專利名稱：電子元器件老化測試模塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及測試儀器設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及電子元器件老化測試儀器技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
目前，對于電子元器件生產(chǎn)出來后，需要對其壽命做一個評估，尤其是在極限高溫和低溫的環(huán)境下老化評估。在進(jìn)行老化測試時，通常采用熱電偶采集電子元器件的殼溫，這樣，老化監(jiān)測系統(tǒng)的控制單元就可根據(jù)熱電偶采集到的溫度，將電子元器件的殼溫基本控制在一固定溫度上，僅允許其在該固定溫度的上、下限范圍內(nèi)(通常為士 I 一 2°C)波動。目前用于電子元器件老化測試的結(jié)構(gòu)主要是以制冷實現(xiàn)控溫，以水冷和油冷為主，這類控溫方式只能實現(xiàn)小功率電子元器件的控溫，且易發(fā)生泄漏等情況，影響測試，使用壽命短，測試效率低；同時對于大功率電子元器件或?qū)﹄娮釉骷h(huán)境溫度要求很高的情況卻存在無法實現(xiàn)精確控溫，熱速度慢或者根本無法控溫的問題；而且即使實現(xiàn)了控溫，由于制冷部件長期工作在滿負(fù)荷或超負(fù)荷狀態(tài)下，其使用壽命也會急速縮短。本申請人秉持著研究創(chuàng)新、精益求精之精神，利用其專業(yè)眼光和專業(yè)知識，研究出一種新型、實用，能快速升溫、降溫，且精確控溫的電子元器件老化測試模塊。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡單，科學(xué)合理，易制作，能快速升溫、降溫，且精確控溫的電子元器件老化測試模塊，符合產(chǎn)業(yè)利用，使用壽命長。為達(dá)到上述目的，本實用新型采用如下技術(shù)方案:電子元器件老化測試模塊，該模塊至少包括有相互連接構(gòu)成熱導(dǎo)系統(tǒng)的載體、半導(dǎo)體制冷器及散熱器，所述載體上設(shè)有供被測產(chǎn)品承放并形成熱導(dǎo)連接的產(chǎn)品放置區(qū)，載體內(nèi)設(shè)有發(fā)熱管；所述散熱器至少由導(dǎo)熱塊、導(dǎo)熱管、散熱翅片及散熱風(fēng)扇構(gòu)成，導(dǎo)熱管連接導(dǎo)熱塊與散熱翅片，導(dǎo)熱塊與載體或半導(dǎo)體制冷器形成熱導(dǎo)連接。上述方案中，所述載體、半導(dǎo)體制冷器和導(dǎo)熱塊之間為面貼連接在一起。所述導(dǎo)熱管對著散熱翅片正面穿設(shè)，導(dǎo)熱管內(nèi)設(shè)有導(dǎo)熱的空氣介質(zhì)或液體介質(zhì)。導(dǎo)熱管內(nèi)的液體介質(zhì)可為循環(huán)形態(tài)。所述導(dǎo)熱管為U形設(shè)計，彎折的根部與導(dǎo)熱塊連接在一起，而導(dǎo)熱管的兩支延伸臂分別對著兩組散熱翅片正面穿設(shè)，散熱風(fēng)扇設(shè)置在兩組散熱翅片的相對端部之間，且散熱風(fēng)扇的送風(fēng)方向正對散熱翅片的翅片間隙。本實用新型有效設(shè)計測試模塊，該模塊可匹配電子元器件老化測試箱或設(shè)備使用，起到對老化測試控溫功效。模塊中配有發(fā)熱管和半導(dǎo)體制冷器，起到輔助加熱和快速降溫功效，方便測試，制冷工作無運動部件，可靠性也比較高，無制冷劑污染，發(fā)熱管輔助加熱可適用于小功率電子元器件的控溫測試，適用面廣，符合產(chǎn)業(yè)利用，而散熱器至少由導(dǎo)熱塊、導(dǎo)熱管、散熱翅片及散熱風(fēng)扇構(gòu)成，散熱效果更顯著，大大提升測試效率，具有極高的經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，科學(xué)合理，易制作，成本低，使用及維護(hù)簡便，靈活性好，使用壽命長，大大提升設(shè)備的可操作性和運行率。


:附圖1為本實用新型其一實施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖；附圖2為圖1實施例的另一視角立體結(jié)構(gòu)示意圖；附圖3為圖1實施例的側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖；附圖4為圖1實施例的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
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以下結(jié)合附圖對本實用新型進(jìn)一步說明:參閱圖f 4所示，本實用新型有關(guān)一種電子元器件老化測試模塊，該模塊至少包括有相互連接構(gòu)成熱導(dǎo)系統(tǒng)的載體1、半導(dǎo)體制冷器2及散熱器3，所述載體I上設(shè)有供被測產(chǎn)品承放并形成熱導(dǎo)連接的產(chǎn)品放置區(qū)11，載體I內(nèi)設(shè)有發(fā)熱管12 ;所述散熱器3至少由導(dǎo)熱塊31、導(dǎo)熱管32、散熱翅片33及散熱風(fēng)扇34構(gòu)成，導(dǎo)熱管32連接導(dǎo)熱塊31與散熱翅片33，導(dǎo)熱塊31與載體I或半導(dǎo)體制冷器2形成熱導(dǎo)連接。本實施例中，載體1、半導(dǎo)體制冷器2和導(dǎo)熱塊31之間為面貼連接在一起，為依次層疊設(shè)置，導(dǎo)熱性好；利用載體I內(nèi)的發(fā)熱管12加熱，可達(dá)到輔助升溫，滿足小功率電子元器件的控溫測試的需要，增加適用面，推進(jìn)產(chǎn)業(yè)利用。工作時，被測產(chǎn)品放在產(chǎn)品放置區(qū)11，本實施例的產(chǎn)品放置區(qū)11為一平面，當(dāng)然產(chǎn)品放置區(qū)11上還可配套設(shè)有治具等輔件，以方便被測產(chǎn)品定位穩(wěn)固。被測產(chǎn)品通電工作，產(chǎn)生的熱量傳遞到模塊上，本模塊的載體1、半導(dǎo)體制冷器2及散熱器3構(gòu)成的熱導(dǎo)系統(tǒng)對被測產(chǎn)品的殼溫管控，控制在一固定溫度上，從而進(jìn)行老化測試。工作中，載體I內(nèi)的發(fā)熱管12起到輔助加熱，而半導(dǎo)體制冷器2起到快速降溫，散熱器3給予散熱，以實現(xiàn)控溫，對于載體I和半導(dǎo)體制冷器2的工作可根據(jù)實際需要啟動附加功效，半導(dǎo)體制冷器2為現(xiàn)有技術(shù)，其工作原理在此不再詳細(xì)贅述。圖廣4所示，本實施例中，所述散熱器3中的導(dǎo)熱管32對著散熱翅片33正面穿設(shè)，導(dǎo)熱管32內(nèi)設(shè)有導(dǎo)熱的空氣介質(zhì)或液體介質(zhì)。為了增加散熱效果，導(dǎo)熱管32內(nèi)的液體介質(zhì)可為循環(huán)形態(tài)。本實施例中，多根并列設(shè)計的導(dǎo)熱管32為U形設(shè)計，彎折的根部與導(dǎo)熱塊31連接在一起，而導(dǎo)熱管32的兩支延伸臂分別對著兩組散熱翅片33正面穿設(shè)，由此增加散熱面，散熱風(fēng)扇34設(shè)置在兩組散熱翅片33的相對端部之間，且散熱風(fēng)扇34的送風(fēng)方向正對散熱翅片33的翅片間隙，由此一臺散熱風(fēng)扇34工作，則可實現(xiàn)冷卻空氣依次為流經(jīng)兩組散熱翅片33 (其中之一為吸入流動，而另一為吹出流動)，達(dá)到散熱工作，因而散熱效果更佳，控溫更精確。本實用新型提供的模塊解決了熱速度慢或者根本無法控溫的問題；同時可減少制冷部件工作在滿負(fù)荷或超負(fù)荷的狀態(tài)，使用壽命更長。結(jié)構(gòu)簡單，科學(xué)合理，易制作，成本低，使用及維護(hù)簡便，靈活性好，使用壽命長，大大提升設(shè)備的可操作性和運行率，具有極高的經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。
權(quán)利要求1.電子元器件老化測試模塊，其特征在于:該模塊至少包括有相互連接構(gòu)成熱導(dǎo)系統(tǒng)的載體(I)、半導(dǎo)體制冷器(2)及散熱器(3)，所述載體(I)上設(shè)有供被測產(chǎn)品承放并形成熱導(dǎo)連接的產(chǎn)品放置區(qū)(11)，載體(I)內(nèi)設(shè)有發(fā)熱管(12);所述散熱器(3)至少由導(dǎo)熱塊(31)、導(dǎo)熱管(32)、散熱翅片(33)及散熱風(fēng)扇(34)構(gòu)成，導(dǎo)熱管(32)連接導(dǎo)熱塊(31)與散熱翅片(33)，導(dǎo)熱塊(31)與載體(I)或半導(dǎo)體制冷器(2)形成熱導(dǎo)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件老化測試模塊，其特征在于:所述載體(I)、半導(dǎo)體制冷器(2 )和導(dǎo)熱塊(31)之間為面貼連接在一起。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件老化測試模塊，其特征在于:所述導(dǎo)熱管(32)對著散熱翅片(33)正面穿設(shè)，導(dǎo)熱管(32)內(nèi)設(shè)有導(dǎo)熱的空氣介質(zhì)或液體介質(zhì)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的電子元器件老化測試模塊，其特征在于:所述導(dǎo)熱管(32)為U形設(shè)計，彎折的根部與導(dǎo)熱塊(31)連接在一起，而導(dǎo)熱管(32)的兩支延伸臂分別對著兩組散熱翅片(33)正面穿設(shè)，散熱風(fēng)扇(34)設(shè)置在兩組散熱翅片(33)的相對端部之間，且散熱風(fēng)扇(34)的送風(fēng)方向正對散熱翅片(33)的翅片間隙。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元器件老化測試模塊，其特征在于:導(dǎo)熱管(32)內(nèi)的液體介質(zhì)為循環(huán)形態(tài)。
專利摘要本實用新型涉及測試儀器設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及電子元器件老化測試模塊，包括有相互連接構(gòu)成熱導(dǎo)系統(tǒng)的載體、半導(dǎo)體制冷器及散熱器，載體上設(shè)有供被測產(chǎn)品承放并形成熱導(dǎo)連接的產(chǎn)品放置區(qū)，載體內(nèi)設(shè)有發(fā)熱管；散熱器由導(dǎo)熱塊、導(dǎo)熱管、散熱翅片及散熱風(fēng)扇構(gòu)成，導(dǎo)熱管連接導(dǎo)熱塊與散熱翅片，導(dǎo)熱塊與半導(dǎo)體制冷器形成熱導(dǎo)連接，導(dǎo)熱管對著散熱翅片正面穿設(shè)，導(dǎo)熱管內(nèi)設(shè)有導(dǎo)熱的空氣介質(zhì)或液體介質(zhì)。本實用新型可匹配電子元器件老化測試箱或設(shè)備使用，起到對老化測試控溫功效，具有輔助加熱和快速降溫功效，可靠性也比較高，無制冷劑污染，適用面廣，符合產(chǎn)業(yè)利用，散熱器的散熱效果更顯著，大大提升測試效率，具有極高的經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。
文檔編號G01R31/00GK203054134SQ20132005222
公開日2013年7月10日 申請日期2013年1月30日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月30日
發(fā)明者戴雷玉 申請人:戴雷玉