一種多電阻測(cè)試處理電路的制作方法
【專利摘要】一種多電阻測(cè)試處理電路，設(shè)置有信號(hào)采集單元、濾波單元、數(shù)碼顯示單元、復(fù)位單元、觸發(fā)開關(guān)單元和微處理器；所述微處理器為型號(hào)STC12C5404AD的芯片；數(shù)碼顯示單元設(shè)置有數(shù)碼管電路、段限流電路和驅(qū)動(dòng)電路，段限流電路設(shè)置有電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻R19、電阻R20和電阻R21；驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有電阻R11、電阻R12、電阻R13、電阻R24、三極管Q2、三極管Q3、三極管Q4和三極管Q5；觸發(fā)開關(guān)單元設(shè)置有開關(guān)S1和開關(guān)S2，復(fù)位單元設(shè)置有電容C1和電阻R1。該多電阻測(cè)試處理電路能夠同時(shí)對(duì)多個(gè)電阻的檢測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣分析，檢測(cè)效率高，檢測(cè)結(jié)果精確。
【專利說明】-種多電阻測(cè)試處理電路

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及電子產(chǎn)品檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種多電阻測(cè)試處理電路。

【背景技術(shù)】
[0002] 電阻是電子產(chǎn)品廣泛使用的元器件之一，電阻阻值的精確度是眾多器件有效工作 的重要保障?，F(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)厚膜電阻測(cè)試通常是通過萬用表逐個(gè)進(jìn)行檢測(cè)，不僅效率低， 而且容易出現(xiàn)差錯(cuò)的情況。
[0003] 故，對(duì)多個(gè)電阻情況下的檢測(cè)需要能夠一次進(jìn)行多組檢測(cè)，為了配合這種結(jié)構(gòu)改 進(jìn)，相應(yīng)的檢測(cè)處理電路也要能夠?qū)崿F(xiàn)一次進(jìn)行多個(gè)電阻測(cè)試結(jié)果處理的電路結(jié)構(gòu)。
[0004] 而現(xiàn)有技術(shù)中的檢測(cè)處理電路不能滿足上述要求，因此，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不足，提供 一種的多電阻測(cè)試處理電路以克服現(xiàn)有技術(shù)不足甚為必要。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本實(shí)用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處而提供一種多電阻測(cè)試處理電 路，能夠?qū)Χ鄠€(gè)電阻的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行采樣分析，具有檢測(cè)效率高，檢測(cè)結(jié)果精確的特點(diǎn)。
[0006] 本實(shí)用新型的上述目的通過如下技術(shù)手段實(shí)現(xiàn)。
[0007] -種多電阻測(cè)試處理電路，設(shè)置有信號(hào)采集單元、濾波單元、數(shù)碼顯示單元、復(fù)位 單元、觸發(fā)開關(guān)單元和微處理器；
[0008] 所述微處理器為型號(hào)STC12C5404AD的芯片；
[0009] 所述信號(hào)采集單元的輸出端與所述濾波單元的輸入端連接，所述濾波單元的輸出 端、所述數(shù)碼顯示單元、所述復(fù)位單元、所述觸發(fā)開關(guān)單元分別與所述微處理器連接。
[0010] 上述數(shù)碼顯示單元設(shè)置有數(shù)碼管電路、段限流電路和驅(qū)動(dòng)電路；
[0011] 所述數(shù)碼管電路包括四組八段共陰數(shù)碼管；
[0012] 所述段限流電路設(shè)置有電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻 R19、電阻R20和電阻R21 ;
[0013] 所述驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有電阻R11、電阻R12、電阻R13、電阻R24、三極管Q2、三極管 Q3、三極管Q4和三極管Q5、
[0014] 所述數(shù)碼管電路的a腳與電阻R14 -端連接，電阻R14另一端與微處理器的引腳 16連接，所述數(shù)碼管電路的b腳與電阻R15 -端連接，電阻R15另一端與微處理器的引腳 15連接，所述數(shù)碼管電路的c腳與電阻R16 -端連接，電阻R16另一端與微處理器的引腳 13連接，所述數(shù)碼管電路的d腳與電阻R17 -端連接，電阻R17另一端與微處理器的引腳 12連接，所述數(shù)碼管電路的e腳與電阻R18 -端連接，電阻R18另一端與微處理器的引腳2 連接，所述數(shù)碼管電路的f腳與電阻R19 -端連接，電阻R19另一端與微處理器的引腳1連 接，所述數(shù)碼管電路的g腳與電阻R20 -端連接，電阻R20另一端與微處理器的引腳27連 接，所述數(shù)碼管電路的dp腳與電阻R21 -端連接，電阻R21另一端與微處理器的引腳26連 接；
[0015] 所述三極管Q5的射極與數(shù)碼管電路的coml腳連接，三極管Q5的基極與電阻R24 一端連接，電阻R24另一端與所述微處理器的引腳18連接，所述三極管Q4的射極與數(shù)碼管 電路的 C〇m2腳連接，三極管Q4的基極與電阻R13 -端連接，電阻R13另一端與所述微處理 器的引腳17連接，所述三極管Q3的射極與數(shù)碼管電路的com3腳連接，三極管Q3的基極與 電阻R12 -端連接，電阻R12另一端與所述微處理器的引腳11連接，所述三極管Q2的射極 與數(shù)碼管電路的com4腳連接，三極管Q2的基極與電阻R11 -端連接，電阻R11另一端與所 述微處理器的引腳10連接，三極管Q5的集電極、三極管Q4的集電極、三極管Q3的集電極 和三極管Q2的集電極均接地。
[0016] 上述三極管Q5、Q4、Q3和三極管Q2的型號(hào)均為8550,所述電阻R11、電阻R12、電 阻R13和電阻R24均為1千歐；所述電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻 R19、電阻R20和電阻R21均為510歐。
[0017] 上述觸發(fā)開關(guān)單元設(shè)置有開關(guān)S1和開關(guān)S2,所述開關(guān)S1的一端、所述開關(guān)S2的 一端接地，所述開關(guān)S1的另一端與所述微處理器的引腳8連接，所述開關(guān)S2的另一端與所 述微處理器的引腳9連接。
[0018] 上述復(fù)位單元設(shè)置有電容C1和電阻R1，所述電容C1的一端與VCC連接，所述電容 C1的另一端、電阻R1 -端與微處理器的引腳13連接，電阻R1另一端接地。
[0019] 上述電容C1為10微法，所述電阻R1為10千歐。
[0020] 上述信號(hào)采集單設(shè)置有電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9 ;
[0021] 所述濾波電路設(shè)置有電阻R41、電阻R42、電阻R43、電阻R44、電阻R45、電阻R46、 電容C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46 ;
[0022] 所述電阻R4的一端與電阻R46 -端連接，電阻R46另一端與電容C46、微處理器的 引腳20連接，所述電阻R5的一端與電阻R45 -端連接，電阻R45另一端與電容C45、微處理 器的引腳21連接，所述電阻R6的一端與電阻R44 -端連接，電阻R44另一端與電容C44、 微處理器的引腳22連接，所述電阻R7的一端與電阻R43 -端連接，電阻R43另一端與電容 C43、微處理器的引腳23連接，所述電阻R8的一端與電阻R42 -端連接，電阻R42另一端與 電容C42、微處理器的引腳24連接，所述電阻R9的一端與電阻R41 -端連接，電阻R41另一 端與電容C43、微處理器的引腳25連接，
[0023] 所述電阻R4、電阻R45、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9的另一端均接地，所述 電容C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46的另一端均接地。
[0024] 上述多電阻測(cè)試處理電路還設(shè)置有報(bào)警單元，所述報(bào)警單元設(shè)置有電阻R22、三極 管Q6和警鈴BUZZER，所述電阻R22-端與所述微處理器的引腳19連接，所述R22另一端與 三極管Q6的基極連接，三極管Q6的集電極接地，三極管Q6的發(fā)射極與警鈴BUZZER連接。
[0025] 上述多電阻測(cè)試處理電路還設(shè)置有電源退耦單元，所述電源退耦單元設(shè)置有電容 C2和電容C3,所述電容C2的一端、電容C3的一端、微處理器的引腳28均接VCC，電容C2 的另一端、電容C3的另一端接地。
[0026] 上述多電阻測(cè)試處理電路還設(shè)置有指示單元，所述指示單元設(shè)置為發(fā)光二極管 D1，二極管D1的正極與微處理器的引腳4連接，二極管D1的負(fù)極接地。
[0027] 本實(shí)用新型的多電阻測(cè)試處理電路，設(shè)置有信號(hào)采集單元、濾波單元、數(shù)碼顯示單 元、復(fù)位單元、觸發(fā)開關(guān)單元和微處理器；所述微處理器為型號(hào)STC12C5404AD的芯片；所述 信號(hào)采集單元的輸出端與所述濾波單元的輸入端連接，所述濾波單元的輸出端、所述數(shù)碼 顯示單元、所述復(fù)位單元、所述觸發(fā)開關(guān)單元分別與所述微處理器連接。該多電阻測(cè)試處理 電路能夠同時(shí)對(duì)多個(gè)電阻的檢測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣分析，具有檢測(cè)效率高，檢測(cè)結(jié)果精確 的特點(diǎn)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0028] 利用附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明，但附圖中的內(nèi)容不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的 任何限制。
[0029] 圖1是本實(shí)用新型一種多電阻測(cè)試處理電路的電路圖；
[0030] 圖2是使用本實(shí)用新型多電阻測(cè)試處理電路的一種多電阻檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意 圖。
[0031] 在圖1、圖2中，包括：
[0032] 數(shù)碼顯示10、
[0033] 數(shù)碼管電路11、段限流電路12、驅(qū)動(dòng)電路13、
[0034] 報(bào)警單元20、信號(hào)采集單元30、濾波單元40、
[0035] 電源退耦單元50、微處理器60、
[0036] 觸發(fā)開關(guān)單元70、復(fù)位單元80、指示單元90、
[0037] 水平載料臺(tái)100、
[0038] 縱向支架200、
[0039] 檢測(cè)單元300、
[0040] 基板 310、
[0041] 探針 320、
[0042] 蓋板 330、
[0043] 滑動(dòng)導(dǎo)軌400、軸承410、
[0044] 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、
[0045] 連桿 510、
[0046] 固定座 520、
[0047] 上連接端521、下連接端522、
[0048] 測(cè)試手柄530、
[0049] 測(cè)試手柄的固定端531、
[0050] 連接耳 540、
[0051] 底座 600、
[0052] 檢測(cè)樣品700。

【具體實(shí)施方式】
[0053] 結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
[0054] 實(shí)施例1。
[0055] -種多電阻測(cè)試處理電路，如圖1所示，設(shè)置有信號(hào)采集單元30、濾波單元40、數(shù) 碼顯示單元10、復(fù)位單元80、觸發(fā)開關(guān)單元70和微處理器60。
[0056] 微處理器60為型號(hào)STC12C5404AD的芯片。信號(hào)采集單元30的輸出端與濾波單 元40的輸入端連接，濾波單元40的輸出端、數(shù)碼顯示單元10、復(fù)位單元80、觸發(fā)開關(guān)單元 70分別與微處理器60連接。
[0057] 觸發(fā)開關(guān)單元70設(shè)置有開關(guān)S1和開關(guān)S2,開關(guān)S1的一端、開關(guān)S2的一端接地， 開關(guān)S1的另一端與所述微處理器60的引腳8連接，開關(guān)S2的另一端與微處理器60的引 腳9連接。觸發(fā)開關(guān)S1用于控制系統(tǒng)的校準(zhǔn)，閉合開關(guān)S1，系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)，確保檢查結(jié)果的 準(zhǔn)確性。觸發(fā)開關(guān)用于控制顯示功能，閉合開關(guān)S2后，顯示單元會(huì)顯示相應(yīng)檢查結(jié)果。
[0058] 復(fù)位單元80設(shè)置有電容C1和電阻R1，電容C1的一端與VCC連接，電容C1的另一 端、電阻R1 -端與微處理器60的引腳13連接，電阻R1另一端接地。復(fù)位單元80用于保 持微控制器復(fù)位狀態(tài)，確保微控制器穩(wěn)定工作。
[0059] 信號(hào)采集單設(shè)置有電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9。
[0060] 濾波電路設(shè)置有電阻R41、電阻R42、電阻R43、電阻R44、電阻R45、電阻R46、電容 C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46。
[0061] 電阻R4的一端與電阻R46 -端連接，電阻R46另一端與電容C46、微處理器60的 引腳20連接，電阻R5的一端與電阻R45 -端連接，電阻R45另一端與電容C45、微處理器 60的引腳21連接，電阻R6的一端與電阻R44 -端連接，電阻R44另一端與電容C44、微處 理器60的引腳22連接，電阻R7的一端與電阻R43 -端連接，電阻R43另一端與電容C43、 微處理器60的引腳23連接，電阻R8的一端與電阻R42 -端連接，電阻R42另一端與電容 C42、微處理器60的引腳24連接，所述電阻R9的一端與電阻R41 -端連接，電阻R41另一 端與電容C43、微處理器60的引腳25連接，電阻R4、電阻R45、電阻R6、電阻R7、電阻R8和 電阻R9的另一端均接地，電容C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46的另 一端均接地。
[0062] 采集單元通過電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9的一端連接采 集數(shù)據(jù)，所采集的數(shù)據(jù)經(jīng)過濾波單元40濾波后輸送至微處理器60。微處理器60對(duì)所采集 的數(shù)據(jù)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，并進(jìn)行計(jì)算判斷，并控制其它單元工作。
[0063] 數(shù)碼顯示單元10設(shè)置有數(shù)碼管電路11、段限流電路12和驅(qū)動(dòng)電路13。
[0064] 數(shù)碼管電路11包括四組八段共陰數(shù)碼管；段限流電路12設(shè)置有電阻R14、電阻 R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻R19、電阻R20和電阻R21 ;驅(qū)動(dòng)電路13設(shè)置有電阻 R11、電阻R12、電阻R13、電阻R24、三極管Q2、三極管Q3、三極管Q4和三極管Q5。
[0065] 數(shù)碼管電路11的a腳與電阻R14 -端連接，電阻R14另一端與微處理器60的引 腳16連接，數(shù)碼管電路11的b腳與電阻R15 -端連接，電阻R15另一端與微處理器60的 引腳15連接，數(shù)碼管電路11的c腳與電阻R16 -端連接，電阻R16另一端與微處理器60 的引腳13連接，數(shù)碼管電路11的d腳與電阻R17 -端連接，電阻R17另一端與微處理器60 的引腳12連接，數(shù)碼管電路11的e腳與電阻R18 -端連接，電阻R18另一端與微處理器60 的引腳2連接，數(shù)碼管電路11的f腳與電阻R19 -端連接，電阻R19另一端與微處理器60 的引腳1連接，數(shù)碼管電路11的g腳與電阻R20 -端連接，電阻R20另一端與微處理器60 的引腳27連接，數(shù)碼管電路11的dp腳與電阻R21 -端連接，電阻R21另一端與微處理器 60的引腳26連接。
[0066] 三極管Q5的射極與數(shù)碼管電路11的coml腳連接，三極管Q5的基極與電阻R24 一端連接，電阻R24另一端與所述微處理器60的引腳18連接，三極管Q4的射極與數(shù)碼管 電路11的com2腳連接，三極管Q4的基極與電阻R13 -端連接，電阻R13另一端與微處理 器60的引腳17連接，三極管Q3的射極與數(shù)碼管電路11的com3腳連接，三極管Q3的基極 與電阻R12 -端連接，電阻R12另一端與所述微處理器60的引腳11連接，三極管Q2的射 極與數(shù)碼管電路11的c〇m4腳連接，三極管Q2的基極與電阻R11 -端連接，電阻R11另一 端與所述微處理器60的引腳10連接，三極管Q5的集電極、三極管Q4的集電極、三極管Q3 的集電極和三極管Q2的集電極均接地。
[0067] 多電阻測(cè)試處理電路還設(shè)置有報(bào)警單元20,報(bào)警單元20設(shè)置有電阻R22、三極管 Q6和警鈴BUZZER,電阻R22 -端與所述微處理器60的引腳19連接，R22另一端與三極管 Q6的基極連接，三極管Q6的集電極接地，三極管Q6的發(fā)射極與警鈴BUZZER連接。
[0068] 該多電阻測(cè)試處理電路還設(shè)置有電源退耦單元50,電源退耦單元50設(shè)置有電容 C2和電容C3,所述電容C2的一端、電容C3的一端、微處理器60的引腳28均接VCC，電容 C2的另一端、電容C3的另一端接地。電源退耦單元50有濃郁減少噪聲干擾，穩(wěn)定電源值。
[0069] 該多電阻測(cè)試處理電路還設(shè)置有指示單元90,指示單元90設(shè)置為發(fā)光二極管D1， 二極管D1的正極與微處理器60的引腳4連接，二極管D1的負(fù)極接地。指示單元90用于 指示待檢測(cè)的電阻值合格信息。
[0070] 本實(shí)用新型的多電阻測(cè)試處理電路通過采集單元采集多個(gè)電阻的檢測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)， 并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算判斷，具有檢測(cè)效率高，檢測(cè)結(jié)果精確的特點(diǎn)。
[0071] 實(shí)施例2。
[0072] -種多電阻測(cè)試處理電路，其它特征與實(shí)施例1相同，不同之處在于：還具有如下 特征：三極管056、05、04、03和三極管02的型號(hào)均為8550，電阻1?11、電阻1?12、電阻1?13和 電阻R24均為1千歐；電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻R19、電阻R20 和電阻R21均為510歐。電容C1為10微法，電阻R1為10千歐。電容C2為10微法和電 容C3為0. 1微法。電阻R22為1千歐。
[0073] 本實(shí)用新型的多電阻測(cè)試處理電路通過采集單元采集多個(gè)電阻的檢測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)， 并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算判斷，具有檢測(cè)效率高，檢測(cè)結(jié)果精確的特點(diǎn)。
[0074] 實(shí)施例3。
[0075] -種多電阻檢測(cè)裝置，如圖2所示，設(shè)置有水平載料臺(tái)100、縱向支架200、檢測(cè)單 元300、滑動(dòng)導(dǎo)軌400、縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、還設(shè)置有如實(shí)施例1和2所述的多電阻測(cè)試處理電 路。該多電阻檢測(cè)裝置還設(shè)置有底座600,水平載料臺(tái)100固定設(shè)置于底座600。
[0076] 水平載料臺(tái)100用于承載待檢測(cè)的多個(gè)厚膜電阻或者薄膜電阻或者普通電阻，縱 向支架200提供安裝縱向結(jié)構(gòu)的支架，檢測(cè)單元300用于對(duì)待檢測(cè)的樣品進(jìn)行電性能檢測(cè)。
[0077] 具體的，水平載料臺(tái)100與縱向支架200呈垂直設(shè)置，檢測(cè)單元300設(shè)置于水平載 料臺(tái)100上方，滑動(dòng)導(dǎo)軌400 -端固定于水平載料臺(tái)100,且滑動(dòng)導(dǎo)軌400穿設(shè)于檢測(cè)單元 300并活動(dòng)裝配于檢測(cè)單元300,縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)固定于縱向支架200,縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)檢 測(cè)單元300縱向移動(dòng)。通過縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)單元300縱向移動(dòng)，可以調(diào)整檢測(cè)單元 300靠近或者遠(yuǎn)離帶檢測(cè)的電阻，以便有效控制檢測(cè)過程?；瑒?dòng)導(dǎo)軌400提供了在縱向驅(qū) 動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)下，檢測(cè)單元300移動(dòng)的軌道，使得檢測(cè)單元300能夠沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400上下移 動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)單元300靠近或者遠(yuǎn)離水平載料臺(tái)100。
[0078] 檢測(cè)單元300設(shè)置有基板310以及裝配于基板310的多個(gè)探針320,探針320固 定裝配于基板310,探針320露出基板310的一端用于與待測(cè)基板310帶接觸，探針320露 出所述基板310的另一端與檢測(cè)電路的輸入端連接。探針320露出基板310的一端為探針 320具有彈性結(jié)構(gòu)的一端。作為本領(lǐng)域公知常識(shí)，為了避免探針320在接觸檢測(cè)樣品的過程 中出現(xiàn)探針320碰撞損傷，探針320接觸檢測(cè)樣品的一端一般設(shè)置為彈性結(jié)構(gòu)，探針320的 具體結(jié)構(gòu)在此不再贅述。
[0079] 具體的，基板310設(shè)置有裝配孔，探針320裝配于裝配孔。
[0080] 檢測(cè)單元300還設(shè)置有蓋板330,蓋板330罩設(shè)于探針320上方并固定于基板310， 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與蓋板330固定連接?？蓪⑸w板330與基板310設(shè)置為一體成型結(jié)構(gòu)，具有 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，制備方便的特點(diǎn)。
[0081] 當(dāng)檢測(cè)單元300靠近水平載料臺(tái)100上的檢測(cè)樣品時(shí)，探針320露出基板310的 一端逐漸靠近檢測(cè)樣品并最終與檢測(cè)樣品有效接觸，探針320的另一端件檢測(cè)信息輸送至 多電阻測(cè)試處理電路，多電阻測(cè)試處理電路根據(jù)探針320輸送的電信號(hào)進(jìn)行計(jì)算求得待檢 測(cè)樣品相應(yīng)部位的參數(shù)并進(jìn)行輸出。
[0082] 滑動(dòng)導(dǎo)軌400套設(shè)有軸承410。為了保護(hù)設(shè)備，確保檢測(cè)單元300移動(dòng)過程中的 穩(wěn)定，該多電阻檢測(cè)裝置還設(shè)置有緩沖彈簧，緩沖彈簧套設(shè)于滑動(dòng)導(dǎo)軌且緩沖彈簧位于基 板310與水平載料臺(tái)100之間，以緩沖檢測(cè)單元300沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400移動(dòng)過程中能夠平 穩(wěn)定位。需要說明的是，實(shí)現(xiàn)緩沖功能的結(jié)構(gòu)很多，不局限于本實(shí)施例的緩沖彈簧結(jié)構(gòu)。也 可以單獨(dú)在水平載料臺(tái)100上固定一些彈簧或者通過其它方式實(shí)現(xiàn)緩沖效果。
[0083] 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)置有連桿510、固定座520、測(cè)試手柄530和連接耳540,固定座固 定設(shè)置于縱向支架200,固定座520設(shè)置有上連接端521和下連接端522。
[0084] 連桿510的一端與蓋板330固定連接，連桿510穿過固定座520的下連接端522并 與連接耳540的一端軸接，連接耳540的另一端與測(cè)試手柄530的中部軸接，測(cè)試手柄530 的固定端531與固定座520的上連接端521軸接。
[0085] 縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)提供使檢測(cè)單元300縱向移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)力，檢測(cè)完畢后，將測(cè)試手柄 530抬高時(shí)，測(cè)試手柄530的固定沿著固定座的連接端向上旋轉(zhuǎn)，測(cè)試手柄530的中部帶動(dòng) 連接耳540向上方移動(dòng)，連接耳540帶動(dòng)連桿510也向上移動(dòng)，連桿510帶動(dòng)蓋板330也向 上運(yùn)動(dòng)，從而帶動(dòng)基板310及探針320 -起沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400向上移動(dòng)。此時(shí)，檢測(cè)單元 300與水平載料臺(tái)100上的檢測(cè)樣品700分離。當(dāng)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，將測(cè)試手柄530推下，測(cè)試 手柄530的固定端531沿著固定座的連接端向下旋轉(zhuǎn)，測(cè)試手柄530的中部帶動(dòng)連接耳540 向下方移動(dòng)，連接耳540帶動(dòng)連桿510也向上下移動(dòng)，連桿510帶動(dòng)蓋板330也向下運(yùn)動(dòng)， 從而帶動(dòng)基板310及探針320 -起沿著滑動(dòng)導(dǎo)軌400向下移動(dòng)。此時(shí)，探針320與水平載 料臺(tái)100上的檢測(cè)樣品接觸，進(jìn)行電性能檢測(cè)。該縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制備方便，操 作便捷。
[0086] 需要說明的是，縱向驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)不局限于本實(shí)施例的情況，只要能夠?qū)崿F(xiàn)將 檢測(cè)單元300沿著縱向移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)都符合要求。如可通過氣缸帶動(dòng)蓋板330移動(dòng)，也 可以通過馬達(dá)帶動(dòng)蓋板330移動(dòng)，或者其它如齒輪驅(qū)動(dòng)等結(jié)構(gòu)。
[0087] 該多電阻檢測(cè)裝置可以根據(jù)不同的位置電阻排布特征設(shè)置不同的探針320排布， 通過探針一次檢測(cè)多組電阻，并通過多電阻測(cè)試處理電路進(jìn)行多組檢測(cè)結(jié)果計(jì)算分析，能 夠一次進(jìn)行多組電阻電性能檢測(cè)，檢測(cè)方便、檢測(cè)效率高，而且結(jié)果精確。
[0088] 最后應(yīng)當(dāng)說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非對(duì)本實(shí)用 新型保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實(shí)用 新型技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。
【權(quán)利要求】
1. 一種多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：設(shè)置有信號(hào)采集單元、濾波單元、數(shù)碼顯示 單元、復(fù)位單元、觸發(fā)開關(guān)單元和微處理器； 所述微處理器為型號(hào)STC12C5404AD的芯片； 所述信號(hào)采集單元的輸出端與所述濾波單元的輸入端連接，所述濾波單元的輸出端、 所述數(shù)碼顯示單元、所述復(fù)位單元、所述觸發(fā)開關(guān)單元分別與所述微處理器連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：所述數(shù)碼顯示單元設(shè)置 有數(shù)碼管電路、段限流電路和驅(qū)動(dòng)電路； 所述數(shù)碼管電路包括四組八段共陰數(shù)碼管； 所述段限流電路設(shè)置有電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻R19、電 阻R20和電阻R21 ; 所述驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有電阻R11、電阻R12、電阻R13、電阻R24、三極管Q2、三極管Q3、三 極管Q4和三極管Q5 ; 所述數(shù)碼管電路的a腳與電阻R14 -端連接，電阻R14另一端與微處理器的引腳16連 接，所述數(shù)碼管電路的b腳與電阻R15 -端連接，電阻R15另一端與微處理器的引腳15連 接，所述數(shù)碼管電路的c腳與電阻R16 -端連接，電阻R16另一端與微處理器的引腳13連 接，所述數(shù)碼管電路的d腳與電阻R17 -端連接，電阻R17另一端與微處理器的引腳12連 接，所述數(shù)碼管電路的e腳與電阻R18 -端連接，電阻R18另一端與微處理器的引腳2連接， 所述數(shù)碼管電路的f腳與電阻R19 -端連接，電阻R19另一端與微處理器的引腳1連接，所 述數(shù)碼管電路的g腳與電阻R20 -端連接，電阻R20另一端與微處理器的引腳27連接，所 述數(shù)碼管電路的dp腳與電阻R21 -端連接，電阻R21另一端與微處理器的引腳26連接； 所述三極管Q5的射極與數(shù)碼管電路的coml腳連接，三極管Q5的基極與電阻R24 -端 連接，電阻R24另一端與所述微處理器的引腳18連接，所述三極管Q4的射極與數(shù)碼管電路 的C〇m2腳連接，三極管Q4的基極與電阻R13 -端連接，電阻R13另一端與所述微處理器的 引腳17連接，所述三極管Q3的射極與數(shù)碼管電路的com3腳連接，三極管Q3的基極與電阻 R12 -端連接，電阻R12另一端與所述微處理器的引腳11連接，所述三極管Q2的射極與數(shù) 碼管電路的com4腳連接，三極管Q2的基極與電阻R11 -端連接，電阻R11另一端與所述微 處理器的引腳10連接，三極管Q5的集電極、三極管Q4的集電極、三極管Q3的集電極和三 極管Q2的集電極均接地。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：所述三極管Q5、Q4、Q3和 三極管Q2的型號(hào)均為8550,所述電阻R11、電阻R12、電阻R13和電阻R24均為1千歐；所 述電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17、電阻R18、電阻R19、電阻R20和電阻R21均為510 歐。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于： 所述觸發(fā)開關(guān)單元設(shè)置有開關(guān)S1和開關(guān)S2,所述開關(guān)S1的一端、所述開關(guān)S2的一端 接地，所述開關(guān)S1的另一端與所述微處理器的引腳8連接，所述開關(guān)S2的另一端與所述微 處理器的引腳9連接。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：所述復(fù)位單元設(shè)置有電 容C1和電阻R1，所述電容C1的一端與VCC連接，所述電容C1的另一端、電阻R1 -端與微 處理器的引腳13連接，電阻R1另一端接地。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：所述電容Cl為10微法， 所述電阻R1為10千歐。
7. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：所述信號(hào)采集單設(shè)置有 電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9 ; 所述濾波電路設(shè)置有電阻R41、電阻R42、電阻R43、電阻R44、電阻R45、電阻R46、電容 C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46 ; 所述電阻R4的一端與電阻R46 -端連接，電阻R46另一端與電容C46、微處理器的引腳 20連接，所述電阻R5的一端與電阻R45 -端連接，電阻R45另一端與電容C45、微處理器的 引腳21連接，所述電阻R6的一端與電阻R44 -端連接，電阻R44另一端與電容C44、微處理 器的引腳22連接，所述電阻R7的一端與電阻R43 -端連接，電阻R43另一端與電容C43、 微處理器的引腳23連接，所述電阻R8的一端與電阻R42 -端連接，電阻R42另一端與電容 C42、微處理器的引腳24連接，所述電阻R9的一端與電阻R41 -端連接，電阻R41另一端與 電容C43、微處理器的引腳25連接， 所述電阻R4、電阻R45、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9的另一端均接地，所述電容 C41、電容C42、電容C43、電容C44、電容C45和電容C46的另一端均接地。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1至7任一所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：還設(shè)置有報(bào)警 單元，所述報(bào)警單元設(shè)置有電阻R22、三極管Q6和警鈴BUZZER，所述電阻R22 -端與所述微 處理器的引腳19連接，所述R22另一端與三極管Q6的基極連接，三極管Q6的集電極接地， 三極管Q6的發(fā)射極與警鈴BUZZER連接。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：還設(shè)置有電源退耦單元， 所述電源退耦單元設(shè)置有電容C2和電容C3,所述電容C2的一端、電容C3的一端、微處理器 的引腳28均接VCC，電容C2的另一端、電容C3的另一端接地。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的多電阻測(cè)試處理電路，其特征在于：還設(shè)置有指示單元，所 述指示單元設(shè)置為發(fā)光二極管D1，二極管D1的正極與微處理器的引腳4連接，二極管D1的 負(fù)極接地。
【文檔編號(hào)】G01R27/02GK203894329SQ201420325524
【公開日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年6月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月18日
【發(fā)明者】黃錦云, 洪學(xué)毅, 王雅青, 肖小媛 申請(qǐng)人:珠海市華晶微電子有限公司