專利名稱：確定填充液位的系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于確定包含在儲罐中的產(chǎn)品的填充液位的雷達液位計系統(tǒng)，和實現(xiàn) 這種填充液位確定的方法。
背景技術(shù)：
雷達液位計系統(tǒng)廣泛用于測量包含在儲罐中的產(chǎn)品的工藝參數(shù)，諸如填充液位、 溫度、壓力等。雷達液位計量通常借助于向包含在儲罐中的產(chǎn)品輻射電磁信號的非接觸測 量，或者借助于由充當(dāng)波導(dǎo)的探針把電磁信號引導(dǎo)到產(chǎn)品中的接觸測量(通常被稱為導(dǎo)波 雷達)來實現(xiàn)。探針通常從儲罐的頂部到底部垂直布置。電磁信號隨后在產(chǎn)品的表面被反 射，反射信號被包含在雷達液位計系統(tǒng)中的接收機或收發(fā)機接收。根據(jù)發(fā)送信號和反射信 號，能夠確定到產(chǎn)品表面的距離。更具體地說，通常根據(jù)發(fā)送電磁信號和接收其在儲罐中的氣氛與儲罐中的產(chǎn)品之 間的界面的反射之間的時間，來確定到產(chǎn)品表面的距離。為了確定產(chǎn)品的實際填充液位，根 據(jù)上面提及的時間(所謂的渡越時間)和電磁信號沿探針的傳播速度來確定從參考位置到 所述表面的距離。該傳播速度由各種因素，諸如探針的結(jié)構(gòu)和儲罐內(nèi)的環(huán)境條件決定。例如，所述環(huán) 境條件包括儲罐中的產(chǎn)品表面上方的氣氛的組成，和由于產(chǎn)品的填充液位在儲罐內(nèi)變化而 可能附著在探針上的產(chǎn)品殘留。US6867729和US5249463公開了用于補償儲罐中產(chǎn)品表面上方的氣氛中變化的蒸 氣濃度的不同系統(tǒng)。在US6867729中公開的液位測量系統(tǒng)通常以較低的增益工作，以確定容納在儲罐 中的材料的料位，并且定期以較高的增益工作，以確定到沿探針設(shè)置在探針的預(yù)期傳感區(qū) 上方的目標標記的距離。確定的到目標標記的距離被用于針對料位上方的蒸氣的性質(zhì)，來 補償所確定的料位。在US5249463中公開的用于測量水位的液位測量系統(tǒng)包含在最高水位上方設(shè)置 有一對間隔開的參考不連續(xù)點的探針。參考不連續(xù)點之間的測量距離和已知距離之間的差 值被用于提供水位的測量結(jié)果，該測量結(jié)果與水位上方的蒸氣的介電常數(shù)的變化無關(guān)。除蒸氣濃度之外，在上述文獻中公開的系統(tǒng)和方法都沒有考慮影響沿探針的傳播 速度的其它因素，因此并不適合于在諸如探針污染的其它因素占支配地位的情況下使用。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷和其它缺陷，本發(fā)明的一般目的是，提供一種改進的雷 達液位計系統(tǒng)和方法，具體地講，提供一種能夠提供針對儲罐中的環(huán)境條件而調(diào)整的測量 結(jié)果的雷達液位計系統(tǒng)和方法。按照本發(fā)明的第一方面，通過一種借助雷達液位計系統(tǒng)來確定儲罐中的產(chǎn)品的填 充液位的方法來實現(xiàn)這些和其它目的，所述雷達液位計系統(tǒng)包括生成、發(fā)送和接收電磁信
6號的收發(fā)機；與該收發(fā)機相連接的探針，用于把發(fā)送電磁信號從收發(fā)機引導(dǎo)到儲罐內(nèi)的產(chǎn) 品內(nèi)，并把由產(chǎn)品表面反射發(fā)送電磁信號而產(chǎn)生的反射電磁信號返回收發(fā)機；以及多個參 考反射體，每個參考反射體沿探針被布置在相應(yīng)的已知位置，并被配置成把發(fā)送電磁信號 的一部分反射回收發(fā)機。所述方法包括下述步驟根據(jù)由參考反射體反射的接收電磁信號， 識別位于產(chǎn)品表面上方的一組參考反射體；選擇包含在所述一組參考反射體中的第一和第 二參考反射體；根據(jù)所述第一和第二參考反射體之間的已知距離、和利用分別由第一和第 二參考反射體反射的接收電磁信號確定的第一和第二參考反射體之間的距離，確定傳播速 度補償因數(shù)；以及根據(jù)由產(chǎn)品表面反射的接收電磁信號和所述傳播速度補償因數(shù)，確定填 充液位。應(yīng)注意，按照本發(fā)明的方法決不局限于按照任何特定的順序來執(zhí)行其步驟。在本申請的上下文中，“探針”是用于引導(dǎo)電磁信號的波導(dǎo)?？梢允褂脦追N類型的 探針，例如單線(古博式)探針和雙線探針。探針可以是大致剛性或柔性的，并且它們可由 諸如不銹鋼的金屬、諸如PIFE的塑料、或者它們的組合制成?！笆瞻l(fā)機”可以是一個能夠發(fā)送和接收電磁信號的功能單元，或者可以是包含獨立 的發(fā)射機單元和接收機單元的系統(tǒng)。儲罐可以是能夠容納產(chǎn)品的任何容器或器皿，并且可以是金屬的、或者部分或完 全是非金屬的，可以是敞開的、半敞開的或者是封閉的。每個參考反射體可被實現(xiàn)成能夠反射沿探針傳播的電磁信號的結(jié)構(gòu)，并且可以借 助于探針外部的結(jié)構(gòu)、探針中的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、或者它們的組合來實現(xiàn)。此外，不同的參考反射 體可以被設(shè)置成相同或不同的反射結(jié)構(gòu)。每個參考反射體的位置“已知”意味著先前已利用任何適當(dāng)?shù)臏y量技術(shù)確定了該 位置。例如，可根據(jù)由相應(yīng)參考反射體反射的接收電磁信號來確定所述位置，但所述確定是 在受控條件下，諸如在雷達液位計系統(tǒng)的生產(chǎn)過程中，或者當(dāng)安裝雷達液位計系統(tǒng)但是探 針是干凈的并且儲罐是空的時進行的。此外，可通過一般約l_2m的間隔來規(guī)則或不規(guī)則地隔開參考反射體。尤其是在較 長探針，諸如長度大于例如15-20m的探針的情況下，有利的是沿著探針把參考反射體布置 成被不規(guī)則地間隔，以避免干擾效應(yīng)。在本申請的上下文中，如果相鄰參考反射體之間的距離的標準偏差大于雷達液位 計系統(tǒng)的可實現(xiàn)距離分辨率的四分之一，則參考反射體應(yīng)當(dāng)被理解成被不規(guī)則地隔開。對例證的脈沖長度為Ins的脈沖GWR式雷達液位計系統(tǒng)來說，距離分辨率約為 150mm,即，為了能夠區(qū)分兩個相鄰的回波信號，這些回波信號應(yīng)由相隔至少150mm的阻 抗轉(zhuǎn)變處的反射引起。因此，對于這樣的系統(tǒng)，上面提及的標準偏差應(yīng)至少為150/4 = 37. 5mm。實際上，標準偏差最好應(yīng)稍微更大，諸如50mm以上，尤其是對具有許多(大于約20 個)參考反射體的長探針(長度大于約20m)來說更是如此。這將有效降低來自不同參考反射體的反射和多次反射之間的協(xié)同效應(yīng)，并允許更 小的間隔距離和/或更多數(shù)量的反射體。本發(fā)明的基礎(chǔ)在于認識到，利用根據(jù)位于待測量產(chǎn)品的表面上方的兩個參考反射 體之間的測量距離和已知距離而獲得的補償因數(shù)，能夠提高填充液位測量的精度。此外，發(fā) 明人認識到，如果這兩個參考反射體中的至少一個位于儲罐中一個液位范圍內(nèi)的液位，則能夠?qū)崿F(xiàn)改進的補償，其中在儲罐的正常使用期間，填充液位在所述液位范圍內(nèi)波動。從 而，參考反射體中的至少一個會被產(chǎn)品覆蓋，在所述兩個參考反射體之間的探針上會發(fā)生 產(chǎn)品的累積。結(jié)果，除了在表面上方存在蒸氣的影響之外，還能夠利用確定的傳播速度補償 因數(shù)，來補償探針污染對電磁信號的傳播速度的影響。按照一個實施例，通過主要沿探針的長度設(shè)置參考反射體，可確保至少一個參考 反射體位于上述液位范圍內(nèi)。此外，探針上的濃縮殘留物-“塊”-會產(chǎn)生難以與表面回波區(qū)分開的干擾回波。 通過本發(fā)明，能夠確定回波是否位于產(chǎn)品表面上方，并從而可能產(chǎn)生于附著在探針的未被 浸沒部分上的塊。此外，能夠改進到包含在儲罐中并被上層產(chǎn)品覆蓋的產(chǎn)品的距離的測量，因為能 夠使用到漫沒在上層產(chǎn)品中的參考反射體的已知距離和測量距離來準確地確定上層產(chǎn)品 的介電常數(shù)。根據(jù)每個參考反射體沿探針的已知位置和測量位置之間的差值，能夠識別位于產(chǎn) 品表面上方的一組參考反射體。例如，發(fā)送電磁信號和接收發(fā)送的電磁信號在特定參考反射體的反射之間的時間 可被用于確定該參考反射體的測量位置。當(dāng)按照這種方式確定時，到參考反射體的測量距 離，從而參考反射體的測量位置與電磁信號沿探針的傳播速度有關(guān)。如果某個反射體被浸 沒在產(chǎn)品中，則與探針的未被浸沒部分相比，探針的被浸沒部分的傳播速度明顯較低。因 此，與未被浸沒的反射體相比，被浸沒的參考反射體的測量位置和已知位置之間的差值明 顯較大。可替換地，相鄰參考反射體之間的測量距離和已知距離之間的差值可被用于識別 對于儲罐中的某個填充液位，哪些參考反射體被浸沒。此外，有利的是，第一參考反射體可被選為上面提及的一組參考反射體中位置最 接近產(chǎn)品表面的參考反射體。換句話說，第一參考反射體可被選為最接近產(chǎn)品表面的未被 浸沒的參考反射體。通過這種選擇，能夠根據(jù)儲罐中盡可能接近產(chǎn)品表面的條件，來確定補償因數(shù)。這 通常會導(dǎo)致更準確的補償，尤其是在探針被產(chǎn)品污染的情況下，因為產(chǎn)品(例如一層油或 其它物質(zhì))的污染沿探針是很不均勻的。另外，對于存在于儲罐中的蒸氣分布不均勻的情況來說，這種選擇也會產(chǎn)生更準 確的測量結(jié)果。按照一個實施例，第二參考反射體可被選為最接近第一參考反射體的未被浸沒的 參考反射體，從而能夠獲得第一參考反射體和產(chǎn)品表面之間的測量條件(諸如，探針污染， 蒸氣濃度等)的最接近的可能近似。按照另一個實施例，第二參考反射體可被選為位置在第一參考反射體上方較遠的 參考反射體，以便在儲罐中均勻分布蒸氣和/或在探針上均勻分布產(chǎn)品的情況下，獲得更 準確的補償因數(shù)。例如，第二參考反射體可以是最接近罐頂?shù)膮⒖挤瓷潴w，或者可選擇收發(fā) 機和探針之間的連接處的阻抗轉(zhuǎn)變作為第二參考反射體。此外，有利的是，能夠通過確定第一參考反射體和表面之間的調(diào)整后距離，并把該 調(diào)整后距離與到第一參考反射體的已知距離相加，來獲得到產(chǎn)品表面的補償后距離。應(yīng)明白，上面提及的每個距離是從收發(fā)機附近的參考位置，諸如收發(fā)機和探針之
8間的連接處的阻抗轉(zhuǎn)變、或者罐頂、工藝密封件、連接法蘭等確定的。通過使用到第一參考反射體的已知距離，并且只關(guān)于沿探針的較短距離補償傳播 速度，能夠?qū)τ诖_定補償因數(shù)過程中的誤差的敏感性保持在較低的水平。為了便于分析從收發(fā)機接收的返回反射信號獲得的回波波形，可從該回波波形中 減去由參考反射體處的反射引起的參考反射體回波或者說參考回波。這是有用的，因為參 考回波肯定與由儲罐中的產(chǎn)品表面反射的電磁信號引起的表面回波具有相同數(shù)量級。按照本發(fā)明的第二方面，通過一種用于確定儲罐中的產(chǎn)品的填充液位的雷達液位 計系統(tǒng)來實現(xiàn)上面提及的目的和其它目的。所述雷達液位計系統(tǒng)包括用于生成、發(fā)送和接 收電磁信號的收發(fā)機；與收發(fā)機連接的探針，用于把發(fā)送電磁信號從收發(fā)機引導(dǎo)到儲罐內(nèi) 的產(chǎn)品內(nèi)，并把由產(chǎn)品表面反射發(fā)送電磁信號而引起的反射電磁信號返回收發(fā)機。雷達液 位計系統(tǒng)進一步包括多個參考反射體和處理電路，每個參考反射體沿探針被布置在相應(yīng)的 已知位置，并被配置成把發(fā)送電磁信號的一部分反射回收發(fā)機，其中，所述多個參考反射體 包括位于表面上方并且位于儲罐中一個液位范圍內(nèi)的液位的第一參考反射體，以及位于 第一參考反射體上方已知距離處的第二參考反射體，其中在儲罐的正常使用期間，填充液 位在所述液位范圍內(nèi)波動；所述處理電路與收發(fā)機連接，用于根據(jù)分別由產(chǎn)品表面以及第 一和第二參考反射體反射的接收電磁信號、以及第一和第二參考反射體之間的已知距離， 來確定填充液位。如上結(jié)合本發(fā)明的第一方面所述，第一參考反射體和第一參考反射體上方的一部 分探針通常之前已被漫沒在儲罐內(nèi)的產(chǎn)品中，從而已被一層產(chǎn)品污染。通過提供該第一參 考反射體，能夠更準確地確定填充液位，因為這種填充液位確定能夠?qū)τ谌魏翁结樜廴疽?及儲罐內(nèi)的氣氛中的蒸氣濃度而被補償。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員公知，在正常使用期間填充液位波動的典型液位范圍是儲 罐總高度的0% -90%。為了便于區(qū)分由參考反射體反射的電磁信號和由產(chǎn)品表面反射的電磁信號，有利 的是，每個參考反射體可包含為發(fā)送電磁信號提供到較高阻抗的第一阻抗轉(zhuǎn)變的上部；以 及為發(fā)送電磁信號提供到較低阻抗的第二阻抗轉(zhuǎn)變的下部，所述上部和下部沿探針隔開一 定距離，選擇所述距離，使得由第一阻抗轉(zhuǎn)變反射的電磁信號和由第二阻抗轉(zhuǎn)變反射的電 磁信號一起構(gòu)成具有正部分和負部分的復(fù)合反射電磁信號，從而便于區(qū)分由參考反射體反 射的接收電磁信號。具有某一極性的發(fā)送電磁信號，諸如“正”脈沖在到較低阻抗的轉(zhuǎn)變處的反射信 號具有與發(fā)送電磁信號相同的極性，而在到較高阻抗的轉(zhuǎn)變處的反射信號將具有相反的極 性。由間隔適當(dāng)距離的這種相反阻抗轉(zhuǎn)變反射的電磁信號將產(chǎn)生具有極性相反的部分的復(fù) 合電磁信號。這將使這種信號能夠容易地與由產(chǎn)品表面反射的信號區(qū)分開，因為表面一般 只提供一個單獨的阻抗轉(zhuǎn)變(一般轉(zhuǎn)變成較低阻抗)。所述上部和下部之間的適當(dāng)距離與脈沖時間有關(guān)，對于Ins脈沖，約100mm的距離 將產(chǎn)生易于區(qū)分的復(fù)合電磁信號。然而，應(yīng)明白，在該例證距離左右的許多距離也將達到相 同的目的。本發(fā)明的該第二方面的其它實施例，以及通過本發(fā)明的該第二方面獲得的效果與 上面關(guān)于本發(fā)明的第一方面說明的在很大程度上類似。
按照本發(fā)明的第三方面，通過一種確定儲罐中的產(chǎn)品的填充液位的雷達液位計系 統(tǒng)來實現(xiàn)上面提及的目的和其它目的。該雷達液位計系統(tǒng)包括用于生成、發(fā)送和接收電磁 信號的收發(fā)機；與收發(fā)機連接的探針，用于把發(fā)送電磁信號從收發(fā)機引導(dǎo)到儲罐內(nèi)的產(chǎn)品 內(nèi)，并在產(chǎn)品表面反射之后把反射電磁信號返回到收發(fā)機。該雷達液位計系統(tǒng)進一步包括 多個參考反射體和處理電路，每個參考反射體沿探針被布置在相應(yīng)的已知位置，并被配置 成把發(fā)送電磁信號的一部分反射回收發(fā)機，其中，每個參考反射體具有為發(fā)送電磁信號提 供到較高阻抗的第一阻抗轉(zhuǎn)變的上部；以及為發(fā)送電磁信號提供到較低阻抗的第二阻抗轉(zhuǎn) 變的下部，所述上部和下部沿探針隔開一定距離，選擇所述距離，使得由第一阻抗轉(zhuǎn)變反射 的電磁信號和由第二阻抗轉(zhuǎn)變反射的電磁信號一起構(gòu)成具有正部分和負部分的復(fù)合反射 電磁信號；所述處理電路與收發(fā)機相連接，用于根據(jù)由表面反射的接收電磁信號、和至少由 包含在多個參考反射體中的第一參考反射體反射的接收電磁信號，來確定填充液位。本發(fā)明的第三方面的各個實施例，以及通過本發(fā)明的第三方面獲得的效果與上面 關(guān)于本發(fā)明的第一和第二方面說明的在很大程度上類似。


下面參考顯示目前優(yōu)選的本發(fā)明實施例的附圖，更詳細地說明本發(fā)明的這些和其 它方面，其中圖la示意地示例了安裝在例證儲罐中的按照本發(fā)明實施例的雷達液位計系統(tǒng)。圖lb是包含在圖la中的雷達液位計系統(tǒng)中的測量電子單元的示意圖。圖lc是包含在圖la中的雷達液位計系統(tǒng)中的探針的一部分的示意橫截面圖。圖2a示意地示例了適合于用在按照本發(fā)明的雷達液位計系統(tǒng)中的例證參考反射 體。圖2b示意地示例了從圖2a中的參考反射體處的反射獲得的回波信號。圖3a_c示意地示例了在按照本發(fā)明的雷達液位計系統(tǒng)的各個實施例中使用的各 種例證參考反射體。圖4a是示意地示例了由圖la中的雷達液位計系統(tǒng)獲得的例證回波波形的圖。圖4b是示出在除去參考回波之后圖4a中的回波波形的圖。圖5是示意地示例了按照本發(fā)明的方法的優(yōu)選實施例的流程圖。
具體實施例方式在下面詳細說明中，主要參照利用剛性單線(或古博)探針的脈沖導(dǎo)波雷達(GWR) 液位計系統(tǒng)，來討論按照本發(fā)明的雷達液位計系統(tǒng)的各個實施例。應(yīng)注意這決不限制本發(fā) 明的范圍，本發(fā)明同樣適用于各種其它種類的探針，諸如雙線探針、柔性探針等。此外，主要參照借助于測量發(fā)送脈沖和反射脈沖之間的時間的填充液位確定。然 而，對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明的技術(shù)顯然同樣適用于通過例如調(diào)頻連續(xù)波(FMCW) 測量，利用相位信息來確定填充液位的雷達液位計系統(tǒng)。當(dāng)使用在載波上調(diào)制的脈沖時，也 可利用相位信息。圖la示意地示例了按照本發(fā)明的一個實施例的雷達液位計系統(tǒng)1，它包含測量電 子單元2、和具有多個參考反射體4a-j的探針3。雷達液位計系統(tǒng)1設(shè)置在儲罐5上，儲罐5被部分填充有待測量的產(chǎn)品6。通過分析由探針3引導(dǎo)到產(chǎn)品6的表面7的發(fā)送信號ST、 和從表面7傳播回來的反射信號SK，測量電子單元2能夠確定參考位置(諸如罐頂)和產(chǎn) 品6的表面7之間的距離，從而能夠推斷填充液位。應(yīng)注意，盡管這里討論的是包含單一產(chǎn) 品6的儲罐5，但按照類似方式，可以測量到沿探針的任意材料界面的距離。如圖lb中示意所示，電子單元2包含用于發(fā)送和接收電磁信號的收發(fā)機10 ；與收 發(fā)機10連接的處理單元11，用于控制收發(fā)機，并處理由收發(fā)機接收的信號，從而確定儲罐5 中的產(chǎn)品6的填充液位。此外，處理單元11能夠經(jīng)由接口 12與用于模擬和/或數(shù)字通信 的外部通信線路13相連接。此外，盡管圖lb中未示出，但雷達液位計系統(tǒng)1 一般能夠與外 部電源連接，或者可通過外部通信線路13供電?？商鎿Q地，雷達液位計系統(tǒng)1可被配置成 無線地進行通信。在圖lc中，示出了包含被浸沒部分20和未被浸沒部分21的一段探針3。從圖lc 中可看出，探針3的被浸沒部分20具備被漫沒的參考反射體4f-j，探針3的未被浸沒部分 21具備一組未被浸沒的參考反射體4a_e。由于儲罐5中的產(chǎn)品6的填充液位的變化，一層 22產(chǎn)品6可附著在探針3上。顯然，探針3的從未被浸沒到產(chǎn)品6中的部分將不具有這樣 的層，而交替地被浸沒和未被浸沒到產(chǎn)品6中的部分會在其上形成這樣的層22。圖lc中示 意地示例了這種情況，圖中示出了一直到所示液位k，存在產(chǎn)品6的逐漸變薄的附著層22。由于該不均勻的污染層22，沿探針傳播的電磁信號將具有與沿探針3的位置有關(guān) 的傳播速度VP(Z)。如果得不到補償，則這種位置相關(guān)傳播速度 (2)會造成顯著的測量誤 差。然而，通過本發(fā)明，使用設(shè)置在探針3的未被浸沒部分21上的參考反射體的已知位置 之間的關(guān)系來補償探針3上的層22。圖2a_b示意地示出第一例證參考反射體，和從該參考反射體獲得的可區(qū)分回波信號。在圖2a中，參考反射體30被示出設(shè)置在探針3的一部分上。按照目前示例的例 子，以兩半31a和31b的形式來設(shè)置參考反射體30，借助兩個夾具34a_b將所述兩半31a和 31b夾到探針3上。參考反射體30具有長度為L。的大致為圓柱形的部分32，和每一個長 度為Le的大致為截頭圓錐形狀的第一和第二端部33a-b，所述第一和第二端部33a-b平滑 地朝向探針3傾斜。通過提供圖2a中的參考反射體30，探針3局部變得更厚，從而局部表現(xiàn)出較低的 阻抗。因此，沿探針3向下傳播的電磁信號ST將部分首先在參考反射體30的頂端被反射， 隨后在參考反射體的底端被反射。在參考反射體的頂端的反射是到較低阻抗的轉(zhuǎn)變處的反 射結(jié)果，因此所得到的反射信號SK1具有與輸入信號ST相同的符號。類似地，在參考反射體 的底端處的反射將產(chǎn)生符號/極性與輸入信號ST相反的反射信號SK2。圖2a中的參考反射體30的斜坡端部33a_b的目的是避免形成能夠在其上累積儲 罐5中的產(chǎn)品6并干擾測量的凸出物。此外，參考反射體30的每個斜坡端部33a-b的長度 應(yīng)明顯短于脈沖系統(tǒng)的脈沖長度。例如，在Ins脈沖的情況下，脈沖長度約為150mm，每個斜 坡端部33a-b的長度Le應(yīng)小于約20mm。應(yīng)注意，斜坡端部33a_b可具有彼此不同的長度和 /或形狀。選擇圖2a中的參考反射體30的直徑，使得在參考反射體的每個端部，輸入信號ST 的功率的大約被反射。
此外，有利地選擇參考反射體30的中心部分的長度L。，使得頂端和底端的反射信 號Ski和Sk2組合形成易于區(qū)分的波形。下面提供圖2a中的參考反射體的例證尺寸，以便得到適當(dāng)?shù)膮⒖挤瓷潴w信號，同 時降低過度探針污染的風(fēng)險，這些尺寸理想地導(dǎo)致圖2b中示意所示的波形。脈沖系統(tǒng)-脈沖長度tp Ins探針直徑d :6mm參考反射體直徑D :20mm圓柱形部分的長度L。:100-150mm斜坡部分的長度Le < 20mm。由于沿探針的阻抗的變化，這些參數(shù)一般會產(chǎn)生約0. 08的反射系數(shù)(Imm的PTFE 層會產(chǎn)生約0. 14的反射系數(shù))。因此，避免了沿探針3發(fā)送的電磁信號的過度衰減，同時獲 得了由參考反射體處的反射引起的可區(qū)分信號。如上所述，將存在時間上分離并且極性相反的兩個反射信號Ski和SK2。通過使反 射信號Ski和Sk2之間的時間t。與脈沖長度tp相匹配，輸入的半周期將被反映為易于區(qū)分的 全周期。在由上面給出的參數(shù)表示的例證情況下，圓柱形部分32的長度L?？杀贿x擇成例 如約100mm，以產(chǎn)生如圖2b所示的被浸沒的參考反射體30的復(fù)合反射信號SK1+SK2的全周 期曲線(在對微波輻射來說透明的液體中，tp = Ins對應(yīng)于約100mm)?？商鎿Q地，長度L。 可被選擇成約為150mm，以產(chǎn)生未被浸沒的參考反射體30的全周期曲線。顯然，可以選擇其 它長度L。以獲得易于區(qū)分的復(fù)合反射信號。上面，舉例說明了用于脈沖導(dǎo)波雷達GWR系統(tǒng)的參考反射體30的設(shè)計，其中以 獲得易于區(qū)分的反射信號的方式，使參考反射體30的長度L。與脈沖長度tp相關(guān)。對于 FMCW(調(diào)頻連續(xù)波)式GWR系統(tǒng)來說，參考反射體30的長度L。應(yīng)改為與FMCW式系統(tǒng)的掃 頻特性的中心頻率相關(guān)。具體地講，參考反射體30的長度L。應(yīng)對應(yīng)于發(fā)送信號的中心頻 率的波長的四分之一。對FMCW式系統(tǒng)來說，產(chǎn)品(在透明產(chǎn)品的情況下)中的發(fā)送信號的 波長最相關(guān)，因為通過恰當(dāng)?shù)剡x擇其尺寸，可使被浸沒的參考反射體30實際上不可見。作 為適配參考反射體30的長度L。以使得當(dāng)被浸沒時獲得希望的不可見性的一種備選方案， 可以沿探針間隔四分之一波長(FMCW掃頻的中心頻率的波長)的兩個獨立反射體的形式來 提供參考反射體。上面，參考圖2a說明了適當(dāng)?shù)膮⒖挤瓷潴w的一個例證實施例。由于由金屬構(gòu)成，并且沒有任何梯級或棱邊，該參考反射體實施例經(jīng)久耐用，并不易于累積過量的產(chǎn)品污染。 然而，其它設(shè)計和材料選擇也是可能的，并且優(yōu)選地取決于特定的應(yīng)用。下面，參考圖3a_c 說明和討論許多備選實施例。按照圖3a中示意地示例的第一備選實施例，可以形狀大致與圖2a中的參考反射 體相同的絕緣體的形式來提供參考反射體40。例如，該絕緣參考反射體40可由PTFE或者 另一適當(dāng)絕緣材料或者材料的組合構(gòu)成。計算指出，與圖2a中的金屬套筒參考反射體30的 情況相比，圖3a中的參考反射體40的中心部分41的直徑Dd可以較小。為了獲得對應(yīng)的功 能，對于6mm的探針直徑d來說，絕緣參考反射體40的直徑Dd可以是約9_12mm。此外，可 以附著在探針3上的集成部分的形式來提供絕緣體，以避免形成否則會被儲罐5中的產(chǎn)品6滲入的空間。例如，可圍繞探針3模制絕緣體，或者可以分離部件的形式來提供絕緣體，隨 后所述絕緣體被熔化，并可以在沿探針3的希望位置被硬化。
按照圖3b中示意地示例的第二備選實施例，可以由固定器47a_b附于探針上的 金屬板46的形式來提供參考反射體45。在電氣意義上，這種金屬板46局部地使探針3變 厚。即，在金屬板46所在位置，探針3的阻抗較低。例如，寬度W= 2D。的鋼板在電氣上對 應(yīng)于圖2a中的直徑為D。的套筒式參考反射體30。圖3b中的參考反射體45更易于制造和 附著，但對儲罐中的產(chǎn)品的污染更敏感。在圖3c中，示意地示例了參考反射體46的第三備選實施例，按照該實施例，金屬 板47被附著在雙線探針3上。通過上面說明的參考反射體配置，便于使用參考反射體更準確地確定儲罐中的產(chǎn) 品的填充液位，因為能夠容易地把來自參考反射體的回波信號與來自產(chǎn)品表面處的反射的 回波信號區(qū)分開，和/或(在FMCW的情況下)因為對于被浸沒在產(chǎn)品中的參考反射體，來 自參考反射體的回波信號消失。下面參考圖4a_b示例了對于脈沖GWR系統(tǒng)，布置參考反射體以產(chǎn)生易于區(qū)分的回 波的優(yōu)點。圖4a是示例了典型的回波波形50的圖，其中示出了接收信號的位置ζ和幅度 Α(ζ)。參見圖4a，回波波形50包括由參考反射體4c_f和產(chǎn)品6的表面7處的反射產(chǎn)生 的回波。如圖4a中所示，由于每個參考反射體回波51c_f形成具有正部分53a和負部分 53b的全波波形，而表面回波只具有正部分，所以能夠區(qū)分由參考反射體4c-f處的反射引 起的參考反射體回波51c-f和表面回波52。注意，圖4中的例證回波波形50中的表面回波 52的幅度與參考回波的幅度具有相同數(shù)量級。區(qū)分參考反射體回波51c_f和表面回波的能力可被用于例如從回波波形50中除 去參考反射體回波，從而形成“干凈”的回波波形54，如圖4b中示意所示。下面參考圖5中的流程圖，說明按照本發(fā)明的填充液位確定方法的優(yōu)選實施例。在第一步驟501，通過搜索回波波形50(參見圖4a)中的可區(qū)分參考回波，來確定 沿探針3的參考反射體4a_j(參見圖la-c)的近似測量位置。之后，在步驟502，進行曲線 擬合，以微調(diào)參考反射體4a-j的測量位置。隨后，在步驟503，用新測量的參考反射體位置 來更新包含先前測量的參考反射體位置的表格。之后，在步驟504，分析參考反射體4a_j的測量位置和已知位置之間的差值，以確 定參考反射體4a-j中有哪些被浸沒在產(chǎn)品6中，哪些未被浸沒在產(chǎn)品6中。參考反射體的 測量位置和已知位置之間的較大差值指示該參考反射體被浸沒在產(chǎn)品6中，因為與在產(chǎn)品 之外相比，電磁信號沿探針的傳播速度在產(chǎn)品中較低。傳播速度Vprap由下面的關(guān)系式確定
V0νρηφ其中，V0是在真空中電磁信號沿探針的傳播速度；ε r是產(chǎn)品的相對介電常數(shù)。
在這樣識別了位于儲罐5中的產(chǎn)品6的表面7上方的一組參考反射體4a_e之后，在步驟505中，從位置最接近表面7的未被浸沒參考反射體4e，換句話說，從探針3的收發(fā) 機一側(cè)看來在所述表面上方的最后一個參考反射體的位置開始，搜索回波波形50以尋找 表面回波。這樣，實質(zhì)上消除了錯誤地識別干擾回波，諸如由附著在表面7上方的探針3上 的濃縮產(chǎn)品“塊”處的反射引起的回波的風(fēng)險，并補償了最接近產(chǎn)品6的表面7的條件。如果在下一步驟506確定沒有檢測到表面回波，則方法進入步驟507以指示未檢 測到表面回波。如果在步驟506確定檢測到表面回波42，則在步驟508利用來自兩個未被浸沒參 考反射體的回波，來計算表示傳播速度的補償因數(shù)。為了獲得關(guān)于表面7附近的諸如探針 污染、蒸氣濃度等的因素的條件的最接近可能近似，優(yōu)選地使用位置最接近產(chǎn)品6的表面7 的兩個未被浸沒參考反射體4d和4e的數(shù)據(jù)。利用下面的關(guān)系式來計算補償因數(shù)，或者說 傳播速度比例因子PropScaleFact = [KnownDist (4e) - KnownDist (4d) ] / [ElecDist(4e)-ElecDist(4d)]其中KnownDist (4e)是到最接近產(chǎn)品表面7的未被浸沒參考反射體4e的已知距離；KnownDist (4d)是到次接近產(chǎn)品表面7的未被浸沒參考反射體4d的已知距離；ElecDist (4e)是到最接近產(chǎn)品表面7的未被浸沒參考反射體4e的測量的電氣距離；ElecDist (4d)是到次接近產(chǎn)品表面7的未被浸沒參考反射體4d的測量的電氣距罔。在最后的步驟509中，利用到位置最接近表面7的未被浸沒參考反射體4e的已知 距離、到表面7的測量的電氣距離、和在步驟508確定的補償因數(shù)，來計算到表面的距離。利 用下面的關(guān)系式來確定到表面7的距離MeasDistSurface = KnownDist(4e)+PropScaleFact (ElecDistSurface-ElecDis t(4d)其中，ElecDistSurface是根據(jù)發(fā)送電磁信號與在表面7處反射之后返回的接收 信號之間的延遲確定的到表面7的電氣距離。本領(lǐng)域的技術(shù)人員會認識到，本發(fā)明決不局限于上面說明的優(yōu)選實施例。例如，可 根據(jù)到在表面上方的其它參考反射體的測量距離和已知距離，來確定補償因數(shù)。此外，用于 搜索表面回波的起點可以更接近探針的收發(fā)機端。另外，可從回波波形中減去參考回波，以 便于確定表面回波，尤其是當(dāng)從接近探針的收發(fā)機端的位置開始搜索表面回波時。此外，關(guān)于與之相關(guān)的權(quán)利要求，發(fā)明人意識到，按照本發(fā)明的方法和系統(tǒng)可包括 確定雷達液位計系統(tǒng)是否正確運行。雷達液位計系統(tǒng)是否正確運行的確定是在遠離進行液 位測量的地方的位置進行的。只要確定了產(chǎn)品的表面的位置，和至少一個參考反射體，優(yōu)選 是表面上方的參考反射體的位置，即使例如當(dāng)傳播速度近似等于真空的傳播速度時不需要 傳播速度補償因數(shù)來校正測量的填充液位，也可應(yīng)用該特征。這種安排的一個優(yōu)點在于，本 發(fā)明的系統(tǒng)和方法的用戶可獲得關(guān)于雷達液位測量的正確功能性的附加置信度。從而，用 戶或者由用戶支配的監(jiān)控系統(tǒng)可以采取行動以改善雷達液位測量被確定未正確運行的情 況。
權(quán)利要求
一種借助于雷達液位計系統(tǒng)(1)來確定儲罐(5)中的產(chǎn)品(6)的填充液位的方法，所述雷達液位計系統(tǒng)(1)包括收發(fā)機(10)，用于生成、發(fā)送和接收電磁信號；探針(3)，與所述收發(fā)機(10)連接，用于把發(fā)送電磁信號(ST)從所述收發(fā)機(10)引導(dǎo)到儲罐內(nèi)的所述產(chǎn)品內(nèi)，并把由所述產(chǎn)品的表面(7)反射所述發(fā)送電磁信號而產(chǎn)生的反射電磁信號(SR)返回所述收發(fā)機(10)；以及多個參考反射體(4a-j)，每個參考反射體沿探針(3)被布置在相應(yīng)的已知位置，并被配置成把所述發(fā)送電磁信號的一部分反射回所述收發(fā)機，所述方法包括下述步驟根據(jù)由所述參考反射體反射的接收電磁信號，來識別(504)位于產(chǎn)品的所述表面(7)上方的一組參考反射體(4a-e)；選擇包含在所述一組參考反射體中的第一參考反射體(4e)和第二參考反射體(4d)；根據(jù)所述第一參考反射體(4e)和第二參考反射體(4d)之間的已知距離、和利用分別由所述第一和第二參考反射體反射的接收電磁信號確定的所述第一和第二參考反射體之間的距離，來確定(508)傳播速度補償因數(shù)；以及根據(jù)由產(chǎn)品的所述表面(7)反射的接收電磁信號和所述傳播速度補償因數(shù)，來確定(509)所述填充液位。
2.按照權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述識別步驟包括下述步驟對于每個參考反射體，評估該參考反射體的所述已知位置和利用所述接收電磁信號確 定的該參考反射體的位置之間的差值。
3.按照權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述第一參考反射體(4e)被選為所述一組 參考反射體中最接近產(chǎn)品的表面(7)的參考反射體。
4.按照權(quán)利要求1-3中任意一項所述的方法，其中，所述第二參考反射體被選為所述 一組參考反射體中最接近所述第一參考反射體(4e)的參考反射體(4d)。
5.按照權(quán)利要求1-3中任意一項所述的方法，其中，所述第二參考反射體被選為所述 一組參考反射體中離所述第一參考反射體(4e)最遠的參考反射體(4a)。
6.按照權(quán)利要求1-5中任意一項所述的方法，其中，所述傳播速度補償因數(shù)被確定為 第一和第二參考反射體之間的所述已知距離和利用所述接收電磁信號確定的第一和第二 參考反射體之間的距離的比值。
7.按照權(quán)利要求1-6中任意一項所述的方法，其中，所述確定填充液位的步驟包括下 述步驟根據(jù)利用分別被所述第一參考反射體和所述表面反射的接收電磁信號確定的所述第 一參考反射體和所述表面之間的距離、和所述傳播速度補償因數(shù)，來確定所述第一參考反 射體和所述產(chǎn)品的表面之間的補償距離；以及把所述補償距離與參考位置和所述第一參考反射體之間的已知距離相加。
8.按照權(quán)利要求1-7中任意一項所述的方法，進一步包括下述步驟 根據(jù)所述接收電磁信號來確定回波波形；以及從所述回波波形中減去由所述參考反射體反射所述發(fā)送電磁信號而產(chǎn)生的參考回波， 從而便于區(qū)分由產(chǎn)品的表面反射所述發(fā)送電磁信號而產(chǎn)生的表面回波。
9.一種用于確定儲罐(5)中的產(chǎn)品(6)的填充液位的雷達液位計系統(tǒng)(1)，所述雷達 液位計系統(tǒng)包含收發(fā)機(10)，用于生成、發(fā)送和接收電磁信號；探針(3)，與所述收發(fā)機(10)連接，用于把發(fā)送電磁信號(St)從所述收發(fā)機(10)引導(dǎo) 到儲罐內(nèi)的所述產(chǎn)品內(nèi)，并把由所述產(chǎn)品的表面(7)反射所述發(fā)送電磁信號而產(chǎn)生的反射 電磁信號(Sk)返回所述收發(fā)機(10)；多個參考反射體(4a_j)，每個參考反射體沿探針(3)被布置在相應(yīng)的已知位置，并被 配置成把所述發(fā)送電磁信號(St)的一部分反射回所述收發(fā)機(10)，其中所述多個參考反射 體包括第一參考反射體(4e)，位于所述表面(7)的上方，并且位于所述儲罐(5)中一個液位范 圍內(nèi)的液位，其中在所述儲罐(5)的正常使用期間，所述填充液位在所述液位范圍內(nèi)波動； 以及第二參考反射體(4d)，位于所述第一參考反射體(4e)上方的已知距離處；以及處理電路(11)，與所述收發(fā)機(10)連接，用于根據(jù)分別由產(chǎn)品的表面(7)以及第一參 考反射體(4e)和第二參考反射體(4d)反射的接收電磁信號、以及第一和第二參考反射體 之間的所述已知距離，來確定所述填充液位。
10.按照權(quán)利要求9所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述第二參考反射體(4d)被布 置在所述液位范圍內(nèi)的液位，其中在儲罐的正常使用期間，所述填充液位在所述液位范圍 內(nèi)波動。
11.按照權(quán)利要求9或10所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，在位于所述表面上方的參 考反射體(4a_e)中，所述第一參考反射體(4e)的位置最接近所述表面(7)。
12.按照權(quán)利要求9-11中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，在位于所述表面 上方的參考反射體(4a_e)中，所述第二參考反射體(4d)的位置最接近所述第一參考反射 體(4e)。
13.按照權(quán)利要求9-11中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，在位于所述表面 上方的參考反射體(4a_e)中，所述第二參考反射體(4a)最遠離所述第一參考反射體(4e)。
14.按照權(quán)利要求9-13中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，每個所述參考反 射體(4a-j)包含為所述發(fā)送電磁信號(St)提供到較高阻抗的第一阻抗轉(zhuǎn)變的上部；以及為所述發(fā)送電磁信號(St)提供到較低阻抗的第二阻抗轉(zhuǎn)變的下部，所述上部和下部沿探針⑶隔開一定距離(L。)，選擇所述距離(L。)，使得由所述第一阻 抗轉(zhuǎn)變反射的電磁信號(Ski)和由所述第二阻抗轉(zhuǎn)變反射的電磁信號(Sk2) —起形成具有正 部分和負部分的復(fù)合反射電磁信號，從而便于區(qū)分由所述參考反射體(4a_j)反射的接收 電磁信號。
15.按照權(quán)利要求9-14中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述參考反射體 (4a-j)基本上沿所述探針(3)的整個延伸分布。
16.按照權(quán)利要求9-15中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述參考反射體 (4a-j)沿所述探針(3)被不規(guī)則地隔開。
17.按照權(quán)利要求9-16中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述探針(3)是單線探針，并且以同軸布置在所述探針(3)上的大致圓柱形結(jié)構(gòu)(30)的形式來提供每個所 述參考反射體。
18.按照權(quán)利要求17所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述大致圓柱形結(jié)構(gòu)(30)包 含在其上端的上部大致截頭圓錐形部分(33a)、和在其下端的下部大致截頭圓錐形部分 (33b)。
19.按照權(quán)利要求9-16中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述探針(3)是 單線探針，以及以附著在探針上的反射板(46)的形式來提供每個所述參考反射體。
20.一種用于確定儲罐(5)中的產(chǎn)品(6)的填充液位的雷達液位計系統(tǒng)(1)，所述雷達 液位計系統(tǒng)包含收發(fā)機(10)，用于生成、發(fā)送和接收電磁信號；探針(3)，與所述收發(fā)機(10)連接，用于把發(fā)送電磁信號(St)從所述收發(fā)機引導(dǎo)到儲 罐內(nèi)的所述產(chǎn)品內(nèi)，并把在所述產(chǎn)品的表面(7)處反射后的反射電磁信號(Sk)返回所述收 發(fā)機(10)；多個參考反射體(4a_j)，每個參考反射體沿探針(3)被布置在相應(yīng)的已知位置，并被 配置成把所述發(fā)送電磁信號的一部分反射回所述收發(fā)機(10)，其中，每個所述參考反射體具有為所述發(fā)送電磁信號(St)提供到較高阻抗的第一阻抗轉(zhuǎn)變的上部；以及為所述發(fā)送電磁信號(St)提供到較低阻抗的第二阻抗轉(zhuǎn)變的下部，所述上部和下部沿探針⑶隔開一定距離(L。)，選擇所述距離(L。)，使得由所述第一阻 抗轉(zhuǎn)變反射的電磁信號(Ski)和由所述第二阻抗轉(zhuǎn)變反射的電磁信號(Sk2) —起構(gòu)成具有正 部分和負部分的復(fù)合反射電磁信號；以及處理電路(11)，與所述收發(fā)機(10)連接，用于根據(jù)由所述表面(7)反射的接收電磁信 號、和至少由包含在所述多個參考反射體中的第一參考反射體(4e)反射的接收電磁信號， 來確定所述填充液位。
21.按照權(quán)利要求20所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述第一參考反射體(4e)位 于產(chǎn)品(6)的所述表面(7)的上方。
22.按照權(quán)利要求20或21所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述第一參考反射體 (4e)位于所述儲罐(5)中一個液位范圍內(nèi)的液位，在所述儲罐的正常使用期間，所述填充 液位在所述液位范圍內(nèi)波動。
23.按照權(quán)利要求20-22中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，在位于所述表 面上方的參考反射體(4a_e)中，所述第一參考反射體(4e)的位置最接近所述表面(7)。
24.按照權(quán)利要求20-23中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述填充液位 確定還基于由位于所述第一參考反射體(4e)上方的第二參考反射體(4d)反射的接收電磁 信號。
25.按照權(quán)利要求24所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，在位于所述表面上方的參考反 射體中，所述第二參考反射體(4d)的位置最接近所述第一參考反射體(4e)。
26.按照權(quán)利要求20-25中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述參考反射 體(4a-j)基本上沿所述探針(3)的整個延伸分布。
27.按照權(quán)利要求20-26中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述參考反射體(4a_j)沿所述探針(3)被不規(guī)則地隔開。
28.按照權(quán)利要求20-27中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述探針(3) 是單線探針，以及以同軸布置在所述探針上的大致圓柱形結(jié)構(gòu)(30)的形式來提供每個所 述參考反射體。
29.按照權(quán)利要求28所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述大致圓柱形結(jié)構(gòu)(30)包含在其上端的上部大致截頭圓錐形部分(33a)、和在其下端的下部大致截頭圓錐形部分 (33b)。
30.按照權(quán)利要求20-27中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)(1)，其中，所述探針(3) 是單線探針，以及以附著在探針(3)上的反射板(46)的形式來提供每個所述參考反射體。
31.按照權(quán)利要求1-8中任意一項所述的方法，進一步包括在雷達液位計的外部傳送表示確定的填充液位的第一值、和表示所述第一和第二參考 反射體之間的確定距離的第二值，根據(jù)包括第一值、第二值的至少兩個量值，以及所述第一和第二參考反射體之間的已 知距離，在雷達液位計的遠程確定雷達液位計是否正確運行。
32.按照權(quán)利要求9-30中任意一項所述的雷達液位計系統(tǒng)，進一步包括位于處理電路附近的第一通信電路，以及布置成遠離所述第一通信電路并且包括用于 確定雷達液位計系統(tǒng)是否正確運行的確定電路的第二通信電路，所述第一通信電路用于把第一值和第二值傳送給第二通信電路，所述第一值表示由所 述表面反射的電磁信號，所述第二值表示由包含在所述多個參考反射體中的至少一個參考 反射體反射的電磁信號，所述確定電路用于根據(jù)包括第一值、第二值的至少兩個量值，以及所述至少一個參考 反射體的已知位置，來確定雷達液位計系統(tǒng)是否正確運行。
全文摘要
一種用于借助雷達液位計系統(tǒng)來確定儲罐中的產(chǎn)品的填充液位的方法，所述雷達液位計系統(tǒng)包括用于生成、發(fā)送和接收電磁信號的收發(fā)機；與收發(fā)機連接的探針，用于把發(fā)送電磁信號從收發(fā)機引導(dǎo)到儲罐中的產(chǎn)品內(nèi)，并把由產(chǎn)品的表面反射發(fā)送電磁信號而產(chǎn)生的反射電磁信號返回收發(fā)機；以及多個參考反射體，每個參考反射體沿探針被布置在相應(yīng)的已知位置，并被配置成把發(fā)送電磁信號的一部分反射回收發(fā)機。所述方法包括下述步驟根據(jù)由參考反射體反射的接收電磁信號，來識別位于產(chǎn)品表面上方的一組參考反射體；選擇包含在一組參考反射體中的第一和第二參考反射體；根據(jù)第一和第二參考反射體之間的已知距離、和利用分別由第一和第二參考反射體反射的接收電磁信號確定的第一和第二參考反射體之間的距離，來確定傳播速度補償因數(shù)；以及根據(jù)由產(chǎn)品表面反射的接收電磁信號和傳播速度補償因數(shù)，來確定填充液位。
文檔編號G01F23/284GK101842669SQ200880113650
公開日2010年9月22日 申請日期2008年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月13日
發(fā)明者C-J·羅斯, H·德琳, O·愛德沃森 申請人:羅斯蒙特雷達液位股份公司