一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)及其校準(zhǔn)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)及其校準(zhǔn)方法，其特征在于下探頭可在檢測平臺上任意移動，上探頭可升降且升降過程中精確沿豎直方向，上下探頭的接觸面設(shè)有圓環(huán)凹槽的位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)。通過鋼絲繩和上探頭的連接結(jié)構(gòu)，上探頭本身的重力對被檢測樣品提供了一個壓力，這樣在諸如真空絕熱板內(nèi)壓的檢測時，就會滿足使用要求；由于圓管卡槽和上探頭限位器的設(shè)計，使上探頭的運動軌跡固定為豎直方向，方便測量；由于圓環(huán)凹槽和校準(zhǔn)環(huán)塊的設(shè)計，提供了調(diào)整下探頭位置的依據(jù)，能掙保證上下探頭的精確對齊；檢測平臺限位桿的設(shè)計別出心裁，靈活而簡單，為多組上下探頭的出現(xiàn)打下了基礎(chǔ)。該校準(zhǔn)方法靈活簡便，適用于很多檢測設(shè)備之中。
【專利說明】一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)及其校準(zhǔn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)，特別涉及一種下探頭可在檢測平臺上任意移動，上探頭可升降且升降過程中精確沿豎直方向，上下探頭的接觸面設(shè)有圓環(huán)凹槽的位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在科研和產(chǎn)品質(zhì)量檢測等諸多領(lǐng)域中，為了達到檢測某種性能的目的，往往需要一組豎直方向并且精確對齊的探頭互相配合才能達到檢測目的。
[0003]如CN202735023U(
【公開日】為2013年2月13日)公開了一種真空絕熱板內(nèi)部壓力檢測設(shè)備。該設(shè)備，包括檢測臺、設(shè)置于檢測臺上且上端開口的下真空室、與下真空配合形成真空檢測腔的下端開口的上真空室，還包括有連接驅(qū)動上真空室相對下真空室上升或下降的升降裝置以及測量真空度的裝置等等。我們在這里可以把該發(fā)明中的上下真空室理解為我們所說的上下探頭。首先，必須要肯定的是CN202735023U這個實用新型專利的確提出了一種新穎的檢測真空絕熱板內(nèi)部壓力的思想。但是該發(fā)行仍然存在如下幾點交代不清的地方:(1)測量真空絕熱板內(nèi)部壓力時，上下探頭必需要給真空絕熱板以壓力，保證在吸氣的過程中不存在漏氣現(xiàn)象。CN202735023U中未能交代清楚是如何來提供這樣一個壓力；
(2)測量真空絕熱板內(nèi)部壓力時，上下探頭不單開口尺寸要完全相同，而且兩探頭開口必須要完美對齊。一旦發(fā)生偏移，由于抽真空過程中的巨大吸力極易導(dǎo)致真空絕熱板的巨大變形和失效。CN202735023U中未能提供一種具體的解決方案。(3)由于目前市場上的測量真空度的裝置以電阻真空計居多，而電阻真空計的測量端則需要豎直放置，又因電阻真空計的測量端安裝在其上下某一探頭上，這點決定了上下探頭同樣必須精確沿著豎直方向，同樣CN202735023U中未能給出一個具體的解決方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的旨在克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)。
[0005]為實現(xiàn)本發(fā)明的目的采用的技術(shù)方案是:提供了一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)，該檢測系統(tǒng)的特征在于下探頭可在檢測平臺上任意移動，上探頭可升降且升降過程中精確沿豎直方向，上下探頭的接觸面設(shè)有圓環(huán)凹槽的位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)；其特征在于檢測平臺是一個矩形，且在檢測平臺上，有橫向和縱向各兩根限位桿，限位桿兩端裝有滑輪可在檢測平臺上在一個方向上移動；其特征在于檢測平臺上的橫向和縱向的四個限位桿共同支撐著下探頭，通過限位桿的移動，下探頭被擺放在檢測平臺中的任意位置。當(dāng)找到與上探頭對齊的位置時，用固定夾固定限位桿，從而固定下探頭位置；其特征在于上探頭是由電動葫蘆通過細(xì)鋼絲繩牽引，其中鋼絲繩經(jīng)過兩個定滑輪后改變牽引力的方向；其特征在于整個牽引機構(gòu)和上吸盤被相連的兩個豎直方向和一個水平方向的圓管包裹，圓管的直徑須大于上探頭的最大直徑；其特征在于包裹上探頭的圓管內(nèi)側(cè)設(shè)兩到卡槽，槽距為I?5cm ;其特征在于上探頭限位器套在上探頭身上，限位器兩個觸角正好卡在內(nèi)管內(nèi)側(cè)的兩個卡槽內(nèi)，使上探頭在上升和下降的線路固定，不因外因產(chǎn)生不必要的位移；其特征在于上探頭限位器最長軸等于圓管的內(nèi)徑，限位器中間的孔的直徑等于上探頭的最小外徑；限位器觸角的寬度為I?5cm且與卡槽寬度保持一致；限位器的觸角采用與鋼摩擦系數(shù)最小的聚四氟乙烯，而接近中間的孔處采用與鋼摩擦系數(shù)最大的橡膠(保證限位器和上探頭之間不產(chǎn)生相對位移，維持靜摩擦狀態(tài))；其特征在于上下探頭接觸面各自設(shè)置一個圓環(huán)凹槽，尺寸介于探頭最大外徑和開口的直徑之間與校準(zhǔn)環(huán)塊尺寸保持一致。
[0006]應(yīng)用效果:本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點:(I)通過鋼絲繩和上探頭的一個連接結(jié)構(gòu)，上探頭本身的重力對被檢測樣品提供了一個壓力，這樣在諸如真空絕熱板內(nèi)壓的檢測時，就會滿足使用要求，在抽真空的時候不會漏氣；(2)由于圓管卡槽和上探頭限位器的設(shè)計，使上探頭的運動軌跡固定為豎直方向，這樣就滿足了諸如電阻真空計測量端須豎直放置的要求；(3)由于圓環(huán)凹槽和校準(zhǔn)環(huán)塊的設(shè)計，提供了調(diào)整下探頭位置的依據(jù)，能掙保證上下探頭的精確對齊；(4)檢測平臺限位桿的設(shè)計別出心裁，靈活而簡單，為多組上下探頭的的出現(xiàn)打下了基礎(chǔ)。
[0007]本發(fā)明還公布了一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法，其特征在于包括以下步驟:
[0008](I)將上探頭限位器裝到上探頭上，然后將鋼絲繩系到上探頭上；
[0009](2)開動電動葫蘆，使上探頭上升，將上探頭限位器觸角卡入圓管卡槽內(nèi)部，手動調(diào)整上探頭與上探頭限位器之間的相對位置，確保上探頭接觸被測樣品時，上探頭限位器觸角仍然處在圓管卡槽之中；
[0010](3)將校準(zhǔn)環(huán)塊放入下探頭的圓環(huán)凹槽；
[0011](4)倒置下探頭于限位桿上，初步選取適當(dāng)位置，用橫縱兩個方向的四個限位桿固定，并用固定夾固定限位桿；
[0012](5)開動電動葫蘆，上探頭下降的時候，校準(zhǔn)環(huán)塊突出的部分如果能夠正好進入上探頭的圓環(huán)凹槽的時候即校準(zhǔn)完成，否則需要重新調(diào)整下探頭的位置，在重復(fù)上一步驟；
[0013](6)直至校準(zhǔn)完成。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1本發(fā)明的一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖2本發(fā)明的一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的圓管3的橫截面示意圖；
[0016]圖3本發(fā)明的一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的上探頭限位器的橫截面示意圖；
[0017]圖4本發(fā)明的一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的校準(zhǔn)環(huán)塊的橫截面示意圖；
[0018]圖5本發(fā)明的一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的上下探頭的側(cè)視圖；
[0019]圖6本發(fā)明的一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的檢測平臺的俯視圖。
【具體實施方式】[0020]下面結(jié)合具體實施例，進一步闡明本發(fā)明，應(yīng)理解這些實施例僅用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍，在閱讀了本發(fā)明之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員對本發(fā)明的各種等價形式的修改均落于本中請所附權(quán)利要求所限定。
[0021]實施例
[0022]如圖1所示，一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)，該檢測系統(tǒng)特征在于10、支撐平臺；20、電動葫蘆；30、圓管I ;40、定滑輪；50、圓管2 ;60、鋼絲繩；70、圓管3 ;80、上探頭；90、上探頭限位器；100、檢測平臺；110、校準(zhǔn)環(huán)塊；120、下探頭。
[0023]圖2為70、圓管3的橫截面圖，其特征在于71、圓管卡槽；圖3為90、上探頭限位器的橫截面圖，其特征在于91、聚四氟乙烯，92、橡膠；圖5為80、上探頭和120、下探頭的側(cè)視圖，其特征在于81、圓環(huán)凹槽，121、圓環(huán)凹槽；圖6為100、檢測平臺的俯視圖，其特征在于120、下探頭，101?104、限位桿，105、滑輪，106、固定夾。
[0024]參照圖1、2、3、4、5、6，完成一種特定的位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的校準(zhǔn)過程:
[0025](I)將上探頭限位器裝到上探頭上，然后將直徑為2mm鋼絲繩系到上探頭上；
[0026](2)開動最大位移量為5m的電動葫蘆，使上探頭上升20cm，將上探頭限位器觸角卡入圓管卡槽內(nèi)部，手動調(diào)整上探頭與上探頭限位器之間的相對位置，確保上探頭接觸被測樣品時，上探頭限位器觸角仍然處在圓管卡槽之中；
[0027](3)將校準(zhǔn)環(huán)塊放入下探頭的圓環(huán)凹槽，圓環(huán)凹槽的外徑為30cm，內(nèi)徑為25cm ；
[0028](4)倒置下探頭于限位桿上，初步選取適當(dāng)位置，用橫縱兩個方向的四個限位桿固定，并用固定夾固定限位桿，橫向限位桿長度為lm，縱向限位桿長度為1.2m;
[0029](5)開動電動葫蘆，上探頭下降到與標(biāo)準(zhǔn)環(huán)塊接觸，校準(zhǔn)環(huán)塊突出的部分如果能夠正好進入上探頭的圓環(huán)凹槽的時候即校準(zhǔn)完成，否則需要重新調(diào)整下探頭的位置，在重復(fù)上一步驟；
[0030](6)直至校準(zhǔn)完成。
[0031]上述僅為本發(fā)明的單個【具體實施方式】，但本發(fā)明的設(shè)計構(gòu)思并不局限于此，凡利用此構(gòu)思對本發(fā)明進行非實質(zhì)性的改動，均應(yīng)屬于侵犯本發(fā)明保護的范圍的行為。但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何形式的簡單修改、等同變化與改型，仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于下探頭可在檢測平臺上任意移動，上探頭可升降且升降過程中精確沿豎直方向，上下探頭的接觸面設(shè)有圓環(huán)凹槽的位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)。
2.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于檢測平臺是一個矩形，且在檢測平臺上，有橫向和縱向各兩根限位桿，限位桿兩端裝有滑輪可在檢測平臺上在一個方向上移動。
3.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于檢測半臺上的橫向和縱向的四個限位桿共同支撐著下探頭，通過限位桿的移動，下探頭被擺放在檢測平臺中的任意位置。當(dāng)找到與上探頭對齊的位置時，用固定夾固定限位桿，從而固定下探頭位置。
4.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于上探頭是由電動葫蘆通過細(xì)鋼絲繩牽引，其中鋼絲繩經(jīng)過兩個定滑輪后改變牽引力的方向。
5.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于整個牽引機構(gòu)和上吸盤被相連的兩個豎直方向和個水平方向的圓管包裹，圓管的直徑須大于上探頭的最大直徑。
6.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于包裹上探頭的圓管內(nèi)側(cè)設(shè)兩到卡槽，槽距為I?5cm。
7.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于上探頭限位器套在上探頭身上，限位器兩個觸角正好卡在內(nèi)管內(nèi)側(cè)的兩個卡槽內(nèi)，使上探頭在上升和下降的線路固定，不因外因產(chǎn)生不必要的位移。
8.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于上探頭限位器最長軸等于圓管的內(nèi)徑，限位器中間的孔的直徑等于上探頭的最小外徑；限位器觸角的寬度為I?5cm且與卡槽寬度保持一致；限位器的觸角采用與鋼摩擦系數(shù)最小的聚四氟乙烯，而接近中間的孔處采用與鋼摩擦系數(shù)最大的橡膠。
9.依據(jù)權(quán)利要求書I所述的上下探頭檢測系統(tǒng)，其特征在于上下探頭接觸面各自設(shè)置一個圓環(huán)凹槽，尺寸介于探頭最大外徑和開口的直徑之間與校準(zhǔn)環(huán)塊尺寸保持一致。
10.一種位置可精確校準(zhǔn)的上下探頭檢測系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法，其特征在于包括以下步驟: (1)將上探頭限位器裝到上探頭上，然后將鋼絲繩系到上探頭上； (2)開動電動葫蘆，使上探頭上升，將上探頭限位器觸角卡入圓管卡槽內(nèi)部，手動調(diào)整上探頭與上探頭限位器之間的相對位置，確保上探頭接觸被測樣品時，上探頭限位器觸角仍然處在圓管卡槽之中； (3)將校準(zhǔn)環(huán)塊放入下探頭的圓環(huán)凹槽； (4)倒置下探頭于限位桿上，初步選取適當(dāng)位置，用橫縱兩個方向的四個限位桿固定，并用固定夾固定限位桿； (5)開動電動葫蘆，上探頭下降的時候，校準(zhǔn)環(huán)塊突出的部分如果能夠正好進入上探頭的圓環(huán)凹槽的時候即校準(zhǔn)完成，否則需要重新調(diào)整下探頭的位置，在重復(fù)上一步驟； (6)直至校準(zhǔn)完成。
【文檔編號】G01L19/00GK103728084SQ201310203739
【公開日】2014年4月16日 申請日期:2013年5月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月28日
【發(fā)明者】陳照峰, 周萬平 申請人:太倉派歐技術(shù)咨詢服務(wù)有限公司