專利名稱：Pcb板耐壓測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及PCB生產(chǎn)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種PCB板耐壓測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
目前，整個(gè)PCB行業(yè)正在高速發(fā)展，產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)也越來越多樣化。在生產(chǎn)的產(chǎn)品 中，類型覆蓋比較廣泛，其中電源版的數(shù)量是日趨增多。通常，對(duì)于這一類電源板，需要進(jìn)行 耐壓測(cè)試以確保板材性能的良好和線路之間的間距符合要求。傳統(tǒng)的耐壓測(cè)試，通常是走這樣的流程上工序——外形加工(將整版銑開成為 一個(gè)個(gè)小拼版，這些小拼板使客戶要求的出貨單元)——電測(cè)試——耐壓測(cè)試——下工序。 也就是說，傳統(tǒng)的耐壓測(cè)試是對(duì)一個(gè)個(gè)的小拼板進(jìn)行測(cè)試。通常，一塊大板上包含數(shù)十個(gè)這 樣的小拼板，做完外形加工后再測(cè)耐壓，這樣，效率非常低。很多時(shí)候出現(xiàn)上百塊整板銑開 后變成了數(shù)千個(gè)小拼板，僅是完成耐壓測(cè)試就需要數(shù)天的時(shí)間。參見圖1，現(xiàn)有的PCB耐壓測(cè)試裝置，包括耐壓測(cè)試儀10、第一導(dǎo)線、第二導(dǎo)線、測(cè) 試針座13、輸入測(cè)試針11和輸出測(cè)試針12，輸入測(cè)試針11和輸出測(cè)試針12固定于測(cè)試針 座13上，耐壓測(cè)試儀10的輸出端通過第一導(dǎo)線連接輸入測(cè)試針11，耐壓測(cè)試儀10的接地 端通過第二導(dǎo)線連接輸出測(cè)試針12。因此，PCB板耐壓測(cè)試需要提出一種新型的耐壓測(cè)試裝置，不僅能夠符合生產(chǎn)需 要，而且能夠極大地提高測(cè)試效率。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種PCB板耐壓測(cè)試裝置，能夠準(zhǔn)確地在 整版中找出耐壓測(cè)試不合格的小拼板，而且可以符合生產(chǎn)需要并提高測(cè)試效率。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種PCB板耐壓 測(cè)試裝置，包括耐壓測(cè)試儀、第一導(dǎo)線、第二導(dǎo)線、測(cè)試針座、輸入測(cè)試針和輸出測(cè)試針，輸 入測(cè)試針和輸出測(cè)試針固定于測(cè)試針座上，耐壓測(cè)試儀的輸出端通過第一導(dǎo)線連接輸入測(cè) 試針，耐壓測(cè)試儀的接地端通過第二導(dǎo)線連接輸出測(cè)試針，還包括行測(cè)試開關(guān)和列測(cè)試開 關(guān)，所述行測(cè)試開關(guān)電連接于輸入測(cè)試針和耐壓測(cè)試儀的輸出端之間，所述列測(cè)試開關(guān)電 連接于輸出測(cè)試針和耐壓測(cè)試儀的接地端之間。本實(shí)用新型的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的在外形工序?qū)⒄宸殖啥鄠€(gè)小拼版 之后對(duì)小拼版進(jìn)行耐壓測(cè)試，由于小拼板的數(shù)量多，對(duì)每個(gè)小拼板進(jìn)行測(cè)試效率低，本實(shí)用 新型提供一種能夠在外形工序之前對(duì)整板進(jìn)行耐壓測(cè)試的測(cè)試裝置，不僅能夠準(zhǔn)確地在整 版中找出耐壓測(cè)試不合格的小拼板，而且可以符合生產(chǎn)需要并提高測(cè)試效率。

圖1是背景技術(shù)中PCB耐壓測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)方框圖；圖2是本實(shí)用新型PCB耐壓測(cè)試裝置第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)方框圖；[0011]圖3是本實(shí)用新型PCB耐壓測(cè)試裝置第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)方框圖；圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例的測(cè)試夾具示意圖；圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例的開關(guān)連接示意圖；圖6是本實(shí)用新型實(shí)施例的控制面板示意圖。其中，10 耐壓測(cè)試儀，11 輸入測(cè)試針，12 輸出測(cè)試針，13 測(cè)試針座，14 =PCB小 拼板，15 行測(cè)試開關(guān)，16 列測(cè)試開關(guān)，17 控制面板，18 =PCB整版。
具體實(shí)施方式
為詳細(xì)說明本實(shí)用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施 方式并配合附圖詳予說明。請(qǐng)參閱圖2，本實(shí)用新型PCB板耐壓測(cè)試裝置第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，圖中示出 該裝置包括耐壓測(cè)試儀10、第一導(dǎo)線、第二導(dǎo)線、測(cè)試針座13、輸入測(cè)試針11和輸出測(cè)試針 12，輸入測(cè)試針11和輸出測(cè)試針12固定于測(cè)試針座13上，耐壓測(cè)試儀10的輸出端通過第 一導(dǎo)線連接輸入測(cè)試針11，耐壓測(cè)試儀10的接地端通過第二導(dǎo)線連接輸出測(cè)試針12，還包 括行測(cè)試開關(guān)15和列測(cè)試開關(guān)16，行測(cè)試開關(guān)15電連接于輸入測(cè)試針11和耐壓測(cè)試儀 10的輸出端之間，列測(cè)試開關(guān)16電連接于輸出測(cè)試針12和耐壓測(cè)試儀10的接地端之間。輸入測(cè)試針11為并聯(lián)設(shè)置的兩根導(dǎo)電針，輸出測(cè)試針12為并聯(lián)設(shè)置的兩根導(dǎo)電 針。進(jìn)一步地，輸入測(cè)試針11和輸出測(cè)試針12為金屬材質(zhì)的導(dǎo)電針。更進(jìn)一步地，輸入測(cè) 試針11和輸出測(cè)試針12為銅針或不銹鋼針。請(qǐng)參閱圖3，在本實(shí)用新型的第二實(shí)施例中，PCB板耐壓測(cè)試裝置除了包含第一實(shí) 施例的所有技術(shù)特征外，還包括控制面板17，行測(cè)試開關(guān)15和列測(cè)試開關(guān)16均固定于控制 面板上。在實(shí)際的測(cè)試環(huán)境下，首先制作整板耐壓測(cè)試的夾具，并且組裝成型，如圖4所 示。輸入測(cè)試針11和輸出測(cè)試針12固定在測(cè)試針座13上，多塊PCB小拼版14在外形加 工前組合成PCB整版18。每?jī)蓚€(gè)輸入測(cè)試針和兩個(gè)輸出測(cè)試針對(duì)一塊小拼板進(jìn)行耐壓測(cè)
試ο然后，將對(duì)應(yīng)于耐壓測(cè)試儀輸出端和耐壓測(cè)試儀接地端的測(cè)試針分別連接起來， 對(duì)于每一個(gè)小拼板，我們可以規(guī)定與耐壓測(cè)試儀輸出端連接的測(cè)試針屬于正極，與耐壓測(cè) 試儀接地端連接的測(cè)試針屬于負(fù)極。然后，將屬于同一行的正極分別連在一起，屬于同一列 的負(fù)極分別連在一起，如圖5所示。耐壓測(cè)試儀輸出端并聯(lián)電連接行測(cè)試開關(guān)ΚΙ、K2、K3， 耐壓測(cè)試儀接地端并聯(lián)電連接列測(cè)試開關(guān)K4、K5、K6、K7，用行測(cè)試開關(guān)和列測(cè)試開關(guān)組成 測(cè)試開關(guān)矩陣，根據(jù)行開關(guān)和列開關(guān)的通斷來測(cè)試每一個(gè)PCB小拼版的耐壓情況。然后，在耐壓測(cè)試工裝的外部制作一個(gè)簡(jiǎn)易的控制面板，如圖6所示，分別控制對(duì) 應(yīng)的行線和對(duì)應(yīng)的列線的開啟和關(guān)閉。在正常測(cè)試的時(shí)候，控制面板上所有的行開關(guān)和列開關(guān)都閉合，這樣，可以對(duì)整板 進(jìn)行測(cè)試，如果出現(xiàn)小拼板耐壓測(cè)試不良，就通過控制面板上的行開關(guān)和列開關(guān)進(jìn)行判定。下面，針對(duì)具體的判定方法舉例如下假設(shè)對(duì)一塊含有12個(gè)小拼板(3行4列)的PCB進(jìn)行整板耐壓測(cè)試，且假設(shè)第1 行第3列和第3行第2列的兩個(gè)小拼板存在耐壓測(cè)試不良，我們需要通過撥動(dòng)控制面板上的開關(guān)來確定不良品的位置。我們的做法是首先判斷缺陷板所在的行。依次斷開行開關(guān)(從第1行至第3 行)，每斷開一個(gè)開關(guān)就重新啟動(dòng)一次耐壓測(cè)試儀，當(dāng)斷開到第3行的開關(guān)后再測(cè)試，耐壓 測(cè)試儀不報(bào)警。這說明，第3行中一定有缺陷板。下面，需要確認(rèn)前面的行(這里是1行和 2行)是否有缺陷板，此時(shí)，將1行和2行的開關(guān)閉合，再次測(cè)試，儀器依然報(bào)警，說明在第1 行和第2行之中還有缺陷板。此時(shí)，依次斷開第3行之前的行開關(guān)(這里先斷開第2行，再 斷開第1行)，當(dāng)斷開到第1行的開關(guān)后再測(cè)試，缺陷消失，說明第1行也有缺陷板，此時(shí)，需 要判定第1行和第3行之間是否有缺陷板。將第2行開關(guān)閉合后測(cè)試，耐壓測(cè)試儀不報(bào)警， 說明第2行中沒有缺陷板，缺陷板鎖定在第3行和第1行。接下來，判斷缺陷板對(duì)應(yīng)的列。在這個(gè)例子中，已經(jīng)鎖定缺陷板所在的行為第1行 和第3行，下面，判定缺陷對(duì)應(yīng)的列。首先閉合第1行的開關(guān)(其它行開關(guān)斷開，列開關(guān)全部 閉合)，用上述同樣的方法判定缺陷板對(duì)應(yīng)第1行所在的列。然后，閉合第3行的開關(guān)(其 它行開關(guān)斷開，列開關(guān)全部閉合)，用上述同樣的方法判定缺陷板對(duì)應(yīng)第3行所在的列。這樣，很快就能準(zhǔn)確判斷缺陷板位于第1行第3列和第3行第2列。本說明中，只是簡(jiǎn)述了含有12個(gè)小拼板(3行4列)的整板耐壓測(cè)試原理，需要用 到7個(gè)開關(guān)。如果是對(duì)含有49個(gè)小拼板(7行7列)的整板進(jìn)行耐壓測(cè)試，則需要14個(gè)開 關(guān)，在實(shí)際生產(chǎn)中，出現(xiàn)耐壓測(cè)試不良的幾率十分低，通常遠(yuǎn)低于1%。所以這種方法，雖然 需要人工判斷，依然是極大提高了耐壓測(cè)試效率。本說明只介紹了含有12個(gè)小拼板的整板耐壓測(cè)試，如果含有的小拼板數(shù)越多，測(cè)
試效率越高。以上所述僅為本實(shí)用新型的實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是 利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在 其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種PCB板耐壓測(cè)試裝置，包括耐壓測(cè)試儀、第一導(dǎo)線、第二導(dǎo)線、測(cè)試針座、輸入測(cè) 試針和輸出測(cè)試針，輸入測(cè)試針和輸出測(cè)試針固定于測(cè)試針座上，耐壓測(cè)試儀的輸出端通 過第一導(dǎo)線連接輸入測(cè)試針，耐壓測(cè)試儀的接地端通過第二導(dǎo)線連接輸出測(cè)試針，其特征 在于還包括行測(cè)試開關(guān)和列測(cè)試開關(guān)，所述行測(cè)試開關(guān)電連接于輸入測(cè)試針和耐壓測(cè)試 儀的輸出端之間，所述列測(cè)試開關(guān)電連接于輸出測(cè)試針和耐壓測(cè)試儀的接地端之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB板耐壓測(cè)試裝置，其特征在于所述輸入測(cè)試針為并聯(lián) 設(shè)置的兩根導(dǎo)電針，所述輸出測(cè)試針為并聯(lián)設(shè)置的兩根導(dǎo)電針。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PCB板耐壓測(cè)試裝置，其特征在于所述輸入測(cè)試針和輸出 測(cè)試針為金屬材質(zhì)的導(dǎo)電針。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的PCB板耐壓測(cè)試裝置，其特征在于所述輸入測(cè)試針和輸出 測(cè)試針為銅針或不銹鋼針。
5.根據(jù)權(quán)利要求1 4任一項(xiàng)所述的PCB板耐壓測(cè)試裝置，其特征在于還包括控制 面板，所述行測(cè)試開關(guān)和列測(cè)試開關(guān)均固定于控制面板上。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種PCB板耐壓測(cè)試裝置，包括耐壓測(cè)試儀、第一導(dǎo)線、第二導(dǎo)線、測(cè)試針座、輸入測(cè)試針和輸出測(cè)試針，輸入測(cè)試針和輸出測(cè)試針固定于測(cè)試針座上，耐壓測(cè)試儀的輸出端通過第一導(dǎo)線連接輸入測(cè)試針，耐壓測(cè)試儀的接地端通過第二導(dǎo)線連接輸出測(cè)試針，還包括行測(cè)試開關(guān)和列測(cè)試開關(guān)，所述行測(cè)試開關(guān)電連接于輸入測(cè)試針和耐壓測(cè)試儀的輸出端之間，所述列測(cè)試開關(guān)電連接于輸出測(cè)試針和耐壓測(cè)試儀的接地端之間。有益效果是不僅能夠準(zhǔn)確地在整版中找出耐壓測(cè)試不合格的小拼板，而且可以符合生產(chǎn)需要并提高測(cè)試效率。
文檔編號(hào)G01R31/18GK201788254SQ20102027256
公開日2011年4月6日 申請(qǐng)日期2010年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月27日
發(fā)明者徐軍, 朱海軍, 黃卓 申請(qǐng)人:深南電路有限公司