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現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法

文檔序號(hào):6015416閱讀:688來源:國(guó)知局
專利名稱:現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法
現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于檢漏技術(shù)領(lǐng)域,具體來說,涉及一種現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,可以用于現(xiàn)場(chǎng)對(duì)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)。
背景技術(shù)
正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔在吸槍法檢漏測(cè)試中起著“基準(zhǔn)”的作用,如果正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔在現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí)其真實(shí)漏率值較其標(biāo)稱值相差較大,則會(huì)極大地降低檢漏測(cè)試結(jié)果的可靠性。目前正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)均是由計(jì)量站完成,給出校準(zhǔn)結(jié)果(即正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值)及合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度。但正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔在現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí),由于各種因素的影響(如運(yùn)輸環(huán)境、保存、使用環(huán)境等),使得正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的真實(shí)漏率值較其標(biāo)稱值或多或少的存在變化。如在工程實(shí)踐中,會(huì)發(fā)現(xiàn)某些正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔在現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí)堵了,即此時(shí)該正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的真實(shí)漏率值為O。該種情形由于是極限情形,故很容易辨別;但如果正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的真實(shí)漏率在現(xiàn)場(chǎng)時(shí),較計(jì)量站校準(zhǔn)時(shí)(即正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值)提高或降低了 I個(gè)或2個(gè)數(shù)量級(jí),如某正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值為7. 05X IO-6Pa · mY1,而由于保存不當(dāng),現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí),其真實(shí)漏率值變?yōu)榱?8. 03X IO-7Pa · Hi3s'此時(shí)在現(xiàn)場(chǎng)是根本無法區(qū)分的。因此,就迫切需要一種能現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法。本發(fā)明即給出了一種現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,方便且成本低廉,對(duì)提高檢漏測(cè)試結(jié)果的可靠性具有重要的意義。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,以便提高檢漏測(cè)試結(jié)果的可靠性。
本發(fā)明所提供的具體方案如下
本發(fā)明的一種現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,包括以下步驟
I)試驗(yàn)準(zhǔn)備
a.準(zhǔn)備好若干計(jì)量過的正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔,且這些正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值應(yīng)在較為接近的量程內(nèi),如_5到_7量級(jí),正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的數(shù)量應(yīng)該在6個(gè)以上,優(yōu)選10個(gè)以上;
b.將吸槍裝配在氦質(zhì)譜檢漏儀上,啟動(dòng)氦質(zhì)譜檢漏儀。
2)試驗(yàn)測(cè)試
a.用吸槍檢漏法的測(cè)試工藝分別測(cè)試正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔;
b.在測(cè)試的同時(shí),實(shí)時(shí)記錄檢漏儀的漏率反應(yīng)值,為提高測(cè)試的可靠性,可以對(duì)檢漏儀的漏率反應(yīng)值采取多次測(cè)量取平均值的方法。
3)數(shù)據(jù)處理及校準(zhǔn)
a.處理檢漏儀的漏率反應(yīng)值與正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值的數(shù)據(jù),并做y = kx+b形式的線性擬合,由于測(cè)試數(shù)據(jù)通常跨越幾個(gè)數(shù)量級(jí),因此建議采用對(duì)數(shù)坐標(biāo)系;
b.觀察該線性擬合曲線的擬合質(zhì)量,此曲線即為正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)曲線。
c.根據(jù)校準(zhǔn)曲線及檢漏儀對(duì)各個(gè)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率反應(yīng)值,分別計(jì)算出各個(gè)正3壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的真實(shí)漏率值。本發(fā)明技術(shù)方案的特點(diǎn)包括I、本發(fā)明異常的方便,資源需求少,可以現(xiàn)場(chǎng)對(duì)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔進(jìn)行校準(zhǔn),具有快捷、方便的特點(diǎn)。2、本發(fā)明不需要額外的工裝及功耗品,只需吸槍法檢漏所需的設(shè)備及儀器,因此成本低廉。


圖I是現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的示意圖其中,I-氦質(zhì)譜檢漏儀,2-軟管,3-吸槍,4 7-正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔。·
圖2是某量程范圍內(nèi)的正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)曲線(圖中的紅線)。其中,橫坐標(biāo)Q為正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值,縱坐標(biāo)I為檢漏儀的漏率反應(yīng)值。
具體實(shí)施例方式以下介紹的是作為本發(fā)明所述內(nèi)容的具體實(shí)施方式
,下面通過具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明的所述內(nèi)容作進(jìn)一步的闡明。當(dāng)然,描述下列具體實(shí)施方式
只為示例本發(fā)明的不同方面的內(nèi)容,而不應(yīng)理解為限制本發(fā)明范圍。如圖I所示,本發(fā)明的測(cè)試過程是用軟管2將吸槍3裝配在氦質(zhì)譜檢漏儀I上,開啟氦質(zhì)譜檢漏儀1,待氦質(zhì)譜檢漏儀穩(wěn)定后,用吸槍3嗅探正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔4,得到一個(gè)檢漏儀的漏率反應(yīng)值,記錄該正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值以及對(duì)應(yīng)的檢漏儀的漏率反應(yīng)值,以此類推,直至測(cè)試完所有的正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔5-7。本發(fā)明的一種現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,具體實(shí)施步驟如下I)試驗(yàn)準(zhǔn)備a.準(zhǔn)備好若干經(jīng)計(jì)量院計(jì)量過的正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔,且這些正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值應(yīng)在較為接近的量程內(nèi),如-5到-7量級(jí),正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的數(shù)量應(yīng)該在6個(gè)以上,優(yōu)選10個(gè)以上;b.將吸槍裝配在氦質(zhì)譜檢漏儀上;c.啟動(dòng)氦質(zhì)譜檢漏儀。2)試驗(yàn)測(cè)試a.用吸槍檢漏法的測(cè)試工藝分別測(cè)試正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔;b.在測(cè)試的同時(shí),實(shí)時(shí)記錄檢漏儀的漏率反應(yīng)值,為提高測(cè)試的可靠性,可以對(duì)檢漏儀的漏率反應(yīng)值采取多次測(cè)量取平均值的方法。3)數(shù)據(jù)處理及校準(zhǔn)a.處理檢漏儀的漏率反應(yīng)值與正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值的數(shù)據(jù),并做y = kx+b形式的線性擬合,由于測(cè)試數(shù)據(jù)通??缭綆讉€(gè)數(shù)量級(jí),因此建議采用對(duì)數(shù)坐標(biāo)系;b.觀察該線性擬合曲線的擬合質(zhì)量,此曲線即為正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)曲線。c.根據(jù)校準(zhǔn)曲線和檢漏儀對(duì)各個(gè)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率反應(yīng)值,分別計(jì)算出各個(gè)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的真實(shí)漏率值,并用該真實(shí)漏率值作為吸槍檢漏法的“基準(zhǔn)”。如某次對(duì)9個(gè)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn),所測(cè)得的數(shù)據(jù)如表I所示。
表I某次校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的試驗(yàn)數(shù)據(jù)
權(quán)利要求
1.現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,該方法包括以下步驟1)試驗(yàn)準(zhǔn)備a.準(zhǔn)備好若干計(jì)量過的正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔,且這些正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值在_5到-7量級(jí)的量程內(nèi),正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的數(shù)量在6個(gè)以上;b.將吸槍裝配在氦質(zhì)譜檢漏儀上;c.啟動(dòng)氦質(zhì)譜檢漏儀;2)試驗(yàn)測(cè)試a.用吸槍檢漏法的測(cè)試工藝分別測(cè)試正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔;b.在測(cè)試的同時(shí),實(shí)時(shí)記錄檢漏儀的漏率反應(yīng)值,并對(duì)檢漏儀的漏率反應(yīng)值采取多次測(cè)量取平均值的方法;3)數(shù)據(jù)處理及校準(zhǔn)a.處理檢漏儀的漏率反應(yīng)值與正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值的數(shù)據(jù),并做y= kx+b形式的線性擬合,由于測(cè)試數(shù)據(jù)通常跨越幾個(gè)數(shù)量級(jí),因此建議采用對(duì)數(shù)坐標(biāo)系;b.觀察該線性擬合曲線的擬合質(zhì)量,此曲線即為正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)曲線;c.根據(jù)校準(zhǔn)曲線和檢漏儀對(duì)各個(gè)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率反應(yīng)值,分別計(jì)算出各個(gè)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的真實(shí)漏率值,并用該真實(shí)漏率值作為吸槍檢漏法的基準(zhǔn)值。
2.如權(quán)利要求I所述的現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,其中,正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的數(shù)量大于10個(gè)。全文摘要
本發(fā)明公開了一種現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的方法,該方法包括以下步驟1)準(zhǔn)備好若干計(jì)量過的正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔,且這些正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱值在-5到-7量級(jí)的量程內(nèi);2)將吸槍裝配在氦質(zhì)譜檢漏儀上并啟動(dòng)檢漏儀;3)用吸槍檢漏法的測(cè)試工藝分別測(cè)試正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔并實(shí)時(shí)記錄檢漏儀的漏率反應(yīng)值;4)數(shù)據(jù)處理及校準(zhǔn)。
文檔編號(hào)G01M3/26GK102928173SQ20111022529
公開日2013年2月13日 申請(qǐng)日期2011年8月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月8日
發(fā)明者王勇, 閆榮鑫, 孫立臣, 黃錫寧 申請(qǐng)人:北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所
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