技術編號：6056974
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及測試儀器設備，尤其是涉及電子元器件老化測試儀器。背景技術目前，對于電子元器件生產出來后，需要對其壽命做一個評估，尤其是在極限高溫和低溫的環(huán)境下老化評估。在進行老化測試時，通常采用熱電偶采集電子元器件的殼溫，這樣，老化監(jiān)測系統(tǒng)的控制單元就可根據(jù)熱電偶采集到的溫度，將電子元器件的殼溫基本控制在一固定溫度上，僅允許其在該固定溫度的上、下限范圍內(通常為士 I 一 2°C)波動。目前用于電子元器件老化測試的結構主要是以制冷實現(xiàn)控溫，以水冷和油冷為主，...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。