專利名稱：用于測量電子產(chǎn)品的治具及方法
用于測量電子產(chǎn)品的治具及方法技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種測量治具及方法，更特別關(guān)于一種用于測量電子產(chǎn)品的 治具及方法，可快速獲知電子產(chǎn)品的尺寸是否符合產(chǎn)品的尺寸規(guī)格。背景技術(shù)：
目前，電子產(chǎn)品(諸如記憶卡)可被大量量產(chǎn)，然后該電子產(chǎn)品的外形須 被檢測，諸如電子產(chǎn)品的厚度須被檢測，用以判斷該電子產(chǎn)品是否符合產(chǎn)品 的尺寸規(guī)格。然而，由于在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)在線檢測人員只能使用光標卡尺 作測量電子產(chǎn)品的厚度的動作，因此非常不符合大量量產(chǎn)的效率。舉例而言，檢測人員使用光標卡尺測量記憶卡的厚度的3個位置，并記錄其測量值。每 顆記憶卡測量(含紀錄該厚度的3個位置的測量值)需13秒，若測量5顆，則 須65秒，因此非常不符合大量量產(chǎn)的效率。再者，人為操作光標卡尺將具 有工具誤差及人為操作誤差成分存在。參考圖la及圖lb，為了提升測量效率，發(fā)展出一種已知的測量治具10， 用以測量多個電子產(chǎn)品12的厚度，該測量治具10包括一直板20、兩個縱向 壓板22、 一橫向壓板24及一支撐架26。該兩個縱向壓板22固定于該直板 20上。該橫向壓板24固定于該兩縱向壓板22上，并與該兩縱向壓板22及 該直板20界定一貫穿槽30，該貫穿槽30的寬度W為該電子產(chǎn)品12的厚度 T的規(guī)格上限值，將電子產(chǎn)品12沿箭頭方向42滑入該貫穿槽30，若電子產(chǎn) 品可通過貫穿槽30，則判定該電子產(chǎn)品符合厚度的尺寸規(guī)格，若電子產(chǎn)品 12無法通過貫穿槽30，則判定該電子產(chǎn)品12不符合厚度的尺寸規(guī)格。利用 上述電子產(chǎn)品12可否通過貫穿槽30的方式，快速判斷該電子產(chǎn)品12的厚 度是否符合尺寸規(guī)格。
然而，利用上述已知的測量治具及方法，僅能測量電子產(chǎn)品12的厚度是否在規(guī)格的上限值以下，無法獲知該電子產(chǎn)品12的厚度是否太小，落至 厚度規(guī)格的下限值以下，因此僅以電子產(chǎn)品12能通過貫穿槽30，即判斷電 子產(chǎn)品12的厚度符合產(chǎn)品厚度的尺寸規(guī)格，會有誤判之虞。再者，若該電子產(chǎn)品12發(fā)生輕微翹曲，而該電子產(chǎn)品12的厚度仍在尺 寸規(guī)格內(nèi)時，則該電子產(chǎn)品12亦屬于合格品。然而，該電子產(chǎn)品12由于輕 微翹曲而無法通過該已知測量治具10的貫穿槽30，而被誤判為不合格品。因此，便有需要提供一種用以測量電子產(chǎn)品的治具，能夠解決前述的缺占。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的一目的在于提供一種測量治具，快速獲知電子產(chǎn)品的尺寸確實 介于尺寸規(guī)格上、下限值之間。本發(fā)明的另一目的在于提供一種測量治具，可獲知該電子產(chǎn)品發(fā)生輕微 翹曲，而該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如厚度)卻仍小于電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值。為達上述目的，本發(fā)明提供一種測量治具，用于測量多個電子產(chǎn)品。該 測量治具包括一第一本體及一第二本體。該第二本體固定于該第一本體上， 與該第一本體間界定出一第一測量開槽及一第二測量開槽，其中該第一測量 開槽具有至少一比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值，以 供電子產(chǎn)品以一置放方向置入，與該比對尺寸進行比對判測，且該測量開槽 與該置放方向平行的深度小于該電子產(chǎn)品寬度的一半，以及該第二測量開槽 具有至少一比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格下限值，以供電 子產(chǎn)品與該比對尺寸進行比對判測，且該測量開槽與該置放方向平行的深度 小于該電子產(chǎn)品寬度的一半。本發(fā)明的測量治具可限制該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如寬度及厚度、或長度 及厚度)的最大值，且可限制該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如寬度及厚度、或長度及 厚度)的最小值。詳細而言，當該電子產(chǎn)品通過該第一測量開槽，且該電子 產(chǎn)品無法通過該第二測量幵槽時，則快速獲知該電子產(chǎn)品的尺寸確實介于該 第--及第二測量開槽的尺寸間，進而判斷該電子產(chǎn)品符合規(guī)格要求，且該電 子產(chǎn)品未發(fā)生翹曲。再者，本發(fā)明的測量治具確實可獲知該電子產(chǎn)品發(fā)生輕 微翹曲，而該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如厚度)卻仍小于電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限 值。
圖la為先前技術(shù)的用以測量電子產(chǎn)品的治具的平面示意圖。 圖lb為沿圖la的治具的剖線lb-lb的剖面示意圖。 圖2為本發(fā)明的第一實施例的測量治具的立體示意圖。 圖3a為本發(fā)明的該第一實施例的測量治具的上視示意圖。 圖3b為沿3a圖的測量治具的剖線3b-3b的剖面示意圖。 圖4為本發(fā)明的第二實施例的測量治具的剖面示意圖。 圖5a為本發(fā)明的第三實施例的測量治具的前視示意圖。 圖5b為沿圖5a的測量治具的剖線5b-5b的剖面示意圖。 圖5c為沿圖5a的測量治具的剖線5c-5c的剖面示意圖。 圖6為本發(fā)明的電子產(chǎn)品的平面示意圖，其顯示該電子產(chǎn)品的四種放置 方向。圖7為圖5b的第一貫穿槽的放大剖面示意圖，其顯示電子產(chǎn)品無法通 過該第一測量開槽。圖8為圖5b的第一貫穿槽的放大剖面示意圖，其顯示電子產(chǎn)品可通過 該第一測量開槽。主要組件符號說明 10 測量治具20 直板24 橫向壓板42 箭頭方向112 電子產(chǎn)品 120第一本體 124第三本體 142第二貫穿槽 146第四貫穿槽 152底面 162正面 166寬度線 172置放方向 210斜板 214承接盒 224第二內(nèi)表面228 出口 240測量開槽 244測量開槽 272置放方向 312支撐架 320斜板 324橫向壓板 332表面 340第一貫穿槽12 電子產(chǎn)品22 縱向壓板30 貫穿槽100 測量治具114 螺絲122 第二本體140 第一貫穿槽144 第三貫穿槽150 清角槽154 側(cè)面164 背面168 長度線200 測量治具212 支撐架222 第一內(nèi)表面226 入口230 長條狀突起246 測量開槽300 測量治具314 承接盒322 縱向壓板334 內(nèi)表面342 第二貫穿槽 350長條狀突起352第一內(nèi)表面354第二內(nèi)表面356入口358出口360測量幵槽362測量開槽372置放方向W寬度T厚度LI長度Wl寬度Tl厚度長度W2寬度D2深度W3寬度H3高度A放大部B放大部C放大部D放大部具體實施方式為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點能更明顯，下文將配合 所附圖示，作詳細說明如下。參考圖2，其顯示本發(fā)明的第一實施例的測量治具100,其用以測量多 個電子產(chǎn)品112(諸如閃存卡、安全數(shù)碼記憶卡(SD卡)等記憶卡)。該測量 治具100可為一掌上型測量治具。該電子產(chǎn)品112可為矩形扁平狀，其界定 出長度L1、寬度W1及厚度T1。該測量治具100包括一第一、第二及第三 本體120、 122、 124。該第二本體122可通過諸如螺絲114而固定于該第一 及第三本體120、 124上。該第二本體122分別與該第一及第三本體120、 124 形成有第一、第二、第三及第四貫穿槽140、 142、 144、 146。該等貫穿槽 140、 142、 144、 146均具有一底面152及兩側(cè)面154，該底面152設(shè)有兩清 角槽150，且該兩清角槽150分別緊鄰于該兩側(cè)面154，如圖2的放大部A 所示。該兩清角槽150可通過一放電加工、放電線切割或線切割...等相關(guān)機 成。該第一及第三貫穿槽140、 144的內(nèi)表面為一光滑面， 其表面平滑度為至少三個三角形加工符號。參考圖3a至圖3b，以該第一貫穿槽140為例，該第一貫穿槽140界定 出長度L2、寬度W2及深度D2。該第一貫穿槽140包括一入口 226、 一出 口 228、 一第一內(nèi)表面222及一第二內(nèi)表面224。該第一及第二內(nèi)表面222、 224皆位于該入口 226與該出口 228之間。該第二內(nèi)表面224是相對于該第 -內(nèi)表面222。該第二內(nèi)表面224為一光滑面，其表面平滑度為至少三個三 角形加工符號。該入口 226與該出口 228均形成于該第一、第二本體120、 122間，并與外界連通。該第二本體122更具有一長條狀突起230，設(shè)于該第一內(nèi)表面222上， 并緊鄰于該入口 226，如圖3b的放大部B所示。該長條狀突起230與該第 一本體120界定出一第一測量開槽240，其位于該第一貫穿槽140內(nèi)。該第 一測量開槽240包括長度L2、寬度W2-H3及深度D3。該長條狀突起230 可通過一放電加工制程將該第一內(nèi)表面222的部分體積移除而形成，或可通 過--焊接制程將該第一內(nèi)表面222的部分體積增加而形成。該長條狀突起 230的高度H3及寬度W3小于該電子產(chǎn)品寬度W1的一半。在本實施例中， 該長條狀突起230的高度H3及寬度W3皆約為2mm。該長條狀突起230的 長度為該測量開槽140的長度(亦即該第一貫穿槽140的長度L2)。該第三貫穿槽144的結(jié)構(gòu)類似于該第一貫穿槽140的結(jié)構(gòu)，因此該第二 本體122更具有另一長條狀突起，其與該第三本體124界定出一第三測量開 槽244，其位于該第三貫穿槽144內(nèi)。該第三測量開槽244亦包括長度、寬 度及深度。該第一及第三測量開槽240、 244具有至少一比對尺寸，諸如該第一及 第三測量開槽240、 244的長度、寬度及深度至少有一者可作為比對尺寸， 該比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值，供電子產(chǎn)品以一置放方向172
置入，使電子產(chǎn)品112的尺寸與該比對尺寸進行比對判測。進行比對的尺寸 包括該電子產(chǎn)品112的長度、寬度及厚度之其一，及任二者的組合。舉例而 言，該第一測量開槽240的長度L2及寬度W2-H3作為比對尺寸，該比對尺 寸為該電子產(chǎn)品112的寬度Wl及厚度Tl的規(guī)格上限值，然后將電子產(chǎn)品 112以置放方向172置入，使電子產(chǎn)品112的寬度Wl及厚度Tl與該比對尺 寸進行比對判測。再舉例而言，該第三測量開槽244的長度及寬度作為比對 尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的長度L1及厚度T1的規(guī)格上限值，然 后將電子產(chǎn)品112以置放方向172置入，使電子產(chǎn)品112的長度Ll及厚度 Tl與該比對尺寸進行比對判測。當該電子產(chǎn)品112通過該第一及第三測量 開槽240、 244時，則獲知該電子產(chǎn)品112的尺寸是小于該第一及第三測量 開槽240、 244的比對尺寸，亦即該測量治具100可限制該電子產(chǎn)品112的 尺寸的最大值。再者，該第一及第三測量開槽240、 244的比對尺寸(亦即電 子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值)與該電子產(chǎn)品112的標準尺寸的差異值為一預定 上限值。較佳地，該預定上限值為約+0.01mm。再參考圖3a，該第二、第四貫穿槽142、 146的結(jié)構(gòu)類似于該第一貫穿 槽140的結(jié)構(gòu)，因此該第二本體122更具有兩長條狀突起，其分別與該第一、 第三本體120、 124界定出第二、第四測量開槽242、 246，其分別位于該第 二、第四貫穿槽142、 146內(nèi)。該第二、第四貫穿槽142、 146亦包括長度、 寬度及深度。該第二及第四測量開槽242、 246具有至少一比對尺寸，諸如該第二及 第四測量開槽242、 246的長度、寬度及深度至少有一者可作為比對尺寸， 該比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格下限值，使電子產(chǎn)品112的尺寸與該比 對尺寸進行比對判測。進行比對的尺寸包括該電子產(chǎn)品112的長度、寬度及 厚度之其一，及任二者的組合。舉例而言，該第二測量開槽242的長度及寬 度作為比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的寬度Wl及厚度Tl的規(guī)
格下限值，然后使電子產(chǎn)品112的寬度Wl及厚度Tl與該比對尺寸進行比 對判測。再舉例而言，該第四測量開槽246的長度及寬度作為比對尺寸，該 比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的長度L1及厚度T1的規(guī)格下限值，然后使電子 產(chǎn)品112的長度Ll及厚度Tl與該比對尺寸進行比對判測。當該電子產(chǎn)品 112無法通過該第二及第四測量開槽242、 246時，則獲知該電子產(chǎn)品112 的尺寸是大于該第二及第四測量開槽242、 246的比對尺寸，亦即該測量治 具可限制該電子產(chǎn)品112的尺寸的最小值。再者，該第二及第四測量開槽 242、246的比對尺寸(亦即電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格下限值)與該電子產(chǎn)品112 的標準尺寸的差異值為一預定下限值。較佳地，該預定下限值約-0.01mm。再者，由于該長條狀突起230的寬度小于該電子產(chǎn)品112寬度的一半， 因此該等測量開槽240、 242、 244、 246與該置放方向172平行的深度D3 小于該電子產(chǎn)品寬度的一半。該等測量開槽240、 242、 244、 246的內(nèi)表面 為一光滑面，其表面平滑度為至少三個三角形加工符號。該等貫穿槽140、 142、 144、 146與該放置方向172平行的深度D2可設(shè) 計為小于該電子產(chǎn)品112的尺寸(諸如該電子產(chǎn)品112的寬度Wl)，以避免該 電子產(chǎn)品112因超出規(guī)格而卡住，進而無法取出。根據(jù)該第一實施例的測量治具100，本發(fā)明提供一種測量方法，其用以 測量多個電子產(chǎn)品112。首先，提供一測量治具100，其包括一第一測量開 槽240及一第二測量開槽244，以供該電子產(chǎn)品112置入，該第一測量開槽 240具有至少一比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格上限值， 該第二測量開槽244具有至少一比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的 尺寸規(guī)格下限值，且該第一、二測量開槽240、 244與該電子產(chǎn)品112置入 方向172平行的深度D3均小于該電子產(chǎn)品122尺寸的一半。當該電子產(chǎn)品 112通過該第一測量開槽240時，則獲知該電子產(chǎn)品112的尺寸是小于電子 產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格上限值。當該電子產(chǎn)品112無法通過該第二測量開槽244
時，則獲知該電子產(chǎn)品112的尺寸是大于電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格下限值。
本發(fā)明的測量治具及方法可限制該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如寬度及厚度、 或長度及厚度)的最大值，且可限制該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如寬度及厚度、或 長度及厚度)的最小值。詳細而言，當該電子產(chǎn)品通過該第一測量開槽，且 該電子產(chǎn)品無法通過該第二測量開槽時，則快速獲知該電子產(chǎn)品的尺寸確實 介于該第一及第二測量開槽的尺寸間，進而判斷該電子產(chǎn)品符合品管規(guī)格要 求，且該電子產(chǎn)品未發(fā)生翹曲。換言之，若該電子產(chǎn)品無法通過該第一測量 開槽，或該電子產(chǎn)品通過該第二測量開槽時，則可快速獲知該電子產(chǎn)品的尺 寸未介于該第一及第二測量開槽的尺寸間，進而判斷該電子產(chǎn)品未能符合品 管規(guī)格要求，或該電子產(chǎn)品發(fā)生翹曲。如此一來，本發(fā)明的測量治具及方法 確實可提升測量效率。
參考圖4，其顯示本發(fā)明的第二實施例的測量治具200，其用以測量多 個電子產(chǎn)品112。該第二實施例的測量治具200大體上類似于該第一實施例 的測量治具IOO，相似的組件標示類似的標號。該測量治具200可為一桌上 型測量治具。該第一測量開槽240的尺寸大于該電子產(chǎn)品112的尺寸，藉此 沿置放方向272通過該電子產(chǎn)品112。該測量治具200另包括一載板210及 一支撐架212。該載板210用以固定該第一本體120。該支撐架212用以支 撐該載板210。或者，該載板可為一斜板210，其具有一光滑面，并用以固 定該第一本體120，使該第一本體120傾斜。該第一本體120可通過諸如螺 絲(未圖示)固定于該斜板210。
該測量治具200另包括一承接盒214，其配置于該第一貫穿槽140的出 口 228下方，用以將己通過的該電子產(chǎn)品112承接住。
參考圖5a至圖5c，其顯示本發(fā)明的第三實施例的測量治具300，其用 以測量多個電子產(chǎn)品112。該測量治具300為一桌上型測量治具。類似于該 第一實施例的電子產(chǎn)品，該電子產(chǎn)品112可為矩形扁平狀，其界定出長度、寬度及厚度。該測量治具300包括一第一本體(諸如斜板320)及一第二本體 (諸如板體包括多個縱向壓板322及一橫向壓板324)。該斜板320具有一表 面332。該縱向壓板322固定于該斜板320的表面332上。該橫向壓板324 固定于該等縱向壓板322上，并具有一內(nèi)表面334朝向該斜板320。該橫向 壓板324與該等縱向壓板322及該斜板320之間形成有一第一及第二貫穿槽 340、 342。類似于該第一實施例的第一及第二貫穿槽，該第一及第二貫穿槽 340、 342可界定出長度、寬度及深度。
該第一貫穿槽340的結(jié)構(gòu)類似于該第二貫穿槽342的結(jié)構(gòu)，在本實施例 中，僅以第一貫穿槽340為例說明如下。再參考圖5b，該第一貫穿槽340 包括一入口 356、 一出口 358、 一第一內(nèi)表面352及一第二內(nèi)表面354。該第 一及第二內(nèi)表面352、 354皆位于該入口 356與該出口 358之間。該第一內(nèi) 表面352為該橫向壓板324的內(nèi)表面334。該第二內(nèi)表面354為該斜板320 的表面332，并相對于該第一內(nèi)表面352。該第二內(nèi)表面354為一光滑面， 其的表面平滑度為至少三個三角形加工符號。該入口 356與該出口 358均形 成于該斜板320及該橫向壓板324間，并與外界連通。
該橫向壓板324更具有一長條狀突起350，設(shè)于該第一內(nèi)表面352上， 并緊鄰于該入口 356，如圖5b的放大部C所示。該長條狀突起350與該斜 板320界定出一第一測量開槽360，其位于該第一貫穿槽340內(nèi)。該第一測 量開槽360包括長度、寬度及深度。該長條狀突起350可通過一放電加工制 程將該第一內(nèi)表面352的部分體積移除而形成，或可通過一焊接制程將該第 --內(nèi)表面352的部分體積增加而形成。該長條狀突起350的高度H3及寬度 W3小于該電子產(chǎn)品112寬度的一半。在本實施例中，該長條狀突起350的 高度H3及寬度W3皆約為2mm。該長條狀突起350的長度可為該測量開槽 的長度。
該第一測量開槽360具有至少一比對尺寸，諸如該第一測量開槽360的 長度、寬度及深度至少有一者可作為比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格上限值，供電子產(chǎn)品112以一置放方向372置入，與該比對尺寸 進行比對判測。進行比對的尺寸包括該電子產(chǎn)品112的長度、寬度及厚度之 其一，及任二者的組合。舉例而言，該第一測量開槽360的寬度作為比對尺 寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的厚度T1的規(guī)格上限值，然后將電子產(chǎn) 品112以置放方向372置入，使電子產(chǎn)品112的厚度Tl與該比對尺寸進行 比對判測。當該電子產(chǎn)品112通過該第一測量開槽360時，則獲知該電子產(chǎn) 品112的尺寸小于該第一測量開槽360的比對尺寸，亦即該測量治具300可 限制該電子產(chǎn)品112的尺寸的最大值。再參考圖5c，由于該第二貫穿槽342的結(jié)構(gòu)類似于該第一貫穿槽340 的結(jié)構(gòu)，因此該橫向壓板324更具有另一長條狀突起364，其與該斜板320 界定出一第二測量開槽362，其位于該第二貫穿槽342內(nèi)，如圖5c的放大部 D所示。該第二貫穿槽362亦包括長度、寬度及深度。該第二測量開槽362具有至少一比對尺寸，諸如該第二測量開槽362的 長度、寬度及深度至少有一者可作為比對尺寸，該比對槽尺寸為該電子產(chǎn)品 112的尺寸規(guī)格下限值，供電子產(chǎn)品112與該比對尺寸進行比對判測。進行 比對的尺寸包括該電子產(chǎn)品112的長度、寬度及厚度之其一，及任二者的組 合。舉例而言，該第二測量開槽362的寬度作為比對尺寸，該比對尺寸為該 電子產(chǎn)品112的厚度Tl的規(guī)格下限值，然后使電子產(chǎn)品112的厚度Tl與該 比對尺寸進行比對判測。當該電子產(chǎn)品112無法通過第二測量開槽362時， 則獲知該電子產(chǎn)品112的尺寸大于第二測量開槽362的尺寸，亦即該測量治 具300可限制該電子產(chǎn)品112的尺寸的最小值。再者，由于該長條狀突起350的寬度W3小于該電子產(chǎn)品112寬度的一 半，因此該等測量開槽360、 362與該置放方向372平行的深度D3小于該電 子產(chǎn)品112寬度的一半。該等測量開槽360、 362的內(nèi)表面為一光滑面，其
表面平滑度為至少三個三角形加工符號。
該第一、二貫穿槽340、 342與該放置方向342平行的深度可設(shè)計為小 于該電子產(chǎn)品112的尺寸(諸如該電子產(chǎn)品112的寬度)，以避免該電子產(chǎn)品 112因超出規(guī)格而卡住，進而無法取出。
該測量治具300另包括一支撐架312及一承接盒314。該支撐架312用 以支撐該斜板320。該承接盒314配置于該第一貫穿槽340的出口 358下方， 用以將測量通過的該電子產(chǎn)品112承接住。
根據(jù)該第三實施例的測量治具300，本發(fā)明提供一種測量方法，其用以 測量多個電子產(chǎn)品112。首先，提供一測量治具300，其包括一第一測量開 槽360，以供電子產(chǎn)品112置入，該第一測量開槽360具有至少一比對尺寸， 該比對尺寸為該電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格上限值，且該第一測量開槽360與 該電子產(chǎn)品112置入方向372平行的深度D3小于該電子產(chǎn)品112尺寸的一 半。
該電子產(chǎn)品112進行通過該第一測量開槽360前，該電子產(chǎn)品112可以 四種置放方向通過該第一測量開槽360，亦即參考圖6，該電子產(chǎn)品112的 四種置放方向分別為正面162朝前及寬度線166朝下、背面164朝前及寬度 線166朝下、正面162朝前及長度線168朝下、以及背面164朝前及長度線 168朝下。
參考圖7及圖8，該電子產(chǎn)品112以一第一置放方向儲如電子產(chǎn)品112 的正面162朝前及寬度線166朝下)無法通過該第一測量開槽240，而該電子 產(chǎn)品112以一第二置放方向(諸如電子產(chǎn)品112的背面164朝前及寬度線166 朝下)可通過該第一測量開槽240時，則獲知該電子產(chǎn)品112的尺寸小于電子 產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格上限值，但具有翹曲。詳細而言，當該電子產(chǎn)品112以 該第一置放方向(諸如電子產(chǎn)品112的正面162朝前及寬度線166朝下)通過 該第一測量幵槽240時，已翹曲的該電子產(chǎn)品112的正面162將會卡在該長
條狀突起350的位置，如圖7所示。
相反地，當該電子產(chǎn)品112以第一置放方向、第二置放方向均可通過該 第一測量開槽240時，則獲知該電子產(chǎn)品112的尺寸小于該電子產(chǎn)品112的 尺寸規(guī)格上限值，且無翹曲。該第二置放方向(諸如電子產(chǎn)品112的背面164 朝前及寬度線166朝下)不同于該第一置放方向(諸如電子產(chǎn)品112的正面162 朝前及寬度線166朝下)。
如前所述，若該電子產(chǎn)品112第一次以該第一放置方向無法通過第一測 量開槽240，則無法獲知該電子產(chǎn)品112是否具有翹曲。 一直要等到，該同 一電子產(chǎn)品112第二次以該第二放置方向通過第一測量開槽240時，才能獲 知該電子產(chǎn)品112的尺寸小于電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格上限值，但具有翹曲。
因此，本發(fā)明的測量治具確實可獲知該電子產(chǎn)品發(fā)生輕微翹曲，而該電 子產(chǎn)品的尺寸(諸如厚度)卻仍小于電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格上限值。
然后，提供該測量治具300，其另包括一第二測量開槽362。當該電子 產(chǎn)品112無法通過該第二測量開槽362時，則獲知該電子產(chǎn)品112的尺寸(諸 如厚度)大于該電子產(chǎn)品112的尺寸規(guī)格下限值。
本發(fā)明的測量治具及方法可限制該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如厚度)的最大 值，且可限制該電子產(chǎn)品的尺寸(諸如厚度)的最小值。詳細而言，當該電子 產(chǎn)品通過該第一測量開槽，且該電子產(chǎn)品無法通過該第二測量開槽時，則快 速獲知該電子產(chǎn)品的尺寸確實介于該第一及第二測量開槽的尺寸間，進而判 斷該電子產(chǎn)品符合品管規(guī)格要求。再者，本發(fā)明的測量治具以溜滑梯方式將 電子產(chǎn)品下滑，通過自然重力加速度可快速又方便。如此一來，本發(fā)明的測 量治具及方法確實可提升測量效率。
另夕卜，本發(fā)明的測量治具亦可稱為通過/不通過(Go/No-Go)測量治具，不 用填寫測量數(shù)值，只需紀錄[未通過顆數(shù)/測量顆數(shù)]。舉例說明，填寫0/5， 即代表測量5顆，0顆未通過，每顆須約1.5秒鐘投下，含紀錄的時間，測
量5顆只須10秒。相較于先前技術(shù)，檢測人員使用光標卡尺測量記憶卡的 厚度，測量5顆須65秒，因此本發(fā)明的測量治具及方法確實可提升測量效率。
雖然本發(fā)明已以前述實施例揭示，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本發(fā) 明所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可 作各種的更動與修改。因此本發(fā)明的保護范圍當視后附的申請專利范圍所界
定者為準。
權(quán)利要求
1、一種測量治具，用于測量多個電子產(chǎn)品，該測量治具包括一第一本體；以及一第二本體，固定于該第一本體上，其特征在于該第二本體與該第一本體間界定出一第一測量開槽及一第二測量開槽，其中該第一測量開槽具有至少一第一比對尺寸，該第一比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值，以供電子產(chǎn)品以一置放方向置入，與該第一比對尺寸進行比對判測，且該測量開槽與該置放方向平行的深度小于該電子產(chǎn)品寬度的一半，以及該第二測量開槽具有至少一第二比對尺寸，該第二比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格下限值，以供電子產(chǎn)品與該第二比對尺寸進行比對判測，且該測量開槽與該置放方向平行的深度小于該電子產(chǎn)品寬度的一半。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量治具，其特征在于該第二本體為一板 體，與該第一本體間形成有一第一貫穿槽及一第二貫穿槽，該第一、二貫穿 槽均于該第一、二本體間形成有與外界連通的一入口及一出口，該板體還具 有二長條狀突起分別緊鄰于該二入口突出于該第一、二貫穿槽中，而與第一 本體界定出該第一、二測量開槽。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量治具，其特征在于該第一、二貫穿槽 與該放置方向平行的深度小于該電子產(chǎn)品的尺寸。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量治具，其特征在于該第一、二貫穿槽 均具有一底面及兩側(cè)面，該底面設(shè)有兩清角槽，且該兩清角槽分別緊鄰于該 兩側(cè)面。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量治具，其特征在于該電子產(chǎn)品的尺寸 包括該長度、寬度及該厚度之其一，及任二者的組合。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量治具，其特征在于還包括一載板，用以固定該第一本體，該載板為一斜板，且具有一光滑面，使 該第一本體傾斜；以及一支撐架，用以支撐該載板。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量治具，其特征在于還包括 一承接盒，配置于該第一貫穿槽的出口下方，用以將測量通過的該電子產(chǎn)品承接住。
8、 一種測量方法，用于測量多個電子產(chǎn)品，其特征在于該測量方法 包括下列步驟提供一測量治具，其包括一第一測量開槽及一第二測量開槽，以供該電 子產(chǎn)品置入，該第一測量開槽具有至少一第一比對尺寸，該第一比對尺寸為 該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值，該第二測量開槽具有至少一第二比對尺寸， 該第二比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格下限值，且該第一、二測量開槽與 該電子產(chǎn)品置入方向平行的深度，均小于該電子產(chǎn)品尺寸的一半；當該電子產(chǎn)品通過該第一測量開槽時，則獲知該電子產(chǎn)品的尺寸是小于 電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值；以及當該電子產(chǎn)品無法通過該第二測量開槽時，則獲知該電子產(chǎn)品的尺寸是 大于電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格下限值。
9、 一種測量方法，用于測量多個電子產(chǎn)品，其特征在于該測量方法包括下列步驟提供一測量治具，其包括一第一測量開槽，以供電子產(chǎn)品置入，該第一 測量開槽具有至少一比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限 值，且該第一測量開槽與該電子產(chǎn)品置入方向平行的深度是小于該電子產(chǎn)品 尺寸的一半；當該電子產(chǎn)品以一第一置放方向無法通過該第一測量開槽，而以一第二 置放方向可通過該第一測量開槽時，則獲知該電子產(chǎn)品的尺寸是小于電子產(chǎn) 品的尺寸規(guī)格上限值，但具有翹曲；以及當該電子產(chǎn)品以第一、二置放方向均可通過該第一測量開槽時，則 獲知該電子產(chǎn)品的尺寸是小于該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值，且無翹曲，其 中該第二置放方向不同于該第一置放方向。
10、根據(jù)權(quán)利要求9所述的測量方法，其特征在于還包括下列步驟 提供該測量治具，其還包括一第二測量開槽；以及當該電子產(chǎn)品無法通過該第二測量開槽時，則獲知該電子產(chǎn)品的尺寸是 大于該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格下限值。
全文摘要
一種用以測量多個電子產(chǎn)品的測量治具界定出第一及第二測量開槽，該第一測量開槽具有至少一第一比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格上限值，以供電子產(chǎn)品以一置放方向置入，與該第一比對尺寸進行比對判測，且該測量開槽與該置放方向平行的深度小于該電子產(chǎn)品寬度的一半，以及該第二測量開槽具有至少一第二比對尺寸，該比對尺寸為該電子產(chǎn)品的尺寸規(guī)格下限值，以供電子產(chǎn)品與該第二比對尺寸進行比對判測，且該測量開槽與該置放方向平行的深度小于該電子產(chǎn)品寬度的一半。
文檔編號G01B3/00GK101153789SQ20061014107
公開日2008年4月2日 申請日期2006年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月29日
發(fā)明者劉昆華, 蘇振平, 許庭彰, 鄭益騏 申請人:華泰電子股份有限公司