專利名稱：用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電路，特別涉及一種用于原子熒光光譜儀雙道或多道道 間干擾消除電路
背景技術(shù)：
原子熒光光譜分析是20世紀(jì)60年代中期提出并發(fā)展起來的光譜分析技 術(shù)，是原子光譜法中的一個重要分支，它是原子吸收和原子發(fā)射光譜的綜合 與發(fā)展，是一種優(yōu)良的痕量分析技術(shù)。
現(xiàn)有技術(shù)中，原子熒光光譜儀主要用于檢測Hg， As、 Se、 Te、 Bi、 Sb、 Sn或其他元素的ppt級檢測，其被廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、臨床醫(yī)學(xué)、農(nóng)業(yè)、 地質(zhì)冶金、制藥行業(yè)、石化行業(yè)等行業(yè)，其不僅可以測定金屬元素，而且也 可以被間接用來測定非金屬元素和有機(jī)化合物。原子熒光光譜分析法(AFS) 是利用原子熒光譜線的波長和強(qiáng)度進(jìn)行物質(zhì)的定性及定量分析方法，它的基 本原理是原子蒸氣吸收特征波長的光輻射之后，原子被激發(fā)至高能級，然后回 到基態(tài)時便發(fā)射出一定波長的原子熒光，再依據(jù)熒光的強(qiáng)度分析所測元素的 含量。原子熒光光譜儀的基本結(jié)構(gòu)包括激發(fā)光源、原子化系統(tǒng)、分光工藝及 系統(tǒng)、檢測器、信號放大器以及數(shù)據(jù)處理器等部分。
原子熒光光譜儀的道間干擾是檢驗(yàn)儀器的重要指標(biāo)，也是對儀器實(shí)用性 的重要要求。現(xiàn)有商用雙道或多道原子熒光光譜儀的道間干擾指標(biāo)，國家標(biāo) 準(zhǔn)規(guī)定為不大于2%，這對于大多數(shù)廠家來說是個很難做到的事情。大多數(shù)廠家的解決辦法是采用扣除技術(shù)，對干擾進(jìn)行扣除。如中國實(shí)用新型專利(專
利號200520122224.6)就公開了一種雙道原子熒光光譜無道間干擾檢測電 路，該電路包括接受A、 B雙道原子熒光信號的光電倍增管、第一單片和第二 單片機(jī)。光電倍增管通過放大模塊與第一單片機(jī)相連，第一單片機(jī)接有用于 與上位機(jī)相連的通訊模塊。第二單片機(jī)輸出由兩個脈沖構(gòu)成的時序控制信號 至第一單片機(jī)，第一脈沖用于控制第一單片機(jī)對放大模塊的原子熒光信號底 值的AD轉(zhuǎn)換，第二個脈沖用于控制第一單片機(jī)對放大模塊的信號峰值的AD 轉(zhuǎn)換，第一單片機(jī)將原子熒光信號的峰值與底值的差值經(jīng)通信模塊傳送給上 位機(jī)。這種干擾檢測電路采用差減式采樣方式，來消除雙道間原子熒光信號 的干擾現(xiàn)象。
但從上述描述可知，這種電路一般實(shí)現(xiàn)手段較為復(fù)雜，而且操作不便， 對消除雙道間原子熒光信號的干擾現(xiàn)象，提高雙道原子熒光光譜儀的測量精 度可以說是治標(biāo)不治本。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種新型結(jié) 構(gòu)的用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除電路，該電路結(jié)構(gòu)簡單， 能有效解決現(xiàn)有原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除問題。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案
一種用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除電路，包括一信號輸 入端和一信號輸出端，所述信號輸入點(diǎn)通過第一電容與第一電阻、第二電容 連接，所述第二電容的另一端與與一放大器的正極連接，并通過一第二電阻接地，所述第一電阻的另一端與所述放大器的負(fù)極連接，所述放大器輸出端 與所述信號輸出端連接，所述第一電容上并連有一第三電阻。 優(yōu)選的，所述第三電阻為一可調(diào)電阻。
上述技術(shù)方案具有如下有益效果在該電路中通過放大器的前方加入一 級可調(diào)電位器與放大器的第一階電容并聯(lián)，通過調(diào)節(jié)這個電位器，我們可以 將放大器產(chǎn)生的前一個脈沖信號的反向過沖對下一級的干擾完全消除，從而 達(dá)到消除儀器道間干擾的目的。最終的實(shí)驗(yàn)證明，該電路對于消除道間干擾 效果明顯。而且該電路結(jié)構(gòu)簡單，易于實(shí)現(xiàn)。
上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技 術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本發(fā)明的較佳實(shí)施例并配 合附圖詳細(xì)說明如后。本發(fā)明的具體實(shí)施方式
由以下實(shí)施例及其附圖詳細(xì)給 出。


圖1為本發(fā)明的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為未采用本電路時信號輸出端的信號波形圖。 圖3為采用本電路時信號輸出端的信號波形圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的介紹。 如圖1所示，該電路包括一信號輸入端和一信號輸出端，信號輸入點(diǎn)通 過第一電容C103與第一電阻R101、第二電容C104連接，第二電容104的另一端與與一放大器的正極3連接，并通過一第二電阻R105接地，第一電阻R101 的另一端與放大器的負(fù)極2連接，放大器輸出端6與信號輸出端連接，第一 電容C103上并連有一可調(diào)節(jié)第三電阻R102。
如圖2所示，為未使用該電路時信號輸出端的信號波形圖，放大器的作 用為濾除儀器測量過程中的低頻火焰噪聲，但是由于濾波器的存在會使脈沖 信號產(chǎn)生反向過沖，在道間干擾消除前，我們看到前一個脈沖信號的反向過 沖會影響到下一個脈沖信號的幅值，這是道間干擾產(chǎn)生的根本原因。
在使用本發(fā)明電路后，如圖3所示，在放大器的前方加入一級可調(diào)電位 器R102與放大器的第一階電容C103并聯(lián)，通過調(diào)節(jié)這個電位器，可以將前 一個脈沖信號的反向過沖對下一級的干擾完全消除，從而達(dá)到消除儀器道間 干擾的目的。最終的實(shí)驗(yàn)證明，該電路對于消除道間干擾效果明顯。通過附 圖3也說明了電路實(shí)現(xiàn)的原理和實(shí)際檢測效果。而且該電路結(jié)構(gòu)簡單，易于 實(shí)現(xiàn)。
以上對本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間 干擾消除電路進(jìn)行了詳細(xì)介紹，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明實(shí) 施例的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，因此本說明書 內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制，凡依本發(fā)明設(shè)計思想所做的任何改變都在
本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1一種用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除電路，包括一信號輸入端和一信號輸出端，所述信號輸入點(diǎn)通過第一電容(C103)與第一電阻(R101)、第二電容(C104)連接，所述第二電容(104)的另一端與與一放大器的正極(3)連接，并通過一第二電阻(R105)接地，所述第一電阻(R101)的另一端與所述放大器的負(fù)極(2)連接，所述放大器輸出端(6)與所述信號輸出端連接，其特征在于所述第一電容(C103)上并連有一第三電阻(R102)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除電 路，其特征在于所述第三電阻(R102)為一可調(diào)電阻。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除電路，包括一信號輸入端和一信號輸出端，所述信號輸入點(diǎn)通過第一電容與第一電阻、第二電容連接，所述第二電容的另一端與一放大器的正極連接，并通過一第二電阻接地，所述第一電阻的另一端與所述放大器的負(fù)極連接，所述放大器輸出端與所述信號輸出端連接，所述第一電容上并連有一第三電阻。在該電路中通過放大器的前方加入一級可調(diào)電位器與放大器的第一階電容并聯(lián)，通過調(diào)節(jié)這個電位器，我們可以將放大器產(chǎn)生的前一個脈沖信號的反向過沖對下一級的干擾完全消除，從而達(dá)到消除儀器道間干擾的目的。
文檔編號G01N21/64GK101614665SQ200910182018
公開日2009年12月30日 申請日期2009年7月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月29日
發(fā)明者丁志國, 劉召貴, 南 李, 聰 馬 申請人:江蘇天瑞儀器股份有限公司