專利名稱：永磁體剩磁溫度系數測量裝置及測量方法
技術領域：
本發(fā)明屬于永磁材料的特性參數測量技術，涉及一種永磁體剩磁溫度系數測量裝置及測量方法。
背景技術：
永磁體剩磁溫度系數常用的測量方法是通過測量不同溫度下的退磁曲線來實現(xiàn)。 現(xiàn)有技術的試樣放在兩個加熱極頭之間，兩個加熱極頭設置在磁化裝置內，分布為N極和S 極。而且樣品上纏繞有接在B (J)積分器上的磁通探測線圈，附近設置有接在H積分器上的磁場探測線圈，兩個積分器均連接在X-Y記錄儀或計算機上。同時勵磁電源與磁化裝置和 B(J)積分器相連。所述測量裝置將測得的T1和T2溫度下所對應的Br按(1)式計算得到剩磁的溫度系數aBr為:
權利要求
1.一種永磁體剩磁溫度系數測量裝置，其特征在于基于一個非共面環(huán)形激光器，該非共面環(huán)形激光器內具有四條依次相通的毛細孔，在其中的一條毛細孔中放置有法拉第旋光元件[1]，待測永磁體[13]放置在激光器外面靠近法拉第旋光元件[1]的面上，待測永磁體[13]上貼有溫度傳感器[2]，另外，所述非共面環(huán)形激光器四條毛細孔兩兩相交處安裝有一對平面鏡[6]和一對帶穩(wěn)頻壓電組件的球面鏡[3]，其中，合光棱鏡[9]安裝在平面鏡 [6]上，并與光電轉換器[8]相接，而光電轉換器與控制電路[18]相連，該控制電路直接與非共面環(huán)形激光器的陰極以及兩個陽極[4]相連，同時兩個帶穩(wěn)頻壓電組件的球面鏡[3] 和溫度傳感器[2]也與控制電路[18]相連。
2.根據權利要求1所述的永磁體剩磁溫度系數測量裝置，其特征在于整個測量裝置放置在一個高低溫試驗箱中，由高低溫試驗箱提供不同的環(huán)境溫度。
3.根據權利要求1所述的永磁體剩磁溫度系數測量裝置，其特征在于所述四條毛細孔的軸線不在一個平面內。
4.一種基于權利要求1至3任一項所述永磁體剩磁溫度系數測量裝置的永磁體剩磁溫度系數測量方法，其特征在于，選擇熔石英玻璃作為旋光元件的材料，基于公式O)，測量非共面環(huán)形激光器的偏頻量fB隨溫度的變化量，從而得到永磁體剩磁溫度系數，
5.根據權利要求4所述的永磁體剩磁溫度系數測量方法，其特征在于其中，verdet系數的溫度系數小于lOppm，其厚度d的溫度系數為0. 5ppm。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于測量永磁體剩磁溫度系數的裝置及方法。該裝置基于一個非共面環(huán)形激光器，在其中的一條毛細孔中放置有法拉第旋光元件。將待測永磁體放置在激光器外面靠近法拉第旋光元件的面上。永磁體上貼有溫度傳感器。將整個裝置放置在高低溫箱中。其中，偏頻量本發(fā)明選擇熔石英玻璃作為旋光元件，其Verdet系數的溫度系數小于10ppm，d的溫度系數為0.5ppm，穩(wěn)頻控制可以保證在-45℃～+70℃范圍內Δvc的穩(wěn)定度為10-9。本發(fā)明通過測量偏頻量隨溫度的變化可以測得永磁體剩磁溫度系數，測量精度優(yōu)于3×10-5，并且具有簡便易行的優(yōu)點。
文檔編號G01R33/12GK102445672SQ20111028191
公開日2012年5月9日 申請日期2011年9月19日 優(yōu)先權日2011年9月19日
發(fā)明者于文東, 傅鑫, 王珂, 胡強, 陳勇, 陳林峰, 韓宗虎 申請人:中國航空工業(yè)第六一八研究所