位置測量系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及具有一第一部分和一相對于所述第一部分可動的第二部分的位置測量系統(tǒng)。所述第一部分具有一整體量具，所述整體量具有大量的標(biāo)記，所述標(biāo)記分別能夠假定兩個相互不同的值。數(shù)量為m的直接相繼的標(biāo)記對沿著所述整體量具的單義的絕對位置進行編碼并且數(shù)量為m-1的直接相繼的標(biāo)記不對單義的絕對位置進行編碼。所述第二部分具有一掃描裝置，該掃描裝置具有數(shù)量為k的單個傳感器，用于掃描數(shù)量為n的直接相繼的標(biāo)記，其中，所述掃描裝置為了所述第二部分相對于所述第一部分的確定位置而與一評價裝置在功能上連接。根據(jù)本發(fā)明，滿足條件n>m，其中，可借助于所述評價裝置來識別所述掃描裝置的掃描錯誤。
【專利說明】位置測量系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種根據(jù)權(quán)利要求1的前序部分所述的位置測量系統(tǒng)以及一種具有權(quán)利要求11的特征的線性引導(dǎo)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]從實踐中已知了大量的應(yīng)用，其中，值得向往的可以是，確定一第一部件的絕對位置，所述第一部件相對于一第二部件運動。例如針對這種應(yīng)用可以特別是如下的線性系統(tǒng)和線性引導(dǎo)裝置，它們可以用于操縱技術(shù)、尤其是線性技術(shù)中的不同應(yīng)用。為此存在大量的線性技術(shù)的使用可能性，作為在機械工程、尤其是在制造和自動化技術(shù)中的機器部件。
[0003]例如從DE 10 2007 042 796 Al中提出了一種線性引導(dǎo)裝置，其具有可在其上沿著運動的引導(dǎo)車。其中所描述的線性引導(dǎo)裝置具有一絕對的整體量具(Mafiverk5rperung),用于確定所述引導(dǎo)車關(guān)于所述線性引導(dǎo)裝置或者說關(guān)于安裝在其上的整體量具的絕對位置。
[0004]在US 4 009 377 A中描述了一種方法，其能夠?qū)崿F(xiàn)一引導(dǎo)車沿著一線性引導(dǎo)裝置的絕對位置確定。為此，針對所述引導(dǎo)車的每個可區(qū)分的絕對位置，借助于一移位寄存器分別產(chǎn)生一個偽隨機二進制序列(PRBS),其也以英文名稱Pseudo-Random Binary Sequence(PRBS)所公知且常見，并且將所述偽隨機二進制序列應(yīng)用到一沿著所述線性引導(dǎo)裝置布置的整體量具上。一相對于所述整體量具可動的傳感器可以掃描所述偽隨機二進制序列(PRBS)的多個并排布置的位。為了確定所述傳感器的絕對位置且因此確定所述引導(dǎo)車沿著所述整體量具的絕對位置，將所述移位寄存器以位串進行填充，所述位串相應(yīng)于所述整體量具的零位置。隨后所述移位寄存器被經(jīng)常性地連續(xù)定時，直到其內(nèi)容與所述傳感器的測量值一致。所探測到的連續(xù)定時(Weitertaktungen)的數(shù)量是針對相對于所述整體量具的絕對位置的尺度。
[0005]其缺點在于，通過大量的干擾因素會導(dǎo)致在所述整體量具的掃描時或者說在確定正確的絕對位置時出現(xiàn)錯誤。由此會引起所述掃描結(jié)果的歪曲或者說有錯誤的絕對位置確定。例如針對引起該錯誤的干擾因素是噪聲或不希望的電的或電磁的影響，它們會引起位錯誤。由于所述有錯誤的掃描或者說有錯誤的位置確定，例如當(dāng)由于所述有錯誤的位置確定以及由此引起的所述引導(dǎo)車的錯誤控制而使得超過了制造公差時，會出現(xiàn)工件廢品。特別是在線性引導(dǎo)裝置的安全關(guān)鍵(sicherheitskritischen)的應(yīng)用中,值得向往的是，在引導(dǎo)車的沿著一線性引導(dǎo)裝置的絕對位置確定時實現(xiàn)較高的可靠性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]因此本發(fā)明的任務(wù)是，提出一種位置測量系統(tǒng)，其能夠?qū)崿F(xiàn)可靠的絕對位置確定。
[0007]該任務(wù)通過一種具有權(quán)利要求1的特征的位置測量系統(tǒng)以及一種具有權(quán)利要求11的特征的線性引導(dǎo)裝置解決。
[0008]本發(fā)明的有利的改進方案記載在從屬權(quán)利要求中。[0009]根據(jù)本發(fā)明的位置測量系統(tǒng)具有一第一部分和相對于所述第一部分可動的第二部分。所述第一部分具有一整體量具，所述整體量具有大量的成排布置的標(biāo)記，所述標(biāo)記分別能夠假定兩個相互不同的值。在一個標(biāo)記排中的數(shù)量為m個直接相繼的標(biāo)記對沿著所述整體量具的一單義的或者說一對一的絕對位置進行編碼并且數(shù)量為m-Ι個直接相繼的標(biāo)記不對單義的絕對位置進行編碼。所述第二部分具有一掃描裝置，該掃描裝置具有數(shù)量為k個單個傳感器，用于掃描數(shù)量為η個直接相繼的標(biāo)記，其中，所述掃描裝置為了所述第二部分相對于所述第一部分的位置確定而與一評價裝置在功能上連接。利用所述整體量具的分度間距λ和所述單個傳感器的分度間距δ，適用如下關(guān)系式δ = λ * η + k。
[0010]根據(jù)本發(fā)明，滿足了條件η > m，其中，在此情況下所述掃描裝置的掃描錯誤可借助于所述評價裝置來識別。
[0011]例如所述第一部分可以是一線性引導(dǎo)裝置并且所述第二部分可以是一沿著所述線性引導(dǎo)裝置運動的引導(dǎo)車。在此情況下，所述整體量具可以沿著所述線性引導(dǎo)裝置布置。此外，所述標(biāo)記排可以以位串的形式設(shè)置。例如可以將所述評價裝置構(gòu)造成一微處理器和一存儲器，或替選地構(gòu)造成以所謂的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)為形式的集成電路。
[0012]因此根據(jù)本發(fā)明的位置測量系統(tǒng)能夠以特別簡單、有效且可靠的方式，實現(xiàn)錯誤的識別，所述錯誤例如在掃描期間通過大量的干擾因素而出現(xiàn)。在此情況下，可以如此地選擇所述整體量具的大量的標(biāo)記，使得為了錯誤識別而需掃描的標(biāo)記數(shù)量盡可能少。由此不是強制性地需要，將絕對編碼的整體量具和/或所述掃描裝置在其結(jié)構(gòu)尺寸上相對于迄今公知的結(jié)構(gòu)形式顯著地增大。因此，在所述整體量具上的唯一一個蹤跡就足以包括用于位置確定和錯誤識別所需的所有信息。
[0013]在此情況下，為了位置確定而需掃描的標(biāo)記可以機械地、光學(xué)地或磁性地應(yīng)用到或者說引入到所述整體量具中。例如所述標(biāo)記也可以以孔圖案的形式壓印到所述整體量具中，它們對于一線圈傳感器的感應(yīng)率的影響可以用于掃描其自身。
[0014]當(dāng)所述標(biāo)記排分別以唯一的、整體的偽隨機二進制序列(PRBS)的形式產(chǎn)生，所述偽隨機二進制序列也作為所謂的Pseudo-Random Binary Sequence (PRBS)公知且常見,貝丨J所述錯誤識別可以特別可靠地并且有效地進行。其具有有利的特性，即在一可區(qū)分的位置的長度上僅須安置描述該位置的代碼的唯一一個位，代替所述整體的代碼。雖然冗余很少，但還允許了較高的信息量。也可以生成一偽隨機二進制序列(PRBS)，其具有如下的有利特性，即除了所述位置的代碼之外，還包含直接相鄰的位置的一小部分(Bruchteil)。通過兩種信息的探測和評價，能夠?qū)崿F(xiàn)1-位-錯誤識別(1-Bit-Fehlererkennung)。此外,在這種錯誤情況下，可以確定如下的位，其是有錯誤地掃描到的或者說探測到的。
[0015]本發(fā)明的一種特別有利的實施方式在于，滿足所述條件2(n_m) > n，其中，所述評價裝置可以修正所述單個傳感器中的至少一個單個傳感器的讀取錯誤。因此可以將例如在使用一線性引導(dǎo)裝置時的錯誤在其產(chǎn)生不利影響之前就已經(jīng)進行了修正，其中，所述線性引導(dǎo)裝置的絕對位置確定利用根據(jù)本發(fā)明的位置測量系統(tǒng)來進行。例如可以考慮，在如下情況下，其中，在制造技術(shù)中使用一線性引導(dǎo)裝置，通過避免所述引導(dǎo)車的錯誤位置而被減少了工件廢品。在安全相關(guān)的系統(tǒng)中，根據(jù)本發(fā)明的具有錯誤修正的錯誤識別也可以表示為一種安全上的或者說品質(zhì)上的提聞。
[0016]本發(fā)明的另一種有利的實施方式在于，滿足條件2 < η。這樣，所述評價裝置可以修正唯一一個單個傳感器的掃描錯誤。因此能夠?qū)⑺璧膯蝹€傳感器的數(shù)量減少到最小可能的數(shù)量上。
[0017]例如可以針對在上述的偽隨機二進制序列(PRBS)中的錯誤修正而實現(xiàn)一錯誤修正方法，其基于所謂的海明碼。所述海明碼基于如下想法，針對一固定長度的需保護的代碼字，使用一確定數(shù)量的奇偶校驗位(Paridtsbit)并且不同地計算這些奇偶校驗位。在此情況下，通過如下方式可以察覺到一掃描錯誤，即一些奇偶校驗位是不正確的，而另一些奇偶校驗位是正確的。在此情況下，根據(jù)所掃描到的奇偶校驗位與在傳輸之后從需保護的位串的位中計算出的奇偶校驗位的一致性，來決定是否一奇偶校驗位是不正確的還是正確的。這樣，可以為每個由不正確的和正確的奇偶校驗位形成的組合單義地配設(shè)所述整體的掃描到的位串、包括所述奇偶校驗位本身的一確定的位。由此實現(xiàn)了修正錯誤。根據(jù)本發(fā)明，基于海明碼的錯誤修正可通過如下方式實現(xiàn)，即反饋位串、即反饋順序(Riickkopplungs-Sequenz)本身是一偽隨機二進制序列(PRBS)。在此情況下,所述偽隨機二進制序列(PRBS)的狀態(tài)的長度可以等于所使用的奇偶校驗位的數(shù)量。
[0018]本發(fā)明的一種特別有利的實施方式在于，在所述評價裝置中產(chǎn)生和/或預(yù)保持(vorgehalten)—具有大量行的第一值表格，其中，每一行包括一位置信息和一錯誤信息。借助于所述值表格可以利用所述評價裝置檢測，是否在所述整體量具上掃描的絕對位置與一理論上可能的額定絕對位置、也就是說所述第一值表格的一確定的行的位置信息相應(yīng)。在此情況下，所述值表格可以例如如此配置，即關(guān)于在所述值表格的一行中記錄的絕對位置的錯誤信息具有三種狀態(tài)，即“沒有錯誤”、“可修正的錯誤”或“不可修正的錯誤”。針對表示為“不可修正的錯誤”的表格行，所述位置信息可以是一虛擬值(Dmnmywert)。
[0019]已被證明為有利的是，所述評價裝置設(shè)置用于實施具有下列步驟的方法:
-參照所述掃描裝置的所有的單個傳感器的掃描值，選出第一值表格的一確定的行， -從所述確定的行中輸出一位置值和/或一錯誤信號。
[0020]換句話說，利用針對所述整體量具的單個的標(biāo)記的測量值來對所述第一值表格進行定址。這樣，可以求出所述第一值表格內(nèi)的一確定的行以及從該確定的行中讀取并輸出一相應(yīng)的位置值和/或錯誤信號。
[0021]有利的是，所述第一值表格可按照具有下列步驟的方法產(chǎn)生:
a)利用錯誤信息“不可修正的錯誤”來標(biāo)記所述第一值表格的所有行，
b)將單義的絕對位置作為針對每個如下位態(tài)的位置信息來記入，所述第二部分相對于所述第一部分可占據(jù)該位態(tài)，其中，所涉及的行利用錯誤信息“沒有錯誤”來標(biāo)記，
c)針對所述第二部分相對于所述第一部分的每個位態(tài)，針對所述整體量具的每個標(biāo)記將所述測量值顛倒(Invertieren)，其中，所述第一值表格的相應(yīng)的行在顛倒之后以錯誤信息“可修正的錯誤”來標(biāo)記。
[0022]利用P個測試位可以對2P個不同的狀態(tài)進行編碼。因此允許存在最大η = 2ρ-ρ-1個測量位，從而能夠?qū)崿F(xiàn)1-位-錯誤修正。為了針對一預(yù)設(shè)的生成函數(shù)(Erzeugerfunktion)查明，是否能夠?qū)崿F(xiàn)1-位-錯誤修正并且為了真正地實施該1-位-錯誤修正，可以如下作出一示例性的值表格。
[0023]該值表格利用所有的傳感器位來定址并且在每個行中給出一個位置值和一個錯誤狀態(tài)。所述錯誤狀態(tài)可以假定為下列值，即如上所述，“沒有錯誤”、“可修正的錯誤”或“不可修正的錯誤”。
[0024]在輸出狀態(tài)下，所述值表格的所有行都以“不可修正的錯誤”來表示。這樣，在與所述整體量具的偽隨機二進制序列(PRBS)的允許的位串相應(yīng)的所有行中記入對應(yīng)的位置值，其中，所述行以“沒有錯誤”來標(biāo)記。
[0025]隨后可以針對所有允許的位串的位位置或者說比特位置(Bitpositionen)將所涉及到的位位置進行顛倒。之后可以測試，是否所述值表格的相應(yīng)的行是以“不可修正的錯誤”來表示的。如果是這種情況，則可以記入所涉及的允許的位串的位置值，其中，所述行以“可修正的錯誤”來表示。在另一種情況下，該生成函數(shù)不適合于1-位-錯誤修正。當(dāng)所有上述的測試都是肯定地(positiv)運行時，則所述生成函數(shù)適合于1-位-錯誤修正。
[0026]借助于一計算機可以測試所有的生成函數(shù)。當(dāng)存在m個測量位時，(2m-l)次地實施前述的測試，用以查明所有的允許的生成函數(shù)。為了實施真正的絕對位置測量，所述值表格可以利用所有的傳感器位進行定址，其中，隨后可以讀取所述位置值和所述錯誤狀態(tài)。
[0027]在本發(fā)明的一種替選的有利的實施方式中規(guī)定，在所述評價裝置中產(chǎn)生和/或預(yù)保持一第二值表格和一第三值表格，其中，所述第二值表格具有大量的行并且每一行都包含一位置信息和一輔助值作為錯誤信息。所述輔助值或者說所述錯誤信息可以例如是一計算上的順序延續(xù)(Reihenfortsetzung),也就是說各標(biāo)記列的計算上的延續(xù)。所述第三值表格可以包含一修正值和/或一錯誤狀態(tài)。
[0028]在該替選的實施方式中，采用兩個單獨的值表格。所述錯誤識別信息和錯誤修正信息到兩個值表格上的劃分提供了如下優(yōu)點，即不僅所述第二值表格而且所述第三值表格的范圍相對于一包含所有信息的唯一一個值表格的范圍減小。
[0029]有利的是，所述評價裝置設(shè)置用于實施具有下列步驟的方法:
a)參照針對所述整體量具的數(shù)量為m個標(biāo)記，選出所述第二值表格的一確定的行，
b)參照剩余的(n-m)個標(biāo)記的測量值與一從所述第二值表格的所述確定的行中獲得的輔助值進行的XOR運算(XOR-Verknilpfung)，選出所述第三值表格的一確定的行，
c)借助于一修正值修正來自步驟a)中的測量值，所述修正值從步驟b)中的第三值表格的所述確定的行中提取，
d)參照在步驟c)下修正的測量值，選出所述第二值表格的一確定的行，并且輸出該確定的行的相應(yīng)的位置信息。
[0030]換句話說，將所述第二值表格利用數(shù)量為η個針對所述整體量具的標(biāo)記的測量值中的數(shù)量為m個測量值的部分位串進行定址。在此情況下，可以在所述確定的行中說明，所述整體量具的位串必須如何基于所掃描到的位置確定編碼的部分位串來延續(xù)，其中，所述計算上的錯誤識別編碼的位數(shù)量與所述掃描到的錯誤識別編碼的位數(shù)量相應(yīng)。此外，可以在所述計算上的錯誤識別編碼和所掃描到的錯誤識別編碼之間實施一 XOR運算。如果所述XOR運算的結(jié)果在該情況下為零，則可以推斷出，在所述整體量具的掃描中不存在錯誤。如果所述XOR運算的結(jié)果不等于零，則該計算的結(jié)果包含關(guān)于所述錯誤的位位置的信息。
[0031]此外，可以將所述第三值表格利用上述的XOR運算的結(jié)果進行定址。在此情況下，所述第二值表格可以包含一修正值和一配屬的錯誤狀態(tài)。在此情況下值得注意的是，所述修正值僅具在所掃描到的錯誤識別編碼的如下位位置上具有值1，在該位位置上存在I位錯誤。所述錯誤狀態(tài)可以例如是“沒有錯誤”、“可修正的錯誤”或“不可修正的錯誤”。值得注意的還有，將所述第二值表格利用上述的所掃描到的錯誤識別編碼和所述修正值的XOR運算來定址。
[0032]有利地，所述整體量具的大量的標(biāo)記可以借助于一反饋移位寄存器來產(chǎn)生，所述反饋移位寄存器具有數(shù)量為m個觸發(fā)器。在此情況下，所述移位寄存器的一輸出端觸發(fā)器和至少一個其它的觸發(fā)器之間的至少一個XOR運算或XNOR運算可以反饋到一輸入端觸發(fā)器上。
[0033]換句話說，針對本發(fā)明可使用的偽隨機二進制序列(PRBS)可利用一反饋移位寄存器來產(chǎn)生，所述反饋移位寄存器也以英文名稱Linear Feedback Shift Register公知且常見。這種反饋移位寄存器可以具有一確定的、但按照使用范圍的不同而數(shù)量任意可變的例如以D觸發(fā)器為形式的寄存器。針對寄存器數(shù)量的通用值例如為4、8、16或32。但也可以是任意數(shù)量的寄存器，即例如7、9、13、15或21。
[0034]在確定的觸發(fā)器之間可以設(shè)置向其它的觸發(fā)器的分支，所述分支表現(xiàn)為所述移位寄存器的反饋。在此情況下，所述分支的數(shù)量和位置是可確定的。所述分支的確切的選出在本申請的框架中也被稱作生成函數(shù)。
[0035]例如可以配置一種移位寄存器，利用其可產(chǎn)生一偽隨機二進制序列(PRBS)，該偽隨機二進制序列利用如下知識，即不僅針對一偽隨機二進制序列的計算，而且針對一奇偶校驗位的計算，分別使用XOR運算，其中，所述奇偶校驗位針對在錯誤識別中的使用是已知的。從該確定中可以得出，從一偽隨機二進制序列(PRBS)的任意的部分序列或者說部分位串的出發(fā)，可將每下一個從該部分位串中產(chǎn)生的所述偽隨機二進制序列(PRBS)的位理解為所觀察的部分位串的奇偶校驗位。
[0036]由此得出，所述偽隨機二進制序列(PRBS)的所觀察的部分位串以從該部分位串中計算出的奇偶校驗位進行 擴展，從而通過一奇偶校驗計算保護了該部分位串的每個位。如果在掃描所述編碼時出現(xiàn)1-位錯誤，則可以識別到該錯誤。利用這種偽隨機二進制序列(PRBS)能夠以特別簡單的方式執(zhí)行1-位錯誤識別。在此情況下，所述奇偶校驗位分別直接鄰接在所述偽隨機二進制序列(PRBS)的所掃描到的部分位串上，從而在它們之間不設(shè)置未使用過的位。以這種方式，本發(fā)明可以使用一用作掃描裝置的具有比較小的結(jié)構(gòu)尺寸的傳感器。
[0037]為了圖解根據(jù)本發(fā)明的用于在掃描一偽隨機二進制序列(PRBS)的情況下進行1-位錯誤識別的想法，可以使用下面的、示例性地簡化的示圖。
位事0 0 1110 10 0
[_號】 園[7) m 15] [43 [3] [2| 〖11 [O]
[B會餘 O]_ M b2|
[時卿 1]_ M b21
[時舞2〗_ M b2|
[時.3]|b0 M b21

fbO bl b2f
【時鐘SI|W b1 b2|
『時鐘β? |W b1 b21[0038]所示的位串(001110100)是一借助于一確定的反饋移位寄存器所產(chǎn)生的偽隨機二進制序列(PRBS)。由此得出，可以將這種偽隨機二進制序列(PRBS)簡單地如上所示在一維中示出。在該例子中，由三個位組成的每個部分序列或者說每個部分位串b0、bl和b2表示了在總序列或者說總位串內(nèi)的一單義的位置。針對實際應(yīng)用的有利特性是，這種單義的位置雖然通過多個位來表示，但相互僅距離一個“位寬”。有利地，該序列可以直接轉(zhuǎn)換成一維的整體量具，其中，所述位置的分辨率剛好與一個位寬相應(yīng)。
[0039]根據(jù)本發(fā)明的錯誤識別可以從該示例性的位串(001110100)出發(fā)來較好地圖解。假設(shè)，待測量的部分序列或者說部分位串是在編號位置[5]、[4]和[3]處的三個位，則在編號位置[6]處的位代表了一 XOR運算，即針對所述位[4]和[3]的奇偶校驗位。在該位串的編號位置[7]處的位是針對位[5]和[4]的奇偶校驗位。為了確保在掃描所述位[5]、
[4]和[3]時不出現(xiàn)1-位錯誤，可以額外地掃描在編號位置[7]和[6]處的位并且檢測它們的奇偶校驗關(guān)系。雖然在此情況下可以想象，在掃描所述額外的位時同樣會出現(xiàn)錯誤，當(dāng)然也可以在此情況下可靠地識別到1-位錯誤。
[0040]在此情況下必須附加于部分序列或者說附加于部分位串進行掃描和/或檢測的位的數(shù)量取決于所述反饋組合，也就是說產(chǎn)生所述偽隨機二進制序列(PRBS)的反饋移位寄存器的反饋的數(shù)量和位置。但在一確定的偽隨機二進制序列(PRBS)內(nèi)，該數(shù)量針對所有可能的部分序列或者說部分位串是相同的。
[0041]為了在此情況下使所需的附加的位的數(shù)量最小化，可以將所述反饋組合進行優(yōu)化。針對所述奇偶校驗計算，唯一一個附加的位就已足夠。為此當(dāng)然前提是，所產(chǎn)生的移位寄存器的所有反饋都納入所述計算中。當(dāng)然這僅產(chǎn)生偽隨機二進制序列(PRBS)，其對于在所述整體量具上的實際應(yīng)用而言太短。針對一具有剛好兩個奇偶校驗位的應(yīng)用，所述反饋組合必須包含所產(chǎn)生的移位寄存器中的至少每兩個寄存器。
[0042]這可以如下來歸納:R是所述寄存器的數(shù)量并且T是一反饋寄存器的反饋組合:由此生成的PRBS包含一定數(shù)量的單義的狀態(tài)，它們分別通過R位來表示。此外，M是在T中出現(xiàn)的最大數(shù)量的所述反饋移位寄存器的直接相鄰的并且的不納入所述反饋計算中的寄存器數(shù)量。這樣，為了掃描一狀態(tài)且在此情況下能夠識別到1-位錯誤，必須掃描R+M+1個位。通過該行為將所需的奇偶校驗位的數(shù)量最小化。換句話說，所需的奇偶校驗位的數(shù)量等于所述反饋移位寄存器的不納入所述反饋計算中的位的數(shù)量加I。
[0043]根據(jù)本發(fā)明的方法的一種特別有利的改進方案在于，利用一確定的生成函數(shù)來實施所述整體量具的位置確定編碼和/或錯誤識別編碼的產(chǎn)生和/或所述測試編碼的產(chǎn)生。
[0044]特別有效的是，根據(jù)本發(fā)明的位置測量系統(tǒng)可以使用一線性引導(dǎo)裝置。因此，例如可以完成一用于制造技術(shù)中高精確度的任務(wù)或安全關(guān)鍵的任務(wù)的絕對位置確定。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0045]下面參照附圖詳細(xì)闡述本發(fā)明的實施例。其中:
圖1示出了具有一線性引導(dǎo)裝置和一在所述線性引導(dǎo)裝置可沿著運動的引導(dǎo)車的線性支承裝置的示意性俯視圖；
圖2示出了具有一引導(dǎo)車的線性引導(dǎo)裝置的橫截面俯視圖；
圖3示出了用于產(chǎn)生一適合于整體量具的編碼的偽隨機二進制序列(PRBS)的移位寄存器的一個實施例；
圖4示出了用于掃描和評價一整體量具的布置方式的第一實施例的粗略示意圖；以
及
圖5示出了用于掃描和評價一整體量具的布置方式的第二實施例的粗略示意圖。
[0046]相同的部件在附圖中完全以相同的附圖標(biāo)記表示。
【具體實施方式】
[0047]圖1示出了一線性支承裝置I的一個實施例的示意性俯視圖。針對這種線性支承裝置存在大量的應(yīng)用領(lǐng)域，例如作為制造技術(shù)或自動化技術(shù)中的機器零件。
[0048]所述線性支承裝置I具有一線性引導(dǎo)裝置2，該線性引導(dǎo)裝置具有一集成的位置測量系統(tǒng)4。在該實施例中，所述線性引導(dǎo)裝置2以一軌道的形式構(gòu)造，一引導(dǎo)車6可線性運動地支承在所述線性引導(dǎo)裝置上。所述引導(dǎo)車6可以在縱向上沿著所述線性引導(dǎo)裝置2朝向兩個相反的方向受控地驅(qū)動。
[0049]所述線性引導(dǎo)裝置2的位置測量系統(tǒng)4包括兩個整體量具8、10，它們布置在所述線性引導(dǎo)裝置2的兩個對置的側(cè)面上，其中，設(shè)置一絕對編碼的整體量具8和一增量的整體量具10。所述位置測量系統(tǒng)4還具有一側(cè)頭12，其配屬于所述引導(dǎo)車6，用于沿著兩個整體量具8、10的一整體的線性運動。所述引導(dǎo)車6具有第一掃描裝置14和第二掃描裝置16，所述第一掃描裝置具有數(shù)量為k個單個傳感器15，用于掃描所述絕對編碼的整體量具8，所述第二掃描裝置以傳感器為形式用于掃描所述增量的整體量具6。所述測頭12也包括以一微處理器20和一存儲器22為形式的評價裝置18。
[0050]圖2中示出了一線性引導(dǎo)裝置2的橫截面俯視圖，所述線性引導(dǎo)裝置具有在其上可線性移動地支承的引導(dǎo)車6，在圖2中可較好地看到，不僅所述絕對編碼的整體量具8而且所述增量的整體量具10都是集成到所述線性引導(dǎo)裝置2中的。
[0051]所述位置測量系統(tǒng)4首先一次性地在其試運行時確定所述絕對位置，其中，隨后僅還實施一增量的測量或者說位置確定。當(dāng)然也可以針對所述位置測量系統(tǒng)4確定，特別是在安全關(guān)鍵的系統(tǒng)中也在運轉(zhuǎn)的運行期間進行其它的絕對位置確定。為了所述其它的絕對位置確定，可確定的是，其周期地利用一可運用的(applizierbaren)間隔或也可以在可運用的事件的情況下進行，所述事件在所述位置測量系統(tǒng)4或所述線性支承裝置I內(nèi)出現(xiàn)。
[0052]所述絕對編碼的整體量具8在該實施例中作為金屬軌道來實施，將二進制的信息，也就是說各確定的位串，以孔圖案的形式壓印到所述金屬軌道中。因此，為沿著所述絕對編碼的整體量具8的每個可區(qū)分的位置分配一確定的、單義的二進制編碼。用于掃描以這種方式絕對編碼的整體量具8或者說其數(shù)量為η個單個傳感器15的所述第一掃描裝置14實施為線圈傳感器，其感應(yīng)率經(jīng)由通過壓印到所述整體量具8中的孔的影響而受到影響。以這種方式可以將所述整體量具8可靠地并且很大程度地?zé)o磨損地借助于所述第一掃描裝置14進行掃描并且從中確定出所述整體量具8上的一確定的位置。該感應(yīng)的掃描方法對于所述絕對編碼的整體量具8的污染或污潰是很大程度地不敏感的。
[0053]參照圖3，其示出了用于產(chǎn)生一適合于所述整體量具8的編碼的偽隨機二進制序列(PRBS)的反饋移位寄存器24，下面描述一適合于本發(fā)明的偽隨機二進制序列(PRBS)的產(chǎn)生。在圖3中所示的移位寄存器24具有m個級或者說寄存器，其中，m是測量位的數(shù)量。利用所述寄存器可產(chǎn)生的狀態(tài)的數(shù)量相應(yīng)于2m-l。
[0054]所述移位寄存器24還包括一可定時(taktbaren)的輸入端26，其與數(shù)量m個觸發(fā)器28a至28m連接。在該實施例中，剛好設(shè)置四個測量位(m=4)，也就是說，剛好存在四個觸發(fā)器28a至28d。所述觸發(fā)器28a至28d中的每一個都具有一時鐘輸入端(CLK) 30a至30d、一數(shù)據(jù)輸入端32a至32d和一數(shù)據(jù)輸出端34a至34d。
[0055]所述移位寄存器24還具有一輸出端36，在該輸出端輸出利用所述移位寄存器24產(chǎn)生的偽隨機二進制序列(PRBS)。為了反饋，所述反饋移位寄存器24還具有一可確定的(festlegbare)或者說可變的數(shù)量的XOR門或XNOR門，其中，在該實施例中設(shè)置一第一 XOR門38和一第二 XOR門40。所述XOR門38、40可以理解為一種類型的開關(guān)，其可以要么打開(相應(yīng)于值“O”)要么關(guān)閉(相應(yīng)于值“I”)。所述門的數(shù)量以及所述XOR門或XNOR門38、40的連接組合被稱為生成函數(shù)42，該生成函數(shù)在所述移位寄存器24的輸出端36產(chǎn)生一確定的偽隨機二進制序列(PRBS)。所述移位寄存器24的不納入所述反饋計算中的并排的位的數(shù)量被最小化。
[0056]在所述輸出端36產(chǎn)生的偽隨機二進制序列(PRBS)的準(zhǔn)確的次序和長度按照所述生成函數(shù)42來確定，也就是說按照所述移位寄存器24的級的數(shù)量m以及按照被納入所述移位寄存器24的計算中的XOR門38、40的組合來確定。所述XOR門38、40盡可能如此連接，使得在按照權(quán)利要求6所述的產(chǎn)生所述第一值表格(56)時或者所述第三值表格(66)時，絕對位置僅被寫入到以“不可修正的錯誤”表示的第一(56)或第三值表格(66)的行中。所述移位寄存器24起初以一非平凡(nicht-trivialen)的位串作為起始值進行填充,從而所述移位寄存器24的每個時鐘都在所述輸出端36處輸出一借助于所述生成函數(shù)42產(chǎn)生的偽隨機二進制序列(PRBS)。在該實施例中將所述整體量具8的零位置(1000)的非平凡的位串用作起始值。
[0057]所述移位寄存器24可以承擔(dān)所述位置測量系統(tǒng)4內(nèi)的兩個不同的任務(wù)。第一任務(wù)在于，針對沿著所述整體量具8的每個可區(qū)分的位置，產(chǎn)生出應(yīng)用到所述絕對編碼的整體量具8上的偽隨機二進制序列(PRBS)。所述移位寄存器24的第二任務(wù)也可以在于，利用其確定所述掃描裝置14的絕對位置。為此，所述移位寄存器24可以利用所述整體量具8的零位置的位串進行填充并且經(jīng)常性地經(jīng)由所述輸入端26進行定時，直到在所述移位寄存器24的輸出端36產(chǎn)生的位串與所述掃描裝置14的掃描值一致。所探測到的定時的數(shù)量是針對所述掃描裝置14相對于所述整體量具8的絕對位置的一個尺度。針對所述第二任務(wù)，所述評價裝置18必須具有這樣一種移位寄存器24。
[0058]根據(jù)本發(fā)明，雖然所述移位寄存器24用于產(chǎn)生所述整體量具8的單個的偽隨機二進制序列(PRBS)，但不是強制性地用于所述掃描裝置14相對于所述整體量具8的絕對位置確定。下面描述根據(jù)本發(fā)明的所述掃描裝置14的絕對位置的確定或者說檢測。
[0059]為了評價所掃描到的整體量具8，建議所述位置測量系統(tǒng)4的兩個不同的實施方式，它們在下文中闡述。
[0060]圖4在第一實施例中示出了所述位置測量系統(tǒng)4的一部分、特別是所述整體量具
8、所述掃描裝置14和所述評價裝置18的粗略示意性示圖。利用所述位置測量系統(tǒng)4的所示的部分，能夠?qū)崿F(xiàn)所述整體量具8的掃描以及與一作為用于錯誤識別和/或錯誤修正的測試編碼的比較性的評價。[0061]在圖4中示出的絕對編碼的整體量具8具有一具有位串44的唯——個蹤跡(Spur)，該蹤跡借助于所述移位寄存器24產(chǎn)生。所述整體量具在此情況下例如由一長形延伸的金屬板形成，其中引入了大量的成排布置的標(biāo)記，所述標(biāo)記分別可以假定兩個不同的值。所述標(biāo)記可以是所述金屬帶中的孔。一個孔代表了狀態(tài)1，不存在的孔代表了狀態(tài)O。一個標(biāo)記也可以具有兩個下標(biāo)，它們是相互顛倒地選擇的，從而改善了掃描安全性。所述標(biāo)記優(yōu)選相互具有一恒定的分度間距。所述位串44是一偽隨機二進制序列(Pseudo-RandomBinary Sequence (PRBS))并且在該實施例中包括剛好13個位(0110001011000)。所述位串44的第一部分位串46在該實施例中包括剛好四個位(1000)，它們代表了所述整體量具的零位置。這相應(yīng)于所述移位寄存器24的起始值。所述位串44的第二位串48從所述位串44的起始來重復(fù)剛好數(shù)量為m+p-1個位(011000)，因此所有的單個傳感器15在所有七個可區(qū)分的絕對位置中與所述整體量具8的標(biāo)記對置。所述位串44在此情況下如此選擇，即用于錯誤識別和/或錯誤修正的冗余度盡可能小并且是所述偽隨機二進制序列(PRBS)的隱含的部分。
[0062]為了掃描所述絕對編碼的整體量具8，所述掃描裝置14沿著所述位串44運動，并且設(shè)置用于同時掃描具有剛好η個位的部分位串，其中，在該實施例中為七個(n=7)。所述可掃描的部分位串可以劃分成m個測量位52和P個測試位54，其中，在該實施例中m等于4 (m=4)并且P等于3 (p=3)。為此設(shè)置單個傳感器15，它們例如可以包括電線圈，用以識別所述整體量具8中是否存在孔。所述單個傳感器15具有一恒定的分度間距δ，其如所示可以等于所述整體量具8的分度間距λ。但也可以如此考慮，即所述單個傳感器15的分度間距δ根據(jù)DE 10 2011 106 940 Al選擇得較小，使得所述掃描裝置不僅在圖4中所示的位態(tài)中理想地工作，而且也在略微移動的位態(tài)中理想地工作，在所述略微移動的位態(tài)中,所述單個傳感器15不是準(zhǔn)確地布置在一對應(yīng)的標(biāo)記值上。在此情況下，使用k個單個傳感器用于掃描所述整體量具8的η個標(biāo)記或者說位，其中，k > η。這樣，所述單個傳感器的分度間距δ為δ = λ * η + k。從所述單個傳感器的掃描信號中以從DE 10 2011 106 940Al中已知的方式來求出針對所述整體量具8的單個的標(biāo)記的測量值，之后將所述測量值根據(jù)本發(fā)明繼續(xù)使用。
[0063]從圖4中還可見，所述評價裝置8包括一第一值表格56，其可利用針對所述整體量具8的單個的標(biāo)記的測量值，即所述測量位52和所述測試位54來定址。所述第一值表格56在每一行中給出一測試編碼58，其包括一確定的絕對位置值60以及一配屬的錯誤狀態(tài)62。因此沒有必要將所述移位寄存器24在所述評價裝置18中進行執(zhí)行，因為借助于預(yù)保持的測試編碼58和其與所述第一掃描裝置14的掃描值的比較，可單義地確定其絕對位置或者說測試所述掃描值的可能的錯誤。
[0064]此外，借助于一可讀取的錯誤狀態(tài)62能夠?qū)⒖赡艿腻e誤進行分類。在此情況下，針對一確定的絕對位置值60的錯誤狀態(tài)62可以假定三個不同的值，即“沒有錯誤”、“可修正的錯誤”或“不可修正的錯誤”。因此，通過所述值表格56利用所述第一掃描裝置14的掃描結(jié)果進行的定址，可以找出并且讀取一確定的絕對位置值60以及其錯誤狀態(tài)62。通過一比較性的評價，也就是說通過所述第一掃描裝置14的掃描值與所述絕對位置值60的比較，可以識別到通過在掃描時的不同的干擾因素會出現(xiàn)的錯誤并且根據(jù)對應(yīng)的錯誤狀態(tài)62進行修正。[0065]如果例如一確定的絕對位置值60具有一具有值“可修正的錯誤”或“不可修正的錯誤”的錯誤狀態(tài)62，則所述評價裝置18可以推斷出在所述整體量具8的掃描時的錯誤，因為所述第一掃描裝置14的掃描結(jié)果不給出有效的也就是說不給出以“沒有錯誤”來表示的絕對位置。當(dāng)然值得注意的是，這種1-位-錯誤是可修正的，其中，為此要滿足如下條件，即存在最大m=2p-p-l個測量位。當(dāng)然如果一確定的絕對位置值60的錯誤狀態(tài)62叫做“沒有錯誤”，則該絕對位置是有效的，因此所述評價裝置18推斷出一正確的掃描和/或一有效的絕對位置。一有效的絕對位置的特征在于，所掃描到的位串實際地存在于所述整體量具8上。所述評價裝置18按照所述掃描結(jié)果的評價來輸出一位置值61和一錯誤信號63，它們在用于控制它們自身的線性支承裝置I和/或線性引導(dǎo)裝置2中使用或者說繼續(xù)處理。
[0066]所述第一值表格56在此可以如下所示地設(shè)計。
編號地址位置錯誤信息
00000000不可修正的錯誤
10000001不可修正的錯誤
20000010不可修正的錯誤
300000113可修正的錯誤
40000100不可修正的錯誤
500001014 可修正的錯誤
600001102可修正的錯誤
70000111不可修正的錯誤
80001000不可修正的錯誤
900010013可修正的錯誤
1000010103可修正的錯誤
1100010113沒有錯誤
120001100I可修正的錯誤
130001101不可修正的錯誤
140001110不可修正的錯誤
1500011113可修正的錯誤
160010000不可修正的錯誤
1700100016可修正的錯誤
1800100102可修正的錯誤
190010011不可修正的錯誤
2000101002可修正的錯誤
210010101不可修正的錯誤
2200101102沒有錯誤
2300101112可修正的錯誤
240011000O可修正的錯誤
250011001不可修正的錯誤
260011010不可修正的錯誤
2700110113可修正的錯誤280011100不可修正的錯誤
290011101不可修正的錯誤
3000111102可修正的錯誤
310011111不可修正的錯誤
320100000不可修正的錯誤
3301000016可修正的錯誤
3401000105可修正的錯誤
350100011不可修正的錯誤
360100100I可修正的錯誤
370100101不可修正的錯誤
380100110不可修正的錯誤
390100111不可修正的錯誤
400101000I可修正的錯誤
410101001不可修正的錯誤
420101010不可修正的錯誤
4301010113可修正的錯誤
440101100I沒有錯誤
450101101I可修正的錯誤
460101110I可修正的錯誤
470101111不可修正的錯誤
4801100006可修正的錯誤
4901100016沒有錯誤
500110010不可修正的錯誤
5101100116可修正的錯誤
520110100不可修正的錯誤
5301101016可修正的錯誤
5401101102可修正的錯誤
550110111不可修正的錯誤
560111000不可修正的錯誤
5701110016可修正的錯誤
580111010不可修正的錯誤
590111011不可修正的錯誤
600111100I可修正的錯誤
610111101不可修正的錯誤
620111110不可修正的錯誤
630111111不可修正的錯誤
641000000不可修正的錯誤
6510000014可修正的錯誤
6610000105可修正的錯誤671000011不可修正的錯誤
6810001004可修正的錯誤
6910001014沒有錯誤
701000110不可修正的錯誤
7110001114可修正的錯誤
721001000O可修正的錯誤
731001001不可修正的錯誤
741001010不可修正的錯誤
7510010113可修正的錯誤
761001100不可修正的錯誤
7710011014可修正的錯誤
781001110不可修正的錯誤
791001111不可修正的錯誤
801010000O可修正的錯誤
811010001不可修正的錯誤
821010010不可修正的錯誤
831010011不可修正的錯誤
841010100不可修正的錯誤
8510101014可修正的錯誤
8610101102可修正的錯誤
871010111不可修正的錯誤
881011000O沒有錯誤
891011001O可修正的錯誤
901011010O可修正的錯誤
911011011不可修正的錯誤
921011100O可修正的錯誤
931011101不可修正的錯誤
941011110不可修正的錯誤
951011111不可修正的錯誤
9611000005可修正的錯誤
971100001不可修正的錯誤
9811000105沒有錯誤
9911000115可修正的錯誤
1001100100不可修正的錯誤
10111001014可修正的錯誤
10211001105可修正的錯誤
1031100111不可修正的錯誤
1041101000不可修正的錯誤
1051101001不可修正的錯誤10611010105可修正的錯誤
1071101011不可修正的錯誤
1081101100不可修正的錯誤
1091101101不可修正的錯誤
1101101110不可修正的錯誤
1111101111不可修正的錯誤
1121110000I可修正的錯誤
11311100016可修正的錯誤
11411100105可修正的錯誤
1151110011不可修正的錯誤
1161110100不可修正的錯誤
1171110101不可修正的錯誤
1181110110不可修正的 錯誤
1191110111不可修正的錯誤
1201111000O可修正的錯誤
1211111001不可修正的錯誤
1221111010不可修正的錯誤
1231111011不可修正的錯誤
1241111100不可修正的錯誤
1251111101不可修正的錯誤
1261111110不可修正的錯誤
1271111111不可修正的錯誤。
[0067]圖5示出了針對所述整體量具8的掃描和評價的第二實施例，所述整體量具可替選于在圖4中所示的實施例來使用。但所掃描到的整體量具8、特別是所述位串44的產(chǎn)生和構(gòu)造剛好與上面參照圖4闡述的實施例相應(yīng)。
[0068]在圖5中所示的實施變型中，所述評價裝置18具有兩個單獨的值表格，即一第二值表格64和一第三值表格66。所述第二值表格64是一測量值表格,其利用所述第一掃描裝置14的測量位52進行定址并且在每一個行中包含一以偽隨機二進制序列(PRBS)的部分序列為形式的可區(qū)分的絕對位置值。此外，在所述值表格64的每個行中以測試編碼68的形式說明，所述偽隨機二進制序列(PRBS)必須如何在計算上延續(xù)。也就是說，所述測量值表格64包括一具有一位串的測試編碼68，其位數(shù)量與所述第一掃描裝置14的測試位54的數(shù)量相應(yīng)。
[0069]所述評價裝置18還具有一第一 XOR門70，使得從所述第二值表格64中讀取的一確定的絕對位置值的測試編碼68與所述第一掃描裝置14的測試位54實施XOR運算。然后借助于所述評價裝置18可檢測，是否所述XOR運算的結(jié)果為零。當(dāng)所述結(jié)果為零時，在掃描所述整體量具8時或者說在所述絕對位置確定時不存在錯誤。當(dāng)所述結(jié)果不等于零時，所述結(jié)果包含了關(guān)于如此識別到的錯誤的位位置的信息。
[0070]所述第三值表格66是一測試值表格，其可利用所述XOR門70的XOR運算進行定址，并且在每個行中包含一修正值和一錯誤狀態(tài)。也就是說，所述第二值表格66利用所述第二值表格64的測試編碼68與所述第一掃描裝置14的測試位54實施的XOR運算進行定址。由此將某些情況下有錯誤的位顛倒。針對在所述第二值表格66中說明的錯誤狀態(tài)，可以是三個不同的值，即“沒有錯誤”、“可修正的錯誤”或“不可修正的錯誤”。
[0071]在所述第二值表格66的第零行中，所述修正值為零并且所對應(yīng)的錯誤狀態(tài)相應(yīng)于值“沒有錯誤”。在所述第二值表格66的其余行中，所述修正值首先分別表示為“可修正的錯誤”，其中，對應(yīng)的修正值僅在如下的位位置上包含一個1，在該位位置上存在錯誤。在足夠數(shù)量的測試位或者說奇偶校驗位的情況下，所述XOR門70的XOR運算的結(jié)果也可以顯示出不可修正的錯誤。這樣，所涉及的行的錯誤狀態(tài)被置于“不可修正的錯誤”上。所述評價裝置18隨后輸出一在必要時修正過的位置信號71。
[0072]所述第二值表格64和所述第三值表格66可以如下所示地設(shè)計。
[0073]第二值表格64:
【權(quán)利要求】
1.位置測量系統(tǒng)(4)，具有一第一部分(2)和一相對于所述第一部分能運動的第二部分(6 )，其中，所述第一部分(2 )具有一整體量具(8 )，所述整體量具有大量的成排布置的標(biāo)記(44)，所述標(biāo)記分別能夠假定兩個相互不同的值，其中，所述標(biāo)記具有一恒定的分度間距λ，其中，各數(shù)量為m的直接相繼的標(biāo)記(44)對沿著所述整體量具(8)的單義的絕對位置進行編碼，并且數(shù)量為m-Ι的直接相繼的標(biāo)記不對單義的絕對位置進行編碼，其中，所述第二部分(6)具有一掃描裝置(14)，所述掃描裝置具有數(shù)量為k的單個傳感器(15)，用于掃描數(shù)量為η的直接相繼的標(biāo)記(44)，其中，所述單個傳感器的分度間距δ為δ =λ * η + k，并且所述掃描裝置(14)為了所述第二部分(6)相對于所述第一部分(2)的位置求算而與一評價裝置(18)在功能上連接， 其特征在于， 滿足條件η > m，其中，借助于所述評價裝置(18)能夠識別所述掃描裝置(14)的單個傳感器(15)的掃描錯誤。
2.按照權(quán)利要求1所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，滿足條件2(η_π) > η，其中，借助于所述評價裝置(18)能夠修正所述掃描裝置(14)的單個傳感器(15)中的至少一個單個傳感器的掃描錯誤。
3.按照權(quán)利要求2所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，滿足條件2(nt1〉< η。
4.按照前述權(quán)利要求中任一項所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，借助于所述評價單元(18 )能夠預(yù)保持和/或能夠產(chǎn)生具有大量的行的第一值表格(56 )，其中，每個行包含一位置信息(60)和一錯誤信息(62)。
5.按照權(quán)利要求4所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，所述評價裝置(18)設(shè)置用于實施具有下列步驟的方法: -參照針對所述整體量具(8)的單個的標(biāo)記的測量值，選出所述第一值表格(56)的一確定的行， -從所述確定的行中輸出一位置值和/或一錯誤信號。
6.按照權(quán)利要求4或5所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，所述第一值表格(56)能夠按照具有下列步驟的方法產(chǎn)生: a)利用錯誤信息(62)“不可修正的錯誤”來標(biāo)記所述第一值表格(56)的所有行， b)將單義的絕對位置作為針對每個如下位態(tài)的位置信息記入，所述第二部分(6)相對于所述第一部分(2)能夠占據(jù)所述位態(tài)，其中，所涉及的行利用錯誤信息(62) “沒有錯誤”來標(biāo)記， c)針對所述第二部分(6)相對于所述第一部分(2)的每個位態(tài)，針對所述掃描裝置(14)的整體量具(8)的單個的標(biāo)記將所述測量值顛倒，其中，所述第一值表格(56)的相應(yīng)的行在顛倒之后以錯誤信息(62) “可修正的錯誤”來標(biāo)記。
7.按照權(quán)利要求1至3中任一項所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，借助于所述評價單兀(18)能夠預(yù)保持和/或能夠產(chǎn)生一第二值表格(64)和一第三值表格(66),其中,所述第二值表格(64)具有大量的行并且每個行包含一位置信息和一錯誤信息。
8.按照權(quán)利要求7所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，所述評價裝置(18)設(shè)置用于實施具有下列步驟的方法: -參照數(shù)量為m個針對所述整體量具(8)的單個的標(biāo)記的測量值的，選出所述第二值表格(64)的一確定的行， b)參照針對剩余的(n-m)個標(biāo)記的測量值與從所述第二值表格(64)的所述確定的行中獲得的一輔助值的XOR運算,選出所述第三值表格(66)的一確定的行， c)借助于一修正值修正來自步驟a)中的掃描值，所述修正值從步驟b)中的第三值表格(66)的所述確定的行中提取， d)參照在步驟c)下修正的掃描值,選出所述第二值表格(64)的一確定的行,并且輸出所述確定的行的相應(yīng)的位置信息(71)。
9.按照前述權(quán)利要求中任一項所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，所述整體量具(8)的大量的標(biāo)記(44)能夠借助于一移位寄存器(24)產(chǎn)生，所述移位寄存器具有數(shù)量為m個觸發(fā)器(28a至28d)，其中，所述移位寄存器(24)的一輸出端觸發(fā)器(28d)與至少一個其它的觸發(fā)器(28b )的至少一個XOR或XNOR運算(38、40 )反饋到一輸入端觸發(fā)器(28a)上。
10.按照權(quán)利要求9所述的位置測量系統(tǒng)，其特征在于，借助于所述至少一個其它的觸發(fā)器(28b至28d)的適當(dāng)選擇，能夠確定在產(chǎn)生所述第一值表格(56)或所述第三值表格(66)時,絕對位置僅被寫入到所述第一值表格(56)或所述第三值表格(66)的以“不可修正的錯誤”表示的行中。
11.線性引 導(dǎo)裝置(1)，具有按照前述權(quán)利要求中任一項所述的位置測量系統(tǒng)(4)。
【文檔編號】G01B21/00GK103791867SQ201310510493
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2013年10月25日 優(yōu)先權(quán)日:2012年10月26日
【發(fā)明者】J.克諾普夫 申請人:羅伯特·博世有限公司