專利名稱：電路參數(shù)檢測的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路參數(shù)的檢測，特別是涉及電路板上器件管腳的電路參數(shù) 的斗企測。
背景技術(shù)：
通信設(shè)備系統(tǒng)一般由多塊單板組成，每單板上都有數(shù)量眾多的芯片等電 子器件。電子器件在線工作狀態(tài)時(shí)的性能下降，往往會(huì)給通信系統(tǒng)帶來嚴(yán)重 的損失。例如，芯片在線工作狀態(tài)時(shí)發(fā)熱或其他因素導(dǎo)致其性能和可靠性下 降。芯片的發(fā)熱與功耗有關(guān)。在產(chǎn)品調(diào)試中，如何準(zhǔn)確的;f企測芯片功耗是令 人頭疼的問題。如果能準(zhǔn)確的獲得芯片的在線工作狀態(tài)的功耗，就能評估系統(tǒng)長遠(yuǎn)工作 可靠性，也可以作為新開發(fā)設(shè)備的輸入來預(yù)測芯片工作的溫升是否滿足要求， 并給出最優(yōu)性價(jià)比的系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案。廠商提供的芯片數(shù)據(jù)中通常只有對芯片 靜態(tài)功耗和最大功耗的描述，實(shí)際工作狀態(tài)下的芯片功耗或者電流無法獲得 和評估，導(dǎo)致設(shè)計(jì)冗余和成本高昂。如圖1所示，目前測試芯片在線工作狀態(tài)功耗的方法是在芯片通路中串 如一個(gè)電流表，或者電流探頭，或者功率計(jì)。發(fā)明人發(fā)現(xiàn)目前測試芯片等電子器件在線工作狀態(tài)功耗的方法有如下缺點(diǎn)在工作中的設(shè)備電路支路串入電流檢測計(jì)，破壞了設(shè)備的電路物理結(jié)構(gòu)和外觀，現(xiàn)實(shí)中通常是不允許的；如果一個(gè)電源網(wǎng)絡(luò)有很多芯片負(fù)載，這些 芯片負(fù)載在同一個(gè)電源平面上，無法找到電流;險(xiǎn)測計(jì)的串入位置；如果一個(gè) 芯片負(fù)載有很多的電源管腳，這些電源管腳直接接在電源平面上，無法為每 個(gè)電源管腳都串入一個(gè)電流沖企測計(jì)。這些原因?qū)е履壳皽y試方法不能很好適用于芯片等電子器件在線工作狀態(tài)的功耗檢測。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明實(shí)施例提供電路板上器件管腳的電路參數(shù)的檢測方法、裝置和系 統(tǒng)，解決目前不能很好適用于芯片等電子器件在線工作狀態(tài)電路參數(shù)的檢測。本發(fā)明實(shí)施例提出一種電路參數(shù)的檢測方法，包括以下步驟 測試電路選取待測電路中的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)，所述節(jié)點(diǎn)包括至少 一個(gè)電子 器件管腳；在待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)，測試電路測量得到所述節(jié)點(diǎn)的工作電 壓值；在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，測試電路給所述節(jié)點(diǎn)提供測試電流，在所 述節(jié)點(diǎn)之間形成電連接通路，測試電路計(jì)算各節(jié)點(diǎn)的測試電流值和所述測試 電壓值；根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的各工作電壓值、所述測試電流值、和所述測試電壓值， 計(jì)算得到待測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)的工作電流值。本發(fā)明實(shí)施例提出一種電路參數(shù)的檢測裝置，包括設(shè)備接入接口、穩(wěn)壓電源、邏輯控制單元、中央處理單元、數(shù)據(jù)處理單 元、人一幾通信接口；設(shè)備接入接口，用于與待測電路中選取的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)電性連接，在待 測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)，將測試電路和待測電路隔離，檢測各節(jié)點(diǎn) 工作電壓；以及在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，在邏輯控制單元控制下，將穩(wěn) 壓電源提供的電源提供給外部待測電路，給待測電路的節(jié)點(diǎn)提供測試電流和 測試電壓；邏輯控制單元用于將來自于設(shè)備接入接口的數(shù)字信號傳送給中央處理單 元和數(shù)據(jù)處理單元。數(shù)據(jù)處理單元用于根據(jù)來自于邏輯控制單元的數(shù)字信號中所測得的各節(jié) 點(diǎn)工作電壓值、測試電流值和測試電壓值，在中央處理單元的控制下，計(jì)算 所述節(jié)點(diǎn)之間的阻抗值，并根據(jù)節(jié)點(diǎn)工作電壓值和節(jié)點(diǎn)之間的阻抗值，進(jìn)而計(jì)算得到各節(jié)點(diǎn)之間的工作電流值或功耗。本發(fā)明實(shí)施例通過提出的所述檢測方法和裝置，避免了現(xiàn)有技術(shù)需要在 工作中的設(shè)備電路支路串入電流檢測計(jì)，破壞了設(shè)備的電路物理結(jié)構(gòu)和外觀， 很好適用于芯片等電子器件在線工作狀態(tài)電路參數(shù)的檢測。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí) 施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面 描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講， 在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為現(xiàn)有技術(shù)電路參數(shù)的檢測裝置的流程示意圖； 圖2為本發(fā)明電路參數(shù)的檢測方法流程圖；圖3為本發(fā)明電路參數(shù)的檢測方法在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，測試待 測電路斷電狀態(tài)下的任意兩節(jié)點(diǎn)間的電阻值的流程圖；圖4為本發(fā)明電路參數(shù)的檢測方法在待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)，測 量得到節(jié)點(diǎn)之間的工作電壓值的流程圖；圖5為本發(fā)明電路參數(shù)的檢測方法在根據(jù)電路原理計(jì)算得出待測電路處 于通電正常工作狀態(tài)時(shí)的工作電流值的流程圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例二有源流出節(jié)點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)測試示意圖；及圖7為本發(fā)明實(shí)施例三一種電路參數(shù)檢測的裝置示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而 不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作 出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。請參閱圖2，本發(fā)明實(shí)施例一提出一種電路參數(shù)的檢測方法，包括以下步驟步驟200:測試電路選取待測電路中的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)，所述節(jié)點(diǎn)包括至少 一個(gè)電子器件管腳。本步驟中，選取待測電路中的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)可以通過以 下方式實(shí)現(xiàn)將待測電路剖分為一定數(shù)量的網(wǎng)格，根據(jù)檢測到的網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)間 的電壓關(guān)系，將符合所述電壓關(guān)系的一定數(shù)量的網(wǎng)格合并成一個(gè)節(jié)點(diǎn)，測試 電路選取待測電路中若干個(gè)節(jié)點(diǎn)。此處的電壓關(guān)系可以為若干網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)間 的電壓之間的設(shè)定的最大電壓與設(shè)定的最小電壓差小于給定的一個(gè)值。由于一個(gè)芯片的所有電源管腳在電源平面上占據(jù)一定的物理區(qū)域，可以 將該物理區(qū)域可以剖分為一定數(shù)量的細(xì)分網(wǎng)格，細(xì)分的數(shù)量可以根據(jù)檢測的 每個(gè)網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)間的電壓梯度來決定，當(dāng)檢測到每兩點(diǎn)間的電壓梯度為給定的 高階極小值時(shí)，將這些網(wǎng)格合并為一個(gè)節(jié)點(diǎn)。該網(wǎng)格的表面電流密度積分即 為流出該節(jié)點(diǎn)的電流，即流進(jìn)該網(wǎng)^"內(nèi)所有電源管腳的電流；或者自定義一 個(gè)電壓差數(shù)值，如果在一定數(shù)量的網(wǎng)格中，當(dāng)檢測到任意兩個(gè)網(wǎng)格間的電壓 差小于給定的一個(gè)數(shù)值時(shí)，將這些網(wǎng)格合并為一個(gè)節(jié)點(diǎn)。例如，存在3.03V、 3.04V、 3.02V、 5V、 5.01V、 12V，將每個(gè)網(wǎng)格之間的電壓差小于或等于0.01V 時(shí)的網(wǎng)格合并為一個(gè)節(jié)點(diǎn)，及將3.03V、 3.04V和3.02V三網(wǎng)格合并為節(jié)點(diǎn)A; 5V和5.01V兩網(wǎng)格合并為節(jié)點(diǎn)B; 12V網(wǎng)格設(shè)為節(jié)點(diǎn)C。進(jìn)而最終可以將整 個(gè)電路簡化為有"個(gè)有源流出節(jié)點(diǎn)(每個(gè)芯片有一個(gè)或多個(gè)有源流出節(jié)點(diǎn)，數(shù) 量自適應(yīng);f企測)的電i 各網(wǎng)絡(luò)。步驟210:在待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)，測試電路測量得到所述至少 兩個(gè)節(jié)點(diǎn)的工作電壓值。在步驟200選取好節(jié)點(diǎn)之后，將待測電路通電，然 后測量，得到節(jié)點(diǎn)的工作電壓值。步驟220:在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，測試電路給所述節(jié)點(diǎn)提供測試電 流，在所述節(jié)點(diǎn)之間形成電連接通路，測試電路計(jì)算各節(jié)點(diǎn)的測試電流值和 所述測試電壓值。可選的，可以在步驟210待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)得到節(jié)點(diǎn)的工作 電壓值之后，再將在待測電路斷電，以得到計(jì)算得到電連接通路中所述節(jié)點(diǎn) 之間的阻抗值。也可以先在步驟200選取好節(jié)點(diǎn)之后，先通過步驟220,將待 測電路置于斷電狀態(tài)，得到電連接通路中所述節(jié)點(diǎn)之間的阻抗值，然后進(jìn)行步驟210,將待測電路置于通電工作狀態(tài)得到節(jié)點(diǎn)的工作電壓值。步驟230:根據(jù)步驟210、步驟220得到的所述節(jié)點(diǎn)的各工作電壓值、所 述測試電流值、和所述測試電壓值，計(jì)算得到待測電路處于通電正常工作狀 態(tài)時(shí)的工作電流值。步驟230根據(jù)電路原理計(jì)算得出待測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)的工 作電流值。這樣避免了現(xiàn)有技術(shù)需要在工作中的設(shè)備電路支路串入電流檢測 計(jì)，破壞了設(shè)備的電路物理結(jié)構(gòu)和外觀，很好適用于芯片等電子器件在線工 作狀態(tài)電路參數(shù)的檢測?？蛇x的，請結(jié)合參閱圖3，步驟220，在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，測試 電路給所述節(jié)點(diǎn)提供測試電流，在所述節(jié)點(diǎn)之間形成電連接通路，測試電路 計(jì)算各節(jié)點(diǎn)的測試電流值和所述測試電壓值。具體為以下步驟步驟221:測試電路上電，實(shí)現(xiàn)內(nèi)部數(shù)字信號處理單元、中央處理單元中 央處理單元、和單元邏輯控制單元的初始化；步驟222:中央處理單元^r測得到數(shù)字信號處理單元，邏輯控制單元狀態(tài) 就緒后;步驟223:在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)在設(shè)定的一定時(shí)間內(nèi)，所述中央處 理單元下發(fā)測試命令，啟動(dòng)待測電路斷電狀態(tài)下的任意兩節(jié)點(diǎn)間的電阻測試；步驟224:邏輯控制單元控制測試電路中的穩(wěn)壓電源輸出直流電源到待測 設(shè)備對象任意兩節(jié)點(diǎn)；步驟225:分別采樣該兩節(jié)點(diǎn)電壓和電流，并將采樣得到的一組電壓值和 電流值保存到外部存儲(chǔ)器中；步驟226:分別依次完成所述若干個(gè)節(jié)點(diǎn)中的任意兩節(jié)點(diǎn)的全部組合測試?？蛇x的，請結(jié)合參閱圖4，步驟210，在待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)， 測試電路測量得到所述至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)的工作電壓值。在步驟200選取好節(jié)點(diǎn) 之后，將待測電路通電，然后測量，得到節(jié)點(diǎn)的工作電壓值。具體為以下步 驟步驟211:在待測電路處于通電工作狀態(tài)至少在設(shè)定的 一定時(shí)間內(nèi)；步驟212:中央處理單元控制測試電路將待測電路接入；步驟213:中央處理單元下發(fā)測試命令，指使數(shù)字信號處理單元通知邏輯 控制單元開始采樣待測電路通電工作狀態(tài)下的各節(jié)點(diǎn)電壓值；步驟214:邏輯控制單元控制測試電路的設(shè)備接入接口 A/D對各節(jié)點(diǎn)的 電壓值進(jìn)行采樣，并將采樣得到的電壓值保存到外部存儲(chǔ)器中。可選的，請結(jié)合參閱圖5，步驟230，根據(jù)步驟210、步驟220得到的所 述節(jié)點(diǎn)的各工作電壓值、所述測試電流值、和所述測試電壓值，計(jì)算得到待 測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)的工作電流值。具體為以下步驟步驟231:在邏輯控制單元控制測試電路的數(shù)模接入接口 A/D對各節(jié)點(diǎn) 的電壓值進(jìn)行采樣過程中，數(shù)字信號處理單元通過A/D監(jiān)測全部采樣過程；步驟232:數(shù)字信號處理單元通過A/D監(jiān)測到全部采樣結(jié)束后，將外部 存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)送到數(shù)字信號處理單元的內(nèi)部存儲(chǔ)器SDRAM中；步驟233:數(shù)字信號處理單元進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，計(jì)算待測電路的電流和功耗。最后，通過將數(shù)字信號處理單元計(jì)算得到的待測電路的電流值和功耗值 傳給測試電路的顯示單元，將所述電流值和功耗值顯示在顯示單元的顯示界 面上，方便了在電子設(shè)備中，根據(jù)用戶的節(jié)能減派需求，對具有待測電路的 電子設(shè)備適時(shí)調(diào)整其用電功耗。請參閱圖6，本實(shí)施例二以下面以最終為3個(gè)有源流出節(jié)點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)為例進(jìn) 行說明。本實(shí)施例中，待測電路被選取得到四個(gè)節(jié)點(diǎn)No、 Ni、 N2、和N3。其中 No為電源流進(jìn)節(jié)點(diǎn)，Np N2、 N3為有源流出節(jié)點(diǎn)。四個(gè)節(jié)點(diǎn)之間通過電阻 Ru、 R12、 R13、 R22、 R23、和R33相連。N。和N!通過Ru連接；N。和N2通過 R22連接；NQ和N3通過R23連接；和N2通過R12連接；和N3通過R13 連接；N2和N3通過R23連接。在待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)，四個(gè)節(jié)電的 電壓對應(yīng)分別為Vo、V2、 V3。根據(jù)電路理論，獲得了 R 、 R12、 R13、 R22、 R23、 R33以及Vo、 V,、 V2、 Vs的值，就可以通過電路相關(guān)理論得到系統(tǒng)總電流Io及總功耗P()、每個(gè)電流流出節(jié)點(diǎn)的電流I" I2、 I3、和對應(yīng)的功4€。本實(shí)施例中為自適應(yīng)等效網(wǎng)絡(luò)的電流流出節(jié)點(diǎn)數(shù)量為3的情況下，需要 確定的未知量數(shù)量為《+1+(3 + 1),共10個(gè)。另外，當(dāng)自適應(yīng)等效網(wǎng)絡(luò)的電流 流出節(jié)點(diǎn)數(shù)量為n的情況下，需要確定的未知量數(shù)量為《1+(" + 1)。這些未知 量可以通過如下的方法獲得在芯片工作狀態(tài)穩(wěn)定的情況下，分別檢測出每 個(gè)節(jié)點(diǎn)的電壓；在系統(tǒng)斷電不工作的狀態(tài)下，分別^r測每兩個(gè)節(jié)點(diǎn)間的直流 電阻值；這樣可以建立C二+(" + 0個(gè)方程，求解出《+1+(" + 1)個(gè)未知量，從而 檢測出每個(gè)芯片的在線狀態(tài)功耗和設(shè)備總功耗。這樣避免了現(xiàn)有技術(shù)需要在工作中的設(shè)備電路支路串入電流檢測計(jì)，破 壞了設(shè)備的電路物理結(jié)構(gòu)和外觀，使得當(dāng)一個(gè)電源網(wǎng)絡(luò)有很多芯片負(fù)載，負(fù) 載在同一個(gè)電源平面上時(shí)，很容易測得芯片電流值和功耗值，很好適用于芯 片等電子器件在線工作狀態(tài)電路參數(shù)的檢測。請參閱圖7，適用于實(shí)施例一所揭露檢測方法的一種電路參數(shù)檢測裝置 700，電路參數(shù)檢測裝置700包括設(shè)備接入接口 701、穩(wěn)壓電源702、邏輯 控制單元703、中央處理單元704、數(shù)據(jù)處理單元705、人機(jī)通信接口 706、 和顯示單元707。邏輯控制單元703分別與設(shè)備接入接口 701、穩(wěn)壓電源702、中央處理單 元704、和數(shù)據(jù)處理單元705相連。設(shè)備接入接口 701與穩(wěn)壓電源702相連。 中央處理單元704還分別連4妄有數(shù)據(jù)處理單元705、人才幾通信接口 706和顯示 單元707。另外數(shù)據(jù)處理單元705和顯示單元707連接。設(shè)備接入接口 701,用于與待測電路中選取的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)電性連接，在 待測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)，將測試電路和待測電路隔離，檢測各節(jié) 點(diǎn)工作電壓；以及在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，在邏輯控制單元703控制下， 將穩(wěn)壓電源702提供的電源提供給外部待測電路，給待測電路的節(jié)點(diǎn)提供測 試電流和測試電壓。設(shè)備接入接口內(nèi)部具有若干A/D接口 (Analog/Digit Convenor,模擬/數(shù)字信號轉(zhuǎn)換器)。設(shè)備接入接口完成待測電路的電壓信息采 集，并將采集到的才莫擬電壓信號轉(zhuǎn)換為適合于DSP ( Digital Signal Processor, 數(shù)字信號處理器)處理的數(shù)字信號，以及自適應(yīng)增益調(diào)節(jié)。邏輯控制單元703內(nèi)部含有FPGA (Field Programming Group Array,現(xiàn) 場可編程陣列)，進(jìn)行組織數(shù)據(jù)格式和數(shù)據(jù)交換，將來自于設(shè)備接入接口 701 的數(shù)字信號傳送給中央處理單元704和數(shù)據(jù)處理單元705。數(shù)據(jù)處理單元705內(nèi)部含有DSP ( Digital Signal Processor,數(shù)字信號處理 器)。用于處理來自于邏輯控制單元703的數(shù)字信號，進(jìn)行如四端微阻算法， 解方程等。數(shù)據(jù)處理單元根據(jù)來自于邏輯控制單元703的數(shù)字信號中所測得 的各節(jié)點(diǎn)工作電壓值、測試電流值和測試電壓值，在中央處理單元704的控 制下，計(jì)算得所述節(jié)點(diǎn)之間的阻抗值，并根據(jù)節(jié)點(diǎn)工作電壓值和節(jié)點(diǎn)之間的阻 抗值，進(jìn)而計(jì)算得到各節(jié)點(diǎn)之間的工作電流值或功耗。中央處理單元704用于控制與硬件有關(guān)的流程以及與數(shù)據(jù)處理單元之間 的通信，接受來自于人機(jī)通信接口 706的外部命令，進(jìn)行人機(jī)通訊、命令控 制、數(shù)據(jù)交付等控制。例如控制設(shè)備接入接口 701、穩(wěn)壓電源702、邏輯控制 單元703、數(shù)據(jù)處理單元705、人機(jī)通信接口 706之間的信息交換。為方便用戶的節(jié)能減派等需求，本發(fā)明實(shí)施例中顯示單元707接收數(shù)據(jù) 處理單元705計(jì)算得到的待測電路的電流值和功耗值，將所述電流值和功耗 值顯示在顯示單元707的顯示界面上，以根據(jù)用戶對具有待測電路的電子設(shè) 備適時(shí)調(diào)整其用電功耗等?？蛇x的，在邏輯控制單元703和數(shù)據(jù)處理單元705之間還串聯(lián)接入一個(gè) 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元(RAM, Random Access Memory,隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)，以存儲(chǔ) 數(shù)據(jù)處理單元705和中央處理單元等704用到的來自邏輯控制單元703的數(shù) 據(jù)。電路參數(shù)檢測的裝置700的具體使用方法可以參考本發(fā)明實(shí)施例如一所 提出的一種電路參數(shù)的檢測方法，在此不再贅述。將待測設(shè)備的各檢測節(jié)點(diǎn)電壓通過同軸電纜連接到芯片在線狀態(tài)功耗檢 測系統(tǒng)，通過人機(jī)通信接口 706的串口發(fā)出啟動(dòng)電壓測試命令，邏輯控制單 元控制A/D啟動(dòng)采樣，對待測試系統(tǒng)的n+l個(gè)電壓節(jié)點(diǎn)進(jìn)行采樣，釆樣數(shù)據(jù) 由邏輯控制單元進(jìn)行數(shù)據(jù)幀重組后可以保存在邏輯控制單元703和數(shù)據(jù)處理 單元705之間的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元RAM (圖未示)中；然后將待檢測電路端電， 邏輯控制單元控制穩(wěn)壓電源接入待檢測電路的設(shè)備，依次完成任意兩節(jié)點(diǎn)間的電壓，電流;險(xiǎn)測。數(shù)字信號處理單元檢測到全部檢測結(jié)束后，從RAM中取 出采樣的所有狀態(tài)下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)，然后進(jìn)行一系列的運(yùn)算，主要是解方程，把處理完的數(shù)據(jù)重新保存到RAM中，并通知中央處理單元704控 制把數(shù)據(jù)傳給顯示單元707。避免了現(xiàn)有技術(shù)需要在工作中的設(shè)備電路支路串 入電流檢測計(jì)，破壞了設(shè)備的電路物理結(jié)構(gòu)和外觀，4艮好適用于芯片等電子 器件在線工作狀態(tài)電路參數(shù)的檢測。方便了在電子設(shè)備中，根據(jù)用戶的節(jié)能 減派需求，對具有待測電路的電子設(shè)備適時(shí)調(diào)整其用電功耗。通過以上的實(shí)施方式的描述，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本 發(fā)明可借助軟件加必需的通用硬件平臺(tái)的方式來實(shí)現(xiàn)，當(dāng)然也可以通過硬 件，但很多情況下前者是更佳的實(shí)施方式?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技 術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體 現(xiàn)出來，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使 得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行 本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述的方法。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的 普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn) 和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)碎見為本發(fā)明的<呆護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種電路參數(shù)檢測的方法，其特征在于，包括以下步驟測試電路選取待測電路中的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)，所述節(jié)點(diǎn)包括至少一個(gè)電子器件管腳；在待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)，測試電路測量得到所述節(jié)點(diǎn)的工作電壓值；在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，測試電路給所述節(jié)點(diǎn)提供測試電流，在所述節(jié)點(diǎn)之間形成電連接通路，測試電路計(jì)算各節(jié)點(diǎn)的測試電流值和所述測試電壓值；根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的各工作電壓值、所述測試電流值、和所述測試電壓值，計(jì)算得到待測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)的工作電流值。
2、 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，選取待測電路中的至少兩個(gè) 節(jié)點(diǎn)包括以下步驟將待測電路剖分為一定數(shù)量的網(wǎng)格，根據(jù)檢測到的網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)間的電壓關(guān) 系，將符合所述電壓關(guān)系的一定數(shù)量的網(wǎng)格合并成一個(gè)節(jié)點(diǎn)； 測試電路選取待測電路中若干個(gè)節(jié)點(diǎn)。
3、 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)間的電壓關(guān)系 是當(dāng)檢測到任意兩個(gè)網(wǎng)格間的電壓差小于給定的一個(gè)數(shù)值時(shí)，將這些網(wǎng)格 合并為一個(gè)節(jié)點(diǎn)。
4、 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述在待測電路處于斷電狀 態(tài)時(shí)，測試電路給所述節(jié)點(diǎn)提供測試電流和測試電壓，在所述節(jié)點(diǎn)之間形成 電連接通路，測試電路根據(jù)所述測試電流值和所述測試電壓值，包括以下步 驟測試電路上電，實(shí)現(xiàn)內(nèi)部數(shù)字信號處理單元、中央處理單元、和現(xiàn)場可編程陣列單元邏輯控制單元的初始化；中央處理單元檢測得到數(shù)字信號處理單元，邏輯控制單元狀態(tài)就緒后； 在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)在設(shè)定的一定時(shí)間內(nèi)，所述中央處理單元下發(fā)測試命令，啟動(dòng)待測電路斷電狀態(tài)下的任意兩節(jié)點(diǎn)間的電阻測試；邏輯控制單元控制測試電路中的穩(wěn)壓電源輸出直流電源到待測設(shè)備對象 任意兩節(jié)點(diǎn)；分別采樣該兩節(jié)點(diǎn)電壓和電流，并將采樣得到的 一組電壓值和電流值保存到外部存儲(chǔ)器中；分別依次完成所述若干個(gè)節(jié)點(diǎn)中的任意兩節(jié)點(diǎn)的全部組合測試。
5、 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述在待測電路處于通電工 作狀態(tài)時(shí)，測試電路測量得到所述至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)的工作電壓值，包括以下步 驟在待測電路處于通電工作狀態(tài)至少在設(shè)定的一定時(shí)間內(nèi)； 中央處理單元控制測試電路將待測電路接入；中央處理單元下發(fā)測試命令，指使數(shù)字信號處理單元通知邏輯控制單元 開始釆樣待測電路通電工作狀態(tài)下的各節(jié)點(diǎn)電壓值；邏輯控制單元控制測試電路的設(shè)備接入接口對各節(jié)點(diǎn)的電壓值進(jìn)行采樣，并將采樣得到的電壓值保存到外部存儲(chǔ)器中。
6、 如權(quán)利要求5或所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的各工 作電壓值、所述測試電流值、和所述測試電壓值，計(jì)算得到待測電路處于通 電正常工作狀態(tài)時(shí)的工作電流值，包括以下步驟在邏輯控制單元控制測試電路的數(shù)模接入接口對各節(jié)點(diǎn)的電壓值進(jìn)行采 樣過程中，數(shù)字信號處理單元通過數(shù)模接入接口監(jiān)測全部釆樣過程；數(shù)字信號處理單元通過數(shù)模接入接口監(jiān)測到全部采樣結(jié)束后，將外部存 儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)送到數(shù)字信號處理單元的內(nèi)部存儲(chǔ)器中；數(shù)字信號處理單元進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，計(jì)算待測電路的電流和功耗。
7、 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，將數(shù)字信號處理單元計(jì)算得 到的待測電路的電流值和功耗值傳給測試電路的顯示單元，將所述電流值和 功耗值顯示在顯示單元的顯示界面上。
8、 一種電路參數(shù)檢測的裝置，其特征在于，包括設(shè)備接入接口、穩(wěn)壓 電源、邏輯控制單元、中央處理單元、數(shù)據(jù)處理單元、人機(jī)通信接口；設(shè)備接入接口，用于與待測電路中選取的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)電性連接，在待測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)，將測試電路和待測電路隔離，檢測各節(jié)點(diǎn) 工作電壓；以及在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，在邏輯控制單元控制下，將穩(wěn) 壓電源提供的電源提供給外部待測電路，給待測電路的節(jié)點(diǎn)提供測試電流和測試電壓；邏輯控制單元用于將來自于設(shè)備接入接口的數(shù)字信號傳送給中央處理單元和數(shù)據(jù)處理單元；數(shù)據(jù)處理單元用于根據(jù)來自于邏輯控制單元的數(shù)字信號中所測得的各節(jié) 點(diǎn)工作電壓值、測試電流值和測試電壓值，在中央處理單元的控制下，計(jì)算 所述節(jié)點(diǎn)之間的阻抗值，并根據(jù)節(jié)點(diǎn)工作電壓值和節(jié)點(diǎn)之間的阻抗值，進(jìn)而 計(jì)算得到各節(jié)點(diǎn)之間的工作電流值或功耗。
9、 如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，還包括，顯示單元；所述顯 示單元用于接收數(shù)據(jù)處理單元計(jì)算得到的待測電路的電流值和功耗值，將所 述電流值和功耗值顯示在顯示單元的顯示界面上。
10、 如權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，在邏輯控制單元和數(shù)據(jù)處 理單元之間還串聯(lián)接入一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元，以存儲(chǔ)來自邏輯控制單元的數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例提出一種電路參數(shù)檢測的方法包括以下步驟測試電路選取待測電路中的至少兩個(gè)節(jié)點(diǎn)；在待測電路處于通電工作狀態(tài)時(shí)，測試電路測量得到所述節(jié)點(diǎn)的工作電壓值；在待測電路處于斷電狀態(tài)時(shí)，測試電路給所述節(jié)點(diǎn)提供測試電流，在所述節(jié)點(diǎn)之間形成電連接通路，測試電路計(jì)算各節(jié)點(diǎn)的測試電流值和所述測試電壓值；根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的各工作電壓值、所述測試電流值、和所述測試電壓值，計(jì)算得到待測電路處于通電正常工作狀態(tài)時(shí)的工作電流值。本發(fā)明實(shí)施例通過提出的所述檢測方法和使用上述方法的裝置，避免了現(xiàn)有技術(shù)測試時(shí)破壞設(shè)備的電路物理結(jié)構(gòu)和外觀的缺陷，很好適用于芯片等電子器件在線工作狀態(tài)電路參數(shù)的檢測。
文檔編號G01R31/28GK101614785SQ20081006822
公開日2009年12月30日 申請日期2008年6月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年6月27日
發(fā)明者晉兆國, 朱勇發(fā), 賈榮華, 韓承章 申請人:華為技術(shù)有限公司