專利名稱：可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，尤其涉及一種可避免測(cè)試信 號(hào)受到外在干擾，進(jìn)而提升測(cè)試的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確度的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment, ATE)是一種通過(guò)計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行 器件、電路板和子系統(tǒng)等測(cè)試的設(shè)備，其可通過(guò)計(jì)算機(jī)編程取代人工勞動(dòng)，自動(dòng)化地完成測(cè) 試序列。然而，隨著單封裝系統(tǒng)(System-in-packetSIP)及單芯片系統(tǒng)(System-on-chip) 的不斷發(fā)展，自動(dòng)化測(cè)試流程變得更加復(fù)雜，也衍生許多測(cè)試上的不確定因素。請(qǐng)參考圖1，圖1為公知的一自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)10的示意圖。在圖1中，自動(dòng)化測(cè)試 系統(tǒng)10通過(guò)一自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備100測(cè)試一待測(cè)組件102。當(dāng)待測(cè)組件102固定于托盤后，待 測(cè)組件102的探針rai、冊(cè)2會(huì)嵌合于一針盤104的針槽PSTl、PST2，使得待測(cè)組件102與自 動(dòng)化測(cè)試設(shè)備100通過(guò)探針I(yè)3Rl、冊(cè)2、針槽PSTl、PST2、單心線WR1、WR2及轉(zhuǎn)接針TR1、TR2 進(jìn)行信號(hào)交換，以進(jìn)行相關(guān)測(cè)試。其中，由于探針rai、PR2的位置不一定符合轉(zhuǎn)接針TR1、 TR2的位置，因此，用來(lái)嵌合探針rai、PR2的針槽PST1、PST2與轉(zhuǎn)接針TR1、TR2間需通過(guò)單 心線WR1、WR2連結(jié)。單心線WR1、WR2為由單一金屬線所形成的傳輸線，其外圍一般會(huì)涂布 一層絕緣及保護(hù)涂料。單心線WR1、WR2在短距離傳輸上的應(yīng)用非常廣泛，但其抗噪聲能力 及抗電磁干擾能力卻非常低，使得高頻測(cè)試信號(hào)易受電磁干擾，而低頻測(cè)試信號(hào)容易失真， 造成測(cè)試不穩(wěn)定。舉例來(lái)說(shuō)，請(qǐng)參考圖2，圖2為圖1的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備100以方波信號(hào)測(cè)試待測(cè)組 件102的示意圖。如圖2所示，由于單心線WR1、WR2對(duì)外部的干擾信號(hào)無(wú)任何屏蔽作用，使 得單心線WR1、WR2在信號(hào)傳輸時(shí)容易受到外界的干擾，造成傳輸?shù)男盘?hào)不穩(wěn)定，影響測(cè)試結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的主要目的即在于提供一種可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明公開一種可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，用來(lái)測(cè)試包含多個(gè)探針的一 待測(cè)組件，該自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)包含有一自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備；多個(gè)轉(zhuǎn)接針，耦接于該自動(dòng)化測(cè)試 設(shè)備；一針盤，包含多個(gè)針槽，用來(lái)嵌合該待測(cè)組件的該多個(gè)探針；一接地板，用來(lái)提供接 地；以及多個(gè)同軸電纜，每一同軸電纜耦接于該多個(gè)針槽的一針槽、該多個(gè)轉(zhuǎn)接針的一轉(zhuǎn)接 針及該接地板，用來(lái)在該針槽與該轉(zhuǎn)接針間傳遞信號(hào)。針對(duì)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，本發(fā)明可避免測(cè)試信號(hào)受到外在干擾，進(jìn)而提升測(cè)試的穩(wěn) 定性與準(zhǔn)確度。


圖1為公知的一自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。
圖2為圖1的一自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備以方波信號(hào)測(cè)試一待測(cè)組件的示意圖。
圖3A為本發(fā)明實(shí)施例的一自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。
圖3B圖3A中一同軸電纜與其他組件的連接方式的示意圖。
圖4為公知的一同軸電纜的剖面示意圖。
圖5為圖3A的一自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備以方波信號(hào)測(cè)試一待測(cè)組件的示意圖。
主要組件符號(hào)說(shuō)明
10,30自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
100,300自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備
102,302待測(cè)組件
104,304針盤
PRl、PR2、PRa、PRb探針
PST1、PST2、PSTa、PSTb 針槽
WRU WR2單心線
TRl、TR2、TRa、TRb轉(zhuǎn)接針
306接地板
CRa、CRb同軸電纜
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參考圖3A，圖3A為本發(fā)明實(shí)施例的一自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)30的示意圖。自動(dòng)化測(cè) 試系統(tǒng)30用來(lái)測(cè)試一待測(cè)組件302，該自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)30包含有一自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備300、 轉(zhuǎn)接針TRa、TRb、一針盤304、一接地板306及同軸電纜CRa、CRb。比較圖3A及圖1可知， 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)30與自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)10的架構(gòu)相同，運(yùn)作方式亦相同，不同之處在于自動(dòng) 化測(cè)試系統(tǒng)30以同軸電纜CRa、CRb取代了單心線WR1、WR2，并增加了接地板306。因此，當(dāng) 待測(cè)組件302固定于托盤后，待測(cè)組件302的探針PRa、PRb會(huì)嵌合于針盤304的針槽PSTa、 PSTb,使得待測(cè)組件302與自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備300通過(guò)探針PRa、PRb、針槽PSTa、PSTb、同軸電 纜CRa、CRb及轉(zhuǎn)接針TRa、TRb進(jìn)行信號(hào)交換，以進(jìn)行相關(guān)測(cè)試。其中，同軸電纜CRa、CRb除 了金屬導(dǎo)線外，另包含有一金屬屏蔽層，連接于接地板306，用來(lái)提供隔絕外界干擾信號(hào)，避 免干擾到其內(nèi)金屬導(dǎo)線所傳輸?shù)男盘?hào)，進(jìn)而達(dá)到測(cè)試穩(wěn)定的目的。請(qǐng)繼續(xù)參考圖3B，圖3B 為同軸電纜CRa與其他組件的連接方式的示意圖。如圖3B所示，同軸電纜CRa的導(dǎo)線用來(lái) 于轉(zhuǎn)接針TRa與探針PRa間交換信號(hào)，同時(shí)，同軸電纜CRa外圍的屏蔽層連接于接地板306， 用來(lái)避免外部干擾。另外，同軸電纜CRb的連接方式亦類似于同軸電纜CRa，故不贅述。簡(jiǎn)言之，自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)30是利用同軸電纜CRa、CRb優(yōu)異的抗干擾能力，避免探 針PRa、PRb與轉(zhuǎn)接針TRa、TRb的測(cè)試信號(hào)受到外在噪聲的干擾，進(jìn)而提升測(cè)試的穩(wěn)定性與 準(zhǔn)確度。需注意的是，本發(fā)明所使用的同軸電纜CRa、CRb其不限于特定種類、材質(zhì)、尺寸等。 例如，圖4為公知一同軸電纜40的剖面示意圖。同軸電纜40用來(lái)實(shí)現(xiàn)同軸電纜CRa或CRb， 其包含有一導(dǎo)線400、一絕緣層402、一屏蔽層404及一保護(hù)層406。導(dǎo)線400用來(lái)傳遞信 號(hào)。絕緣層402用來(lái)隔絕導(dǎo)線400與屏蔽層404。屏蔽層404則接地，用來(lái)屏蔽外界干擾信 號(hào)。保護(hù)層406包覆屏蔽層404，用來(lái)保護(hù)同軸電纜40。通過(guò)同軸電纜CRa、CRb,自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)30可避免高頻測(cè)試信號(hào)受電磁干擾，并避免低頻測(cè)試信號(hào)失真，以提升測(cè)試穩(wěn)定度。舉例來(lái)說(shuō)，請(qǐng)參考圖5，圖5為圖3A的自動(dòng)化 測(cè)試設(shè)備300以方波信號(hào)測(cè)試待測(cè)組件302的示意圖。如圖5所示，由于同軸電纜CRa、CRb 具有優(yōu)異的抗干擾能力，可避免外界的干擾，提升傳輸信號(hào)的穩(wěn)定度，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確 性。在圖1中，由于單心線WR1、WR2對(duì)外部的干擾信號(hào)無(wú)任何屏蔽作用，使得單心線 WRUWR2在信號(hào)傳輸時(shí)容易受到外界的干擾，造成傳輸?shù)男盘?hào)不穩(wěn)定，影響測(cè)試結(jié)果。相比 較之下，本發(fā)明是以同軸電纜CRa、CRb取代單心線WRl、WR2，并增加了接地板306，利用同軸 電纜CRa、CRb優(yōu)異的抗干擾能力，避免測(cè)試信號(hào)受到外在干擾，進(jìn)而提升測(cè)試的穩(wěn)定性與 準(zhǔn)確度。綜上所述，針對(duì)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，本發(fā)明可避免測(cè)試信號(hào)受到外在干擾，進(jìn)而提升 測(cè)試的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確度。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡是依本發(fā)明權(quán)利要求書范圍所作的等同變 化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
一種可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，用來(lái)測(cè)試包含多個(gè)探針的一待測(cè)組件，所述自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)包括一自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備；多個(gè)轉(zhuǎn)接針，耦接于所述自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備；一針盤，包括多個(gè)針槽，用來(lái)嵌合所述待測(cè)組件的所述多個(gè)探針；一接地板，用來(lái)提供接地；以及多個(gè)同軸電纜，每一同軸電纜耦接于所述多個(gè)針槽的一針槽、所述多個(gè)轉(zhuǎn)接針的一轉(zhuǎn)接針及所述接地板，用來(lái)在所述針槽與所述轉(zhuǎn)接針間傳遞信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)同軸電纜的每一同軸電纜包括一導(dǎo)線，耦接于所述多個(gè)針槽的一針槽與所述多個(gè)轉(zhuǎn)接針的一轉(zhuǎn)接針； 一絕緣層，包覆于所述導(dǎo)線；一屏蔽層，包覆于所述絕緣層，并耦接于所述接地板；以及 一保護(hù)層，包覆于所述屏蔽層。
全文摘要
本發(fā)明涉及可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。具體地，本發(fā)明提供一種可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，用來(lái)測(cè)試包含多個(gè)探針的一待測(cè)組件，該自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)包含有一自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備；多個(gè)轉(zhuǎn)接針，耦接于該自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備；一針盤，包含多個(gè)針槽，用來(lái)嵌合該待測(cè)組件的該多個(gè)探針；一接地板，用來(lái)提供接地；以及多個(gè)同軸電纜，每一同軸電纜耦接于該多個(gè)針槽的一針槽、該多個(gè)轉(zhuǎn)接針的一轉(zhuǎn)接針及該接地板，用來(lái)在該針槽與該轉(zhuǎn)接針間傳遞信號(hào)。針對(duì)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，本發(fā)明可避免測(cè)試信號(hào)受到外在干擾，進(jìn)而提升測(cè)試的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確度。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101893664SQ20091014328
公開日2010年11月24日 申請(qǐng)日期2009年5月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月22日
發(fā)明者姚健忠, 孫仁合, 張智杰, 張聰耀, 徐耀德, 黃成璋 申請(qǐng)人:緯創(chuàng)資通股份有限公司