專利名稱：結(jié)合x(chóng)射線檢驗(yàn)和視覺(jué)檢驗(yàn)的印刷電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種結(jié)合X射線檢驗(yàn)和視覺(jué)檢驗(yàn)的電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，更具體地講，涉及這樣一種電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，該檢驗(yàn)系統(tǒng)通過(guò)由一個(gè)照相機(jī)處理通過(guò)透射X射線源而形成的X射線圖像和光學(xué)投射的視覺(jué)圖像來(lái)實(shí)現(xiàn)結(jié)合X射線檢驗(yàn)和視覺(jué)檢驗(yàn)，從而嘗試簡(jiǎn)化系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
最近，電子器件趨向于更小、更輕和多功能，印刷電路板及安裝于其上的電子元件的集成度快速提高。即，印刷電路板變得多層化，形成于其上的圖案變得更密。此外，同樣對(duì)于電子元件，由于集成度變得更高并且尺寸變得更小，因此除非在制作印刷電路板或在印刷電路板上安裝元件的過(guò)程中非常小心，否則出現(xiàn)缺陷的可能性變得更大。因此，在制作印刷電路板以及安裝和焊接元件的過(guò)程中，非常需要以精確和及時(shí)的方式來(lái)檢測(cè)在每一單元處理期間出現(xiàn)的缺陷。
這種用于檢驗(yàn)元件的安裝狀態(tài)的檢驗(yàn)系統(tǒng)依賴于元件的特性，該檢驗(yàn)系統(tǒng)一般使用X射線圖像、視頻照相機(jī)和激光器作為獲得關(guān)于檢驗(yàn)對(duì)象的信息的檢測(cè)單元。
所述X圖像表示通過(guò)將從X射線源照射的X射線束向著檢驗(yàn)對(duì)象發(fā)射而形成的放大的光，其在對(duì)檢驗(yàn)對(duì)象的隱藏缺陷進(jìn)行檢測(cè)的過(guò)程中比較有用。
視覺(jué)圖像是通過(guò)捕捉檢驗(yàn)對(duì)象的視覺(jué)頻率范圍而形成的，其在對(duì)檢驗(yàn)對(duì)象的視覺(jué)缺陷，如焊料不足(異常焊接)、遺漏(遺漏元件)、錯(cuò)誤插入、未對(duì)準(zhǔn)的元件，進(jìn)行檢測(cè)的過(guò)程中比較有用。
因此，最近，已使用了集成這兩種功能的檢驗(yàn)系統(tǒng)。
該配置大致分為檢驗(yàn)系統(tǒng)，用于獲得關(guān)于檢驗(yàn)對(duì)象的信息；和處理系統(tǒng)，獲得的信息被輸入該處理系統(tǒng)，該處理系統(tǒng)執(zhí)行預(yù)定的處理以確定是否存在缺陷。
該檢驗(yàn)系統(tǒng)包括板支持器，用于固定檢驗(yàn)對(duì)象；傳送組件，用于將板支持器傳送到預(yù)定位置；X射線源，用于向檢驗(yàn)對(duì)象發(fā)射X射線；X射線照相機(jī)，用于獲得透射通過(guò)檢驗(yàn)對(duì)象的X射線圖像；光學(xué)照相機(jī)，用于向檢驗(yàn)對(duì)象照射光并通過(guò)反射的光來(lái)獲得光學(xué)圖像。
然而，在如上所述的傳統(tǒng)檢驗(yàn)系統(tǒng)中，由于X射線照相機(jī)和光學(xué)照相機(jī)單獨(dú)地安裝，因此檢驗(yàn)系統(tǒng)復(fù)雜，并且制造成本增加。

發(fā)明內(nèi)容
因此，提出本發(fā)明以解決上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，該檢驗(yàn)系統(tǒng)通過(guò)由一個(gè)照相機(jī)接收關(guān)于X射線圖像和視覺(jué)圖像的信息來(lái)結(jié)合X射線檢驗(yàn)和視覺(jué)檢驗(yàn)，從而不僅嘗試簡(jiǎn)化檢驗(yàn)系統(tǒng)而且降低了制造成本。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明包括傳送單元，用于使檢驗(yàn)對(duì)象安全地?cái)R置于其上并將檢驗(yàn)對(duì)象傳送到預(yù)定位置；光產(chǎn)生單元，安裝在傳送單元下方，并向檢驗(yàn)對(duì)象發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光；光放大單元，安裝在光產(chǎn)生單元的相對(duì)一側(cè)，用于將透射通過(guò)檢驗(yàn)對(duì)象的預(yù)定光轉(zhuǎn)換并放大為可見(jiàn)光；光學(xué)單元，對(duì)檢驗(yàn)對(duì)象進(jìn)行光學(xué)照射，以創(chuàng)建視覺(jué)圖像；和照相機(jī)，用于接收通過(guò)光放大單元的X射線圖像或者光學(xué)單元的視覺(jué)圖像，以獲得信息。
所述光放大單元和光產(chǎn)生單元被放置在照相機(jī)的正下方；所述光學(xué)單元與光放大單元橫向并排放置；在光產(chǎn)生單元和照相機(jī)之間的光軸上，半透半反鏡以預(yù)定角度布置；在光學(xué)單元的發(fā)射光軸上，反射鏡被布置在這樣的位置，該位置位于半透半反鏡所處的水平方向的同一線上。
所述光產(chǎn)生單元是發(fā)射X射線束的X射線源，所述照相機(jī)是CCD(電荷耦合器件)照相機(jī)。


圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的結(jié)合X射線檢驗(yàn)和視覺(jué)檢驗(yàn)的檢驗(yàn)系統(tǒng)的配置的示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面，將參照?qǐng)D1描述本發(fā)明的實(shí)施例的配置和操作。
如圖1中所示，本發(fā)明的實(shí)施例包括傳送單元3，用于使檢驗(yàn)對(duì)象1安全地?cái)R置在其上并將檢驗(yàn)對(duì)象向預(yù)定方向傳送；光產(chǎn)生單元5，安裝在傳送單元3下方，向著檢驗(yàn)對(duì)象1發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光；光放大單元7，安裝在光產(chǎn)生單元5的相對(duì)一側(cè)，用于將透射通過(guò)檢驗(yàn)對(duì)象1的預(yù)定光轉(zhuǎn)換并放大為可見(jiàn)光；光學(xué)單元9，用于對(duì)檢驗(yàn)對(duì)象1進(jìn)行光學(xué)照射以創(chuàng)建視覺(jué)圖像；和照相機(jī)11，用于接收通過(guò)光放大單元7放大的X射線圖像或者光學(xué)單元9的視覺(jué)圖像，以獲得圖像。光產(chǎn)生單元5最好是發(fā)射X射線束的X射線源，照相機(jī)11最好是CCD照相機(jī)。
光產(chǎn)生單元5被置于照相機(jī)11的正下方，光學(xué)單元9與光產(chǎn)生單元5并排地放置，在光產(chǎn)生單元5和照相機(jī)11之間的光軸上，半透半反鏡(halfmirror)13以預(yù)定角度傾斜地安裝。
此外，在光學(xué)單元9的發(fā)射光軸上，反射鏡15被安裝在這樣的位置，該位置在半透半反鏡13所處的同一線上，并且反射鏡15保持與傾斜的半透半反鏡13的角度相同的角度。
光學(xué)單元9包括發(fā)光器9a，用于向檢驗(yàn)對(duì)象1照射光；和透鏡9b，用于調(diào)整照射到檢驗(yàn)對(duì)象9a并被反射的反射光的焦點(diǎn)。
如上所述，由于以這樣的方式實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，即通過(guò)使用一個(gè)照相機(jī)來(lái)同時(shí)獲得關(guān)于X射線圖像和視覺(jué)圖像的信息，因此可簡(jiǎn)化檢驗(yàn)系統(tǒng)，同時(shí)降低制造成本。
如上，盡管已參照優(yōu)選實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)理解，在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下，可對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種修改。因此，本發(fā)明的范圍不應(yīng)由所示出的實(shí)施例限定，而應(yīng)該由權(quán)利要求及其等同物來(lái)限定。
權(quán)利要求
1.一種結(jié)合X射線檢驗(yàn)和視覺(jué)檢驗(yàn)的電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，包括傳送單元，用于使檢驗(yàn)對(duì)象安全地?cái)R置于其上并將檢驗(yàn)對(duì)象傳送到預(yù)定位置；光產(chǎn)生單元，安裝在傳送單元下方，并向檢驗(yàn)對(duì)象發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光；光放大單元，安裝在光產(chǎn)生單元的相對(duì)一側(cè)，用于將透射通過(guò)檢驗(yàn)對(duì)象的預(yù)定光轉(zhuǎn)換并放大為可見(jiàn)光；光學(xué)單元，對(duì)檢驗(yàn)對(duì)象進(jìn)行光學(xué)照射，以創(chuàng)建視覺(jué)圖像；和照相機(jī)，用于接收通過(guò)光放大單元放大的X射線圖像或者光學(xué)單元的視覺(jué)圖像，以獲得信息。
2.如權(quán)利要求1所述的電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，其中，所述光放大單元和光產(chǎn)生單元被放置在照相機(jī)的正下方，其中，所述光學(xué)單元與光放大單元橫向地并排放置，其中，在光產(chǎn)生單元和照相機(jī)之間的光軸上，半透半反鏡以預(yù)定角度布置，其中，在光學(xué)單元的發(fā)射光軸上，反射鏡被布置在這樣的位置，該位置位于半透半反鏡所處的水平方向的同一線上。
3.如權(quán)利要求1所述的電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，其中，所述光產(chǎn)生單元是發(fā)射X射線束的X射線源。
4.如權(quán)利要求1所述的電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，其中，所述照相機(jī)是CCD照相機(jī)。
全文摘要
一種結(jié)合X射線檢驗(yàn)和視覺(jué)檢驗(yàn)的電路板檢驗(yàn)系統(tǒng)，包括傳送單元(3)，用于使檢驗(yàn)對(duì)象(1)安全地?cái)R置于其上并將檢驗(yàn)對(duì)象(1)傳送到預(yù)定位置；光產(chǎn)生單元(5)，安裝在傳送單元(3)下方，并向檢驗(yàn)對(duì)象(1)發(fā)射具有預(yù)定波長(zhǎng)的光；光放大單元(7)，安裝在光產(chǎn)生單元(5)的相對(duì)一側(cè)，用于將透射通過(guò)檢驗(yàn)對(duì)象(1)的預(yù)定光轉(zhuǎn)換并放大為可見(jiàn)光；光學(xué)單元(9)，對(duì)檢驗(yàn)對(duì)象(1)進(jìn)行光學(xué)照射，以創(chuàng)建視覺(jué)圖像；和照相機(jī)(11)，用于接收通過(guò)光放大單元(7)放大的X射線圖像或者光學(xué)單元(9)的視覺(jué)圖像，以獲得信息。
文檔編號(hào)G01N21/956GK1860361SQ200380110532
公開(kāi)日2006年11月8日 申請(qǐng)日期2003年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月14日
發(fā)明者金鐘元, 李東玹, 洪性哲 申請(qǐng)人:美陸技術(shù)株式會(huì)社