專(zhuān)利名稱：開(kāi)路檢測(cè)方法與具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種開(kāi)路檢測(cè)方法與具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)，并且特別涉及一種在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，以低能量電壓對(duì)待測(cè)物兩端進(jìn)行開(kāi)路檢查的開(kāi)路檢測(cè)方法與具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)。
背景技術(shù)：
在一般電氣零件或成品或者零件的品質(zhì)檢驗(yàn)必須使用耐壓機(jī)進(jìn)行高壓量測(cè)以確認(rèn)該待測(cè)物是否符合安全規(guī)格的耐電壓條件。然而，在實(shí)際進(jìn)行高壓測(cè)試時(shí)，如果與測(cè)試點(diǎn)與待測(cè)物接觸不佳時(shí)會(huì)發(fā)生弧光，進(jìn)而長(zhǎng)期影響接觸點(diǎn)的壽命，又因?yàn)椴涣嫉慕佑|可能高電壓并沒(méi)有確實(shí)傳送到待測(cè)物，更有機(jī)會(huì)發(fā)生耐電壓不良品誤判定為良品的情況。因此，對(duì)高壓產(chǎn)生設(shè)備而言，上述弧光的產(chǎn)生會(huì)對(duì)設(shè)備本身或其他附屬的測(cè)試設(shè)備造成干擾，相對(duì)影響設(shè)備的可靠度以及穩(wěn)定性，進(jìn)而影響的測(cè)試結(jié)果的可靠性。傳統(tǒng)的高壓測(cè)量設(shè)備多已具備開(kāi)路檢測(cè)技術(shù)。舉例來(lái)說(shuō)，以直流方式進(jìn)行高壓量測(cè)時(shí)，多是利用待測(cè)物瞬間充電電流特性，對(duì)低容量待測(cè)物無(wú)法確認(rèn)高壓是否連接正常，也就是說(shuō)，當(dāng)待測(cè)物僅具有微小電容量時(shí)，傳統(tǒng)的高壓測(cè)量設(shè)備無(wú)法有效檢測(cè)待測(cè)物是否連接。此外，以交流方式進(jìn)行待測(cè)試是否連接也有低容量無(wú)法檢測(cè)的問(wèn)題。因此，針對(duì)上述問(wèn)題需要一種新的開(kāi)路檢測(cè)方法，在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，以低能量電壓對(duì)待測(cè)物兩端進(jìn)行開(kāi)路檢查，確認(rèn)正常以后再執(zhí)行高壓測(cè)試，確保高壓測(cè)試的有效性， 進(jìn)而達(dá)到提高測(cè)試可靠度的要求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，以低能量電壓對(duì)待測(cè)物兩端進(jìn)行開(kāi)路檢查的具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)，以減少進(jìn)行待測(cè)物的高壓測(cè)試時(shí)的弧光發(fā)生，提高測(cè)試設(shè)備的使用壽命以及可靠度。本發(fā)明提出一種具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)，電性連接具有一測(cè)試程序的一測(cè)試設(shè)備，測(cè)試載臺(tái)用以卡持至少一待測(cè)物，且測(cè)試載臺(tái)包含一第一電路、一第二電路以及一控制單元。第一電路具有一第一測(cè)試端與一第二測(cè)試端，當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試端與第二測(cè)試端同時(shí)電性連接于待測(cè)物時(shí)，第一電路與待測(cè)物形成一第一電流回路并產(chǎn)生一第一控制信號(hào)。第二電路具有一第三測(cè)試端與一第四測(cè)試端，當(dāng)?shù)谌郎y(cè)試端與第四測(cè)試端同時(shí)電性連接于待測(cè)物時(shí)，第二電路與待測(cè)物形成一第二電流回路并產(chǎn)生一第二控制信號(hào)。控制單元電性連接第一電路、第二電路與測(cè)試設(shè)備，用以接收第一控制信號(hào)與第二控制信號(hào)并據(jù)以控制測(cè)試設(shè)備執(zhí)行測(cè)試程序。于一示范實(shí)施例中，本發(fā)明的第一測(cè)試端電性連接測(cè)試設(shè)備的一高壓端并與高壓端等電位，第三測(cè)試端電性連接測(cè)試設(shè)備的一低壓端并與低壓端等電位。此外，第一電路具有一第一電源與一第一耦合單元，當(dāng)?shù)谝浑娏骰芈沸纬珊?，第一電源?qū)動(dòng)第一耦合單元以產(chǎn)生第一控制信號(hào)。
此外，本發(fā)明還揭露一種開(kāi)路檢測(cè)方法，可在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，以低能量電壓對(duì)待測(cè)物兩端進(jìn)行開(kāi)路檢查。由此，本發(fā)明可減少進(jìn)行待測(cè)物的高壓測(cè)試時(shí)的弧光發(fā)生，提高測(cè)試設(shè)備的使用壽命以及可靠度本發(fā)明提出一種開(kāi)路檢測(cè)方法，包含下列步驟首先，將一待測(cè)物卡持于一測(cè)試載臺(tái)，測(cè)試載臺(tái)具有一第一電路以及一第二電路。接著，判斷第一電路是否與待測(cè)物形成一第一電流回路，以及判斷第二電路是否與待測(cè)物形成一第二電流回路。接著，當(dāng)?shù)谝浑娏骰芈放c第二電流回路皆導(dǎo)通時(shí)，執(zhí)行一測(cè)試程序。因此，本發(fā)明的開(kāi)路檢測(cè)方法與具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)可在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，以低能量電壓對(duì)待測(cè)物兩端進(jìn)行開(kāi)路檢查，確認(rèn)正常以后再執(zhí)行高壓測(cè)試，確保高壓測(cè)試的有效性，進(jìn)而減少弧光發(fā)生，提高測(cè)試設(shè)備本身以及其他設(shè)備的可靠度。此外，本發(fā)明的測(cè)試載臺(tái)的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，不需復(fù)雜的電路即可使用簡(jiǎn)單的接觸測(cè)試電路確保執(zhí)行高壓測(cè)試的有效性，以減少誤判造成的測(cè)試失誤。關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以由以下的發(fā)明詳述及所附圖式得到進(jìn)一步的了解。


圖IA繪示根據(jù)本發(fā)明的一示范實(shí)施例的具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)的功能方塊圖。圖IB繪示根據(jù)圖IA的測(cè)試載臺(tái)的功能方塊圖。圖2繪示根據(jù)本發(fā)明的一示范實(shí)施例的開(kāi)路檢測(cè)方法的流程圖。 圖3A繪示根據(jù)本發(fā)明的一示范實(shí)施例的具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)的電路示意圖。圖;3B繪示根據(jù)本發(fā)明的另一示范實(shí)施例的具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)的電路示意圖。其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下1 測(cè)試載臺(tái)2:測(cè)試設(shè)備3 待測(cè)物10:第一電路12:第二電路14 控制單元102a、102b、122a、122b 測(cè)試端104:第一電源106 第一限流電路108 第一耦合單元124:第二電源126 第二限流電路128 第二耦合單元22a:高壓端22b 低壓端
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S40 S52 流程步驟
具體實(shí)施例方式請(qǐng)一并參閱圖IA以及圖1B，圖IA繪示根據(jù)本發(fā)明的一示范實(shí)施例的具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)的功能方塊圖。圖IB繪示根據(jù)圖IA的測(cè)試載臺(tái)的功能方塊圖。如圖所示，本發(fā)明的測(cè)試載臺(tái)1適于搭配測(cè)試設(shè)備2以卡持待測(cè)物3。其中，測(cè)試載臺(tái)1進(jìn)一步包含第一電路10、第二電路12以及控制單元14。以下分別描述本發(fā)明的元件。第一電路10具有測(cè)試端10 與測(cè)試端102b，當(dāng)測(cè)試端10 與測(cè)試端102b同時(shí)電性連接于待測(cè)物3時(shí)，第一電路10與待測(cè)物3形成第一電流回路并產(chǎn)生第一控制信號(hào)。 于實(shí)務(wù)中，第一電路10具有第一電源與第一耦合單元，第一電源可用以驅(qū)動(dòng)第一耦合單元以輸出第一控制信號(hào)。在此，第一耦合單元用以將測(cè)試設(shè)備2的高壓端22a的測(cè)試結(jié)果傳遞到低壓側(cè)的零件，第一耦合單元可以是光耦合器或其它形式具隔離作用的零件。換句話說(shuō)，第一電路10透過(guò)測(cè)試端10 與測(cè)試端102b進(jìn)行待測(cè)物3的接觸測(cè)試， 第一電流回路形成表示第一電路10與待測(cè)物3已確實(shí)接觸，而第一電流回路導(dǎo)通后，由第一電源驅(qū)動(dòng)第一耦合單元以產(chǎn)生第一控制信號(hào)做為接觸測(cè)試的測(cè)試結(jié)果。此外，第一電路10還可包含一第一限流電路，其功能在于限制第一電流回路中的電流，舉例來(lái)說(shuō)，第一限流電路可以是電阻或任意型式的限流電路。更詳細(xì)來(lái)說(shuō)，測(cè)試端 102a電性連接測(cè)試設(shè)備2的高壓端2 并與高壓端2 等電位端等電位，且測(cè)試端10 可耦接于第一電源。其中，第一電源提供第一電流回路中所需的電源，如果測(cè)試端10 具有高電壓，此第一電源必須具備高隔離功能。第二電路12具有測(cè)試端12 與測(cè)試端122b，當(dāng)測(cè)試端12 與測(cè)試端122b同時(shí)電性連接于待測(cè)物3時(shí)，第二電路12與待測(cè)物3形成第二電流回路并產(chǎn)生第二控制信號(hào)。 于實(shí)務(wù)中，第二電路12具有第二電源與第二耦合單元，第二電源可用以驅(qū)動(dòng)第二耦合單元以輸出第二控制信號(hào)。在此，第二耦合單元用以將測(cè)試設(shè)備2的低壓端22b的測(cè)試結(jié)果傳遞到低壓側(cè)的零件，它可以是光耦合器或其它形式具隔離作用的零件，當(dāng)然，實(shí)際上也可以不需要隔離。換句話說(shuō)，第二電路12透過(guò)測(cè)試端12 與測(cè)試端122b進(jìn)行待測(cè)物3的接觸測(cè)試， 第二電流回路形成表示第二電路12與待測(cè)物3已確實(shí)接觸，而第二電流回路導(dǎo)通后，由第二電源驅(qū)動(dòng)第二耦合單元以產(chǎn)生第二控制信號(hào)做為接觸測(cè)試的測(cè)試結(jié)果。此外，第二電路12還可包含一第二限流電路，其功能在于限制第二電流回路中的電流，舉例來(lái)說(shuō)，第二限流電路可以是電阻或任意型式的限流電路。更詳細(xì)來(lái)說(shuō)，測(cè)試端 122a電性連接測(cè)試設(shè)備2的低壓端22b并與低壓端22b等電位端等電位，且測(cè)試端12 可耦接于第二電源?？刂茊卧?4電性連接第一電路10、第二電路12與測(cè)試設(shè)備2，接收第一控制信號(hào)與第二控制信號(hào)并據(jù)以控制測(cè)試設(shè)備2執(zhí)行測(cè)試程序。于實(shí)務(wù)中，控制單元14可包含一乘法器或其他適于信號(hào)合并的電路，用以將第一電路10與第二電路12的測(cè)試結(jié)果合并，當(dāng)測(cè)試載臺(tái)1確實(shí)卡持待測(cè)物3時(shí)，進(jìn)而控制測(cè)試設(shè)備2執(zhí)行測(cè)試程序。值得一提的是，測(cè)試設(shè)備2可具有一測(cè)試程序。于實(shí)務(wù)上，測(cè)試設(shè)備2可對(duì)應(yīng)不同的測(cè)試程序產(chǎn)生測(cè)試所需的測(cè)試信號(hào)。舉例來(lái)說(shuō)，測(cè)試設(shè)備2可隨待測(cè)物3不同而產(chǎn)生高壓信號(hào)或其他信號(hào)，也就是說(shuō)，測(cè)試設(shè)備2可以是高壓測(cè)試設(shè)備或其它零件測(cè)試設(shè)備。此外， 待測(cè)物3可為一光耦合器或者一電容器。以下搭配本發(fā)明的開(kāi)路檢測(cè)方法加以說(shuō)明。請(qǐng)參閱圖IB與圖2，圖2繪示根據(jù)本發(fā)明的一示范實(shí)施例的開(kāi)路檢測(cè)方法的流程圖。如圖所示，于步驟S40中，待測(cè)物3可由機(jī)械或人工方式卡持于測(cè)試載臺(tái)1中。接著， 于步驟S42中，若測(cè)試載臺(tái)1與待測(cè)物3電性連接，則第一電路10與第二電路12將分別形成第一電流回路與第二電流回路，進(jìn)而分別送出第一控制信號(hào)與第二控制信號(hào)至控制單元 14以指示待測(cè)物3已妥善連接于測(cè)試載臺(tái)1。另一方面，若測(cè)試載臺(tái)1與待測(cè)物3未確實(shí)電性連接，則第一電流回路與第二電流回路至少其中一個(gè)無(wú)法導(dǎo)通，進(jìn)而第一控制信號(hào)與第二控制信號(hào)至少其中一個(gè)無(wú)法傳遞至控制單元14，控制單元14可從而判斷待測(cè)物3未妥善連接于測(cè)試載臺(tái)1。上述步驟S42中，當(dāng)控制單元14判斷待測(cè)物3已妥善連接于測(cè)試載臺(tái)1時(shí)，可進(jìn)一步由步驟S44中所示，控制單元14可控制測(cè)試設(shè)備2執(zhí)行測(cè)試程序。此外，當(dāng)控制單元 14判斷待測(cè)物3未妥善連接于測(cè)試載臺(tái)1時(shí)，可進(jìn)一步由步驟S46中所示，控制單元14可再指示相關(guān)機(jī)械或人員將待測(cè)物3由機(jī)械或人工方式從測(cè)試載臺(tái)1中移除。緊接著由步驟 S48中，控制單元14可指示所述相關(guān)機(jī)械或人員將待測(cè)物3再次由機(jī)械或人工方式重新卡持于測(cè)試載臺(tái)1中。于實(shí)務(wù)中，若干不理想的因素可由重新連接的過(guò)程中排除，本發(fā)明在此并不限定重新連接待測(cè)物3于測(cè)試載臺(tái)1中的次數(shù)，本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以自行設(shè)定。當(dāng)重新連接待測(cè)物3于測(cè)試載臺(tái)1的步驟完成后，可繼續(xù)步驟S50，其中步驟S50 與步驟S42相同，在此不予贅述。若重新連接之后控制單元14判斷待測(cè)物3已妥善連接于測(cè)試載臺(tái)1，則表示造成接觸不良的不理想因素已被排除，可進(jìn)一步執(zhí)行步驟S44，由控制單元14控制測(cè)試設(shè)備2執(zhí)行測(cè)試程序。另一方面，若重新連接之后，待測(cè)物3仍未妥善連接于測(cè)試載臺(tái)1，則可由步驟S52中，控制單元14將待測(cè)物3歸類(lèi)為不良品，并可進(jìn)行下一個(gè)待測(cè)物3的接觸測(cè)試。于實(shí)際應(yīng)用上，請(qǐng)參閱圖3A以及圖;3B，圖3A繪示根據(jù)本發(fā)明的一示范實(shí)施例的具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)的電路示意圖。圖3B繪示根據(jù)本發(fā)明的另一示范實(shí)施例的具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)的電路示意圖。其中，圖3A與圖;3B不同的地方在于，待測(cè)物3 于圖3A中可為一光耦合器，待測(cè)物3于圖;3B中可為一電容器。如圖所示，第一電路10具有第一電源104、第一限流電路106與第一耦合單元108。第一電源104提供第一電流回路中的電源，并驅(qū)動(dòng)第一耦合單元108以輸出第一控制信號(hào)。第一限流電路106可用以限制第一電流回路中的電流。同樣的，第二電路12具有第二電源124、第二限流電路1 與第二耦合單元128。第二電源IM提供第二電流回路中的電源，并驅(qū)動(dòng)第二耦合單元128以輸出第二控制信號(hào)。第二限流電路126可用以限制第二電流回路中的電流。在此，第一電路10的測(cè)試端10 與測(cè)試端102b同時(shí)電性連接于待測(cè)物3時(shí)，于第一電路10內(nèi)部可形成第一電流回路。于此第一電流回路中，第一電源104可用以驅(qū)動(dòng)第一耦合單元108以輸出第一控制信號(hào)至控制單元14。同樣的，第二電路12的測(cè)試端12 與測(cè)試端122b同時(shí)電性連接于待測(cè)物3時(shí)，于第二電路12內(nèi)部可形成第二電流回路。于此第二電流回路中，第二電源1 可用以驅(qū)動(dòng)第二耦合單元128以輸出第二控制信號(hào)至控制單元14。當(dāng)控制單元14接收第一控制信號(hào)與第二控制信號(hào)之后，可進(jìn)一步控制測(cè)試設(shè)備2執(zhí)行測(cè)試程序。綜上所述，本發(fā)明的開(kāi)路檢測(cè)方法與具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)可提供完整高壓測(cè)試的解決方案，保證高低壓測(cè)試端連接正常后開(kāi)始高壓測(cè)試，提高產(chǎn)品測(cè)試可靠度。也就是說(shuō)，本發(fā)明可在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，以低能量電壓對(duì)待測(cè)物兩端進(jìn)行開(kāi)路檢查，確認(rèn)正常以后再執(zhí)行高壓測(cè)試，確保高壓測(cè)試的有效性，進(jìn)而減少弧光發(fā)生，提高測(cè)試設(shè)備本身以及其他設(shè)備的可靠度。此外，本發(fā)明的測(cè)試載臺(tái)的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，不需復(fù)雜的電路即可使用簡(jiǎn)單的接觸測(cè)試電路確保執(zhí)行高壓測(cè)試的有效性，以減少誤判造成的測(cè)試失誤經(jīng)由以上優(yōu)選具體實(shí)施例的詳述，希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所揭露的較佳具體實(shí)施例來(lái)對(duì)本發(fā)明的范疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排于本發(fā)明所欲申請(qǐng)的專(zhuān)利范圍的范疇內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)，電性連接具有一測(cè)試程序的一測(cè)試設(shè)備，該測(cè)試載臺(tái)用以卡持至少一待測(cè)物，且該測(cè)試載臺(tái)包含一第一電路，具有一第一測(cè)試端與一第二測(cè)試端，當(dāng)該第一測(cè)試端與該第二測(cè)試端同時(shí)電性連接于該待測(cè)物時(shí)，該第一電路與該待測(cè)物形成一第一電流回路并產(chǎn)生一第一控制信號(hào)；一第二電路，具有一第三測(cè)試端與一第四測(cè)試端，當(dāng)該第三測(cè)試端與該第四測(cè)試端同時(shí)電性連接于該待測(cè)物時(shí)，該第二電路與該待測(cè)物形成一第二電流回路并產(chǎn)生一第二控制信號(hào)；以及一控制單元，電性連接該第一電路、該第二電路與該測(cè)試設(shè)備，用以接收該第一控制信號(hào)與該第二控制信號(hào)并據(jù)以控制該測(cè)試設(shè)備執(zhí)行該測(cè)試程序。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該第一測(cè)試端電性連接該測(cè)試設(shè)備的一高壓端并與該高壓端等電位，該第三測(cè)試端電性連接該測(cè)試設(shè)備的一低壓端并與該低壓端等電位。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該第一電路具有一第一電源與一第一耦合單元，當(dāng)該第一電流回路形成后，該第一電源驅(qū)動(dòng)該第一耦合單元以產(chǎn)生該第一控制信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該待測(cè)物為一光耦合器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該待測(cè)物為一電容器。
6.一種開(kāi)路檢測(cè)方法，該方法包含下列步驟將一待測(cè)物卡持于一測(cè)試載臺(tái)，該測(cè)試載臺(tái)具有一第一電路以及一第二電路；判斷該第一電路是否與該待測(cè)物形成一第一電流回路；判斷該第二電路是否與該待測(cè)物形成一第二電流回路；以及當(dāng)該第一電流回路與該第二電流回路皆導(dǎo)通時(shí)，執(zhí)行一測(cè)試程序。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開(kāi)路檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)該第一電流回路與該第二電流回路未皆導(dǎo)通時(shí)，還包含下列步驟將該待測(cè)物自該測(cè)試載臺(tái)上移除；以及重新將該待測(cè)物卡持于該測(cè)試載臺(tái)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開(kāi)路檢測(cè)方法，其特征在于，該待測(cè)物為一光耦合器。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開(kāi)路檢測(cè)方法，其特征在于，該待測(cè)物為一電容器。
全文摘要
本發(fā)明揭露一種開(kāi)路檢測(cè)方法及具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)，該測(cè)試載臺(tái)電性連接具有一測(cè)試程序的一測(cè)試設(shè)備，測(cè)試載臺(tái)用以卡持至少一待測(cè)物，且測(cè)試載臺(tái)包含一第一電路、一第二電路以及一控制單元。當(dāng)?shù)谝浑娐返牡谝粶y(cè)試端與第二測(cè)試端同時(shí)電性連接于待測(cè)物時(shí)，第一電路與待測(cè)物形成一第一電流回路并產(chǎn)生一第一控制信號(hào)。當(dāng)?shù)诙娐返牡谌郎y(cè)試端與第四測(cè)試端同時(shí)電性連接于待測(cè)物時(shí)，第二電路與待測(cè)物形成一第二電流回路并產(chǎn)生一第二控制信號(hào)。控制單元接收第一控制信號(hào)與第二控制信號(hào)并據(jù)以控制測(cè)試設(shè)備執(zhí)行測(cè)試程序。本發(fā)明的測(cè)試載臺(tái)可減少進(jìn)行待測(cè)物的高壓測(cè)試時(shí)的弧光發(fā)生，提高測(cè)試設(shè)備的使用壽命以及可靠度。
文檔編號(hào)G01R31/12GK102478619SQ20101057047
公開(kāi)日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2010年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月30日
發(fā)明者王耀南, 范富強(qiáng), 趙箐云, 陳鶴升 申請(qǐng)人:致茂電子股份有限公司