于與待測(cè)基板310帶接觸，探針320露 出所述基板310的另一端與檢測(cè)電路的輸入端連接。探針320露出基板310的一端為探針 320具有彈性結(jié)構(gòu)的一端。作為本領(lǐng)域公知常識(shí)，為了避免探針320在接觸檢測(cè)樣品的過(guò)程 中出現(xiàn)探針320碰撞損傷，探針320接觸檢測(cè)樣品的一端一般設(shè)置為彈性結(jié)構(gòu)，探針320的 具體結(jié)構(gòu)在此不再贅述。
[0051] 具體的，基板310設(shè)置有裝配孔，探針320裝配于裝配孔。
[0052] 檢測(cè)單元300還設(shè)置有蓋板330,蓋板330罩設(shè)于探針320上方并固定于基板310， 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與蓋板330固定連接?？蓪⑸w板330與基板310設(shè)置為一體成型結(jié)構(gòu)，具有 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，制備方便的特點(diǎn)。
[0053] 當(dāng)檢測(cè)單元300靠近水平載料臺(tái)100上的檢測(cè)樣品時(shí)，探針320露出基板310的一 端逐漸靠近檢測(cè)樣品并最終與檢測(cè)樣品有效接觸，探針320的另一端件檢測(cè)信息輸送至檢 測(cè)電路，檢測(cè)電路根據(jù)探針320輸送的電信號(hào)進(jìn)行計(jì)算求得待檢測(cè)樣品相應(yīng)部位的參數(shù)并 進(jìn)行輸出?？稍O(shè)置顯示屏幕，將檢測(cè)電路的輸出端與顯示屏連接，實(shí)現(xiàn)檢測(cè)結(jié)果的直觀化。
[0054] 滑動(dòng)導(dǎo)軌400套設(shè)有軸承410。為了保護(hù)設(shè)備，確保檢測(cè)單元300移動(dòng)過(guò)程中的 穩(wěn)定，該多電阻檢測(cè)裝置還設(shè)置有緩沖彈簧，緩沖彈簧套設(shè)于滑動(dòng)導(dǎo)軌且緩沖彈簧位于基 板310與水平載料臺(tái)100之間，以緩沖檢測(cè)單元300沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400移動(dòng)過(guò)程中能夠平 穩(wěn)定位。需要說(shuō)明的是，實(shí)現(xiàn)緩沖功能的結(jié)構(gòu)很多，不局限于本實(shí)施例的緩沖彈簧結(jié)構(gòu)。也 可以單獨(dú)在水平載料臺(tái)100上固定一些彈簧或者通過(guò)其它方式實(shí)現(xiàn)緩沖效果。
[0055] 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)置有連桿510、固定座520、測(cè)試手柄530和連接耳540,固定座固 定設(shè)置于縱向支架200,固定座520設(shè)置有上連接端521和下連接端522。
[0056] 連桿510的一端與蓋板330固定連接，連桿510穿過(guò)固定座520的下連接端522并 與連接耳540的一端軸接，連接耳540的另一端與測(cè)試手柄530的中部軸接，測(cè)試手柄530 的固定端531與固定座520的上連接端521軸接。
[0057] 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)提供使檢測(cè)單元300縱向移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)力，檢測(cè)完畢后，將測(cè)試手柄 530抬高時(shí)，測(cè)試手柄530的固定沿著固定座的連接端向上旋轉(zhuǎn)，測(cè)試手柄530的中部帶動(dòng) 連接耳540向上方移動(dòng)，連接耳540帶動(dòng)連桿510也向上移動(dòng)，連桿510帶動(dòng)蓋板330也向 上運(yùn)動(dòng)，從而帶動(dòng)基板310及探針320 -起沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400向上移動(dòng)。此時(shí)，檢測(cè)單元 300與水平載料臺(tái)100上的檢測(cè)樣品700分離。當(dāng)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，將測(cè)試手柄530推下，測(cè)試 手柄530的固定端531沿著固定座的連接端向下旋轉(zhuǎn)，測(cè)試手柄530的中部帶動(dòng)連接耳540 向下方移動(dòng)，連接耳540帶動(dòng)連桿510也向上下移動(dòng)，連桿510帶動(dòng)蓋板330也向下運(yùn)動(dòng)， 從而帶動(dòng)基板310及探針320 -起沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400向下移動(dòng)。此時(shí)，探針320與水平載 料臺(tái)100上的檢測(cè)樣品接觸，進(jìn)行電性能檢測(cè)。該縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制備方便，操 作便捷。
[0058] 需要說(shuō)明的是，縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)不局限于本實(shí)施例的情況，只要能夠?qū)崿F(xiàn)將 檢測(cè)單元300沿著縱向移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)都符合要求。如可通過(guò)氣缸帶動(dòng)蓋板330移動(dòng)，也 可以通過(guò)馬達(dá)帶動(dòng)蓋板330移動(dòng)，或者其它如齒輪驅(qū)動(dòng)等結(jié)構(gòu)。
[0059] 該多電阻測(cè)試裝置可以根據(jù)不同的電阻間位置特征設(shè)置不同的探針320排布，通 過(guò)探針一次檢測(cè)多組電阻，不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且具有檢測(cè)方便、檢測(cè)效率高、結(jié)果精確的特 點(diǎn)。
[0060] 圖2是本多電阻測(cè)試裝置使用的一種檢測(cè)處理單元的電路示意圖，如圖2所示，設(shè) 置有信號(hào)采集單元30、濾波單元40、數(shù)碼顯示單元10、復(fù)位單元80、觸發(fā)開(kāi)關(guān)單元70和微 處理器60。
[0061] 微處理器60為型號(hào)STC12C5404AD的芯片。信號(hào)采集單元30的輸出端與濾波單 元40的輸入端連接，濾波單元40的輸出端、數(shù)碼顯示單元10、復(fù)位單元80、觸發(fā)開(kāi)關(guān)單元 70分別與微處理器60連接。
[0062] 觸發(fā)開(kāi)關(guān)單元70設(shè)置有開(kāi)關(guān)S1和開(kāi)關(guān)S2,開(kāi)關(guān)S1的一端、開(kāi)關(guān)S2的一端接地， 開(kāi)關(guān)S1的另一端與所述微處理器60的引腳8連接，開(kāi)關(guān)S2的另一端與微處理器60的引 腳9連接。觸發(fā)開(kāi)關(guān)S1用于控制系統(tǒng)的校準(zhǔn)，閉合開(kāi)關(guān)S1，系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)，確保檢查結(jié)果的 準(zhǔn)確性。觸發(fā)開(kāi)關(guān)用于控制顯示功能，閉合開(kāi)關(guān)S2后，顯示單元會(huì)顯示相應(yīng)檢查結(jié)果。
[0063] 復(fù)位單元80設(shè)置有電容C1和電阻R1，電容C1的一端與VCC連接，電容C1的另一 端、電阻R1 -端與微處理器60的引腳13連接，電阻R1另一端接地。復(fù)位單元80用于保 持微控制器復(fù)位狀態(tài)，確保微控制器穩(wěn)定工作。
[0064] 信號(hào)采集單設(shè)置有電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9。
[0065] 濾波電路設(shè)置有電阻R41、電阻R42、電阻R43、電阻R44、電阻R45、電阻R46、電容 C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46。
[0066] 電阻R4的一端與電阻R46 -端連接，電阻R46另一端與電容C46、微處理器60的 引腳20連接，電阻R5的一端與電阻R45 -端連接，電阻R45另一端與電容C45、微處理器 60的引腳21連接，電阻R6的一端與電阻R44 -端連接，電阻R44另一端與電容C44、微處 理器60的引腳22連接，電阻R7的一端與電阻R43 -端連接，電阻R43另一端與電容C43、 微處理器60的引腳23連接，電阻R8的一端與電阻R42 -端連接，電阻R42另一端與電容 C42、微處理器60的引腳24連接，所述電阻R9的一端與電阻R41 -端連接，電阻R41另一 端與電容C43、微處理器60的引腳25連接，電阻R4、電阻R45、電阻R6、電阻R7、電阻R8和 電阻R9的另一端均接地，電容C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46的另 一端均接地。
[0067] 采集單元通過(guò)電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9的一端連接采 集數(shù)據(jù)，所采集的數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)濾波單元40濾波后輸送至微處理器60。微處理器60對(duì)所采集 的數(shù)據(jù)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，并進(jìn)行計(jì)算判斷，并控制其它單元工作。
[0068] 數(shù)碼顯示單元10設(shè)置有數(shù)碼管電路11、段限流電路12和驅(qū)動(dòng)電路13。
[0069] 數(shù)碼管電路11包括四組八段共陰數(shù)碼管；段限流電路12設(shè)置有電阻R14、電阻 R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻R19、電阻R20和電阻R21 ;驅(qū)動(dòng)電路13設(shè)置有電阻 R11、電阻R12、電阻R13、電阻R24、三極管Q2、三極管Q3、三極管Q4和三極管Q5。
[0070] 數(shù)碼管電路11的a腳與電阻R14 -端連接，電阻R14另一端與微處理器60的引 腳16連接，數(shù)碼管電路11的b腳與電阻R15 -端連接，電阻R15另一端與微處理器60的 引腳15連接，數(shù)碼管電路11的c腳與電阻R16 -端連接，電阻R16另一端與微處理器60 的引腳13連接，數(shù)碼管電路11的d腳與電阻R17 -端連接，電阻R17另一端與微處理器60 的引腳12連接，數(shù)碼管電路11的e腳與電阻R18 -端連接，電阻R18另一端與微處理器60 的引腳2連接，數(shù)碼管電路11的f腳與電阻R19 -端連接，電阻R19另一端與微處理器60 的引腳1連接，數(shù)碼管電路11的g腳與電阻R20 -端連接，電阻R20另一端與微處理器60 的引腳27連接，數(shù)碼管電路11的dp腳與電阻R21 -端連接，電阻R21另一端與微處理器 60的引腳26連接。
[0071] 三級(jí)管Q5的射極與數(shù)碼管電路11的coml腳連接，三級(jí)管Q5的射基極與電阻R24 一端連接，電阻R24另一端與所述微處理器60的引腳18連接，三級(jí)管Q4的射極與數(shù)碼管 電路11的com2腳連接，三級(jí)管Q4的射基極與電阻R13 -端連接，電阻R13另一端與微處 理器60的引腳17連接，三級(jí)管Q3的射極與數(shù)碼管電路11的com3腳連接，三級(jí)管Q3的射 基極與電阻R12 -端連接，電阻R12另一端與所述微處理器60的引腳11連接，三級(jí)管Q2 的射極與數(shù)碼管電路11的com4腳連接，三級(jí)管Q2的射基極與電阻R11 -端連接，電阻R11 另一端與所述微處理器60的引腳10連接，三級(jí)管Q5的集電極、三級(jí)管Q4的集電極、三級(jí) 管Q3的集電極和三級(jí)管Q2的集電極均接地。
[0072] 檢測(cè)處理電路還設(shè)置有報(bào)警單元20,報(bào)警單元20設(shè)置有電阻R22、三極管Q6和警 鈴BUZZER,電阻R22 -端與所述微處理器60的引腳19連接，R22另一端與三極管Q6的基 極連接，三級(jí)管Q6的集電極接地，三極管Q6的發(fā)射極與警鈴BUZZER連接。
[0073] 該檢測(cè)處理電路還設(shè)置有電源退耦單元50,電源退耦單元50設(shè)置有電容C2和電 容C3,所述電容C2的一端、電容C3的一端、微處理器60的引腳28均接VCC，電容C2的另 一端、電容C3的另一端接地。電源退耦單元50有濃郁減少噪聲干擾，穩(wěn)定電源值。
[0074] 該檢測(cè)處理電路還設(shè)置有指示單元90,指示單元90設(shè)置為發(fā)光二極管D1，二極管 D1的正極與微處理器60的引腳4連接，二極管D1的負(fù)極接地。指示單元90用于指示待檢 測(cè)的電阻值合格信息。
[0075] 其器件可以采用如下參數(shù)，三級(jí)管056、05、04、03和三級(jí)管02的型號(hào)均為8550， 電阻R11、電阻R12、電阻R13和電阻R24均為1千歐；電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻 R17、電阻R18、電阻R19、電阻R20和電阻R21均為510歐。電容C1為10微法，電阻R1為 10千歐。電容C2為10微法和電容C3為0.1微法。電阻R22為1千歐。
[0076] 該多電阻測(cè)試裝置可以根據(jù)不同的電阻排布特征設(shè)置不同的探針320排布，通過(guò) 探針一次檢測(cè)多組電阻，并通過(guò)電阻檢測(cè)處理電路進(jìn)行多組檢測(cè)結(jié)果計(jì)算分析，能夠一次 進(jìn)行多組電阻電性能檢測(cè)，檢測(cè)方便、檢測(cè)效率高，而且結(jié)果精確。
[0077] 最后應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非對(duì)本實(shí)用 新型保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實(shí)用 新型技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。
【權(quán)利要求】
1. 一種多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：設(shè)置有水平載料臺(tái)、縱向支架、檢測(cè)單元、滑動(dòng) 導(dǎo)軌和縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)； 所述水平載料臺(tái)與所述縱向支架呈垂直設(shè)置，所述檢測(cè)單元設(shè)置于所述水平載料臺(tái)上 方，所述滑動(dòng)導(dǎo)軌一端固定于所述水平載料臺(tái)，且所述滑動(dòng)導(dǎo)軌穿設(shè)于所述檢測(cè)單元并活 動(dòng)裝配于所述檢測(cè)單元，所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)固定于所述縱向支架，所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng) 所述檢測(cè)單元縱向移動(dòng)； 所述檢測(cè)單元設(shè)置有基板以及裝配于基板的多個(gè)探針，所述探針固定裝配于所述基 板，所述探針露出所述基板的一端用于與待測(cè)基板上的電阻接觸，所述探針露出所述基板 的另一端與檢測(cè)電路的輸入端連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：所述基板設(shè)置有裝配孔，所述 探針裝配于所述裝配孔。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：所述檢測(cè)單元還設(shè)置有 蓋板，所述蓋板罩設(shè)于所述探針上方并固定于所述基板，所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述蓋板固 定連接。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：所述蓋板與所述基板設(shè)置為 一體成型結(jié)構(gòu)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：所述探針露出所述基板的一 端為探針具有彈性結(jié)構(gòu)的一端。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：所述滑動(dòng)導(dǎo)軌套設(shè)有軸承。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：設(shè)置有緩沖彈簧，所述緩沖彈 簧套設(shè)于所述滑動(dòng)導(dǎo)軌且所述緩沖彈簧位于所述基板與所述水平載料臺(tái)之間。
8. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：所述縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)置有連 桿、固定座、測(cè)試手柄和連接耳，所述固定座固定設(shè)置于所述縱向支架，所述固定座設(shè)置有 上連接端和下連接端； 所述連桿的一端與所述蓋板固定連接，所述連桿穿過(guò)所述固定座的下連接端并與所述 連接耳的一端軸接，所述連接耳的另一端與所述測(cè)試手柄的中部軸接，所述測(cè)試手柄的固 定端與所述固定座的上連接端軸接。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：還設(shè)置有底座，所述水平載料 臺(tái)固定設(shè)置于所述底座。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的多電阻測(cè)試裝置，其特征在于：還設(shè)置有顯示屏幕，所述檢 測(cè)電路的輸出端與所述顯示屏連接。
【文檔編號(hào)】G01R27/02GK203894330SQ201420325525
【公開(kāi)日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年6月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月18日
【發(fā)明者】高文志, 洪學(xué)毅, 王雅青, 顏達(dá)遠(yuǎn) 申請(qǐng)人:珠海市華晶微電子有限公司