專利名稱：應(yīng)用線性位移電位尺的錐入度儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及位移測量裝置，特別是一種應(yīng)用線性位移電位尺的錐入度儀。
背景技術(shù)：
錐入度儀用于對軟膏劑類的半固體物質(zhì)的軟硬度和粘稠度進行測定。測定時，將錐體作自由落體運動，以錐體在一定時間里刺入被測樣品的深度，作為錐入度來表示?，F(xiàn)有的錐入度儀對于錐體在下落過程中，某一時刻的下落距離的測量，是采用人工掐秒表，同時觀察標尺刻度的方法。這種手工操作，人為的影響較大，故儀器的測量速度和精度難以提高。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型為了解決現(xiàn)有的錐入度儀手工操作影響測量精度所存在的技術(shù)問題，提供一種應(yīng)用線性位移電位尺實現(xiàn)高精度測量的錐入度儀。
依據(jù)上述目的，本實用新型提供一種應(yīng)用線性位移電位尺的錐入度儀，由線性位移電位尺、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)據(jù)處理電路、顯示器組成。其中線性位移電位尺的導(dǎo)電塑料軌和置于其中的滑塊動配合連接，滑塊的下端連接有錐體。其中模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端與導(dǎo)電塑料軌以及滑塊的輸出線連接，而其輸出端與數(shù)據(jù)處理電路的輸入端連接，數(shù)據(jù)處理電路的輸出端與顯示器連接。
本實用新型由于采用了以上技術(shù)措施，整個操作過程十分簡單，測量精度高且重復(fù)性極好。


附圖是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如附圖所示一種應(yīng)用線性位移電位尺的錐入度儀，由垂直安裝的線性位移電位尺1、模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC、數(shù)據(jù)處理電路MCU、顯示器LCD組成。其中線性位移電位尺1的導(dǎo)電塑料軌1-1和置于軌道中的滑塊1-2動配合連接，滑塊1-2的下端與錐體2連接。其中模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的輸入端與導(dǎo)電塑料軌1-1、滑塊1-2的輸出線連接，而其輸出端與數(shù)據(jù)處理電路MCU的輸入端連接，數(shù)據(jù)處理電路MCU的輸出端與顯示器LCD連接。
本實用新型主要是將線性位移電位尺1垂直安裝于錐入度儀，使其滑塊1-2處于自由落體狀態(tài)并與錐體連成一體。測量時，將被測樣品3置于錐體2正下方，啟動儀器后，錐體2作自由落體運動，帶動滑塊1-2在導(dǎo)電塑料軌1-1中向下移動，使線性位移電位尺1的電位發(fā)生變化，經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，再由數(shù)據(jù)處理電路MCU對數(shù)據(jù)進行處理，轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的錐入度值在顯示器LCD上顯示出來。
權(quán)利要求1.一種應(yīng)用線性位移電位尺的錐入度儀，其特征是由線性位移電位尺(1)、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)、數(shù)據(jù)處理電路(MCU)、顯示器(LCD)組成；其中線性位移電位尺(1)的導(dǎo)電塑料軌(1-1)和置于軌道中的滑塊(1-2)動配合連接，滑塊(1-2)的下端與錐體(2)連接；其中模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的輸入端與導(dǎo)電塑料軌(1-1)、滑塊(1-2)的輸出線連接，而其輸出端與數(shù)據(jù)處理電路(MCU)的輸入端連接，數(shù)據(jù)處理電路(MCU)的輸出端與顯示器(LCD)連接。
專利摘要本實用新型提供一種應(yīng)用線性位移電位尺的錐入度儀，由線性位移電位尺、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)據(jù)處理電路、顯示器組成。其中線性位移電位尺的導(dǎo)電塑料軌和置于其中的滑塊動配合連接，滑塊的下端連接有錐體。其中模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端與導(dǎo)電塑料軌以及滑塊的輸出線連接，而其輸出端與數(shù)據(jù)處理電路的輸入端連接，數(shù)據(jù)處理電路的輸出端與顯示器連接。本實用新型整個操作過程十分簡單，測量精度高且重復(fù)性極好。
文檔編號G01B7/02GK2852048SQ200520047289
公開日2006年12月27日 申請日期2005年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月8日
發(fā)明者牛平 申請人:上海精密科學(xué)儀器有限公司