專利名稱：一種x熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種X熒光光譜鍍層分析儀，具體涉及一種x熒光光譜鍍層分析
儀的裝配結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對產(chǎn)生的X射線熒光進(jìn)行解析，用以 分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點(diǎn)， 已經(jīng)在很多行業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。 現(xiàn)有技術(shù)中，其分析樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉 鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定 性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。 X熒光光譜鍍層分析儀器是X熒光光譜分析儀中的一種，主要用于對尺寸范圍較 大的部件上進(jìn)行鍍層厚度分析和含量的逐點(diǎn)測試，其主要原理是光源系統(tǒng)發(fā)射出X熒光，X 熒光作用在樣品上后，樣品中的各個(gè)X會被激發(fā)出特征X熒光，這些X熒光被探測器系統(tǒng)所 接收，分析轉(zhuǎn)化為電信號，電信號經(jīng)過系統(tǒng)模塊的處理，進(jìn)而得到用戶所需要的分析信息。 針對上述原理，本發(fā)明人于2006年申請了名稱為一種自動定位X熒光能量色散光 譜儀的專利，專利的申請?zhí)枮?00620014536. X。其主要部件，包括光源放射系統(tǒng)、探測器系 統(tǒng)以及信號處理系統(tǒng)均固定于一金屬框架上，這個(gè)框架由很粗的鋼條組成，不僅重量重，而 且組裝和拆卸其主要部件十分繁瑣，影響了機(jī)器的裝配效率和售后服務(wù)的方便性。 因此對現(xiàn)有的X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn)已成為本技術(shù)領(lǐng)域中 亟待解決的技術(shù)問題。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于克服上述技術(shù)的不足，提供一種X熒光光譜鍍層分析儀的 裝配結(jié)構(gòu)，其解決了原有X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)存在的技術(shù)缺陷和設(shè)計(jì)弊端。
本實(shí)用新型為滿足上述目的，采用以下技術(shù)方案一種X熒光光譜鍍層分析儀的 裝配結(jié)構(gòu)，包括機(jī)座、固定座，所述機(jī)座上設(shè)有卡鉤，所述固定座上設(shè)有套孔，所述固定座通 過所述套孔套設(shè)于所述卡鉤以實(shí)現(xiàn)所述機(jī)座與所述固定座的固定。 更進(jìn)一步，所述固定座上設(shè)有兩隔板。 更進(jìn)一步，所述隔板上設(shè)有固定孔。 基于上述設(shè)計(jì)，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于整個(gè)裝配結(jié)構(gòu)簡單；方便儀器的組裝與 拆卸；提高了售后服務(wù)維護(hù)的效率；減輕了儀器的整機(jī)質(zhì)量。 本實(shí)用新型的其他目的和優(yōu)點(diǎn)可以從本實(shí)用新型所揭露的技術(shù)特征中得到進(jìn)一 步的了解。為讓本實(shí)用新型之上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例 并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。
圖1是本實(shí)用新型之一實(shí)施例的一種X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)爆炸示意 圖； 圖l中的標(biāo)號說明機(jī)座1、固定座2、卡鉤3、套孔4、隔板5、電源系統(tǒng)6、光源系統(tǒng) 7、高壓系統(tǒng)8、固定孔9。
具體實(shí)施方案 請參考圖1所示，本實(shí)用新型的一種X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)，包括機(jī)座 1、固定座2，機(jī)座1上設(shè)有卡鉤3，固定座2上設(shè)有套孔4，固定座2通過套孔4套設(shè)于卡鉤 3以實(shí)現(xiàn)機(jī)座1與固定座2的固定，固定座2上設(shè)有兩隔板5將固定座分隔成三個(gè)隔室，電 源系統(tǒng)6、光源系統(tǒng)7以及高壓系統(tǒng)8被分別設(shè)在這三個(gè)隔室內(nèi)，隔板5上設(shè)有固定孔9，電 源系統(tǒng)6、光源系統(tǒng)7以及高壓系統(tǒng)8中的元件上都設(shè)有螺紋孔，通過螺絲或螺釘將這些原 件固定在固定座2上。 本實(shí)用新型的X熒光光譜鍍層分析儀的固定座為薄板，質(zhì)量很輕，使整個(gè)儀器的 整機(jī)質(zhì)量相比原先減少了 1/3，而且儀器的主要元件拆卸十分方便。
權(quán)利要求一種X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)，包括機(jī)座、固定座，其特征在于所述機(jī)座上設(shè)有卡鉤，所述固定座上設(shè)有套孔，所述固定座通過所述套孔套設(shè)于所述卡鉤以實(shí)現(xiàn)所述機(jī)座與所述固定座的固定。
2. 如權(quán)利要求1所述的X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)，其特征在于所述固定座 上設(shè)有兩隔板。
3. 如權(quán)利要求2所述的X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)，其特征在于所述隔板上 設(shè)有固定孔。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種X熒光光譜鍍層分析儀的裝配結(jié)構(gòu)，包括機(jī)座、固定座，機(jī)座上設(shè)有卡鉤，固定座上設(shè)有套孔，固定座通過套孔套設(shè)于卡鉤以實(shí)現(xiàn)機(jī)座與固定座的固定，固定座上設(shè)有兩隔板將固定座分隔成三個(gè)隔室，電源系統(tǒng)、光源系統(tǒng)以及高壓系統(tǒng)被分別設(shè)在這三個(gè)隔室內(nèi)，隔板上設(shè)有固定孔。整個(gè)裝配結(jié)構(gòu)簡單；方便儀器的組裝與拆卸；提高了售后服務(wù)維護(hù)的效率；減輕了儀器的整機(jī)質(zhì)量。其適用于環(huán)境保護(hù)、臨床醫(yī)學(xué)、農(nóng)業(yè)、地質(zhì)冶金、制藥行業(yè)、石化等行業(yè)的X熒光光譜鍍層分析儀之用。
文檔編號G01N23/223GK201540265SQ20092023468
公開日2010年8月4日 申請日期2009年8月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月12日
發(fā)明者黃清華 申請人:江蘇天瑞儀器股份有限公司