技術(shù)編號(hào)：6154485
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種可提升測(cè)試質(zhì)量的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，尤其涉及一種可避免測(cè)試信 號(hào)受到外在干擾，進(jìn)而提升測(cè)試的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確度的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。背景技術(shù)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment, ATE)是一種通過計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行 器件、電路板和子系統(tǒng)等測(cè)試的設(shè)備，其可通過計(jì)算機(jī)編程取代人工勞動(dòng)，自動(dòng)化地完成測(cè) 試序列。然而，隨著單封裝系統(tǒng)(System-in-packetSIP)及單芯片系統(tǒng)(System-on-chip) 的不斷發(fā)展，自動(dòng)化...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。