專利名稱：按鍵電路板測試方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及顯示器和電視的按鍵板的功能測試領(lǐng)域，尤指一種電壓輸出型按鍵板的檢測 方法及其裝置。
技術(shù)背景按鍵是顯示器或電視與用戶之間進行人機交互的主要方式。在產(chǎn)品的使用過程中，操作 按鍵可以讓用戶使用產(chǎn)品的所有功能。如果按鍵出現(xiàn)問題，將對最終用戶對產(chǎn)品的使用產(chǎn)生 極大困擾，由此帶來了客戶抱怨、退貨等品質(zhì)問題。而我們所說的按鍵，從技術(shù)的角度說， 它實際就是一塊有許多按鍵的電路板，在本方案中稱之為按鍵板。按鍵板主要包含了兩個功能 一是提供按鍵給用戶進行操作，二是安裝了LED指示燈用于指示產(chǎn)品當前的工作狀態(tài)。 之前的測試按鍵板功能，是使用與之匹配的整機(顯示器或電視)，直接將按鍵板與整機連 接，然后操作按鍵。在操作過程中，作業(yè)人員檢査所有按鍵是否與它定義的功能一一對應(yīng)， 最后再判定按鍵功能是否正常。習知的技術(shù)存在著以下缺陷1、 按鍵板類型眾多，不同的按鍵板需要與之匹配的整機才能使用。這樣一來，需要大 量整機用于按鍵板測試。這么多整機，要專人管理、大面積存放空間，成本較高。2、 在整個測試過程中，由于要與主板連接，而主板接口插拔次數(shù)有限，測試一段時間后將損壞主板，由此產(chǎn)生額外的主板維修費用。3、 作業(yè)過程繁鎖，作業(yè)人員需觀察按鍵功能是否對應(yīng)。4、 人為判定存在作業(yè)漏失隱患。5、 人工操作過程中需要接觸整機內(nèi)部件，存在人員安全隱患。 因此開發(fā)一種實現(xiàn)快速、安全、低成本的測試裝置是非常必要的。 發(fā)明內(nèi)容為克服上述技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的是提供一種按鍵電路板測試裝置，該裝置能有效 、高速、低成本的實現(xiàn)對電壓輸出型按鍵板的功能測試。其是這樣實現(xiàn)的， 一種按鍵電路板測試裝置，其特征在于包括A/D轉(zhuǎn)換電路、MCU ( MCU)、人機交互模塊，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端與MCU的輸入端相連，所述的MCU的輸出端與人機交換模塊相連接。本發(fā)明的另一目的是提供一種按鍵電路板測試方法，該方法能解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的 不足。其是這樣實現(xiàn)的， 一種按鍵電路板測試方法，其特征在于包括上述的按鍵電路板測試裝 置按以下步驟實現(xiàn)(1) 、提供一經(jīng)過檢測符合標準的按鍵電路板，利用所述A/D轉(zhuǎn)換電路采集該按鍵電路 板的輸出端電壓；(2) 、所述MCU在自學習狀態(tài)下采集各按鍵輸出電壓，并進行記錄；(3) 、將待測的按鍵電路板的輸出端接入A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端；(4) 、所述的MCU在測試狀態(tài)下采集各按鍵輸出電壓，并與上述記錄的標準電壓進行比較；(5) 、比較時，若各輸出電壓在上述記錄的標準電壓中都存在且在指定誤差范圍內(nèi)能 一一匹配，則判斷為合格品，否則為不良品。本發(fā)明的有益之處在于1、兼容所有電壓輸出型按鍵板的功能測試。2、自動對按鍵板 功能是否正常進行判定，避免因人為漏失。3、操作簡單，作業(yè)人員容易掌握。4、提升測試 效率，減少作業(yè)人員。5、無需其它輔助測試設(shè)備，測試成本低廉。


圖1是本發(fā)明實施例的電路原理框圖。 圖2是本發(fā)明實施例的自學習流程圖。 圖3是本發(fā)明實施例的測試流程圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明做進一步描述。如圖1所示，本發(fā)明提供一種按鍵電路板測試裝置，其特征在于包括A/D轉(zhuǎn)換電路、 MCU、人機交互模塊，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端與MCU的輸入端相連，所述的MCU的輸出端 與人機交換模塊相連接。在較佳的實施例子中，本發(fā)明使用Cygnal公司出品的混合信號系統(tǒng)級單片機C8051F350 ，它自帶了8通道24位bit的A/D，采樣速度〉100K/S，內(nèi)部晶振，內(nèi)部采樣基準電壓，外部元 件少，設(shè)計簡潔，它的性能完全可以滿足本方案的使用要求。為了更有效的實現(xiàn)檢測，本發(fā)明提供一種按鍵電路板測試方法，其特征在于包括上述的 按鍵電路板測試裝置按以下步驟實現(xiàn)(1) 、提供一經(jīng)過檢測符合標準的按鍵電路板，利用所述A/D轉(zhuǎn)換電路采集該按鍵電路 板的輸出端電壓；(2) 、所述MCU在自學習狀態(tài)下采集各按鍵輸出電壓，并進行記錄；(3) 、將待測的按鍵電路板的輸出端接入A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端；(4) 、所述的MCU在測試狀態(tài)下采集各按鍵輸出電壓，并與上述記錄的標準電壓進行比較；(5) 、比較時，若各輸出電壓在上述記錄的標準電壓中都存在且在指定誤差范圍內(nèi)能 一一匹配，則判斷為合格品，否則為不良品。所述的MCU自學狀態(tài)和測試狀態(tài)可以通過人機交換的鍵盤轉(zhuǎn)換。具體流程如圖2和圖3所示。標準的按鍵板電壓輸出端通過線材連接至本裝置A/D采樣端 ，在測試以前，需要對其進行"學習"。"學習"功能是保證本發(fā)明對所有電壓輸出型按鍵板都可兼容的重要能力，"學習"是 指在測試前，取一片與待測按鍵板一致，且經(jīng)過確認OK的按鍵板樣片，并設(shè)定裝置為"學 習"狀態(tài)，隨后依次對按鍵操作一遍，在操作過程中，本裝置自動記錄每次按鍵操作時的電 壓狀態(tài)。當電壓不同時，對應(yīng)的按鍵不同，則記錄此狀態(tài)并為按鍵編號。完成"學習"后， 再設(shè)定裝置為"測試"狀態(tài)，再接入未經(jīng)過測試的按鍵板，每當一個按鍵被操作時，按鍵板 輸出電壓，裝置査詢是否有與已"學習"過的電壓相匹配并確定是哪個按鍵在被操作，如果 有匹配的電壓，則認為相應(yīng)編號的按鍵功能正常，當所有按鍵都經(jīng)過操作且與"學習"過的 電壓完全匹配時，則本裝置自動判定PASS。若所有按鍵都經(jīng)過操作但有出現(xiàn)無法匹配的電壓 時，則自動判定不良品NG。本發(fā)明實現(xiàn)了任意電壓輸出型按鍵板的功能測試。電壓輸出型按鍵板在操作按鍵時，通 過向外輸出若干電壓，以便外部能夠識別其輸出電壓來判定按鍵狀態(tài)?；谶@個特性，本發(fā) 明可兼容所有此種工作原理的按鍵板測試，而與按鍵板的具體形態(tài)無關(guān)。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡依本發(fā)明申請專利范圍所做的均等變化與修飾， 皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種按鍵電路板測試裝置，其特征在于包括A/D轉(zhuǎn)換電路、MCU、人機交互模塊，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端與MCU的輸入端相連，所述的MCU的輸出端與人機交互模塊相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求l所述的按鍵電路板測試裝置，其特征在于所述的 MCU是單片機控制模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的按鍵電路板測試裝置，其特征在于所述的 單片機的型號為C8051F350。
4.根據(jù)權(quán)利要求l所述的按鍵電路板測試裝置，其特征在于所述的 人機交互模塊包括屏顯及鍵盤。
5.一種按鍵電路板測試方法，其特征在于包括權(quán)利要求l所述的按鍵 電路板測試裝置按以下步驟實現(xiàn)(1) 、提供一經(jīng)過檢測符合標準的按鍵電路板，利用所述A/D轉(zhuǎn)換電路采集該按鍵電 路板的輸出端電壓；(2) 、所述MCU在自學習狀態(tài)下采集各按鍵輸出電壓，并進行記錄；(3) 、將待測的按鍵電路板的輸出端接入A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端；(4) 、所述的MCU在測試狀態(tài)下采集各按鍵輸出電壓，并與上述記錄的標準電壓進行比較；(5) 、比較時，若各輸出電壓在上述記錄的標準電壓中都存在且在指定誤差范圍內(nèi)能 一一匹配，則判斷為合格品，否則為不良品。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的按鍵電路板測試方法，其特征在于所述的 MCU自學狀態(tài)和測試狀態(tài)可以通過鍵盤轉(zhuǎn)換。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的按鍵電路板測試方法，其特征在于所述的 MCU是單片機控制模塊。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的按鍵電路板測試方法，其特征在于所述的 單片機的型號為C8051F350。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種按鍵電路板測試裝置，其特征在于包括A/D轉(zhuǎn)換電路、MCU、人機交互模塊，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端與MCU的輸入端相連，所述的MCU的輸出端與人機交換模塊相連接。本發(fā)明更提供一種測試方法，其通過上述裝置對標準板的狀態(tài)進行自學習，然后通過學習的標準對待測板進行測試，以達到快速、安全、低成本的測試目的。
文檔編號G01R31/28GK101644743SQ20091030595
公開日2010年2月10日 申請日期2009年8月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月22日
發(fā)明者俊 吳, 張新華, 烜 彭 申請人:福建捷聯(lián)電子有限公司