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一種測試smt貼片元件電極共平面的裝置的制作方法

文檔序號:5993163閱讀:389來源:國知局
專利名稱:一種測試smt貼片元件電極共平面的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
一種測試SMT貼片元件電極共平面的裝置技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置。背景技術(shù)
[0002]SMT電感的貼片錫膏的厚度通常在O. 10-0. 15mm之間,且要求在產(chǎn)品在過回流焊焊接后產(chǎn)品不能有翹曲及歪斜。這就要求SMT電感元件的焊接面(通常也叫電極)平整, 對于小尺寸產(chǎn)品,通常其共面差異不能超過O.1Omm ;對于尺寸較大的產(chǎn)品,SMT電感元件的共面差異最大不能超過O. 15mm。[0003]這樣生產(chǎn)出來的SMT電感元件均需要進(jìn)行檢測,電極共平面生產(chǎn)線最初的測試 SMT電感共平面方法是采用顯微鏡投影測試儀。該測試方法是通過對SMT端子焊盤端子的投影,來判斷端子是否共平面。但是采用此方式有如下問題[0004]1,設(shè)備價(jià)格昂貴。2,每個(gè)不同產(chǎn)品均需要做不同的平貼治具。且治具精密度要求高,治具成本高。3,最大缺陷是測試效率極低。[0005]本實(shí)用新型就是在以上情況下作出的。
實(shí)用新型內(nèi)容[0006]本實(shí)用新型的目的之一是提供一種結(jié)構(gòu)簡單、測試效率高、價(jià)格低的測試SMT貼片元件電極共平面裝置。[0007]針對上述目的,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案[0008]一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于包括測試底座1,在測試底座 I上設(shè)有可支撐SMT電感4底面的測試平臺2和至少一組可檢驗(yàn)SMT電感電極5的共面差異是否合格的測試電極組3,所述測試平臺2與測試電極3之間的高度差為H,且測試平臺 2的水平高度比測試電極3的水平高度高。[0009]如上所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述測試電極組 3包括有處于同一水平面 的兩個(gè)電極31,電源32和警示燈33以及蜂鳴器34,所述電源32 和警示燈33以及蜂鳴器34依次串聯(lián)接,蜂鳴器34的另一線頭和電源32的另一線頭相應(yīng)的連接在兩個(gè)電極31上。[0010]如上所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述電極31通過螺絲固定在測試底座I上。[0011]如上所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述測試電極組 3的組數(shù)為2組,每組對應(yīng)一個(gè)電感元件的電極。[0012]如上所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于還包括有設(shè)置在測試底座I上方并可壓緊SMT電感4在測試平臺2上的壓緊裝置6。[0013]如上所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于在測試底座I上設(shè)有凹框7,所述的電極31固定在凹框7中。[0014]如上所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述測試平臺2與測試電極3之間的高度差H為0. 1或0. 15mm。本實(shí)用新型的有益效果有本實(shí)用新型利用測試底座和測試平臺以及測試電極組來實(shí)現(xiàn)檢測SMT電感電極 的共面差異是否合格,該檢測裝置具有結(jié)構(gòu)簡單,測試效率高,價(jià)格低,操作方便。利用該裝置來檢測SMT電感電極的共面差異是否合格的方法,采用該方法后,具 有測試效率高,操作方便,使用簡單等。

圖1為本實(shí)用新型的正面示意圖;圖2為本實(shí)用新型的原理示意圖;圖3為測試電極組的原理示意圖;圖4為本實(shí)施例圖四個(gè)電極的排布圖;圖5為SMT電感的示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖與實(shí)施例對本實(shí)用新型作詳細(xì)說明如圖所示,一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,包括測試底座1。在測試底座 1上設(shè)有可支撐SMT電感4底面的測試平臺2和至少一組可檢驗(yàn)SMT電感電極5的共面差 異是否合格的測試電極組3。所述測試平臺2與測試電極3之間的高度差為H。且測試平 臺2的水平高度比測試電極組3的水平高度高。因?yàn)镾MT電感元件的焊接面(通常也叫電 極)平整,且電極的共面差異為D,其中D < H,產(chǎn)品才合格。故在測試SMT電感元件的電極 共面差異是否超過H,如果電感元件的電極共面差異超過H,則測試不合格。故設(shè)置的測試 平臺2與測試電極3之間的高度差H,就是為了實(shí)現(xiàn)該功能。所謂的共面差異是指SMT電 感元件的底表面與電感元件的電極底表面之間的高度差,如圖所示。在本實(shí)施例中,測試平 臺2與測試電極3之間的高度差H為0. 1或0. 15_。故本裝置可以根據(jù)需要做成測試兩種 或多種不同規(guī)格的SMT電感元件。如其中一種規(guī)格是測試SMT電感元件的電極共面差異不 能超過0. 1mm,另一種規(guī)格是測試SMT電感元件的電極共面差異不能超過0. 15mm。比如測試SMT電感元件的電極共面差異不能超過0. 1mm時(shí),其測試平臺2與測試 電極3之間的高度差為H為0. 1mm。具體來說,所述測試電極組3包括有處于同一水平面的兩個(gè)電極31,電源32和警 示燈33以及蜂鳴器34,所述電源32和警示燈33以及蜂鳴器34依次串聯(lián)接,蜂鳴器34的 另一線頭和電源32的另一線頭相應(yīng)的連接在兩個(gè)電極31上。此外,本裝置還可包括有設(shè)置在測試底座1上方并可壓緊SMT電感4在測試平臺 2上的壓緊裝置6。測試原理由于SMT電感底面支撐在測試平臺2上,利用人工或者壓緊裝置6壓住 SMT電感上表面。如果SMT電感電極5的共面差異> 0. 1mm時(shí),則SMT電感的電極就會接觸 到測試電極組3的兩個(gè)電極31上,使測試電極組3形成回路,警示燈33亮起來以及蜂鳴器 34響起,判定測試不合格。如果SMT電感電極5的共面差異< 0. 1mm時(shí),則SMT電感的電極就不會接觸到測試電極組3的兩個(gè)電極31上,測試電極組3沒有形成回路,警示燈33和蜂鳴器34都不動 作,則判定測試合格。[0030]進(jìn)一步來說,所述電極31通過螺絲固定在測試底座I上。[0031]在本實(shí)施例中,所述測試電極組3的組數(shù)為2組,每組對應(yīng)一個(gè)電感元件的電極。[0032]進(jìn)一步來說,在測試底座I上設(shè)有凹框7,所述的電極31固定在凹框7中。[0033]當(dāng)然本裝置也可以架在自動測試包裝機(jī)上,由電路給出一個(gè)導(dǎo)通與非導(dǎo)通信號。 信號導(dǎo)通情況下,代表產(chǎn)品超共面,產(chǎn)品不合格,機(jī)器收到信號后,將產(chǎn)品用機(jī)械排出,合格 品進(jìn)入下一步自動包裝,以避免出現(xiàn)有電極端子不共面的產(chǎn)品進(jìn)入客戶端。該裝置可以比 較好的把制程不共面的隱患剔除。同時(shí)因?yàn)榭梢詫⒈狙b置架在自動測試包裝機(jī)臺上,其效 率得到大幅提升。另外,此裝置也是簡單易用,手工測試/機(jī)械測試均可。[0034]一種測試SMT貼片元件電極共平面的方法,該方法是利用上述裝置來測試SMT貼 片元件電極共平面,其包括有如下步聚[0035]A,放置SMT電感,將SMT電感放置在測試底座I上,使測試平臺2支撐著SMT電感 4的底面,而SMT電感電極5位于測試電極組3的正上方,測試平臺2與測試電極3之間的 高度差為H。[0036]B,平壓SMT電感,利用人工或一個(gè)壓緊裝置6壓住SMT電感4的上表面,使SMT電 感底面平壓在測試平臺上。[0037]C,判斷測試結(jié)果,如果測試電極組3的警示燈亮起和蜂鳴器響起,則表明SMT電感 電極共面差異D > H,從而判斷不合格;如果警示燈不亮和蜂鳴器不響,則表明SMT電感電 極共面差異D < H,從而判斷合格,測試通過。[0038]進(jìn)一步來說,所述H為O.1或O. 15mm。又或者H在O. 1-0. 15mm都可以。當(dāng)選擇 H為O. 15mm時(shí),則SMT電感電極共面差異小于O. 15mm都是合格的。當(dāng)選擇H為O.1mm時(shí), 則SMT電感電極共面差異小于O.1mm都是合格的。H數(shù)值的大小,可以根據(jù)實(shí)際的需要來設(shè)置。
權(quán)利要求1.一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于包括測試底座(I ),在測試底座 (I)上設(shè)有可支撐SMT電感(4)底面的測試平臺(2)和至少一組可檢驗(yàn)SMT電感電極(5)的共面差異是否合格的測試電極組(3),所述測試平臺(2)與測試電極(3)之間的高度差為H, 且測試平臺(2)的水平高度比測試電極(3)的水平高度高。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述測試電極組(3)包括有處于同一水平面的兩個(gè)電極(31),電源(32)和警示燈(33)以及蜂鳴器 (34),所述電源(32)和警示燈(33)以及蜂鳴器(34)依次串聯(lián)接,蜂鳴器(34)的另一線頭和電源(32)的另一線頭相應(yīng)的連接在兩個(gè)電極(31)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述電極(31)通過螺絲固定在測試底座(I)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述測試電極組(3)的組數(shù)為2組,每組對應(yīng)一個(gè)電感元件的電極。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于還包括有設(shè)置在測試底座(I)上方并可壓緊SMT電感(4)在測試平臺(2)上的壓緊裝置 (6)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于在測試底座(I)上設(shè)有凹框(7),所述的電極(31)固定在凹框(7)中。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其特征在于所述測試平臺(2)與測試電極(3)之間的高度差H為O.1或O. 15mm。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種測試SMT貼片元件電極共平面裝置,其中該裝置包括測試底座,在測試底座上設(shè)有可支撐SMT電感底面的測試平臺和至少一組可檢驗(yàn)SMT電感電極的共面差異是否合格的測試電極組,所述測試平臺與測試電極之間的高度差為H,且測試平臺的水平高度比測試電極的水平高度高。本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、測試效率高、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號G01B7/00GK202853560SQ20122045098
公開日2013年4月3日 申請日期2012年9月5日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月5日
發(fā)明者盧政學(xué), 秦良俊 申請人:和瑞電子(中山)有限公司
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