用于濾波器抑制特性測量的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種用于濾波器抑制特性測量的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，包括帶有蓋子的本體，其特征在于：在本體的左右兩端分別設(shè)有可拆卸的屏蔽箱一及屏蔽箱二，屏蔽箱一與本體滑動配合使屏蔽箱一能夠沿本體的長度方向位置連續(xù)可調(diào)，屏蔽箱二可拆卸地固定在本體的端壁上。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的試驗(yàn)裝置長度連續(xù)可調(diào)，對于不同長度的濾波器可設(shè)定滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的試驗(yàn)裝置長度。
【專利說明】用于濾波器抑制特性測量的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于測量通用濾波器的插入損耗的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，用于無源EMC通用濾波器插入損耗的測試。

【背景技術(shù)】
[0002]無源EMC濾波器件抑制特性的測量方法的最新標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 7343-201X《無源EMC濾波器件抑制特性的測量方法》(即將發(fā)布)及國際標(biāo)準(zhǔn)CISPR 17-2011《Methodsof measurement of the suppress1n characteristics of passive EMC filteringdevices)),無源EMC通用濾波器件插入損耗的測量方法參數(shù)按照第5章的要求進(jìn)行測量，測量布置見圖1，包括信號發(fā)生器1、測量接收機(jī)2、試驗(yàn)裝置3及待測濾波器4。
[0003]按照標(biāo)準(zhǔn)的要求，無源EMC通用濾波器件測量插入損耗時(shí)，需要將其放置在試驗(yàn)裝置中。標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7343-201X及CISPR 17-2011的附錄B中，有對該試驗(yàn)裝置的規(guī)范要求。如下:對輸入端和輸出端沒有屏蔽層和同軸端口的干擾抑制元件和濾波器，應(yīng)將其放置在試驗(yàn)裝置中進(jìn)行測量，試驗(yàn)裝置的尺寸(例如長度1，高度h和寬度w)取決于DUT。用非磁性金屬做成的試驗(yàn)裝置要有一個金屬蓋。試驗(yàn)裝置各部件的電接觸應(yīng)可靠，各個部件應(yīng)用焊接或連續(xù)縫焊的方式連接；蓋子和殼體通過彈簧觸點(diǎn)或螺栓連接，同軸端口安裝在兩個箱壁上。通用濾波器試驗(yàn)裝置的典型設(shè)計(jì)見圖2A及圖2B。選擇尺寸比DUT尺寸略大一點(diǎn)的箱子，推薦值是B = 5cm，C = 5cm，D = 5cm。
[0004]為每一個通用濾波器量身定制一個嚴(yán)格滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的試驗(yàn)裝置是不現(xiàn)實(shí)的，所以有些企業(yè)已經(jīng)設(shè)計(jì)出長度可調(diào)的試驗(yàn)裝置。試驗(yàn)方法是，盒子的一個側(cè)壁做成活動板，盒子內(nèi)部每隔一定距離開一對槽。這樣，在測量不同大小的濾波器時(shí)，可以將側(cè)壁裝入不同的槽來大概調(diào)節(jié)試驗(yàn)裝置的大小。所以，這種試驗(yàn)裝置能獲得的幾個試驗(yàn)裝置的長度是固定的，不能做到長度的連續(xù)變化。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是為無源EMC通用濾波器件測量提供一種長度連續(xù)可調(diào)的試驗(yàn)裝置。
[0006]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是提供了一種用于濾波器抑制特性測量的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，包括帶有蓋子的本體，其特征在于:在本體的左右兩端分別設(shè)有可脫離本體的屏蔽箱一及屏蔽箱二，屏蔽箱一與本體滑動配合使屏蔽箱一能夠沿本體的長度方向位置連續(xù)可調(diào)，屏蔽箱二可拆卸地固定在本體的端壁上。
[0007]優(yōu)選地，所述本體采用黃銅材質(zhì)。
[0008]優(yōu)選地，所述本體的端壁與所述本體的其他部分之間為無縫焊接。
[0009]優(yōu)選地，所述本體、所述屏蔽箱一及所述屏蔽箱二具有足夠的厚度以保證重復(fù)使用而不會變形。
[0010]優(yōu)選地，所述屏蔽箱一與所述本體相接觸的兩個面分別向外延伸形成延伸壁。
[0011]優(yōu)選地，在所述延伸壁上加裝有泡棉。
[0012]優(yōu)選地，所述屏蔽箱二面向所述本體的端面上伸出有內(nèi)部連接端子二，在所述本體的端壁上開有供內(nèi)部連接端子二穿入的安裝孔；所述屏蔽箱二背向所述本體的端面上伸出有外部連接端子二 ；內(nèi)部連接端子二及外部連接端子二為同軸射頻接頭N母頭加SMA母頭O
[0013]優(yōu)選地，所述屏蔽箱一背向所述本體的端面上伸出有外部連接端子一；所述屏蔽箱一面向所述本體的端面上伸出有內(nèi)部連接端子一；內(nèi)部連接端子一及外部連接端子一為同軸射頻接頭N母頭加SMA母頭。
[0014]優(yōu)選地，所述本體的蓋子與所述本體的壁之間加裝簧片。
[0015]優(yōu)選地，所述本體的內(nèi)壁上有對稱的刻度標(biāo)識。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是:
[0017]1、本發(fā)明的試驗(yàn)裝置長度連續(xù)可調(diào)，對于不同長度的濾波器可設(shè)定滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的試驗(yàn)裝置長度；
[0018]2、本發(fā)明的可移動的屏蔽箱的延伸壁可保證試驗(yàn)裝置本體的屏蔽性能；
[0019]3、本發(fā)明的試驗(yàn)裝置兩端的兩個屏蔽箱的設(shè)計(jì)靈活，可測量能放入試驗(yàn)裝置本體的濾波器，也可在屏蔽室中測量大尺寸的濾波器；
[0020]4、本發(fā)明的試驗(yàn)裝置兩端的兩個屏蔽箱上的4個連接端子設(shè)計(jì)既可滿足差模模式插入損耗的測量也可滿足共模模式插入損耗的測量；
[0021]5、相對于為每一個長度不同的濾波器設(shè)計(jì)符合標(biāo)準(zhǔn)要求的試驗(yàn)裝置的高昂成本，本發(fā)明在滿足標(biāo)準(zhǔn)尺寸要求的基礎(chǔ)上極大降低了試驗(yàn)成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1為濾波器插入損耗測量布置圖；
[0023]圖2A為標(biāo)準(zhǔn)要求的濾波器試驗(yàn)裝置尺寸的正視圖；
[0024]圖2B為標(biāo)準(zhǔn)要求的濾波器試驗(yàn)裝置尺寸的俯視圖；
[0025]圖3為濾波器試驗(yàn)裝置示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0026]為使本發(fā)明更明顯易懂，茲以優(yōu)選實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下。
[0027]如圖3所示，為用于測量通用濾波器的插入損耗的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置示意圖，所述的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，包括本體5，安裝有4個內(nèi)部連接端子一和兩個外部連接端子一 13的左側(cè)可移動的屏蔽箱一 6，安裝有4個內(nèi)部連接端子二 11和兩個外部連接端子二的右側(cè)可拆卸的屏蔽箱二 7。內(nèi)部連接端子一、外部連接端子一 13、內(nèi)部連接端子二 11及外部連接端子二為同軸射頻接頭N母頭加SMA母頭。本體5、屏蔽箱一 6及屏蔽箱二 7具有足夠的厚度以保證重復(fù)使用而不會變形。本體5采用黃銅材質(zhì)。
[0028]屏蔽箱一 6可在本體5中連續(xù)滑動，結(jié)合本體5中的刻度標(biāo)識10來獲得所需要的試驗(yàn)裝置的長度。在本體5的端壁上開有供內(nèi)部連接端子二 11穿入的安裝孔12。本體的端壁與本體的其他部分之間為無縫焊接。屏蔽箱一 6與本體5相接觸的兩個面分別向外延伸形成延伸壁9，以保證本體5的屏蔽性能良好。在延伸壁9上加裝有一定厚度的泡棉。本體5的蓋子8與本體5的壁之間加裝簧片。
[0029]屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7內(nèi)部安裝隔離變壓器，變壓器分別連接在屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4個內(nèi)部連接端子一及4個內(nèi)部連接端子二 11的其中下面的兩個連接端子和屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的兩個外部連接端子一 13及外部連接端子二的下面的那個連接端子上。
[0030]測量通用濾波器的共模模式的插入損耗時(shí)，濾波器連接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4個內(nèi)部連接端子一及4個內(nèi)部連接端子二 11的上面兩個端子，信號發(fā)生器和接收機(jī)分別連接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的兩個外部連接端子一 13及外部連接端子二的位于上面的端子。
[0031]測量通用濾波器的差模模式的插入損耗時(shí)，濾波器連接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4個內(nèi)部連接端子一及4個內(nèi)部連接端子二 11的下面兩個端子，信號發(fā)生器和接收機(jī)分別連接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4個內(nèi)部連接端子一及4個內(nèi)部連接端子二 11的位于下面的端子。
[0032]對于尺寸不適合放入該試驗(yàn)裝置本體中進(jìn)行測試的待測濾波器件，可將屏蔽箱一6和屏蔽箱二 7脫離試驗(yàn)裝置本體5，與屏蔽室配合進(jìn)行插入損耗的測量。
[0033]本發(fā)明的特點(diǎn)就在于既可以測量通用濾波器的共模模式的插入損耗又可以測量通用濾波器的差模模式的插入損耗；并且可以針對不同型號的通用濾波器均可提供尺寸基本滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的試驗(yàn)裝置；本發(fā)明的另一個特點(diǎn)是，屏蔽箱6和屏蔽箱7安裝靈活，可脫離試驗(yàn)裝置本體單獨(dú)使用。
【權(quán)利要求】
1.一種用于濾波器抑制特性測量的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，包括帶有蓋子(8)的本體(5)，其特征在于:在本體(5)的左右兩端分別設(shè)有可脫離本體(5)的屏蔽箱一(6)及屏蔽箱二(7)，屏蔽箱一(6)與本體(5)滑動配合使屏蔽箱一(6)能夠沿本體(5)的長度方向位置連續(xù)可調(diào)，屏蔽箱二(7)可拆卸地固定在本體(5)的端壁上。
2.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述本體(5)采用黃銅材質(zhì)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述本體(5)的端壁與所述本體(5)的其他部分之間為無縫焊接。
4.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述本體(5)、所述屏蔽箱一(6)及所述屏蔽箱二(7)具有足夠的厚度以保證重復(fù)使用而不會變形。
5.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述屏蔽箱一(6)與所述本體(5)相接觸的兩個面分別向外延伸形成延伸壁(9)。
6.如權(quán)利要求2所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:在所述延伸壁(9)上加裝有泡棉。
7.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述屏蔽箱二⑵面向所述本體(5)的端面上伸出有內(nèi)部連接端子二(11)，在所述本體(5)的端壁上開有供內(nèi)部連接端子二(11)穿入的安裝孔(12);所述屏蔽箱二(7)背向所述本體(5)的端面上伸出有外部連接端子二 ；內(nèi)部連接端子二(11)及外部連接端子二為同軸射頻接頭N母頭加SMA母頭。
8.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述屏蔽箱一(6)背向所述本體(5)的端面上伸出有外部連接端子一(13);所述屏蔽箱一(6)面向所述本體(5)的端面上伸出有內(nèi)部連接端子一；內(nèi)部連接端子一及外部連接端子一(13)為同軸射頻接頭N母頭加SM母頭。
9.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述本體(5)的蓋子(8)與所述本體(5)的壁之間加裝簧片。
10.如權(quán)利要求1所述的一種測量插入損耗特性的長度可連續(xù)變化的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述本體(5)的內(nèi)壁上有對稱的刻度標(biāo)識(10)。
【文檔編號】G01R1/18GK104515906SQ201410767646
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2014年12月12日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月12日
【發(fā)明者】鄧?yán)蚶? 劉媛, 張望遠(yuǎn) 申請人:上海電器科學(xué)研究所（集團(tuán)）有限公司, 上海電器科學(xué)研究院