專利名稱：儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及儀表檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于LCR電橋、低電阻測(cè)試、電池內(nèi)阻測(cè)試等檢測(cè)時(shí)的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
對(duì)于電阻、或電橋類的元器件，在生產(chǎn)完工時(shí)均需對(duì)其的是否合格進(jìn)行檢測(cè)。通常會(huì)采用儀表對(duì)其檢測(cè)，該儀表上設(shè)置了四條測(cè)試線傳輸線，分別與儀表測(cè)試端的HC，HP,LC, LP連接，在各條測(cè)試線的另一端，將兩條測(cè)試線的另一端連接至同一個(gè)夾持裝置上，這樣， 每個(gè)夾持裝置上連接了一條電壓采樣測(cè)試線和一條電流驅(qū)動(dòng)測(cè)試線。使用吋，將兩個(gè)夾持裝置分別夾持在被檢測(cè)元件的兩端，即可進(jìn)行是否合格的檢測(cè)。隨著科技的進(jìn)步，對(duì)檢測(cè)儀器的測(cè)量準(zhǔn)確性提出了更高的要求，由于測(cè)試線本身的接觸不良或者斷線造成的儀器測(cè)量結(jié)果的誤差，致使合格率降低。這樣也就増加了客戶檢測(cè)被測(cè)件出錯(cuò)的概率，很可能將不良品當(dāng)作了良品使用，或者將良品判為了不良品丟棄。因此，目前，眾多的客戶都希望能夠有這樣ー種手段，能夠自動(dòng)檢測(cè)儀表測(cè)試線的接觸是否可靠，從而能夠大大減少測(cè)試被測(cè)件的誤判情況。在現(xiàn)有的技術(shù)中，由于沒有這樣的手段，通常只能夠由客戶自己發(fā)現(xiàn)測(cè)試不對(duì)后，人工將測(cè)試線重新插進(jìn)測(cè)量端ロ并查看測(cè)試數(shù)據(jù)是否正確，而這樣的判斷本身也可能存在問題。基于這樣的需求和對(duì)產(chǎn)品性能的不斷追求完善，我們?cè)O(shè)計(jì)出了這樣ー個(gè)用于測(cè)試線接觸不良的檢測(cè)電路，
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，當(dāng)采用儀表測(cè)試被測(cè)件時(shí)，如果四根測(cè)試線中的某一根接觸不良或者斷線，那么通過該檢測(cè)裝置即可檢測(cè)出來，并通顯示屏將測(cè)試線接觸不良或斷線的結(jié)果顯示出來。實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于，包括信號(hào)放大模塊，該信號(hào)放大模塊將測(cè)試線電壓采樣端信號(hào)進(jìn)行信號(hào)幅度的放大； 以及基準(zhǔn)信號(hào)源模塊，該基準(zhǔn)信號(hào)源模塊提供一個(gè)與電壓采樣信號(hào)不同頻率的交流波；以及電壓采樣信號(hào)合成模塊，將接收的信號(hào)放大模塊的信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)源的信號(hào)進(jìn)行合成，得到電壓采樣端合成信號(hào)；以及電壓采樣比較模塊，將電壓采樣信號(hào)合成模塊輸出的信號(hào)與一設(shè)定的正、負(fù)電壓進(jìn)行比較，從而得到電壓采樣端是否接觸不良的比較信號(hào)；以及為測(cè)試線電流驅(qū)動(dòng)端的采樣信號(hào)的電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊；以及電流采樣比較模塊，將電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊輸出的電流采樣信號(hào)與一設(shè)定的正、負(fù)電平進(jìn)行比較，從而得到電流驅(qū)動(dòng)端是否接觸不良的比較信號(hào)；以及[0014]電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊，將對(duì)電壓采樣比較模塊以及電流采樣比較模塊這二者的輸出信號(hào)進(jìn)行電平的轉(zhuǎn)換，使其信號(hào)符合CPU的電平信號(hào)，并將電平轉(zhuǎn)換后的信號(hào)輸出給 CPU ;以及CPU,對(duì)電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊輸出的信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)，從而判別出當(dāng)前測(cè)試線是否存在接觸不良的情況；以及顯示器，接收CPU的輸出信號(hào)，顯示測(cè)試線接觸的情況。采用了上述方案，本實(shí)用新型解決了目前阻抗測(cè)量方面由于測(cè)試線接觸不良而導(dǎo)致的數(shù)據(jù)結(jié)果的偏差問題，這樣大大減少了因此問題而造成的測(cè)量誤差，提高了產(chǎn)品檢驗(yàn)的合格率，提高了工作效率，從而降低了工作成本。選用ー種與信號(hào)源不同頻率的信號(hào)，從而來區(qū)分開哪路測(cè)試線接觸不良。
圖I為本實(shí)用新型的電路方框圖；圖2為對(duì)應(yīng)圖I的電路原理圖；圖3為基準(zhǔn)信號(hào)源模塊另ー實(shí)施方式圖4為電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊的另ー實(shí)施方式；附圖中，I為信號(hào)放大模塊，2為基準(zhǔn)信號(hào)源模塊，3為電壓采樣信號(hào)合成模塊，4 為電壓采樣比較模塊，5為電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊，6為電流采樣比較模塊，7為電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊，8為CPU，9為顯示器。
具體實(shí)施方式
參照?qǐng)D1，本實(shí)用新型的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，包括信號(hào)放大模塊1，該信號(hào)放大模塊將測(cè)試線電壓采樣端信號(hào)進(jìn)行信號(hào)幅度的放大； 以及基準(zhǔn)信號(hào)源模塊2，該基準(zhǔn)信號(hào)源模塊提供一個(gè)與電壓采樣信號(hào)不同頻率的交流波； 以及電壓采樣信號(hào)合成模塊3，將接收的信號(hào)放大模塊的信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)源的信號(hào)進(jìn)行合成，得到電壓采樣端合成信號(hào)；以及電壓采樣比較模塊4，將電壓采樣信號(hào)合成模塊輸出的信號(hào)與一設(shè)定的正、負(fù)電壓進(jìn)行比較，從而得到電壓采樣端是否接觸不良的比較信號(hào)；以及為測(cè)試線電流驅(qū)動(dòng)端的采樣信號(hào)的電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊5 ;以及電流采樣比較模塊6，將電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊輸出的電流采樣信號(hào)與一設(shè)定的正、負(fù)電平進(jìn)行比較，從而得到電流驅(qū)動(dòng)端是否接觸不良的比較信號(hào)；以及電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊7，將對(duì)電壓采樣比較模塊以及電流采樣比較模塊這二者的輸出信號(hào)進(jìn)行電平的轉(zhuǎn)換，使其信號(hào)符合CPU的電平信號(hào)，并將電平轉(zhuǎn)換后的信號(hào)輸出給CPU ;以及CPU8，對(duì)電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊輸出的信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)，從而判別出當(dāng)前測(cè)試線是否存在接觸不良的情況；以及顯示器9，接收CPU的輸出信號(hào)，顯示測(cè)試線接觸的情況。下面對(duì)各模塊的具體結(jié)構(gòu)作出詳細(xì)說明參照?qǐng)D2，信號(hào)放大模塊I包括第一運(yùn)算放大器U1、第二運(yùn)算放大器U2，ー個(gè)第一電容Cl和第一電阻Rl串聯(lián)后連接至第一運(yùn)算放大器Ul的同相輸入端，第一電容Cl的另一端懸空，使用時(shí)接收來自于測(cè)試線電壓采樣端信號(hào)，第二電阻R2和第三電阻R串聯(lián)后ー 端接地，另一端連接在第一電容Cl和第一電阻Rl之間。第一運(yùn)算放大器Ul的反相輸入端與ー個(gè)第四電阻R4連接，第四電阻R4的另一端接地，在第一運(yùn)算放大器Ul的反相輸入端與輸出端之間連接ー個(gè)第五電阻(R5)。第二運(yùn)算放大器U2的反相輸入端與第六電阻R6的一端連接，第六電阻R6的另一端連接第一運(yùn)算放大器Ul的輸出端，第二運(yùn)算放大器U2的反相輸入端與輸出端之間連接ー個(gè)第七電阻R7。參照?qǐng)D2，基準(zhǔn)信號(hào)源模塊2包括基準(zhǔn)信號(hào)源、充放電電路、以及高通濾波器，充放電電路連接基準(zhǔn)信號(hào)源的輸出端，高通濾波器的輸入端連接充放電電路的輸出端?；鶞?zhǔn)信號(hào)源提供ー個(gè)頻率為2kHz，占空比為33. 3%的5V方波信號(hào)。充放電電路由電阻R10、電容 C3、電阻R11、電容C4組成，RlO、電容C3構(gòu)成第一次充放電電路，電阻R11、電容C4構(gòu)成第二次充放電電路，高通濾波器由電容C5及電阻R12組成。當(dāng)基準(zhǔn)信號(hào)源輸入信號(hào)時(shí)，對(duì)電容C3、電阻RlO進(jìn)行充放電，從而得到ー個(gè)最低點(diǎn)為IV左右，最高點(diǎn)為3V左右的三角波信號(hào)。經(jīng)過第一次充放電后的信號(hào)，該信號(hào)再對(duì)電阻R11，電容C4進(jìn)行二次充放電，使得信號(hào)更加平滑。通過電容C5，電阻R12形成的高通濾波器，將直流電平隔離，從而得到一個(gè)有效值約50mV的2kHz交流波Vf，并將其輸出到第三運(yùn)算放大器U3的同相輸入端。參照?qǐng)D3，基準(zhǔn)信號(hào)源模塊還可以采用如下電路進(jìn)行替代，其包括時(shí)鐘發(fā)生器，用于產(chǎn)生穩(wěn)定精密的時(shí)鐘信號(hào)；以及分頻器，將來自于時(shí)鐘發(fā)生器的信號(hào)轉(zhuǎn)換為方波信號(hào)輸出；以及計(jì)數(shù)器，將來自于分頻器的方波信號(hào)轉(zhuǎn)換為頻率成倍數(shù)關(guān)系的PROM尋址信號(hào)；以及可編程序的只讀存儲(chǔ)器，將來自于計(jì)數(shù)器的信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)信號(hào)；以及D/A轉(zhuǎn)換器，將來自于可編程序的只讀存儲(chǔ)器的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)輸出；以及運(yùn)算放大器，將來自于D/A轉(zhuǎn)換器輸出的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為階梯正弦波；以及低通濾波器，將運(yùn)算放大器輸出的階梯正弦波轉(zhuǎn)換為正弦波輸出。該替代電路的工作方式為從7. 68MHz時(shí)鐘發(fā)生器產(chǎn)生的高穩(wěn)定精密時(shí)鐘信號(hào)加至分頻器輸入，輸出ー個(gè)頻率為20F(F為測(cè)試信號(hào)頻率)的方波，再經(jīng)過計(jì)數(shù)器獲得頻率成倍數(shù)關(guān)系的PROM尋址信號(hào)，在可編程序的只讀存儲(chǔ)器內(nèi)存儲(chǔ)了 256 點(diǎn)的數(shù)字形正弦波，在尋址信號(hào)作用下，輸出的數(shù)字量送至8位D/A轉(zhuǎn)換器，通過運(yùn)算放大器將D/A轉(zhuǎn)換器輸出的電流信號(hào)變換為幅度最大為IOVp p的階梯正弦波，該正弦波經(jīng)過低通濾波器，即得到一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)正弦波。電壓采樣信號(hào)合成模塊3包括第三運(yùn)算放大器U3，該第三運(yùn)算放大器U3的同相輸入端與基準(zhǔn)信號(hào)源模塊2的輸出端連接，第三運(yùn)算放大器U3的反相輸入端與信號(hào)放大模塊I的輸出端連接，在第三運(yùn)算放大器U3的反相輸入端與其輸出端之間連接ー個(gè)第八電阻 R8，在第三運(yùn)算放大器U3的輸出端通過ー個(gè)反饋電阻R9與信號(hào)放大模塊連接。參照?qǐng)D2，電壓采樣比較模塊4包括第一比較器U4、第二比較器U5，第一比較器U4 的反相輸入端通過第十三電阻R13與ー個(gè)負(fù)5V的電壓連接，ー個(gè)接地的第十四電阻R14與第一比較器U4的反相輸入端連接,第一比較器U4的同相輸入端與電壓米樣信號(hào)合成模塊的輸出端連接。第二比較器U5的反相輸入端與電壓采樣信號(hào)合成模塊的輸出端連接，第二比較器U5的同相輸入端通過第十五電阻R15與一個(gè)正5V的電壓連接,第二比較器U5的同相輸入端還通過第十六電阻R16接地。參照?qǐng)D2，電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊5包括第一充放電電路，以及與該第一充放電電路連接的第二充放電電路。第一充放電電路由第六電容C6和第二^^一電阻R21組成，第一充放電電路由第七電容C7和第二十二電阻R22組成，第六電容(C6)與第二i^一電阻R21串聯(lián)后接地，第七電容C7與第二十二電阻R22串聯(lián)接地。同樣地，通過兩級(jí)充放電電路對(duì)輸入的電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)進(jìn)行充放電，輸出的電流信號(hào)較為平滑。參照?qǐng)D2，電流采樣比較模塊6包括第三比較器U6、第四比較器U7，第三比較器U6的同相輸入端通過第十七電阻R17與ー個(gè)正電平連接，ー個(gè)接地的第十八電阻R18與第三比較器U6的同相輸入端連接,第三比較器U6的反相輸入端與電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊5的輸出端連接。第四比較器U7的同相輸入端與電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊5的輸出端連接，第四比較器U7 的反相輸入端通過第十九電阻R19與ー個(gè)負(fù)電平連接，第四比較器U7的反相輸入端還通過第二十電阻R20接地。參照?qǐng)D2，電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊7包括三極管Q1、第二十三電阻23、第二十四電阻 24、第二十五電阻25，三極管Ql的基極與第二十四電阻24的一端連接，第二十三電阻23 的一端與連接電源，另一端與第二十四電阻連接，三極管Ql的集電極與第二十五電阻25的一端連接，第二十五電阻25的另一端連接電源，三極管Ql的發(fā)射極接地。參照?qǐng)D4，電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊7還可以采用光電耦合器進(jìn)行替代。電壓采樣比較模塊4和電流采樣比較模塊6的輸出信號(hào)至光耦ニ極管的正端。當(dāng)比較器信號(hào)為+5V高電平吋，光耦ニ極管導(dǎo)通，光耦輸出端三極管導(dǎo)通，輸出給CPU的電平信號(hào)為零電平；當(dāng)比較器信號(hào)為_5V時(shí),光I禹ニ極管截止,光I禹輸出端三極管截止,輸出給CPU信號(hào)為高電平。由此可見，該電路能夠完美替代圖2中的三極管Q1。本實(shí)用新型的工作過程如下儀器正常工作吋，測(cè)試端HC，HP, LC, LP全部可靠與被測(cè)件連接，并且測(cè)試線的接觸良好，此時(shí)，U3的輸出Vo為IkHz的交流波，且信號(hào)幅度在V+，V-間，從而第一比較器U4， 第二比較器U5輸出為高電平，三極管Ql導(dǎo)通，輸出給CPU的信號(hào)為低電平。表明測(cè)試線接觸良好。當(dāng)電壓采樣端測(cè)試線斷開時(shí)，Vin無輸入，第一電容Cl浮空，基準(zhǔn)信號(hào)源的輸出電壓Vf通過第三運(yùn)算放大器U3上的反饋電阻R9形成正反饋，輸出信號(hào)超出運(yùn)放的正負(fù)電源，被削頂成為2kHz的±5V的方波,該方波信號(hào)超出設(shè)定的+5V,和-5V的范圍，從而電壓采樣比較模塊4輸出結(jié)果為2kHz的方波信號(hào)，該信號(hào)使得三極管Ql不能導(dǎo)通，從而使得三極管輸出給CPU的信號(hào)為ー個(gè)2kHz的固定頻率，通過CPU計(jì)數(shù)所得，從而判斷出電壓采樣端測(cè)試線斷開。當(dāng)電流驅(qū)動(dòng)端測(cè)試線斷開，Vin(如圖2)接地，電壓采樣信號(hào)合成模塊3的輸出電信號(hào)Vo為ー小信號(hào)2kHz交流波,該電信號(hào)的范圍在士5V之內(nèi)，該信號(hào)不足以使三極管Ql 導(dǎo)通。然而被測(cè)件上的電流在量程電阻上所采樣的電壓Vinl (如圖2)卻因?yàn)殡娏鞑蓸佣藴y(cè)試線的斷開而產(chǎn)生了突變，該信號(hào)與連接第三比較器的正電平，以及連接第四比較器的負(fù)電平進(jìn)行比較，得到ー個(gè)IkHz的方波信號(hào)，用于控制三極管Ql的導(dǎo)通，該信號(hào)輸出給CPU， 通過計(jì)數(shù)，檢測(cè)出電流采樣端測(cè)試線斷開。如當(dāng)電壓采樣端測(cè)試線斷開后，F(xiàn)02 = (1-|^|^)xF1，這里使得R7XR5 =
R6XR4，故而V02 = 0 ;這樣ル=(I +デ) ><じ，輸出信號(hào)頻率為2kHz的波形。為使該信號(hào)超
出比較電平的范圍，從而能夠依此來判別電壓采樣端測(cè)試線斷開的問題，我們這里取R8 = 50k Q，電容C2 = luF，這樣Vo的輸出幅度達(dá)到了 ±7. 8V左右，已經(jīng)超出了第三運(yùn)算放大器 U3的電源范圍，故而輸出結(jié)果被削頂?shù)健?V,從而此時(shí)第三運(yùn)算放大器U3輸出Vo信號(hào)為 ー個(gè)2kHz的方波信號(hào)。[0040]下面以推導(dǎo)過程來表明本實(shí)用新型參照?qǐng)D2，當(dāng)儀器正常工作吋，測(cè)試端全部可靠連接。Vin為IkHz頻率，6毫伏有效值以下的正弦波，其通過第一電容Cl，經(jīng)第一運(yùn)算放大器Ul放
大1 + €倍，得到信號(hào)VOl ;而VOl與Vl經(jīng)過第二運(yùn)算放大器U2的放大，得到 R4
イ目號(hào) V02,其之間關(guān)系為廠02 = (l + ^^xFl-^^xFOl，而廠01 = (l + ^^)xF/+ ， 從而廠02 = (1 + ^)\廠1-|^\(1 + |^)\乃《;此夕卜由于Vin很小，故而 Vl主要有電阻R3，反饋電阻R9分壓而成，即n = (^^)xFo ，所以 F02 = (l + |^)x(^^)xFo-(|^)x(l + |^)x版；而 V02 經(jīng)過第三運(yùn)算放大器 U3
放大得到Vo，因此又存在如下關(guān)系F02 = (l + f從而據(jù)此可以推得xFo = (1 + |)xF/+|^x(1 + |^)x 版;這樣最終 Vo 的輸出信號(hào)
即為Vf與Vin的合成信號(hào)，信號(hào)頻率為IkHz，幅度且在+5V與-5V之間，故而最終第一比較器U4,第二比較器U5輸出高電，而此時(shí)電流采樣信號(hào)Vinl信號(hào)為毫伏級(jí)，信號(hào)頻率為 1kHz，幅度在V與-V之間，故而第三比較器U6，第四比較器U7輸出為高電平，這樣最終四個(gè)比較器的輸出均為高電平，控制三極管Ql導(dǎo)通，從而輸出給CPU的信號(hào)為低電平，表明所有測(cè)試線接觸良好。當(dāng)電壓采樣端測(cè)試線斷開(接觸不良)吋，Vin沒有信號(hào)輸入，此時(shí)第一電容 Cl 浮空。n = (^^)xFo，而 F01 = (l + g)xFl，從而 F01 = (l + |^)x^^xFo ;
而廠 02 = (I+ -^-) X FlX FOI，從而廠02 = (I + X Vl- x (I + x Fl，由此推導(dǎo)得
V02 = (I- R7xR5、XVl，這里使得R7XR5 = R6XR4，故而 V02 = 0 ;這樣ル= (^ + —)xVf，輸 R6xR4Zc2
出信號(hào)頻率為2kHz，而由于此時(shí)Vo的峰峰值已經(jīng)超出了第三運(yùn)算放大器U3的正負(fù)電源范
圍，故而被削頂成±5V的2kHz的方波信號(hào)，此時(shí)的Vo已經(jīng)超出了 ±5V的范圍，故而第一
比較器U4，第二比較器U5輸出2kHz的方波信號(hào)。同時(shí)由于電壓采樣端斷開(接觸不良)
吋，電流采樣端仍然接觸良好，此時(shí)的電流采樣電壓Vinl仍然是正常信號(hào)，故而第三比較
器U6，第四比較器U7輸出信號(hào)仍然為高電平，其不影響第一比較器U4，第二比較器U5的輸
出信號(hào)，這樣最終比較器的輸出信號(hào)為2kHz，±5V的方波信號(hào)，其控制三極管Ql的不能導(dǎo)
通，從而得到ー個(gè)2kHz，0 5V的方波信號(hào)，并將其輸出給CPU，通過計(jì)數(shù)，判斷此時(shí)電壓采
樣端測(cè)試線斷開(接觸不良)。當(dāng)電流采樣端測(cè)試線斷開(接觸不良)時(shí)，Vin = 0,故而此時(shí)
(l +，)x 廠 I, —…,Rj
VOl = 0;所以可以推得F02 = (l + J^) X Fl，而Fl = (―—) X Fo，所以可得 F02 = (l + ^)x^^xFo；而叩2 = (1 + |)\り-^，％ ，由此可以推得
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權(quán)利要求1.一種儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于，包括信號(hào)放大模塊，該信號(hào)放大模塊將測(cè)試線電壓采樣端信號(hào)進(jìn)行信號(hào)幅度的放大；以及基準(zhǔn)信號(hào)源模塊，該基準(zhǔn)信號(hào)源模塊提供一個(gè)與電壓采樣信號(hào)不同頻率的交流波；以及電壓采樣信號(hào)合成模塊，將接收的信號(hào)放大模塊的信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)源的信號(hào)進(jìn)行合成，得到電壓采樣端合成信號(hào)；以及電壓采樣比較模塊，將電壓采樣信號(hào)合成模塊輸出的信號(hào)與一設(shè)定的正、負(fù)電壓進(jìn)行比較，從而得到電壓采樣端是否接觸不良的比較信號(hào)；以及為測(cè)試線電流驅(qū)動(dòng)端的采樣信號(hào)的電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊；以及電流采樣比較模塊，將電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊輸出的電流采樣信號(hào)與一設(shè)定的正、負(fù)電平進(jìn)行比較，從而得到電流驅(qū)動(dòng)端是否接觸不良的比較信號(hào)；以及電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊，將對(duì)電壓采樣比較模塊以及電流采樣比較模塊這二者的輸出信號(hào)進(jìn)行電平的轉(zhuǎn)換，使其信號(hào)符合CPU的電平信號(hào)，并將電平轉(zhuǎn)換后的信號(hào)輸出給CPU ;以及CPU，對(duì)電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊輸出的信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)，從而判別出當(dāng)前測(cè)試線是否存在接觸不良的情況；以及顯示器，接收CPU的輸出信號(hào)，顯示測(cè)試線接觸的情況。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述信號(hào)放大模塊包括第一運(yùn)算放大器(Ul)、第二運(yùn)算放大器(U2),—個(gè)第一電容(Cl)和第一電阻(Rl) 串聯(lián)后連接至第一運(yùn)算放大器(Ul)的同相輸入端，第一運(yùn)算放大器(Ul)的反相輸入端與 ー個(gè)第四電阻(R4)連接，第四電阻(R4)的另一端接地，在第一運(yùn)算放大器(Ul)的反相輸入端與輸出端之間連接ー個(gè)第五電阻(R5);第二運(yùn)算放大器(U2)的反相輸入端與第六電阻(R6)的一端連接，第六電阻(R6)的另一端連接第一運(yùn)算放大器(Ul)的輸出端，第二運(yùn)算放大器(U2)的反相輸入端與輸出端之間連接ー個(gè)第七電阻(R7)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述基準(zhǔn)信號(hào)源模塊包括基準(zhǔn)信號(hào)源、充放電電路、以及高通濾波器，充放電電路連接基準(zhǔn)信號(hào)源的輸出端，高通濾波器的輸入端連接充放電電路的輸出端。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述基準(zhǔn)信號(hào)源模塊包括時(shí)鐘發(fā)生器，用于產(chǎn)生穩(wěn)定精密的時(shí)鐘信號(hào)；以及分頻器，將來自于時(shí)鐘發(fā)生器的信號(hào)轉(zhuǎn)換為方波信號(hào)輸出；以及計(jì)數(shù)器，將來自于分頻器的方波信號(hào)轉(zhuǎn)換為頻率成倍數(shù)關(guān)系的PROM尋址信號(hào)；以及可編程序的只讀存儲(chǔ)器，將來自于計(jì)數(shù)器的信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)信號(hào)；以及D/A轉(zhuǎn)換器，將來自于可編程序的只讀存儲(chǔ)器的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)輸出；以及運(yùn)算放大器，將來自于D/A轉(zhuǎn)換器輸出的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為階梯正弦波；以及低通濾波器，將運(yùn)算放大器輸出的階梯正弦波轉(zhuǎn)換為正弦波輸出。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述電壓采樣信號(hào)合成模塊包括第三運(yùn)算放大器(U3)，該第三運(yùn)算放大器(U3)的同相輸入端與基準(zhǔn)信號(hào)源模塊的輸出端連接，第三運(yùn)算放大器(U3)的反相輸入端與信號(hào)放大模塊的輸出端連接，在第三運(yùn)算放大器(U3)的反相輸入端與其輸出端之間連接ー個(gè)第八電阻(R8)，在第三運(yùn)算放大器(U3)的輸出端通過ー個(gè)反饋電阻(R9)與信號(hào)放大模塊連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述電壓采樣比較模塊包括第一比較器(U4)、第二比較器(U5)，第一比較器(U4)的反相輸入端通過第十三電阻(R13)與ー個(gè)負(fù)電壓連接，ー個(gè)接地的第十四電阻(R14)與第一比較器(U4)的反相輸入端連接，第一比較器(U4)的同相輸入端與電壓采樣信號(hào)合成模塊的輸出端連接；第 ニ比較器(U5)的反相輸入端與電壓米樣信號(hào)合成模塊的輸出端連接,第二比較器(U5)的同相輸入端通過第十五電阻(R15)與ー個(gè)正電壓連接，第二比較器(U5)的同相輸入端還通過第十六電阻(R16)接地。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊包括第一充放電電路，以及與該第一充放電電路連接的第二充放電電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述電流采樣比較模塊包括第三比較器(U6)、第四比較器(U7)，第三比較器(U6)的同相輸入端通過第十七電阻(R17)與ー個(gè)正電平連接，ー個(gè)接地的第十八電阻(R18)與第三比較器(U6)的同相輸入端連接，第三比較器(U6)的反相輸入端與電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊的輸出端連接；第四比較器(U7)的同相輸入端與電流驅(qū)動(dòng)信號(hào)模塊的輸出端連接，第四比較器(U7)的反相輸入端通過第十九電阻(R19)與ー個(gè)負(fù)電平連接，第四比較器(U7)的反相輸入端還通過第二十電阻(R20)接地。
9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊包括三極管(Ql)、第二十三電阻(23)、第二十四電阻(24)、第二十五電阻(25)， 三極管(Ql)的基極與第二十四電阻(24)的一端連接，第二十三電阻(23)的一端與連接電源，另一端與第二十四電阻連接，三極管(Ql)的集電極與第二十五電阻(25)的一端連接， 第二十五電阻(25)的另一端連接電源，三極管(Ql)的發(fā)射極接地。
10.根據(jù)權(quán)利要求I所述的儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其特征在于所述電平轉(zhuǎn)換器開關(guān)模塊為光電稱合器。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種儀表測(cè)試線接觸不良檢測(cè)裝置，其包括采樣控制信號(hào)發(fā)生器、第一級(jí)欠采樣電路、第二級(jí)欠采樣電路以及帶通濾波器，采樣控制信號(hào)發(fā)生器的第一輸出端連接第一級(jí)欠采樣電路的控制信號(hào)輸入端，采樣控制信號(hào)發(fā)生器的第二輸出端連接第二級(jí)欠采樣電路的控制信號(hào)輸入端，第一級(jí)欠采樣電路的信號(hào)輸出端與第二級(jí)欠采樣電路的信號(hào)輸入端連接，第二級(jí)欠采樣電路的信號(hào)輸出端連接帶通濾波器。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于成本低，能夠?qū)⒏哳l信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)榈皖l信號(hào)，特別適用于元件檢測(cè)裝置中。
文檔編號(hào)G01R31/02GK202339390SQ20112040900
公開日2012年7月18日 申請(qǐng)日期2011年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月25日
發(fā)明者朱華國(guó), 陳軍 申請(qǐng)人:常州市同惠電子有限公司