專利名稱：石墨片厚度在線檢測儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測厚度的儀器，特別涉及一種石墨片厚度在線檢 測儀。
技術(shù)背景
石墨片是一種新興的高科技材料，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于機(jī)電、電子、冶金、 石油化工、和國防科技領(lǐng)域，石墨片厚度是石墨片生產(chǎn)中的一項(xiàng)重要指標(biāo)， 對應(yīng)不同的產(chǎn)品我們所需求的石墨片厚度是不一樣的，所以石墨片厚度在線 檢測儀對現(xiàn)場生產(chǎn)指導(dǎo)有很重要的意義。在現(xiàn)階段測量石墨片厚度的方法主 要是在生產(chǎn)過程中采樣稱重，其最大的缺點(diǎn)是不能適時檢測對石墨片的生產(chǎn) 不能起到指導(dǎo)作用，而且由于人為誤差使生產(chǎn)的石墨片很難達(dá)到所需要求， 不能很好的控制生產(chǎn)成本，不利于經(jīng)濟(jì)效益提高而且對成材幅巻有一定的影 響。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種石墨片厚度在線檢測儀，其采用同位素穿 透方式能夠?qū)κ暮穸冗M(jìn)行在線連續(xù)檢測，對于石墨片生產(chǎn)行業(yè)提高產(chǎn) 品質(zhì)量使生產(chǎn)自動化得以提高，使生產(chǎn)成本得以降低。
上述的目的通過以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)
石墨片厚度在線檢測儀，其組成包括L型掃描架，所述的L型掃描架 下方安裝放射性同位素探頭，所述的放射性同位素探頭包括準(zhǔn)值柵、放射源 及其屏蔽裝置、源閘控制結(jié)構(gòu)，所述的L型掃描架上方安裝電離室及放大電 路探頭，所述的電離室安裝于密封筒內(nèi)，所述的密封筒內(nèi)還包括測量電路板， 所述的密封筒上方固定高壓電源。
所述的石墨片厚度在線檢測儀，所述的放射性同位素探頭和所述的電離 室及放大電路探頭相互平行且水平對正，間距為18-22mm。
本實(shí)用新型的有益效果1. 本實(shí)用新型能夠?qū)κ暮穸冗M(jìn)行在線連續(xù)檢測，對于石墨片生產(chǎn)行 業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)使生產(chǎn)自動化得以提高，使生產(chǎn)成本得以降低，有很好的效果。
2. 本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，測量準(zhǔn)確，工作可靠。
3. 本產(chǎn)品具有很好的經(jīng)濟(jì)效益。并且我們通過一系列的先進(jìn)技術(shù)，例如加 入準(zhǔn)直柵、放大器的精細(xì)選擇、電離室的采購等一系列的優(yōu)化方法。使這種 石墨片測厚儀器更能適應(yīng)生產(chǎn)現(xiàn)場惡劣條件，對生產(chǎn)指導(dǎo)更加真實(shí)化，更加 準(zhǔn)確。對自動化生產(chǎn)有重要意義。


附圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖具體實(shí)施方式
石墨片厚度在線檢測儀，其組成包括L型掃描架1，所述的L型掃描 架下方安裝放射性同位素探頭2，所述的放射性同位素探頭包括準(zhǔn)值柵3、放 射源及其屏蔽裝置4、源閘控制結(jié)構(gòu)5，所述的L型掃描架上方安裝電離室及 放大電路探頭8，所述的電離室安裝于密封筒內(nèi)6，所述的密封筒內(nèi)還包括測 量電路板，所述的密封筒上方固定高壓電源7。
所述的石墨片厚度在線檢測儀，所述的放射性同位素探頭和所述的電離 室及放大電路探頭相互平行且水平對正，間距為18-22mm。
儀器的下探頭機(jī)械部分供電為+24V，其主要是控制電磁鐵吸合來控制源 閘。當(dāng)需要測量時電磁鐵通電旋轉(zhuǎn)吸合使源閘打開，不用時源閘關(guān)閉對周圍 進(jìn)行放射性屏蔽保護(hù)。上探頭供電為+12V和-5V，通過+12V對高壓模塊供電 使其產(chǎn)生-600左右的高壓對電離室內(nèi)同位素射線激發(fā)的帶電離子對電離產(chǎn)生 電流信號。通過放大器收集放大為5V左右的電壓信號傳輸給上位機(jī)。石墨片 從中間通過，放射線通過準(zhǔn)直孔發(fā)射出平行放射束穿過石墨片讓電離室接收 產(chǎn)生微弱的電信號經(jīng)放大電路放大并傳輸給上位機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，從而 構(gòu)成了穿透式在線測量方式。
權(quán)利要求1.一種石墨片厚度在線檢測儀，其組成包括L型掃描架，其特征是所述的L型掃描架下方安裝放射性同位素探頭，所述的放射性同位素探頭包括準(zhǔn)值柵、放射源及其屏蔽裝置、源閘控制結(jié)構(gòu)，所述的L型掃描架上方安裝電離室及放大電路探頭，所述的電離室安裝于密封筒內(nèi)，所述的密封筒內(nèi)還包括測量電路板，所述的密封筒上方固定高壓電源。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的石墨片厚度在線檢測儀，其特征是所述的放 射性同位素探頭和所述的電離室及放大電路探頭相互平行且水平對正，間距 為18-22mm。
專利摘要石墨片厚度在線檢測儀，在現(xiàn)階段測量石墨片厚度的方法主要是在生產(chǎn)過程中采樣稱重，其最大的缺點(diǎn)是不能適時檢測而且對成材幅卷有一定的影響。石墨片厚度在線檢測儀，其組成包括L型掃描架(1)，所述的L型掃描架下方安裝放射性同位素探頭(2)，所述的放射性同位素探頭包括準(zhǔn)值柵(3)、放射源及其屏蔽裝置(4)、源閘控制結(jié)構(gòu)(5)，所述的L型掃描架上方安裝電離室及放大電路探頭(8)，所述的電離室安裝于密封筒內(nèi)(6)，所述的密封筒內(nèi)還包括測量電路板，所述的密封筒上方固定高壓電源(7)。本產(chǎn)品用于適時檢測石墨片厚度。
文檔編號G01B15/02GK201425474SQ20092009980
公開日2010年3月17日 申請日期2009年5月7日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月7日
發(fā)明者侯躍新, 巖 李, 鋼 李, 丹 肖, 馬永和 申請人:黑龍江省科學(xué)院技術(shù)物理研究所