專利名稱：大平片光譜測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于物質(zhì)成分分析的光譜儀器領(lǐng)域，具體講就是涉及一種可以對(duì)大尺寸樣品小通光孔進(jìn)行垂直測(cè)試的大平片光譜測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
大平片光譜測(cè)試儀的基本工作原理是溶液中的物質(zhì)在光的照射激發(fā)下，產(chǎn)生了對(duì) 光的吸收效應(yīng)，物質(zhì)對(duì)光的吸收是具有選擇性的，各種不同的物質(zhì)都具有其各自的吸收光譜，因此當(dāng)某單色光通過(guò)溶液時(shí)，其能量就會(huì)被吸收而減弱，光能量減弱的程度和物質(zhì)的濃度有一定的比例關(guān)系，大平片光譜測(cè)試儀就是利用這一原理來(lái)對(duì)被分析樣品和標(biāo)樣光強(qiáng)度的對(duì)比來(lái)分析物質(zhì)成分的。大平片光譜測(cè)試儀在農(nóng)產(chǎn)品、食品、衛(wèi)生、醫(yī)藥、化工、人民生活等各個(gè)領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用，是現(xiàn)代工業(yè)、農(nóng)業(yè)、科學(xué)研究不可缺少的分析儀器。大平片光譜測(cè)試儀基本結(jié)構(gòu)由光源、單色器、樣品室、光電檢測(cè)裝置和信號(hào)指示裝置五部分組成。大平片光譜測(cè)試儀有一個(gè)超大樣品室是放置被檢測(cè)樣品的地方，傳統(tǒng)的測(cè)試儀器樣品室體積較小，一旦待測(cè)試樣品為板型樣品時(shí)，樣品只能豎立在測(cè)試平臺(tái)上，不利于樣品的定位，嚴(yán)重地的影響了測(cè)試精度和測(cè)試準(zhǔn)確性，如果需要測(cè)試尺寸大于80mmX IOOmm的樣品時(shí)，還需要將大塊樣品進(jìn)行破壞，裁剪成小于80mmX IOOmm的尺寸才能測(cè)試，操作復(fù)雜，無(wú)法測(cè)試尺寸較大且不允許破壞的樣品。同時(shí)目前傳統(tǒng)的測(cè)試儀器在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試光斑較大，不適用于現(xiàn)有越來(lái)越多科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域?qū)y(cè)試光斑的要求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的提供一種大平片光譜測(cè)試儀，通過(guò)對(duì)傳統(tǒng)測(cè)試儀器中光路傳輸方向的改變，同時(shí)設(shè)計(jì)了超大的樣品室，以及可選擇不同大小的四檔測(cè)試光斑，縮小測(cè)試光斑，實(shí)現(xiàn)了大尺寸待測(cè)樣品的小通光孔測(cè)試，使待測(cè)樣品可以直接放在工作臺(tái)上測(cè)試，保證了測(cè)試精度和測(cè)試準(zhǔn)確性，操作簡(jiǎn)便，又可以不破壞測(cè)試樣品，節(jié)約了成本。技術(shù)方案為了實(shí)現(xiàn)上述的技術(shù)目的，本發(fā)明設(shè)計(jì)一種大平片光譜測(cè)試儀，包括外殼、底板、光源燈室、單色器、出射光狹縫組件、入射光狹縫組件、樣品室、檢測(cè)裝置、測(cè)試平臺(tái)、按鍵、顯示器、儀器面板和通訊接口，所述光源燈室裝在底板內(nèi)，底板上光源燈室下方裝有單色器，出射光出狹縫組件和入射光狹縫組件分別安裝在單色器底座上互成90°垂直的相鄰二側(cè)面上，樣品室裝在底板的右側(cè)，檢測(cè)裝置和測(cè)試平臺(tái)都設(shè)置在樣品室內(nèi)，外殼罩在底板上，外殼的正面上還設(shè)有儀器面板，儀器面板上設(shè)有顯示器和按鍵，外殼后側(cè)下部設(shè)有通訊接口，其特征在于所述出射光狹縫組件和入射光狹縫組件各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0
所述外殼由工程塑料制成。所述底板由2. Omm鈑金材料制成。所述光源燈室中光源為鎢燈。 所述樣品室由I. Omm鈑金材料制成,尺寸規(guī)格為300mmX400mm。有益效果本發(fā)明大平片光譜測(cè)試儀進(jìn)行了新的設(shè)計(jì)，單色光經(jīng)透鏡再經(jīng)45°的反射鏡將單色光垂直穿透過(guò)樣品再射到光電接收器，從而實(shí)現(xiàn)了樣品可以直接平放在放在工作臺(tái)上進(jìn)行測(cè)試，確保了小孔徑樣品的定位，同時(shí)采用可調(diào)狹縫，減小了測(cè)試光斑，實(shí)現(xiàn)對(duì)大尺寸樣品小通光孔進(jìn)行垂直測(cè)試，保證了測(cè)試精度和準(zhǔn)確性。


附圖I是發(fā)明的立體結(jié)構(gòu)圖。附圖2是本發(fā)明的俯視方向示意圖。附圖3是本發(fā)明的外形示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步說(shuō)明。如附圖1、2和3所示，一種大平片光譜測(cè)試儀，包括工程塑料制成的外殼1、2. Omm鈑金材料制成底板2、光源燈室3、單色器4、出射光狹縫組件5、入射光狹縫組件6、樣品室
7、檢測(cè)裝置8、測(cè)試平臺(tái)9、按鍵10、顯示器11、儀器面板12和通訊接口 13，所述光源燈室3裝在底板2內(nèi)，底板2上光源燈室3下方裝有單色器4，出射光出狹縫組件5和入射光狹縫組件6分別安裝在單色器4底座上互成90°垂直的相鄰二側(cè)面上，樣品室7裝在底板2的右側(cè)，檢測(cè)裝置80和測(cè)試平臺(tái)90都設(shè)置在樣品室7內(nèi)，外殼I罩在底板2上，外殼I的正面上還設(shè)有儀器面板12，儀器面板12上設(shè)有顯示器11和按鍵10，外殼I后側(cè)下部設(shè)有通訊接口 13，其特征在于所述出射光狹縫組件5和入射光狹縫組件6各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0所述光源燈室3中光源為鎢燈。所述超大樣品室由I. Omm鈑金材料制成,尺寸規(guī)格為300mmX400mm。首先啟動(dòng)大平片光譜測(cè)試儀，預(yù)熱20分鐘后儀器自動(dòng)自檢完畢，接著開(kāi)啟控制系統(tǒng)，聯(lián)機(jī)工作，儀器狹縫位置調(diào)至光譜帶寬為3nm，成像光斑小于直徑Imm位置，建立基線，根據(jù)需要輸入波長(zhǎng)范圍，波長(zhǎng)自動(dòng)回到540nm;打開(kāi)樣品室蓋，將樣品的通光孔對(duì)準(zhǔn)光斑，儀器掃描，通過(guò)顯示器11即得測(cè)量結(jié)果。本發(fā)明大平片光譜測(cè)試儀進(jìn)行了新的設(shè)計(jì)，單色光經(jīng)透鏡再經(jīng)45°的反射鏡將單色光垂直穿透過(guò)樣品再射到光電接收器，從而實(shí)現(xiàn)了樣品可以直接平放在放在工作臺(tái)上進(jìn)行測(cè)試，確保了小孔徑樣品的定位，同時(shí)采用可調(diào)狹縫，減小了測(cè)試光斑，實(shí)現(xiàn)對(duì)大尺寸樣品小通光孔進(jìn)行垂直測(cè)試，保證了測(cè)試精度和準(zhǔn)確性。
權(quán)利要求
1.一種大平片光譜測(cè)試儀，包括外殼(I)、底板(2)、光源燈室(3)、單色器(4)、出射光狹縫組件(5)、入射光狹縫組件(6)、樣品室(7)、檢測(cè)裝置(8)、測(cè)試平臺(tái)(9)、按鍵(10)、顯示器(11)、儀器面板(12)和通訊接口(13)，所述光源燈室(3)裝在底板(2)內(nèi)，底板(2)上光源燈室(3)下方裝有單色器(4)，出射光出狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)分別安裝在單色器(4)底座上互成90°垂直的相鄰二側(cè)面上，樣品室(7)裝在底板(2)的右側(cè)，檢測(cè)裝置⑶和測(cè)試平臺(tái)(9)都設(shè)置在樣品室(7)內(nèi)，外殼⑴罩在底板⑵上，外殼⑴的正面上還設(shè)有儀器面板(12)，儀器面板(12)上設(shè)有顯示器(11)和按鍵(10)，外殼(I)后側(cè)下部設(shè)有通訊接口(13)，其特征在于 所述出射光狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0
2.如權(quán)利要求I所述的一種大平片光譜測(cè)試儀，其特征在于所述外殼(I)由工程塑料制成。
3.如權(quán)利要求I所述的一種大平片光譜測(cè)試儀，其特征在于所述底板(2)由2.Omm鈑 金材料制成。
4.如權(quán)利要求I所述的一種大平片光譜測(cè)試儀，其特征在于所述光源燈室(3)中光源為鶴燈。
5.如權(quán)利要求I所述的一種大平片光譜測(cè)試儀，其特征在于所述樣品室由I.Omm鈑金材料制成，尺寸規(guī)格為300mm X 400mm。
全文摘要
一種大平片光譜測(cè)試儀，包括外殼(1)、底板(2)、光源燈室(3)、單色器(4)、出射光狹縫組件(5)、入射光狹縫組件(6)、樣品室(7)、檢測(cè)裝置(8)、測(cè)試平臺(tái)(9)、按鍵(10)、顯示器(11)、儀器面板(12)和通訊接口(13)，其特征在于所述出射光狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6.6nm、10nm。本發(fā)明通過(guò)對(duì)傳統(tǒng)大平片光譜測(cè)試儀中光路傳輸方向的改變，縮小測(cè)試光斑，實(shí)現(xiàn)了大尺寸待測(cè)樣品的小通光孔測(cè)試，使待測(cè)樣品可以直接放在工作臺(tái)上測(cè)試，保證了測(cè)試精度和測(cè)試準(zhǔn)確性，操作簡(jiǎn)便，又可以不破壞測(cè)試樣品，節(jié)約了成本。
文檔編號(hào)G01N21/31GK102621087SQ20121008141
公開(kāi)日2012年8月1日 申請(qǐng)日期2012年3月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月23日
發(fā)明者馮邁東 申請(qǐng)人:上海欣茂儀器有限公司