專利名稱：自動光學檢查系統的示教方法及利用它的檢查方法
技術領域：
本發(fā)明涉及自動光學檢查系統，更具體地，涉及自動光學檢查系統的示教方法及利用它的檢查方法。
背景技術：
隨著半導體器件小型化、輕量化，使用較多的薄膜(film)、帶(tape)型的撓性印刷電路板。撓性印刷電路板例如有TAB(Tape AutomaticBonding，即，載帶自動焊)、COF(Chip On Film)等，用作液晶顯示裝置的驅動集成電路、存儲器等的印刷電路板。
這樣的撓性印刷電路板10如圖1所示，做成連續(xù)形成有具有電路圖案的單元12的薄膜、帶形狀。在檢查時，撓性印刷電路板10為了在檢查時傳送，在上下兩端以一定間距具有索引孔14。索引孔14是由稱作PF(Perforation hole)孔或IP孔(Index perforation hole) (以下稱為IP孔)相咬合而形成的。各自的相鄰的IP孔14和IP孔14之間的間隔16為4.75mm，是本領域的共同規(guī)格，將相鄰的IP孔和IP孔之間的間隔定義為1節(jié)距(pitch)。
因此，在本領域中制造產品時，根據使用目的來決定節(jié)距大小，并決定一個單元(產品)的大小。例如，若將6節(jié)距做成一個單元，在薄膜上IP孔的每6節(jié)距的大小形成一個單元，在該大小的單元內形成各種電路圖案。然后，以這樣的IP孔為基準，到制造成品為止，利用與該IP孔嚙合旋轉的鋸齒形狀的裝置來傳送薄膜，或在檢查時以IP孔的6節(jié)距為一個單元進行檢查，判斷相應單元的合格與否。
一般，利用自動光學檢查系統來檢查撓性印刷電路板10的外觀。對于半導體器件制造用撓性印刷電路板的生產企業(yè)來說，檢查印刷電路板的合格或不合格的檢查過程非常重要。例如，在印刷電路板的圖案內產生短路、突起、凹陷等的各種缺陷，而使印刷電路板不能使用，因此，有效的檢查成為生產性及品質管理的主要原因。
利用光學自動檢查系統對連續(xù)的撓性印刷電路板進行光學檢查時，在檢查前進行設定環(huán)境信息的示教(teaching)作業(yè)。示教作業(yè)表示設定檢查對象物的檢查區(qū)域或設定檢查規(guī)格等設定檢查環(huán)境的各種作業(yè)。例如，示教作業(yè)設定包括要檢查的圖案的空間等的檢查區(qū)域，或者設定包括用于判別印刷電路板單元的合格與否的基準數據等檢查規(guī)格。因此，自動光學檢查系統在檢查時按設定的檢查區(qū)域單位進行檢查，根據與設計規(guī)格相比有多大的數據差異來判別合格與否。
參照圖2及圖3，現有的自動光學檢查系統2以一個單元12為產品大小單位來進行光學檢查，在產品的大小比攝像機6的視場大的情況下，分割產品大小來進行檢查。例如，攝像機6的鏡頭視場是25mm的情況下，一次最大攝像范圍可以檢查到5節(jié)距。但是，當檢查對象物是具有6節(jié)距以上的產品大小的單元12時，控制部4進行示教作業(yè)處理，以便通過分兩次檢查來獲取各影像數據16、18。這時，攝像機6按一次3節(jié)距(即，3IP)的大小8來進行檢查，因此產生2節(jié)距被重復檢查的現像，從而存在效率下降的問題。
其他例子，在以最大視場來拍攝一個單元12的情況下，第一次拍攝5節(jié)距，第二次拍攝下一5節(jié)距，則第二次的第一節(jié)距有效，但是與剩余4節(jié)距對應的影像數據是下一單元的影像數據，由于在下一單元的拍攝時重新從第一節(jié)距開始拍攝，所以不需要它。
并且，如圖3所示，在示教時對一個產品區(qū)域分兩次設定各檢查環(huán)境，所以需要分別存儲管理分為兩次的、前半部16及后半部18的數據。其結果，在示教及檢查時控制部4的存儲器的使用量增加、實際示教時間增加，此外示教及檢查速度降低。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于，提供一種用于有效地處理撓性印刷電路板的外觀檢查的自動光學檢查系統的示教方法。
本發(fā)明的另一目的在于，提供一種應用自動光學檢查系統的示教方法的檢查方法，該自動光學檢查系統的示教方法有效地處理撓性印刷電路板的外觀檢查。
本發(fā)明的再一目的在于，提供如下的方法在進行撓性印刷電路板的外觀檢查的自動光學檢查系統中，與印刷電路板的大小及種類無關地分為均勻的大小來進行示教及檢查。
為了實現上述目的的本發(fā)明的自動光學檢查系統的示教方法，其特征之一是，將印刷電路板單元的主數據分為均勻的大小來登記多個細部檢查區(qū)域。這樣的示教方法能夠與印刷電路板的大小無關地迅速示教。
根據該示教方法，提供一種對相同圖案的印刷電路板單元連續(xù)進行光學檢查的自動光學檢查系統的示教方法。該示教方法如下準備上述印刷電路板的主數據。將上述主數據分為多個細部檢查區(qū)域來登記。接著，登記用于判別上述細部檢查區(qū)域的圖案成分的基準數據。
在一個實施例中，上述分為細部檢查區(qū)域來登記是將上述主數據分為均勻的大小來登記。
在另一實施例中，上述示教方法還包括登記用于識別上述各細部檢查區(qū)域的識別信息。
并且，在另一實施例中，登記上述識別信息如下進行對應于上述細部檢查區(qū)域，設定和存儲為互不相同的文字、記號及圖形中的某一識別標記。
并且，在另一實施例中，上述識別標記分別設置在上述細部檢查區(qū)域內部的互不相同的位置。
并且，在另一實施例中，上述識別信息是進一步設定上述識別標記的位置信息來存儲的。
并且，在另一實施例中，在上述印刷電路板單元具備索引孔的情況下，述細部檢查區(qū)域被按照相鄰的索引孔之間的間隔大小來分割。
并且，在另一實施例中，登記上述基準數據是如下進行在與上述各細部檢查區(qū)域對應的上述被分割的主數據中顯示希望進行光學檢查的標識圖案；利用上述標識圖案判別上述細部檢查區(qū)域的圖案成分及空間成分；測量上述被判別的圖案成分及空間成分的寬度；并且，設定和存儲用于判別上述被測量的圖案成分的合格與否的上述基準數據。
并且，在另一實施例中，上述基準數據設置為基于上述標識圖案的亮度照度計的二值數據。
根據本發(fā)明的另一特征，提供一種利用登記多個細部檢查區(qū)域的示教方法的自動光學檢查系統的檢查方法。這樣的本發(fā)明的檢查方法能夠以影像攝像裝置的一次最大攝像范圍獲取影像數據，利用被分的細部檢查區(qū)域來判別印刷電路板單元的合格與否，可以使自動光學檢查系統的存儲器使用最小化，并且可以提高檢查速度。
根據該特征，檢查方法提供一種連續(xù)地對相同圖案的各印刷電路板單元進行光學檢查的自動光學檢查系統的檢查方法。該檢查方法，將上述印刷電路板的主數據按多個細部檢查區(qū)域單位來進行示教。以影像攝像裝置的一次最大攝像范圍獲取上述印刷電路板單元的影像數據。根據上述獲取的影像數據判別上述細部檢查區(qū)域。分別判別上述被判別的細部檢查區(qū)域合格與否。當上述細部檢查區(qū)域中的至少一個不合格時，對包括上述被判別為不合格的細部檢查區(qū)域的印刷電路板單元進行判別。接著，將包括上述被判別為不合格的細部檢查區(qū)域的上述印刷電路板單元判別為不合格。
在一個實施例中，上述示教包括準備上述主數據；將上述主數據分為上述多個細部檢查區(qū)域來登記；及登記用于判別上述各細部檢查區(qū)域的圖案成分的基準數據。
在另一實施例中，上述各細部檢查區(qū)域是將上述印刷電路板單元分為均勻的大小來形成的。
并且，在另一實施例中，上上述示教還包括登記用于識別上述細部檢查區(qū)域的識別信息。
并且，在另一實施例中，對應于上述細部檢查區(qū)域，將上述識別信息設定和存儲為互不相同的文字、記號及圖形中的某一識別標記。
并且，在另一實施例中，上述識別信息分別設置在上述細部檢查區(qū)域內部的互不相同的位置。
并且，在另一實施例中，上述識別信息還包括上述識別標記和上述識別標記的位置信息。
并且，在另一實施例中，登記上述基準數據如下進行在與上述各細部檢查區(qū)域對應的上述被分的主數據中顯示希望進行光學檢查的標識圖案；利用上述標識圖案來判別上述細部檢查區(qū)域的圖案成分及空間成分；測量上述被判別的圖案成分及空間成分的寬度；及存儲用于判別上述被測量的圖案成分的合格與否的上述基準數據。
并且，在另一實施例中，述基準數據設置成基于上述標識圖案的亮度照度計的二值數據。
根據本發(fā)明的另一特征，提供一種連續(xù)地對形成有相同圖案的印刷電路板進行檢查的自動光學檢查系統的檢查方法。根據該方法，將成為上述印刷電路板的基準的主數據劃分成多個區(qū)域；對上述各印刷電路板如下進行連續(xù)攝像使分配給與由攝像機一次拍攝的上述各印刷電路板的各區(qū)域的個數與在主數據中劃分的各區(qū)域對應，并與分配給一個印刷電路板的區(qū)域的個數不同；從通過上述拍攝獲取的上述各印刷電路板的影像數據中，與對應于上述被劃分的各區(qū)域的上述主數據的區(qū)域相比較來進行判別；并且，根據上述被拍攝的影像數據，在分配給上述一個印刷電路板的區(qū)域全體被判別為合格品的情況下，將上述一個印刷電路板判別為合格品。
在一個實施例中，上述印刷電路板的區(qū)域沿著上述印刷電路板的長度方向劃分。
在這個實施例中，由上述攝像機一次拍攝的上述區(qū)域的個數是對應于一個上述印刷電路板的各區(qū)域的個數的整數倍。
并且，在另一實施例中，上述區(qū)域的長度相同。
并且，在另一實施例中，上述攝像機使上述區(qū)域不重復地連續(xù)地拍攝上述印刷電路板。
并且，在另一實施例中，對被拍攝的上述印刷電路板的影像數據的各區(qū)域和上述主數據的各區(qū)域提供識別信息，對一個印刷電路板的影像數據的各區(qū)域提供互不相同的識別信息，對上述主數據的與上述印刷電路板相對應的區(qū)域提供相同的識別信息。
本發(fā)明的實施例可以變形為多種形態(tài)，本發(fā)明的范圍不得解釋為由如下所述的實施例限定。本實施例是為了向本領域中具有平均知識的技術人員更完整地說明本發(fā)明而提供的。因此，為了強調明確的說明而夸張了附圖上的構成要素的形狀等。


圖1是表示一般的撓性印刷電路板的結構的圖；圖2是表示一般的自動光學檢查系統的概略結構的圖；圖3是表示用于說明圖2所示的自動光學檢查系統的示教方法的一個印刷電路板單元的圖；圖4是表示根據本發(fā)明的自動光學檢查系統的概略結構的圖；圖5是表示用于說明圖4所示的自動光學檢查系統的示教方法的一個印刷電路板單元的圖；圖6是表示圖5所示的印刷電路板單元的局部結構的圖；圖7是表示圖6所示的標識圖案的圖；圖8是表示根據本發(fā)明的自動光學檢查系統的示教步驟的流程圖；圖9是表示利用根據本發(fā)明的自動光學檢查系統的示教方法的檢查步驟的流程圖。
具體實施例方式
以下根據附圖4至圖9詳細說明本發(fā)明的實施例。
圖4是表示根據本發(fā)明的自動光學檢查系統的概略結構的圖。
參照圖4，為了對以相同圖案形成的多個撓性印刷電路板100連續(xù)進行外觀檢查，自動光學檢查系統100至少包括一個影像攝像裝置104和控制部102，該控制部102接收并處理由攝像單元104獲取的影像數據，并對自動光學檢查系統100的各種動作進行控制。還包括一般的自動光學檢查系統的典型的構成要素(例如，卸載部、照明裝置、標記裝置及裝載部等)。
因此，本發(fā)明的自動光學檢查系統100以攝像裝置104的一次最大攝像范圍獲取影像數據來進行自動檢查。因此，自動光學檢查系統100設定和登記將印刷電路板單元110分為均勻的大小的多個細部檢查區(qū)域，并處理示教作業(yè)，以便能夠按細部檢查區(qū)域單位進行光學檢查。
影像攝像裝置104例如設有攝像機、影像傳感器等，按一次最大視場即最大攝像范圍112a～112f獲取撓性印刷電路板110的影像數據。這時，影像攝像裝置104以細部檢查區(qū)域不重復的方式連續(xù)拍攝印刷電路板。并且，影像攝像裝置104對印刷電路板單元連續(xù)進行拍攝，以分配給一次被拍攝的每個印刷電路板單元的區(qū)域的個數、與在主數據中被分割的細部檢查區(qū)域對應而分配給一個印刷電路板的區(qū)域的個數不同。
并且，控制部102例如包括影像處理裝置，對從影像攝像裝置獲取的影像數據進行處理；存儲器，存儲用于示教及檢查的數據和獲取的影像數據；典型的計算機系統，對被分的細部檢查區(qū)域進行判別，并包括控制器等；以及可編程邏輯控制器。
這里，影像攝像裝置104的視場取決于透鏡(未圖示)的規(guī)格。例如，視場25毫米是指利用25毫米透鏡一次可拍攝的最大范圍。
因此，控制部102在進行用于自動光學檢查的示教作業(yè)時，準備成為檢查對象物的印刷電路板單元110的主數據來登記，將主數據分成均勻的大小，并設定和存儲多個細部檢查區(qū)域。主數據例如包括對實際電路圖案的設計圖面文件(即，CAD數據)或相當于實際產品大小的被拍攝的影像數據等。并且，控制部102登記用于識別各細部檢查區(qū)域的識別信息，并存儲用于判別各細部檢查區(qū)域的圖案成分及空間成分的基準數據。并且，控制部102按照影像攝像裝置104的一次最大攝像范圍獲取影像數據，按照多個細部檢查區(qū)域單位對印刷電路板單元110進行光學檢查。
由于本發(fā)明的自動光學檢查系統100將印刷電路板單元的主數據分為多個均勻大小的細部檢查區(qū)域來進行示教，所以在光學檢查時，影像攝像裝置104能夠以一次可拍攝的最大范圍獲取影像數據，無重復拍攝地獲取影像數據，并且，由于利用被分的細部檢查區(qū)域來進行示教并檢查，從而使控制部102的存儲器的使用最小化，實現迅速的光學檢查。
具體而言，如圖5所示，主數據分為多個細部檢查區(qū)域116a～116f。對被分的各細部檢查區(qū)域116a～116f，登記互不相同的用于識別的識別標記118a～118f。這時，在有IP孔114的情況下，以IP孔的節(jié)距單位分成細部檢查區(qū)域116a～116f，在沒有IP孔的情況下，設定為一定的大小來均勻地分割。
目前，印刷電路板單元由于產品的小型化及制造成本削減等的原因，處于逐漸小型化的趨勢。例如形成為6節(jié)距大小～5.5節(jié)距大小。在這種情況下，印刷電路板單元的5節(jié)距部分按1節(jié)距單位分成細部檢查區(qū)域，剩余的部分也分配為一個細部檢查區(qū)域。當然，這時，將細部檢查區(qū)域按2節(jié)距單位分割的情況下，剩余的1.5節(jié)距分配給一個細部檢查區(qū)域。因此，將多種大小的印刷電路板分成多個細部檢查區(qū)域時，將連續(xù)的印刷電路板以均勻的大小分為細部檢查區(qū)域，最后剩余的部分可對應于被分割的大小來進行多種變更。
并且，細部檢查區(qū)域116a～116f將在內部區(qū)別于各個其它細部檢查區(qū)域的形狀(例如文字、記號、圖形等的圖案等)作為識別標記118a～118f來登記和存儲。例如各細部檢查區(qū)域116a～116f分別利用識別標記118a～118f來定義是一個印刷電路板單元的第幾個細部檢查區(qū)域。并且，細部檢查區(qū)域116a～116f在各不相同的位置配置識別標記118a～118f，將所配置的識別標記118a～118f的位置信息與識別標記118a～118f一起登記，在判別細部檢查區(qū)域時，利用所登記的識別標記118a～118f的位置信息，容易判別各細部檢查區(qū)域116a～116f。并且，各細部檢查區(qū)域116a～116f，當包含在一個印刷電路板單元中的所有細部檢查區(qū)域都被拍攝時，相應印刷電路板單元的檢查才完成。
并且，各細部檢查區(qū)域116a～116f登記和存儲用于內部的檢查對象圖案成分及空間成分所需的基準數據。如圖6所示，在判別細部檢查區(qū)域116a的圖案成分120及空間成分122時需要基準數據。即，一個細部檢查區(qū)域將用于對成為檢查對象的圖案成分進行判別的標識圖案124顯示在與細部檢查區(qū)域對應的主數據上，利用標識圖案124判別圖案成分120及空間成分122。例如，標識圖案用示教線(teaching line)124表示，將示教線124的亮度照度計設定為基準數據。并且，如圖7所示，標識圖案124為了對被判別的各細部檢查區(qū)域的圖案成分進行判別，而判別圖案成分和基準數據的差值，劃分圖案成分和空間成分的邊界。例如，將一個細部檢查區(qū)域的基準數據設定為亮度照度計的二值數據的情況下，若任意的成分與基準數據相同(或小于二值數據)，則判別為圖案成分，若與基準數據不同(或是二值數據以上)，則判別為空間成分。
接著，若判別出相應細部檢查區(qū)域的圖案成分，則將所獲取的影像數據和相應細部檢查區(qū)域的主數據相比較，判別細部檢查區(qū)域的合格與否。接著，當結束了所有細部檢查區(qū)域的檢查時，判別一個印刷電路板單元的合格與否。
若一般的自動光學檢查系統用25mm攝像機進行拍攝，在一個視場中獲取最大5節(jié)距大小的影像數據。由于1節(jié)距是4.75mm的大小，一視場是5節(jié)距×4.75mm＝23.75mm，滿足25mm攝像機的一個視場所拍攝的條件。如果是一個印刷電路板單元的大小為6節(jié)距的產品的情況下，不能通過一次拍攝獲取一個印刷電路板單元整體的影像數據。因此，現在是將一個印刷電路板單元按3節(jié)距分割并進行兩次拍攝來獲取影像數據，將各自的影像數據相加來判別該印刷電路板單元的合格與否。
但是，25毫米攝像機的一個視場最大可以拍攝5節(jié)距。但是，實際使用的部分只檢查3節(jié)距，因此各有2節(jié)距的影像數據重復而產生不進行檢查的部分，結果使檢查速度下降。
因此，本發(fā)明與現有方式的最大不同點在于，當一個印刷電路板單元的大小為6節(jié)距產品的情況下，現有方式是拍攝2次影像來檢查6節(jié)距，但是，本發(fā)明的方式是與一個印刷電路板單元的大小無關地以最大視場每次5節(jié)距地拍攝2次影像，就可以檢查10節(jié)距。例如，在第一次影像拍攝時，對第一單元的5節(jié)距進行拍攝來檢查，在第二次影像拍攝時，對第一單元的剩余的1節(jié)距和第二單元的4節(jié)距的影像進行拍攝來檢查。
因此，本發(fā)明的自動光學檢查系統與印刷電路板單元的大小無關地繼續(xù)獲取一定大小的視場的影像數據來進行檢查，所以，與現有方式相比，每相同的時間內檢查速度提高。
并且，圖8及圖9是示出本發(fā)明的自動光學檢查系統的示教及檢查步驟的流程圖。
如圖8所示，示教步驟中，在步驟S200準備主數據來登記和存儲。例如，主數據包括印刷電路板單元的實際電路圖案的設計數據(即，CAD數據)或對實際單元進行拍攝的影像數據等。
在步驟S202，將主數據分為多個細部檢查區(qū)域，登記和存儲各細部檢查區(qū)域。這時，各細部檢查區(qū)域被分為相同的大小。例如，在6節(jié)距大小的印刷電路板的情況下，以IP孔為基準按相同的大小分為6個，或者，沒有IP孔的印刷電路板的情況下，按一定的大小分割細部檢查區(qū)域。并且，對于大小為5.5節(jié)距的印刷電路板，按1節(jié)距大小來分割細部檢查區(qū)域，剩余的部分也分配到一個細部檢查區(qū)域。因此，細部檢查區(qū)域可以與影像拍攝的最大視場、印刷電路板的大小及/或形成在印刷電路板上的電路圖案對應地進行多種變更。
在步驟S204設定和存儲各細部檢查區(qū)域的各自的識別信息。這時，與各細部檢查區(qū)域對應的識別信息包括利用互不相同的文字、記號或圖形等來識別各細部檢查區(qū)域的識別標記；以及表示各識別標記配置在細部檢查區(qū)域內部的特定位置上的位置信息。并且，各識別標記設置在各細部檢查區(qū)域內部的互不相同的位置，以便容易識別位置。例如，如圖5所示，一個印刷電路板單元分割為6個細部檢查區(qū)域的情況下，第1至第6細部檢查區(qū)域以不同的圖形來設定識別標記，各識別標記配置在各細部檢查區(qū)域的不同的位置。因此，連續(xù)的印刷電路板單元中重復與第1至第6的各細部檢查區(qū)域對應的識別標記和位置信息，若據此來判別印刷電路板單元的位置，則細部檢查區(qū)域的判別較容易。
接著，在步驟206登記和存儲用于對細部檢查區(qū)域進行合格與否的判別的各自的基準數據。這時，基準數據為了對應于各細部檢查區(qū)域來判別圖案成分和空間成分，將數據的亮度照度計作為基準數據，來判別細部檢查區(qū)域的圖案成分及空間成分。
并且，如圖9所示，檢查方法是在步驟S210完成圖8的示教作業(yè)的狀態(tài)下進行。在步驟S212以影像攝像裝置的最大視場即一次最大攝像范圍來對印刷電路板單元進行拍攝，獲取影像數據。這時獲取的影像數據包括多個細部檢查區(qū)域，不能通過一次拍攝來獲取一個印刷電路板單元的影像數據，因此，結合通過下一次拍攝來獲取的影像數據的一部分，來獲取一個印刷電路板單元的影像數據。
在步驟S214獲取的影像數據，利用包含在識別信息中的位置信息、根據示教時登記的特定位置的識別標記來判別為各細部檢查區(qū)域。識別信息(即，識別標記及位置信息)被提供給被拍攝的印刷電路板單元的影像數據的各區(qū)域和主數據的各區(qū)域。這時，對一個印刷電路板單元的影像數據的各區(qū)域提供互不相同的識別信息，對于與各印刷電路板對應的主數據的區(qū)域提供相同的識別信息。
在步驟S216，利用各細部檢查區(qū)域的基準數據，判別各細部檢查區(qū)域的合格與否。判別的結果，若與各基準數據不一致或其以上，則判別為空間成分，若與基準數據一致，則判別為圖案成分。這時，被判別的圖案成分及空間成分通過二值數據判別邊界部分，測量圖案的線寬及空間寬度的大小。
接著，若在步驟S212，判別出對一個印刷電路板單元的多個細部檢查區(qū)域的合格與否，則據此來判別一個印刷電路板單元的合格與否。
接著，利用一個印刷電路板單元的大小是6節(jié)距的產品的情況，對本發(fā)明的示教動作進行說明。
將相當于檢查對象物(即，印刷電路板單元)的被拍攝的影像或實際檢查對象物的設計圖(即，CAD數據等)登記為主數據，將主數據分為多個細部檢查區(qū)域來設定河登記各細部檢查區(qū)域。例如，將6節(jié)距產品按每個節(jié)距分為6個細部檢查區(qū)域。這時，對6個細部檢查區(qū)域，分別利用顯示互不相同的特征的文字、記號或圖形等圖案形狀來設定識別標記，并設定和存儲包括識別標記的位置信息的識別信息。例如，將第一個細部檢查區(qū)域設定為文字A，將第二個細部檢查區(qū)域設定為文字B，并且，將第三個細部檢查區(qū)域設定為文字C，從而用不相同的文字設定識別標記，并且，設定尋找各識別標記的區(qū)域的位置信息。因此，即使在任意的位置拍攝影像數據，只要在先登記的各識別標記和尋找該識別標記的區(qū)域的位置的細部檢查區(qū)域中查找是否有自己要尋找的區(qū)域即可。如果，尋找文字B的識別標記，則當然顯示第二個細部檢查區(qū)域。
并且，印刷電路板單元在攝像機與攝像機之間按一定的間隔排列單元，所以可以確認單元之間的個數，因此，控制部可以判別各印刷電路板單元的編號。并且，另一方法如下在攝像機與攝像機之間按一定的間隔排列單元，所以控制部在獲取影像數據時可以判別各印刷電路板單元的編號及細部檢查區(qū)域的位置。
因此，細部檢查區(qū)域內的識別標記是檢查相應的細部檢查區(qū)域的所必要的。
為了在主數據中登記實際產品的影像數據，將一個印刷電路板單元的所有細部檢查區(qū)域通過最大視場拍攝兩次，則獲取一個印刷電路板單元的所有細部檢查區(qū)域的影像數據，從而將兩個影像數據登記為主數據，由此來登記印刷電路板單元的所有細部檢查區(qū)域的檢查信息。
然后，即使獲取形狀與前面獲取的兩個影像數據不同的其它影像數據，已登記的各細部檢查區(qū)域分別以單獨的數據與當前獲取的影像數據匹配來進行檢查。
并且，基準數據可以根據制造廠商及產品設置多種。例如，在本發(fā)明的實施例中，基準數據是在印刷電路板單元的要檢查的圖案的特定位置，如圖6所示劃出示教線124來形成標識圖案，以示教線的基于亮度照度計的二值數據為基準，判別各細部檢查區(qū)域的圖案成分和空間成分的邊界。并且，測量圖案成分的線寬及空間成分的空間寬度。這時，作為數值而輸入尋找圖案成分和空間成分的邊界的二值數據，或登記判斷合格與否的基準。例如，登記如下的基準，即，若二值數據的線寬比合格品減小30％以上，則將其判斷為凹陷。當然，不希望檢查的細部檢查區(qū)域不標記示教線，從而忽略。
首先，在自動檢查時，在先執(zhí)行的影像獲取或CAD文件準備、和在該影像或CAD文件上設定檢查區(qū)域或要檢查的圖案及檢查規(guī)格等的示教作業(yè)完成和存儲的狀態(tài)下，為了以對細部檢查區(qū)域的示教信息(影像數據、識別信息、基準數據等)為基準連續(xù)獲取影像而進行自動光學檢查。
這時，在自動檢查時，以在示教時已登記的示教信息為基準來獲取影像數據，按各細部檢查區(qū)域，對當前獲取的影像數據和已登記的示教信息進行比較來判斷合格與否，導出印刷電路板單元單位的檢查結果及每批的檢查結果。
這也是登記和存儲用于根據最初登記的識別標記來識別識別標記的二值數據(即，亮度照度計)，并獲取當前的影像，在尋找識別標記的區(qū)域內同樣地進行二值化時，如果存在二值數據相似的識別標記，則判斷為相同的細部檢查區(qū)域，對這時已進行示教的圖案區(qū)域和空間區(qū)域的寬度進行測量檢查。
以上，根據詳細說明和附圖，利用連續(xù)的印刷電路板單元，例示了本發(fā)明的自動光學檢查系統的結構及作用，但這只是舉出實施例進行了說明，也可以應用于檢查多種大小的印刷電路板單元或對單一印刷電路板進行光學檢查等；并且，在不脫離本發(fā)明的技術思想的范圍內，可以進行多種變化及變更。
如上所述，本發(fā)明的自動光學檢查系統與印刷電路板單元的大小無關，按一定大小分割多個細部檢查區(qū)域，設置和登記被分的各細部檢查區(qū)域的識別信息及基準數據來進行示教，從而可以縮短自動光學檢查系統的示教時間。
并且，本發(fā)明的自動光學檢查系統登記在示教時用于識別細部檢查區(qū)域的識別信息及基準數據，從而可以容易判別在光學檢查時按最大攝像范圍拍攝的細部檢查區(qū)域。
并且，通過利用本發(fā)明的示教方法進行光學檢查，可以通過影像攝像裝置的一次最大攝像范圍，進行印刷電路板單元的連續(xù)的檢查，從而提高檢查速度。
而且，本發(fā)明的自動光學檢查系統對示教時及檢查時包含在影像攝像裝置的最大攝像范圍內的細部檢查區(qū)域單位的數據進行管理，因此，可以使存儲器的使用量最小化。
權利要求
1.一種自動光學檢查系統的示教方法，對相同圖案的印刷電路板單元連續(xù)進行光學檢查，其特征在于，準備有關上述印刷電路板單元的主數據；將上述主數據分為多個細部檢查區(qū)域來登記；及登記用于判別上述細部檢查區(qū)域的圖案成分的基準數據。
2.如權利要求1所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，上述分為細部檢查區(qū)域來登記是將上述主數據分為均勻的大小來登記。
3.如權利要求1或2所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，上述示教方法還包括登記用于識別上述各細部檢查區(qū)域的識別信息。
4.如權利要求3所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，登記上述識別信息如下進行對應于上述細部檢查區(qū)域，設定和存儲為互不相同的文字、記號及圖形中的某一識別標記。
5.如權利要求4所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，上述識別標記分別設置在上述細部檢查區(qū)域內部的互不相同的位置。
6.如權利要求5所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，上述識別信息是進一步設定上述識別標記的位置信息來存儲的。
7.如權利要求1或2所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，上述印刷電路板單元具備索引孔，上述細部檢查區(qū)域被按照相鄰的索引孔之間的間隔大小來分割。
8.如權利要求1所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，登記上述基準數據是如下進行在與上述細部檢查區(qū)域對應的上述被分割的主數據中顯示希望進行光學檢查的標識圖案；利用上述標識圖案判別上述細部檢查區(qū)域的圖案成分及空間成分；測量上述被判別的圖案成分及空間成分的寬度；并且，設定和存儲用于判別上述被測量的圖案成分的合格與否的上述基準數據。
9.如權利要求8所述的自動光學檢查系統的示教方法，其特征在于，上述基準數據設置為基于上述標識圖案的亮度照度計的二值數據。
10.一種自動光學檢查系統的檢查方法，對相同圖案的印刷電路板單元連續(xù)進行光學檢查，其特征在于，將上述印刷電路板單元的主數據按多個細部檢查區(qū)域單位進行示教；以影像攝像裝置的一次最大攝像范圍獲取上述印刷電路板單元的影像數據；根據上述獲取的影像數據判別上述細部檢查區(qū)域；分別判別上述被判別的各細部檢查區(qū)域合格與否；當上述細部檢查區(qū)域中的至少一個不合格時，對包括上述被判別為不合格的細部檢查區(qū)域的印刷電路板單元進行判別；及將包括上述被判別為不合格的細部檢查區(qū)域的上述印刷電路板單元判別為不合格。
11.如權利要求10所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，上述示教包括準備上述主數據；將上述主數據分為上述多個細部檢查區(qū)域來登記；及登記用于判別上述細部檢查區(qū)域的圖案成分的基準數據。
12.如權利要求11所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，上述細部檢查區(qū)域是將上述印刷電路板單元分為均勻的大小來形成的。
13.如權利要求11或12所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，上述示教還包括登記用于識別上述細部檢查區(qū)域的識別信息。
14.如權利要求13所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，對應于上述細部檢查區(qū)域，將上述識別信息設定和存儲為互不相同的文字、記號及圖形中的某一識別標記。
15.如權利要求14所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，上述識別信息分別設置在上述細部檢查區(qū)域內部的互不相同的位置。
16.如權利要求15所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，上述識別信息還包括上述識別標記和上述識別標記的位置信息。
17.如權利要求11所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，登記上述基準數據如下進行在與上述細部檢查區(qū)域對應的上述被分的主數據中顯示希望進行光學檢查的標識圖案；利用上述標識圖案來判別上述細部檢查區(qū)域的圖案成分及空間成分；測量上述被判別的圖案成分及空間成分的寬度；及存儲用于判別上述被測量的圖案成分的合格與否的上述基準數據。
18.如權利要求17所述的自動光學檢查系統的檢查方法，其特征在于，上述基準數據設置成基于上述標識圖案的亮度照度計的二值數據。
全文摘要
本發(fā)明涉及對印刷電路板單元進行光學檢查的自動光學檢查系統的示教方法及利用它的檢查方法。本發(fā)明的自動光學檢查系統為了進行自動光學檢查而先進行示教作業(yè)。示教作業(yè)是在光學檢查之前設定檢查環(huán)境信息的作業(yè)，表示設定檢查對象物的檢查區(qū)域或檢查規(guī)格等檢查所需的環(huán)境信息的各種作業(yè)。本發(fā)明的示教作業(yè)將主數據分為均勻的大小來登記多個細部檢查區(qū)域。然后，登記用于識別各細部檢查區(qū)域的識別信息和用于判別細部檢查區(qū)域的圖案及空間成分的基準數據。因此，本發(fā)明的光學檢查與印刷電路板單元的大小無關地按一定的大小分割多個細部檢查區(qū)域，能夠以影像攝像裝置的一次最大攝像范圍獲取影像數據，并且利用被分的細部檢查區(qū)域來判別印刷電路板單元的合格與否，可以使自動光學檢查系統的存儲器使用最小化，提高示教及檢查速度。
文檔編號G01R31/309GK101086481SQ20071010994
公開日2007年12月12日 申請日期2007年6月6日 優(yōu)先權日2006年6月9日
發(fā)明者崔鉉鎬 申請人:Aju高技術公司