專利名稱：電子天平校驗方法以及利用該方法的電子天平校驗儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及稱量器具領(lǐng)域，是一種校驗電子天平的方法及儀器。
背景技術(shù)：
電子天平由于精確度高、使用方便而廣泛應(yīng)用在各行各業(yè)。電子天平由于內(nèi)部電 子電路以及傳感器的參數(shù)漂移，需要定期進行校驗。目前校驗電子天平是用標(biāo)準(zhǔn)砝碼，一些 精密電子分析天平的感量很低，如lmg、0. lmg甚至0. Olmg，由于無法制造這樣質(zhì)量的微量 砝碼，所以只能校驗較高數(shù)值的質(zhì)量值，校驗的效果不好。另外，由于校驗砝碼一般都是整 數(shù)值，只能在這些點進行校驗，無法對天平的線性作高要求校驗。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種可在微量值進行高精度校驗、以及線性校驗的電子天平 校驗方法及儀器，以方便使用。 本發(fā)明的方案是一種電子天平的校驗方法，是在電子天平的托盤上放置裝有純 水的燒杯，一個豎直懸掛在燒杯上方的圓柱體部分浸入在燒杯的水中，將電子天平讀數(shù)清 零，校驗時精確推動圓柱體進一步進入水中，以圓柱體浸入水中增量部分的體積乘以當(dāng)前 溫度下純水的密度，就是對電子天平施加的力的大小，該數(shù)值即是用于校驗電子天平的標(biāo) 準(zhǔn)值。 利用上述方法的電子天平校驗儀，其特征是千分尺豎直向下，其尺座通過橫梁固 定在鐵架臺的直柱上，千分尺的測量柱上裝有夾頭，夾頭上夾有一圓柱體，鐵架臺的臺座上 放置待校電子天平，圓柱體部分浸在待校電子天平托盤上放置的燒杯中的純水中，圓柱體 的橫截面積選取0. 001mm2、0. 01mm2、0. lmm2、 lmm2、 10mm2、 100mm2、 1000mm2所處等比數(shù)列中的
一個數(shù)值。 所述圓柱體備有多個，通過夾頭夾卸更換。
所述鐵架臺的臺座上裝有水平儀。 校驗儀的外面設(shè)有帶有側(cè)門的防風(fēng)罩，防風(fēng)罩的頂部開孔，千分尺標(biāo)尺柱的轉(zhuǎn)動 拿捏處通過上述開孔露出用以操作。 本發(fā)明的優(yōu)點是由于物體所受的浮力大小等于物體所排開液體的重量，當(dāng)圓柱 體部分浸入純水中，圓柱體所受到的浮力大小等于其浸入部分體積的純水的重量，根據(jù)力 的相互作用原理，而燒杯中的純水又同時受到相同大小的向下壓力，這個壓力就是對電子 天平施加的壓力。圓柱體的橫截面積均勻一致，通過千分尺對其長度進行精確控制，就可以 控制上述壓力，從而為校驗提供準(zhǔn)確的數(shù)值。本裝置中的圓柱體如果采用細絲，就可以校驗 高精度的電子天平。由于連續(xù)可調(diào)，還可精確校驗天平的線性。


下面根據(jù)附圖結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步說明。
附圖是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖中標(biāo)記說明1千分尺標(biāo)尺柱，2千分尺尺座，3千分尺測量柱，4圓柱體，5裝有 純水的燒杯，6水平儀，7調(diào)整腳，8待校電子天平，9托盤，10鐵架臺，11夾頭，12鐵架臺升降 調(diào)節(jié)螺絲，13橫梁，14防風(fēng)罩，15防風(fēng)罩蓋。
具體實施例方式
以校驗一臺稱量為100克、感量為0. 01克的電子天平為例，實施例的校驗方法具 體如下 1.在電子天平的托盤上放置裝有純水的燒杯。 2.在天平上方豎直懸掛一個千分尺，千分尺的測量柱上連接有一個圓柱體，圓柱 體的橫截面積為1000mrf，使圓柱體部分浸入在燒杯的水中。
3.將電子天平讀數(shù)清零。 4.轉(zhuǎn)動千分尺，精確推動圓柱體進一步進入水中，每進入0.01mm紀錄電子天平的讀數(shù)。 5.按圓柱體浸入水中的增量部分，每進入0. Olmm對電子天平施加的力為0. 01克 力，(純水的密度按標(biāo)準(zhǔn)值1.0X103Kg/m3計)，該數(shù)值即是用于校驗電子天平的標(biāo)準(zhǔn)值0.01克。 6.電子天平的讀數(shù)和上述校驗標(biāo)準(zhǔn)值對比，就可以精確校驗電子天平。
參見附圖，實施例的儀器結(jié)構(gòu)是 在鐵架臺10的直柱上有一橫梁13，橫梁的另一端安裝有一個千分尺的尺座2，千 分尺豎直向下。 千分尺的測量柱3上裝有夾頭ll，夾頭11上夾有圓柱體4。 鐵架臺10的臺座上帶有水平儀6，待校電子天平8放置在臺座上。 待校電子天平的托盤9上放置裝有純水的燒杯5，圓柱體4 一部分浸在純水中。 圓柱體4的橫截面積選取0. 001mm2、0. 01mm2、0. lmm2、lmm2、 10mm2、 100mm2、 1000mm2
所處等比數(shù)列中的一個數(shù)值。而且圓柱體備有多個，通過夾頭11夾卸更換，以校驗不同大
小量程的電子天平。 為了防止空氣流動造成的影響，校驗儀的外面設(shè)有帶有側(cè)門的防風(fēng)罩14，防風(fēng)罩 頂蓋15上開孔，千分尺標(biāo)尺柱1的轉(zhuǎn)動拿捏處通過上述開孔露出用以操作。
權(quán)利要求
一種電子天平的校驗方法，其特征是在電子天平的托盤上放置裝有純水的燒杯，一個豎直懸掛在燒杯上方的圓柱體部分浸入在燒杯的水中，將電子天平讀數(shù)清零，校驗時精確推動圓柱體進一步進入水中，以圓柱體浸入水中增量部分的體積乘以當(dāng)前溫度下純水的密度，就是對電子天平施加的力的大小，該數(shù)值即是用于校驗電子天平的標(biāo)準(zhǔn)值。
2. 利用權(quán)利要求l所述方法的電子天平校驗儀，其特征是千分尺豎直向下，其尺座(2)通過橫梁(13)固定在鐵架臺(10)的直柱上，千分尺的測量柱(3)上裝有夾頭(11)，夾頭(11)上夾有一圓柱體(4)，鐵架臺(10)的臺座上放置待校電子天平(8)，圓柱體(4)部分浸在待校電子天平托盤上放置的燒杯中的純水中，圓柱體4的橫截面積選取0. OOlmm2、0. 01mm2、0. lmm2、lmm2、10mm2、100mm2、1000mm2所處等比數(shù)列中的一個數(shù)值。
3. 如權(quán)利要求2所述的電子天平校驗儀，其特征是所述圓柱體(4)備有多個，通過夾頭ll夾卸更換。
4. 如權(quán)利要求2所述的電子天平校驗儀，其特征是所述鐵架臺(10)的臺座上裝有水平儀(6)。
5. 如權(quán)利要求2所述的電子天平校驗儀，其特征是校驗儀的外面設(shè)有帶有側(cè)門的防風(fēng)罩(14)，防風(fēng)罩(14)的頂部開孔，千分尺標(biāo)尺柱(1)的轉(zhuǎn)動拿捏處通過上述開孔露出用以操作。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電子天平的校驗方法，是在電子天平的托盤上放置裝有純水的燒杯，一個豎直懸掛在燒杯上方的圓柱體部分浸入在燒杯的水中，將電子天平讀數(shù)清零，校驗時精確推動圓柱體進一步進入水中，以圓柱體浸入水中增量部分的體積乘以當(dāng)前溫度下純水的密度，就是對電子天平施加的力的大小，該數(shù)值即是用于校驗電子天平的標(biāo)準(zhǔn)值。本裝置可以校驗高精度的電子天平，由于連續(xù)可調(diào)，還可精確校驗天平的線性。
文檔編號G01G23/01GK101709992SQ200910153919
公開日2010年5月19日 申請日期2009年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月26日
發(fā)明者盧能曉 申請人:盧能曉