專利名稱：：集成電路測(cè)試方法及其相關(guān)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及測(cè)試一集成電路，尤其涉及一種在不同測(cè)試階段使用不同掃描鏈的集成電路測(cè)試方法及相關(guān)電路。
背景技術(shù)：
：為了測(cè)試一集成電路在制造過(guò)程中所產(chǎn)生的缺陷(fauU)，掃描鏈通常被使用來(lái)測(cè)試該集成電路。每一條掃描鏈連接該芯片中兩個(gè)接點(diǎn)(pad)以及至少一觸發(fā)器，且該掃描鏈的測(cè)試時(shí)間正比于該掃描鏈的長(zhǎng)度，其中該掃描鏈的長(zhǎng)度表示該掃描鏈上觸發(fā)器的數(shù)量。因此，該掃描鏈上觸發(fā)器的數(shù)量需要減少以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。在相同的芯片設(shè)計(jì)下，芯片中觸發(fā)器的數(shù)量是固定的，因此，為了節(jié)省測(cè)試時(shí)間，芯片中的掃描鏈數(shù)量應(yīng)盡可能的多一些，掃描鏈數(shù)量越多，平均每一條掃描鏈上的觸發(fā)器數(shù)量就越少。然而，在利用掃描鏈來(lái)測(cè)試集成電路的一已知方法中，因?yàn)樵撔酒庋b后接腳(pin)數(shù)量的限制，該芯片中可用來(lái)測(cè)試該芯片的接點(diǎn)數(shù)量等于可用來(lái)測(cè)試該芯片的接腳數(shù)量。圖1為已知芯片接點(diǎn)以及其封裝接腳的(功能)示意圖。如圖所示，一封裝(體)IOO包含有一芯片130以及多個(gè)接腳，這些接腳包含有用來(lái)接收控制信號(hào)的三個(gè)接腳112;用來(lái)接收測(cè)試掃描輸入信號(hào)的六個(gè)接腳114;用來(lái)作為測(cè)試掃描輸出端點(diǎn)的六個(gè)接腳116;以及一未使用4^腳118。芯片130包含有用來(lái)接收該控制信號(hào)的三個(gè)接點(diǎn)132;用來(lái)接收測(cè)試掃描輸入信號(hào)的六個(gè)接點(diǎn)134;用來(lái)作為測(cè)試掃描輸出端點(diǎn)的六個(gè)接點(diǎn)136;以及多個(gè)未使用接點(diǎn)138。封裝100中每一個(gè)接腳連接芯片130中相對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)，且每個(gè)掃描輸入接點(diǎn)134經(jīng)由芯片130中多個(gè)觸發(fā)器連接至相對(duì)應(yīng)的掃描輸出接點(diǎn)136以產(chǎn)生一掃描鏈。舉例而言，一掃描輸入端點(diǎn)134_1經(jīng)由觸發(fā)器連接至一掃描輸出端點(diǎn)136-1以產(chǎn)生一第一掃描鏈；一掃描輸入端點(diǎn)134—2經(jīng)由觸發(fā)器連接至一掃描輸出端點(diǎn)136—2以產(chǎn)生一第二掃描鏈…等，另外掃描輸出端點(diǎn)136與輸入端點(diǎn)134各自連接至封裝10G中相對(duì)應(yīng)的接腳，因此，在封裝100中可產(chǎn)生六條掃描鏈。一般而言，一芯片可以有多種不同的封裝，且掃描鏈的數(shù)量是由具有最少接腳的封裝來(lái)決定，因此，以圖1所示的封裝100作為具有最少接腳封裝為例，九個(gè)未使用的接點(diǎn)138被浪費(fèi)了且無(wú)法使用來(lái)產(chǎn)生掃描鏈。平均而言，圖1所示的每條掃描鏈必需具有更多的觸發(fā)器，因此，在該芯片被封裝之前的測(cè)試或是當(dāng)該芯片使用接腳多于封裝100的封裝時(shí)，許多接點(diǎn)以及接腳被浪費(fèi)而導(dǎo)致更長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。
發(fā)明內(nèi)容因此本發(fā)明的目的之一在于提供一種在不同測(cè)試階段使用不同掃描鏈的集成電路測(cè)試方法及相關(guān)電路，以解決上述的問(wèn)題。依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，一種集成電路測(cè)試方法包含有分別連接一芯片中多個(gè)接點(diǎn)(pad)以產(chǎn)生多條掃描鏈，其中每一條掃描鏈連接該芯片中兩個(gè)接點(diǎn)以及至少一觸發(fā)器；提供至少一選擇單元，其中該選擇單元依據(jù)該芯片封裝后的多條可使用掃描鏈來(lái)決定一使用模式；以及依據(jù)該選擇單元所決定的該使用模式來(lái)決定與該選擇單元相對(duì)應(yīng)的一目標(biāo)觸發(fā)器所連接的一目標(biāo)掃描鏈。依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，其披露一種具有集成電路測(cè)試功能的芯片，該芯片包含有多條掃描鏈，分別連接一芯片中多個(gè)接點(diǎn)，其中每一條掃描鏈連接該芯片中兩個(gè)接點(diǎn)以及至少一觸發(fā)器；至少一選擇單元，其中該選擇單元依據(jù)該芯片封裝后的多條可使用掃描鏈來(lái)決定一使用模式；以及依據(jù)該選擇單元所決定的該使用模式來(lái)決定與該選擇單元相對(duì)應(yīng)的一目標(biāo)觸發(fā)器所連接的一目標(biāo)掃描鏈。圖1為芯片中接點(diǎn)以及封裝中接腳的已知功能示意圖。圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例中的芯片接點(diǎn)以及其封裝接腳的功能示意圖。圖3為本發(fā)明一實(shí)施例圖2中所示選擇單元的示意圖。圖4為本發(fā)明一實(shí)施例圖2中所示芯片中掃描鏈、觸發(fā)器以及選擇單元的電路示意圖。附圖符號(hào)^兌明<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>具體實(shí)施例方式請(qǐng)參考圖2,其為芯片接點(diǎn)以及其封裝接腳的(功能)示意圖。如圖所示，一封裝(體)200包含有一芯片230以及多個(gè)接腳，這些封裝200的接腳包含有用來(lái)接收控制信號(hào)的三個(gè)接腳212;.用來(lái)接收掃描輸入信號(hào)的六個(gè)接腳214;用來(lái)作為掃描輸出端點(diǎn)的六個(gè)接腳216;以及用來(lái)接收一模式選擇信號(hào)MODE-SEL的一特定接腳218。芯片230包含有多個(gè)接點(diǎn)與多個(gè)多個(gè)選擇單元300;其中，多個(gè)接點(diǎn)包含用來(lái)接收控制信號(hào)的三個(gè)接點(diǎn)232;用來(lái)接收掃描輸入信號(hào)的十個(gè)接點(diǎn)234;用來(lái)作為掃描輸出端點(diǎn)的十個(gè)接點(diǎn)236;以及用來(lái)接收一模式選擇信號(hào)M0DE_SEL的一特定接點(diǎn)238。封裝200中每一個(gè)接腳連接芯片230中相對(duì)應(yīng)的接點(diǎn)，且芯片230中每個(gè)掃描輸入接點(diǎn)234經(jīng)由多個(gè)觸發(fā)器連接至相對(duì)應(yīng)的掃描輸出接點(diǎn)236以產(chǎn)生一掃描鏈。舉例而言，一掃描輸入端點(diǎn)234_1經(jīng)由觸發(fā)器連接至一掃描輸出端點(diǎn)236-1以產(chǎn)生一第一掃描鏈；一掃描輸入端點(diǎn)234_2經(jīng)由觸發(fā)器連接至一掃描輸出端點(diǎn)236—2以產(chǎn)生一第二掃描鏈...等，掃描輸出端點(diǎn)236與輸入端點(diǎn)234各自連接至封裝200中相對(duì)應(yīng)的接腳，因此，在封裝200中可產(chǎn)生十條掃描鏈。在芯片230被封裝前的測(cè)試中，有十條掃描鏈可以被使用且芯片230中掃描鏈的數(shù)量大于芯片130中掃描鏈的數(shù)量，因此，平均而言，芯片230中每條掃描鏈具有比芯片130中更少的觸發(fā)器，而導(dǎo)致較短的測(cè)試時(shí)間。然而，因?yàn)榉庋b200中接腳數(shù)量的限制，在芯片230被封裝后只有六條掃描鏈可以被使用來(lái)測(cè)試芯片230,為了能夠測(cè)試芯片230中所有的觸發(fā)器，多個(gè)選擇單元300在芯片230中被用來(lái)決定一使用模式，以切換一目標(biāo)觸發(fā)器至一目標(biāo)掃描鏈。進(jìn)一步的說(shuō)明如下所示。請(qǐng)參考圖3,其為圖2中所示選擇單元的示意圖。如圖所示，選擇單元300包含有多個(gè)與門(ANDgate)310,其中每一個(gè)與門310的一輸入端連接至一解碼器320且另一輸入端分別連接至相對(duì)應(yīng)的掃描鏈；以及一或門(ORgate)330,其輸入端連接至多個(gè)與門310的輸出端，以產(chǎn)生選擇單元300的一輸出信號(hào)至一目標(biāo)觸發(fā)器340。選擇單元300的功能在于決定目標(biāo)觸發(fā)器340由哪一條可使用掃描鏈來(lái)測(cè)試。舉例而言，如果目標(biāo)觸發(fā)器340被決定由第二條掃描鏈來(lái)測(cè)試，解碼器320所產(chǎn)生的一第二模式信號(hào)Mode—2被設(shè)定為1,而其它模式信號(hào)(Mode一l，Mode-3，...，Mode—N)則全部被設(shè)定為0。因此，除了與門310—2之外，其它與門310的輸出均為0，而或門330的輸出信號(hào)(亦即選擇單元300的輸出信號(hào))則會(huì)和第二掃描鏈上的信號(hào)相同。依據(jù)以上所披露的內(nèi)容，目標(biāo)觸發(fā)器340接收一掃描鏈上的信號(hào)，且該信號(hào)相對(duì)應(yīng)于依據(jù)一特定邏輯值(例如'T，)來(lái)設(shè)定的一模式信號(hào)，亦即如果模式信號(hào)Mode-l被設(shè)定為1，目標(biāo)觸發(fā)器340接收來(lái)自該第一掃描鏈的信號(hào)；如果模式信號(hào)Mode-3被設(shè)定為1,目標(biāo)觸發(fā)器340接收來(lái)自該第三掃描鏈的信號(hào)。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，選擇單元300提供一信號(hào)傳輸路徑，其信號(hào)路徑連接目標(biāo)觸發(fā)器340以及被一模式信號(hào)選擇的一可使用的掃描鏈。請(qǐng)注意，圖3所示的數(shù)字N表示芯片230中掃描鏈的數(shù)量，因此依據(jù)圖2所示的實(shí)施例，數(shù)字N等于十，亦即表示有十個(gè)與門以及十個(gè)模式信號(hào)。在本例中，解碼器320被用來(lái)依據(jù)輸入的模式選擇信號(hào)MODE-SEL來(lái)決定哪一個(gè)模式信號(hào)被設(shè)定為邏輯信號(hào)"1"。然而，圖3所示的解碼器的硬件架構(gòu)只是本發(fā)明的一實(shí)施選擇，本發(fā)明并不以此為限；依據(jù)本發(fā)明的各種不同的實(shí)施選擇，任何可以橋接目標(biāo)觸發(fā)器340以及一可使用掃描鏈的邏輯電路均可用來(lái)作為選擇單元300。請(qǐng)注意，在接下來(lái)的敘述中，第一使用模式表示選擇單元傳輸?shù)谝粧呙桄溕系牡谝粧呙栎斎胄盘?hào)至相對(duì)應(yīng)的目標(biāo)觸發(fā)器；第二使用模式表示選擇單元傳輸?shù)诙呙桄溕系牡诙呙栎斎胄盘?hào)至相對(duì)應(yīng)的目標(biāo)觸發(fā)器；第三使用模式表示選擇單元傳輸?shù)谌龗呙桄溕系牡谌龗呙栎斎胄盘?hào)至相對(duì)應(yīng)的目標(biāo)觸發(fā)器。請(qǐng)參考圖4，其為圖2所示芯片中掃描鏈、觸發(fā)器以及選擇單元的電路示意圖。為了簡(jiǎn)明起見，圖4僅包含三條掃描鏈且每條掃描鏈包含兩個(gè)觸發(fā)器，在此電路中，一第一掃描鏈410包含有兩個(gè)觸發(fā)器412以及414;一第二掃描鏈420包含有兩個(gè)觸發(fā)器422以及424;—第三掃描鏈430包含有兩個(gè)觸發(fā)器432以及434。此外，四個(gè)選擇單元300—1、300-2、300-3、300_4分別被連接至觸發(fā)器422、414、424、434的輸入端。在該芯片被封裝前的測(cè)試中，選擇單元300—1被設(shè)定在第二使用模式(相對(duì)應(yīng)的觸發(fā)器422接收來(lái)自第二掃描鏈420的第二掃描輸入信號(hào))且選擇單元300_2被設(shè)定在第一使用模式(相對(duì)應(yīng)的觸發(fā)器414接收來(lái)自第一掃描鏈410的第一掃描輸入信號(hào))；此外，選擇單元300-3被設(shè)定在第二使用模式(相對(duì)應(yīng)的觸發(fā)器424接收來(lái)自第二掃描鏈420的第二掃描輸入信號(hào))且選擇單元300-4被設(shè)定在第三使用模式(相對(duì)應(yīng)的觸發(fā)器434接收來(lái)自第三掃描鏈430的第三掃描輸入信號(hào))。依據(jù)上述選擇單元的使用模式設(shè)定，該第一掃描輸入信號(hào)依序傳輸至觸發(fā)器412以及414;該第二掃描輸入信號(hào)依序傳輸至觸發(fā)器422以及424;該第三掃描輸入信號(hào)依序傳輸至觸發(fā)器432以及434。然而，如果第二掃描鏈420在該芯片封裝之后為一不可使用掃描鏈，選擇單元300_1、300—2、300—3、300—4的使用模式設(shè)定需要被修正以使得觸發(fā)器422以及424可以被測(cè)試。在該芯片被封裝后的測(cè)試中，選擇單元300-1被設(shè)定在第一使用模式(觸發(fā)器422接收來(lái)自第一掃描鏈410的第一掃描輸入信號(hào))且選擇單元300-2被設(shè)定在第二使用模式(觸發(fā)器414接收來(lái)自第二掃描鏈420的第二掃描輸入信號(hào))。此外，選擇單元300_3被設(shè)定在第三使用模式(觸發(fā)器424接收來(lái)自第三掃描鏈430的第三掃描輸入信號(hào))且選擇單元300—4被設(shè)定在第二使用模式(觸發(fā)器434接收來(lái)自第二掃描鏈420的第二掃描輸入信號(hào))。依據(jù)上述選擇單元的使用模式設(shè)定，該第一掃描輸入信號(hào)依序傳輸至觸發(fā)器412、422、414,且該第三掃描輸入信號(hào)依序傳輸至觸發(fā)器432、424、434。因此，通過(guò)改變每個(gè)選擇單元的使用模式，目標(biāo)觸發(fā)器可以接收到來(lái)自不同掃描鏈上的信號(hào)。在已知集成電路測(cè)試方法中，不i侖該測(cè)試在該芯片封裝之前或是之后進(jìn)行，只有兩條掃描鏈410以及430被使用來(lái)進(jìn)行測(cè)試且每條掃描鏈具有三個(gè)觸發(fā)器。然而，依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，當(dāng)該芯片被封裝前進(jìn)行測(cè)試或是在該芯片使用一較多接腳的封裝后進(jìn)行測(cè)試時(shí)，額外的掃描鏈420加入使得每條掃描鏈只具有兩個(gè)觸發(fā)器，因此掃描鏈的長(zhǎng)度確實(shí)減少且測(cè)試的花費(fèi)也降低。請(qǐng)注意，圖4所示掃描鏈以及觸發(fā)器的數(shù)量，以及該選擇單元的位置只是一實(shí)施例，在不違背本發(fā)明精神的前提下，掃描鏈以及觸發(fā)器的數(shù)量以及選擇單元的位置可以依據(jù)設(shè)計(jì)者的考慮來(lái)決定，這些設(shè)計(jì)上的變化均屬于本發(fā)明的范圍之內(nèi)。請(qǐng)注意，在本發(fā)明實(shí)施例中，所有可以用來(lái)測(cè)試的接點(diǎn)都被使用來(lái)產(chǎn)生掃描鏈，然而，本發(fā)明并不以此為限，當(dāng)芯片封裝前可使用掃描鏈的數(shù)量大于芯片封裝后可使用掃描鏈的數(shù)量時(shí)，使用選擇單元來(lái)切換不同掃描鏈上的不同掃描輸入信號(hào)的任何方法均在本發(fā)明的范圍之內(nèi)。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。權(quán)利要求1.一種集成電路測(cè)試方法，其包含有將一芯片中多個(gè)接點(diǎn)兩兩相連接，用以產(chǎn)生多條掃描鏈，每一條掃描鏈中還連接至少一觸發(fā)器；提供至少一選擇單元于該芯片中，其中該選擇單元依據(jù)該芯片封裝后的多條可使用掃描鏈來(lái)決定一使用模式；以及依據(jù)該選擇單元所決定的該使用模式來(lái)決定與該選擇單元相對(duì)應(yīng)的至少一目標(biāo)觸發(fā)器與所連系的一目標(biāo)掃描鏈。2.如權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試方法，其中該多條掃描鏈所連接的接點(diǎn)，對(duì)應(yīng)于該芯片可用于測(cè)試的所有接點(diǎn)。3.如權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試方法，其中該目標(biāo)掃描鏈為該芯片封裝后的一可使用掃描鏈，且該選擇單元耦接于該目標(biāo)掃描鏈以及該芯片封裝后的一不可使用掃描鏈，利用該選擇單元以傳輸該目標(biāo)掃描鏈上的一信號(hào)通過(guò)該芯片封裝后該不可使用掃描鏈上的該目標(biāo)觸發(fā)器。4.如權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試方法，其中該目標(biāo)掃描鏈為該芯片封裝后的一不可使用掃描鏈，且該選擇單元耦接于該目標(biāo)掃描鏈以及該芯片封裝后的一可使用掃描鏈，用來(lái)傳輸該目標(biāo)掃描鏈上的一信號(hào)至該芯片封裝后的該可使用掃描鏈上的該目標(biāo)觸發(fā)器。5.如權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試方法，其還包含有輸入一模式選擇信號(hào)至該芯片中的一特定接點(diǎn)，用來(lái)控制該選擇單元以決定該使用模式，其中，該特定接點(diǎn)不做為測(cè)試該芯片的任一該接點(diǎn)。6.—種具有集成電路測(cè)試功能的芯片，其包含有多條掃描鏈，其中每一條掃描鏈連接該芯片中兩個(gè)接點(diǎn)與至少一觸發(fā)器；以及至少一選擇單元，其中該選擇單元依據(jù)該芯片封裝后的多條可使用掃描鏈來(lái)決定一使用模式，其中，依據(jù)該選擇單元所決定的該使用模式來(lái)決定與該選擇單元相對(duì)應(yīng)的至少一目標(biāo)觸發(fā)器與所連接的一目標(biāo)掃描鏈。7.如權(quán)利要求6所述的芯片，其中該多條掃描鏈所連接的接點(diǎn)，對(duì)應(yīng)于該芯片可用于測(cè)試的所有接點(diǎn)。8.如權(quán)利要求6所述的芯片，其中該目標(biāo)掃描鏈為該芯片封裝后的一可使用掃描鏈，且該選擇單元耦接于該目標(biāo)掃描鏈以及該芯片封裝后的一不可使用掃描鏈，利用該選擇單元以傳輸該目標(biāo)掃描鏈上的一信號(hào)通過(guò)該芯片封裝后的該不可使用掃描鏈上的該目標(biāo)觸發(fā)器。9.如權(quán)利要求6所述的芯片，其中該目標(biāo)掃描鏈為該芯片封裝后的一不可使用掃描鏈，且該選擇單元耦接于該目標(biāo)掃描鏈以及該芯片封裝后的一可使用掃描鏈，用來(lái)傳輸該目標(biāo)掃描鏈上的一信號(hào)至該芯片封裝后的該可使用掃描鏈上的該目標(biāo)觸發(fā)器。10.如權(quán)利要求6所述的芯片，其還包括一特定接點(diǎn)，用來(lái)接收控制該選擇單元的一模式選擇信號(hào)以決定該使用模式，該特定接點(diǎn)不做為測(cè)試該芯片的任一該接點(diǎn)。全文摘要一種集成電路測(cè)試方法包含有分別連接一芯片中多個(gè)接點(diǎn)(pad)以產(chǎn)生多條掃描鏈，其中每一條掃描鏈連接該芯片中兩個(gè)接點(diǎn)以及至少一觸發(fā)器；提供至少一選擇單元，其中該選擇單元依據(jù)該芯片封裝后的多條可使用掃描鏈來(lái)決定一使用模式；以及依據(jù)該選擇單元所決定的該使用模式來(lái)決定與該選擇單元相對(duì)應(yīng)的一目標(biāo)觸發(fā)器所連接的一目標(biāo)掃描鏈。文檔編號(hào)G01R31/28GK101387685SQ200710166688公開日2009年3月18日申請(qǐng)日期2007年11月5日優(yōu)先權(quán)日2007年9月11日發(fā)明者江忠信申請(qǐng)人:揚(yáng)智科技股份有限公司