專利名稱：光譜儀分析試樣精確定位裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于分析儀器附件領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用于用輝光 光譜儀或火花直讀光譜儀分析試樣時(shí)對試樣激發(fā)點(diǎn)進(jìn)行精確定位的 光譜儀分析試樣精確定位裝置。
背景技術(shù)：
輝光光譜儀是利用氬氣在低氣壓環(huán)境下形成的等離子體轟擊試 樣表面來對試樣進(jìn)行分析，試樣激發(fā)斑的直徑隨著陽極直徑的不同而
有區(qū)別， 一般為4mm，也有l(wèi)mm、 2mm、 7mm等其他規(guī)格。輝光光 譜儀可以對固體試樣進(jìn)行成分分析和表面分析，在分析試樣時(shí)，以試 樣作為陰極，銅管作為陽極，兩個(gè)電極之間存在微小的距離。由于兩 個(gè)電極是相向放置，在分析時(shí)，試樣的待分析面與陽極接觸，操作人 員不能準(zhǔn)確觀察并設(shè)置激發(fā)點(diǎn)的準(zhǔn)確位置。對于小樣品和異形樣品， 則不能有效的使等離子腔體密封，而在分析微小缺陷部位時(shí)，不能有 效的對準(zhǔn)待分析部位
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是為了解決上述背景技術(shù)存在的不足，能夠準(zhǔn) 確的定位待分析試樣點(diǎn)的光譜儀分析試樣精確定位裝置，使其能應(yīng)用 于用輝光光譜儀或火花直讀光譜儀分析試樣時(shí)對試樣激發(fā)點(diǎn)進(jìn)行精 確定位。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案 一種光譜儀分
析試樣精確定位裝置，其特征是該定位裝置由兩塊透明材質(zhì)制成的試 樣定位板構(gòu)成，每塊試樣定位板表面標(biāo)注有同樣的水平和垂直的刻度 線，在每塊試樣定位板的相同的位置設(shè)有多個(gè)和光譜儀不同直徑的陽 極相對應(yīng)的小孔，在每塊試樣定位板的四角相同的位置設(shè)有可以穿過 螺栓的圓孔。
在上述方案中，所述兩塊試樣定位板規(guī)格為200mmX200mm。 上述試樣定位板的水平和垂直的刻度線間隔最好為5mm。
本實(shí)用新型使用時(shí)，將試樣放置在兩塊試樣定位板之間，將待分 析點(diǎn)置于上定位板的一個(gè)小孔處，通過旋緊螺栓夾緊試樣；從對應(yīng)的 下定位板小孔處做上記號；試樣待分析點(diǎn)標(biāo)記完畢后，將試樣從試樣 定位板中取下；用激光定位裝置將試樣放置在輝光光譜儀的陽極表面 的密封圈上，激光直線會在試樣的背面形成一個(gè)光斑，移動(dòng)試樣，使 得試樣背面的標(biāo)記點(diǎn)和激光光斑重合，則分析點(diǎn)便與輝光光譜儀的陽 極對準(zhǔn)。
利用本實(shí)用新型可以方便地在試樣分析面的反面且和待分析的 試樣點(diǎn)相對應(yīng)處做上明顯的標(biāo)記，使其應(yīng)用于用輝光光譜儀或火花直 讀光譜儀分析試樣時(shí)對試樣激發(fā)點(diǎn)進(jìn)行精確定位。
本實(shí)用新型主要用于輝光光譜儀對試樣進(jìn)行精確定位，滿足小試 樣、異形試樣和微小缺陷部位等的分析，還能用于輝光質(zhì)譜儀、火花 直讀光譜儀、激光燒蝕ICP光譜儀、質(zhì)譜儀等儀器。


圖1是本實(shí)用新型所述定位板示意圖。
圖2是試樣定位標(biāo)記示意圖。 圖3是激光定位裝置示意圖。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型所述定位裝置由兩塊透明材質(zhì)制成的試樣定位板1 構(gòu)成，規(guī)格為200mmX200mm，用于對試樣背面進(jìn)行準(zhǔn)確標(biāo)記，見 圖1，每塊試樣定位板表面按照5mm的間隔刻有同樣的水平和垂直 的刻度線，作為標(biāo)尺用，在每塊試樣定位板的相同的位置設(shè)有多個(gè)和 輝光光譜儀不同直徑的陽極相對應(yīng)的小孔2，在每塊試樣定位板的四 角相同的位置設(shè)有小10mm的圓孔3。圓孔3中可以穿過螺栓4，將 兩塊試樣定位板1結(jié)合起來。見圖2。
使用時(shí)，將試樣5待分析的部位置于上定位板上的小孔3處，從 對應(yīng)的下定位板小孔2處做上標(biāo)記點(diǎn)6。將試樣5待分析點(diǎn)標(biāo)記完畢， 用激光定位裝置將試樣標(biāo)記點(diǎn)6與輝光光譜儀的陽極7對準(zhǔn)即可。 本實(shí)用新型的具體過程如下
(1) 對于一個(gè)小試樣、異形試樣或微小缺陷部位的分析，將試樣 5放置在兩塊試樣定位板1之間，將待分析點(diǎn)置于上定位板的一個(gè)小 孔2處，通過旋緊螺栓4夾緊試樣1。
(2) 通過下定位板相同部位的小孔2在試樣的背面用記號筆做好 標(biāo)記(如圖2所示)。
(3) 將激光定位裝置固定在儀器上(不同儀器有不同的固定方 式)，使得激光發(fā)生器8發(fā)出的激光直線能穿透整個(gè)陽極筒。
(4) 將試樣放在陽極表面的密封圈9上，激光直線會在試樣的背
面形成一個(gè)光斑，移動(dòng)試樣l，使得試樣背面的標(biāo)記點(diǎn)6和激光光斑 重合，則希望的分析點(diǎn)就和輝光光譜儀的陽極對準(zhǔn)了 (如圖3所示)。
(5)進(jìn)行正常的分析，就等得到試樣部位的分析結(jié)果。
權(quán)利要求1、一種光譜儀分析試樣精確定位裝置，其特征是該定位裝置由兩塊透明材質(zhì)制成的試樣定位板構(gòu)成，每塊試樣定位板表面標(biāo)注有同樣的水平和垂直的刻度線，在每塊試樣定位板的相同的位置設(shè)有多個(gè)和光譜儀不同直徑的陽極相對應(yīng)的小孔，在每塊試樣定位板的四角相同的位置設(shè)有可以穿過螺栓的圓孔。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光譜儀分析試樣精確定位裝置， 其特征是所述兩塊試樣定位板為200mm X 200mm規(guī)格。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光譜儀分析試樣精確定位裝置， 其特征是水平和垂直的刻度線間隔5mm。
專利摘要一種光譜儀分析試樣精確定位裝置，其特征是該定位裝置由兩塊透明材質(zhì)制成的試樣定位板構(gòu)成，每塊試樣定位板表面標(biāo)注有同樣的水平和垂直的刻度線，在每塊試樣定位板的相同的位置設(shè)有多個(gè)和光譜儀不同直徑的陽極相對應(yīng)的小孔，在每塊試樣定位板的四角相同的位置設(shè)有可以穿過螺栓的圓孔。利用本實(shí)用新型可以方便地在試樣分析面的反面且和待分析的試樣點(diǎn)相對應(yīng)處做上明顯的標(biāo)記，使其應(yīng)用于用輝光光譜儀或火花直讀光譜儀分析試樣時(shí)對試樣激發(fā)點(diǎn)進(jìn)行精確定位。本實(shí)用新型主要用于輝光光譜儀對試樣進(jìn)行精確定位，滿足小試樣、異形試樣和微小缺陷部位等的分析，還能用于輝光質(zhì)譜儀、火花直讀光譜儀、激光燒蝕ICP光譜儀、質(zhì)譜儀等儀器。
文檔編號G01N21/25GK201177603SQ20082006622
公開日2009年1月7日 申請日期2008年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月27日
發(fā)明者于錄軍, 代松苓, 余衛(wèi)華, 張穗忠, 陳士華, 云 高 申請人:武漢鋼鐵(集團(tuán))公司