專利名稱：一種電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及ー種測試裝置，特別是ー種電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀。
背景技術(shù)：
耐壓試驗(yàn)(又稱抗電強(qiáng)度試驗(yàn))是在一定條件下對被試件施加相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的電壓，以其是否擊穿來判定被試件是否符合規(guī)定要求。耐壓試驗(yàn)和擊穿試驗(yàn)都是對被試件進(jìn)行絕緣強(qiáng)度檢查的常規(guī)項(xiàng)目，主要是檢查產(chǎn)品的絕緣材料和絕緣間隙(即材料、設(shè)計エ藝、裝配エ藝等)是否合乎要求。耐壓試驗(yàn)的結(jié)果只說明被試件是否能承受規(guī)定的電壓，在合格的情況下一般不會對被試件造成不可修復(fù)的損壞。耐壓試驗(yàn)是評價被試件防觸電和防起火能力的重要手段，是安全試驗(yàn)的基本項(xiàng)目之一。2007年我們開始了對湖南省電カ系統(tǒng)計量部門的電能表耐壓試驗(yàn)裝置進(jìn)行全面的檢驗(yàn)工作，發(fā)現(xiàn)大量的裝置經(jīng)過長期運(yùn)行后其技術(shù)指標(biāo)都不能達(dá)到JJG795-2004《耐電壓測試儀檢定規(guī)程》的要求。因此，迫切需要提出合理可行的校驗(yàn)方法并研制相應(yīng)的校驗(yàn)裝置，以用于對耐壓試驗(yàn)裝置開展測試工作，在市場上還沒有出現(xiàn)適用的檢測儀器的情況下，我們分析了耐壓試驗(yàn)裝置的技術(shù)特點(diǎn)，井根據(jù)現(xiàn)有的設(shè)備條件設(shè)計了電路系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是，針對現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，保證耐壓試驗(yàn)裝置的正常運(yùn)行，并規(guī)范這些裝置的維護(hù)管理，提高電カ系統(tǒng)計量的正確性、可靠性。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:一種電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，包括微處理器、光電隔離電路、高精度ADC、電壓處理器、電流處理器、AC/DC識別器和兩個采樣電路，所述微處理器與所述光電隔離電路連接，所述光電隔離電路與所述電壓處理器、高精度ADC、電流處理器連接，所述高精度ADC與所述電壓處理器、電流處理器連接，所述電壓處理器、電流處理器各與ー個所述采樣電路連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型所具有的有益效果為:本實(shí)用新型電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀以高性能的微處理器為核心，輔以高精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換器(ADC)及其它外圍電路，使測量快速、準(zhǔn)確。輸入阻抗高達(dá)200MQ，使外界環(huán)境溫濕度對儀器測量的影響減到最小。本實(shí)用新型能保證耐壓試驗(yàn)裝置的正常運(yùn)行，并規(guī)范這些裝置的維護(hù)管理，提高電カ系統(tǒng)計量的正確性、可靠性。

圖1為本實(shí)用新型ー實(shí)施例結(jié)構(gòu)框圖；圖2為本實(shí)用新型一實(shí)施例ー種電壓處理器電路原理圖；圖3為本實(shí)用新型ー實(shí)施例另ー種電壓處理器電路原理圖；圖4為本實(shí)用新型一實(shí)施例ー種電流處理器電路原理圖；[0011]圖5為本實(shí)用新型ー實(shí)施例另ー種電流處理器電路原理圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示，本實(shí)用新型一實(shí)施例包括微處理器、光電隔離電路、高精度ADC、電壓處理器、電流處理器、AC/DC識別器和兩個采樣電路，所述微處理器與所述光電隔離電路連接，所述光電隔離電路與所述電壓處理器、高精度ADC、電流處理器連接，所述高精度ADC與所述電壓處理器、電流處理器連接，所述電壓處理器、電流處理器各與ー個所述采樣電路連接。兩個采樣電路分別用于電壓分壓采樣和電流采樣。所述微處理器接有液晶顯示器；所述微處理器采用AT89C52芯片；所述高精度ADC采用TCL7135芯片；所述采樣電路采用LF398芯片；所述AC/DC識別器采用LF411芯片。如圖2所示，電壓處理器包括由兩個串聯(lián)電阻組成的分壓電路和電壓表，所述電壓表與所述分壓電路的一個電阻并聯(lián)。還可以采用如圖3所示的電壓處理器，該電壓處理器包括電壓互感器和電壓表，所述電壓表并聯(lián)接入所述電壓互感器二次側(cè)。要實(shí)現(xiàn)對輸出電壓誤差的測量，必須要有ー個0.2級以上的電壓測量系統(tǒng)(即電壓處理器)。因?yàn)殡妷罕淼恼`差可忽略不計，所以分壓電路或電壓互感器的等級只需0.2級即可。電壓處理器測量參數(shù)如下:測量范圍:0.2 IOKV (直流或交流有效值)準(zhǔn)確度:AC:0.2 IOKV±2%DC:0.3 IOKV±2%輸入阻抗:200MQ頻率范圍:DCAC47 63Hz。如圖4所示，所述電流處理器包括毫安電流表和可調(diào)電阻，所述毫安電流表和所述可調(diào)電阻串聯(lián)。還可以采用如圖5所示的電流處理器，該電流處理器包括毫安電流表、電流互感器和可調(diào)電阻，所述毫安電流表與所述電流互感器一次側(cè)連接，所述可調(diào)電阻并聯(lián)接入所述電流互感器二次側(cè)。要實(shí)現(xiàn)對泄漏電流整定值誤差的測量，只要ー個0.2級以上的電流測量系統(tǒng)(SP電流處理器)，這樣只需在高壓回路中串聯(lián)ー塊0.2級以上的電流表即可。電流處理器測量參數(shù)如下:測量范圍:0.02 2.000 20.00 200.0OmA準(zhǔn)確度:AC: 0.02 2.0OOmA±2%2 20.0OmA±2%20.00 200.0OmA± 2 %DC: ±0.02 ±2.0OOmA±2%土 2 ±20.0OmA±2%土 20.00 土 200.0OmA ± 2 %[0035]本實(shí)用新型采用16X2的高亮度的IXD顯示器。電能表耐壓試驗(yàn)裝置輸出高電壓經(jīng)分壓，輸出電流經(jīng)取樣后，變?yōu)檩^易測量的電壓信號。經(jīng)電壓處理器處理及采樣芯片采樣保持后送至高精度ADC進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換。微處理器讀取數(shù)字量進(jìn)行計算和處理。最后通過LCD顯示器顯示測量結(jié)果。
權(quán)利要求1.ー種電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，包括微處理器、光電隔離電路、高精度ADC、電壓處理器、電流處理器、AC/DC識別器和兩個采樣電路，其特征在于，所述微處理器與所述光電隔離電路連接，所述光電隔離電路與所述電壓處理器、高精度ADC、電流處理器連接，所述高精度ADC與所述電壓處理器、電流處理器連接，所述電壓處理器、電流處理器各與一個所述采樣電路連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述微處理器接有液晶顯示器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述微處理器采用AT89C52芯片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述高精度ADC采用TCL7135芯片。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述采樣電路采用LF398芯片。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述AC/DC識別器采用LF411芯片。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述電壓處理器包括由兩個串聯(lián)電阻組成的分壓電路和電壓表，所述電壓表與所述分壓電路的ー個電阻并聯(lián)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述電壓處理器包括電壓互感器和電壓表，所述電壓表并聯(lián)接入所述電壓互感器二次側(cè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述電流處理器包括毫安電流表和可調(diào)電阻，所述毫安電流表和所述可調(diào)電阻串聯(lián)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，其特征在于，所述電流處理器包括毫安電流表、電流互感器和可調(diào)電阻，所述毫安電流表與所述電流互感器一次側(cè)連接，所述可調(diào)電阻并聯(lián)接入所述電流互感器二次側(cè)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種電能表耐壓試驗(yàn)裝置測試儀，包括微處理器、光電隔離電路、高精度ADC、電壓處理器、電流處理器、AC/DC識別器和兩個采樣電路，所述微處理器與所述光電隔離電路連接，所述光電隔離電路與所述電壓處理器、高精度ADC、電流處理器連接，所述高精度ADC與所述電壓處理器、電流處理器連接，所述電壓處理器、電流處理器各與一個所述采樣電路連接。本實(shí)用新型能保證耐壓試驗(yàn)裝置的正常運(yùn)行，并規(guī)范這些裝置的維護(hù)管理，提高電力系統(tǒng)計量的正確性、可靠性。
文檔編號G01R35/04GK202948129SQ20122068303
公開日2013年5月22日 申請日期2012年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月12日
發(fā)明者彭春君, 萬全, 徐植堅 申請人:湖南省電力公司科學(xué)研究院, 國家電網(wǎng)公司