專利名稱：一種快速測量pcb阻抗測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
—種快速測量PCB阻抗測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及PCB阻抗測試領(lǐng)域，特別是涉及一種快速測量PCB阻抗測試裝置。背景技術(shù)：
阻抗測試是PCB行內(nèi)中常見的一種功能性測試，行業(yè)中一般采用阻抗測試儀對其進行測量，阻抗測試裝置包括數(shù)據(jù)處理中心、TRD時域反射儀、連接電纜、測試探頭等部件。一般的阻抗板會在板邊或板中間預(yù)留專用測試Coupon來等效板內(nèi)轉(zhuǎn)輸線，以往的阻抗測試是由電纜連接TRD時域反射儀與測試探頭，測試探頭與PCB中的Coupon的信號與參照觸點分別相連進行測量。有一種實際傳輸線即為測試Coupon的PCB產(chǎn)品，并在極小的尺寸內(nèi)存在大量有阻抗要求的傳輸線。如按傳統(tǒng)的測試方法用探頭逐個測試，不僅生產(chǎn)效率極其低下，而且因測試探針的尖頭頻繁接觸會對其產(chǎn)生壓傷、靜電等不良影響。

發(fā)明內(nèi)容本實用新型旨在解決上述問題而提供一種安全可靠，測量準確的可快速測量PCB阻抗測試裝置。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了一種可快速測量PCB阻抗測試裝置，該測試裝置包括數(shù)據(jù)處理中心、TRD時域反射儀、連接電纜、SSR繼電轉(zhuǎn)換中心及測試插座，所述數(shù)據(jù)處理中心連接TRD時域反射儀，該TRD時域反射儀與SSR繼電轉(zhuǎn)換中心連接，該SSR繼電轉(zhuǎn)換中心設(shè)有繼電器，該繼電器與所述測試插座相連接。所述TRD時域反射儀設(shè)有電纜插口，所述SSR繼電轉(zhuǎn)換中心設(shè)有電纜插口，所述連接電纜通過電纜插口與TRD時域反射儀上電纜插口相連接。
所述測試插座設(shè)有彈性觸頭。本實用新型通過測試插座的彈性觸頭與測試Coupon端點接觸,SSR繼電轉(zhuǎn)換中心對測試端口的變換，以實現(xiàn)多臺TRD時域反射儀同時測試與測試對象變換，達到快速阻抗測試的目的。與以往的阻抗測試裝置相比，本實用新型極大的提高了生產(chǎn)效率與測試精度，減少了因阻抗測試造成的板面壓傷。

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式下列實施例是對本實用新型的進一步解釋和說明，對本實用新型不構(gòu)成任何限制。如圖1所示，本實用新型快速測量PCB阻抗測試裝置包括數(shù)據(jù)處理中心1、TRD時域反射儀2、連接電纜3、SSR繼電轉(zhuǎn)換中心4及測試插座5。所述數(shù)據(jù)處理中心I是一臺電腦，所述數(shù)據(jù)處理中心I連接TRD時域反射儀2，該TRD時域反射儀2設(shè)有電纜插口 201，所述SSR繼電轉(zhuǎn)換中心4設(shè)有電纜插口 402，所述連接電纜3通過SSR繼電轉(zhuǎn)換中心4上電纜插口 402與TRD時域反射儀2上電纜插口 201相連接。所述SSR繼電轉(zhuǎn)換中心4還設(shè)有繼電器401，通過繼電器401使SSR繼電轉(zhuǎn)換中心4與所述測試插座5相連接。如圖1所示，所述測試插座5設(shè)有彈性觸頭，這些彈性觸頭接觸點與待測PCB連接通過彈性觸點將測試Coupon與測試端口相連，通過SSR繼電轉(zhuǎn)換中心4的輸入控制電路變換即可將測試端口間的變換，如此可實現(xiàn)待測PCB的全部阻抗測試Coupon的逐一測量。如圖1所示,在本實施例中，待測試PCB有4組差分測試Coupon,每個測試Coupon包括4根連接線，所以在SSR繼電轉(zhuǎn)換中心4中采用了 16個固態(tài)SSR繼電器來控制他們之間的通斷，固態(tài)繼電器401的輸入控制信號同時加載在差分測試Coupon的4根連接線上，實現(xiàn)它們按每組4根連接線的同時通與斷。盡管通過以上實施例對本實用新型進行了揭示，但本實用新型的保護范圍并不局限于此，在不偏離本實用新型構(gòu)思的條件下，對以上各構(gòu)件所做的變形、替換等均將落入本實用新型的權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.種快速測量PCB阻抗測試裝置，其特征在于，該測試裝置包括數(shù)據(jù)處理中心(I)、TRD時域反射儀(2 )、連接電纜(3 )、SSR繼電轉(zhuǎn)換中心(4 )及測試插座(5 )，所述數(shù)據(jù)處理中心(I)連接TRD時域反射儀(2)，該TRD時域反射儀(2)與SSR繼電轉(zhuǎn)換中心(4)連接，該SSR繼電轉(zhuǎn)換中心(4 )設(shè)有繼電器(401)，該繼電器(401)與所述測試插座(5 )相連接。
2.權(quán)利要求1所述的快速測量PCB阻抗測試裝置，其特征在于，所述TRD時域反射儀(2 )設(shè)有電纜插口( 201)，所述SSR繼電轉(zhuǎn)換中心(4 )設(shè)有電纜插口( 402 )，所述連接電纜(3)通過電纜插口(402)與TRD時域反射儀(2)上電纜插口(201)相連接。
3.權(quán)利要求1所述的快速測量PCB阻抗測試裝置，其特征在于，所述測試插座(5)設(shè)有彈性觸頭。
專利摘要一種快速測量PCB阻抗測試裝置包括數(shù)據(jù)處理中心、TRD時域反射儀、連接電纜、SSR繼電轉(zhuǎn)換中心及測試插座，所述數(shù)據(jù)處理中心連接TRD時域反射儀，該TRD時域反射儀與SSR繼電轉(zhuǎn)換中心連接，該SSR繼電轉(zhuǎn)換中心設(shè)有繼電器，該繼電器與所述測試插座相連接。本實用新型通過測試插座的彈性觸頭與測試Coupon端點接觸，SSR繼電轉(zhuǎn)換中心對測試端口的變換，以實現(xiàn)多臺TRD時域反射儀同時測試與測試對象變換，達到快速阻抗測試的目的，不僅極大的提高生產(chǎn)效率，而且改善了由測試探頭產(chǎn)生的不良影響。
文檔編號G01R27/04GK202929115SQ20122064470
公開日2013年5月8日 申請日期2012年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月29日
發(fā)明者彭江義 申請人:卓穗電子科技(深圳)有限公司