專利名稱:壓力測試裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種壓力測試裝置，它包括下試壓頭、上堵頭和外帽，所述下試壓頭的頂部設有上堵頭容納腔，所述上堵頭通過O型密封圈和紫銅墊與所述上堵頭容納腔密封配合；所述O型密封圈套于所述上堵頭上，且O型密封圈位于上堵頭側壁與上堵頭容納腔的側壁之間，所述紫銅墊設于所述上堵頭的底部與所述上堵頭容納腔的底部之間；所述下試壓頭底部具有與連通器連接的凸起，下試壓頭的內部設有上下貫穿上堵頭容納腔和下試壓頭底部的壓力測試通孔；所述外帽與所述下試壓頭的頂部螺紋連接，并按壓于所述上堵頭的頂部。本實用新型通過內部密封承壓的測試來代替外部承壓密封的測試，大大降低了測試的成本和提高了測試的安全性，構思巧妙，經濟實惠。
【專利說明】
壓力測試裝置
技術領域
[0001 ]本實用新型涉及一種壓力測試裝置。
【背景技術】
[0002]傳統(tǒng)的壓力計，可以認為是一個密封的容器，且要求該容器能在200°C的情況下承受住200MPa的高壓，那么接頭部分的密封性設計就至關重要。然而，外部提供高溫高壓的測試環(huán)境非常困難和危險，截至目前，尚未有其他方式的壓力測試裝置。
【實用新型內容】
[0003]基于此，針對上述問題，本實用新型提出一種通過內部測試壓力的壓力測試裝置，由于密封性的測試從外部加壓測試和從內部加壓測試都是一樣的，并且外部高壓測試困難和危險，但是內部加壓測試就相對容易實現(xiàn)。
[0004]本實用新型的技術方案是:一種壓力測試裝置，它包括下試壓頭、上堵頭和外帽，所述下試壓頭的頂部設有上堵頭容納腔，所述上堵頭通過O型密封圈和紫銅墊與所述上堵頭容納腔密封配合;所述O型密封圈套于所述上堵頭上，且O型密封圈位于上堵頭側壁與上堵頭容納腔的側壁之間，所述紫銅墊設于所述上堵頭的底部與所述上堵頭容納腔的底部之間；所述下試壓頭底部具有與連通器連接的凸起，下試壓頭的內部設有上下貫穿上堵頭容納腔和下試壓頭底部的壓力測試通孔;所述外帽與所述下試壓頭的頂部螺紋連接，并按壓于所述上堵頭的頂部。
[0005]本技術方案中，10MPa以內的密封設計可以只采用耐高溫的O型密封圈密封就可以了，但是大于10MPa的超高壓密封，僅僅靠O型密封圈密封是不保險的，所以發(fā)明人采用了 “紫銅墊+0型密封圈”的硬密封加軟密封的雙密封形式。密封性的測試從外部加壓測試和從內部加壓測試都是一樣的，外部高壓測試困難和危險，而內部加壓測試相對容易實現(xiàn)。
[0006]在開始測試時，將連通器放入烘箱，提供200°C的高溫環(huán)境。然后將下試壓頭裝在連通器上，通過外部連接的活塞壓力計提供200MPa的壓力，將上堵頭安裝O型密封圈和紫銅墊與下試壓頭緊密連接，來測試雙密封的高溫高壓密封性。為了安全保險，在外部還安裝了一個外帽，從而防止堵頭承受不了高壓被彈射脫落的危險。
[0007]在優(yōu)選的實施例中，所述上堵頭的高度大于或等于所述上堵頭容納腔的深度，且上堵頭的高度小于上堵頭容納腔的深度加上所述外帽的螺紋高度。目的是保證上堵頭的頂部一直可以處于被外帽按壓的狀態(tài)。
[0008]在優(yōu)選的實施例中，所述上堵頭上至少套有三個O型密封圈。目的是保證密封的穩(wěn)定性。
[0009]在優(yōu)選的實施例中，所述O型密封圈為耐高溫材料。目的是保證O型密封圈不會因為壓力增加、溫度升高而受到損害，從而保證不影響壓力的測試。
[0010]本實用新型的有益效果是:
[0011](I)采用了“紫銅墊+0型密封圈”的硬密封加軟密封的雙密封形式，試內部加壓測試變得更加容易實現(xiàn)；
[0012](2)在外部安裝了一個外帽，可以有效防止堵頭承受不了高壓被彈射脫落的危險；
[0013](3)通過內部密封承壓的測試來代替外部承壓密封的測試，大大降低了測試的成本和提高了測試的安全性，構思巧妙，經濟實惠?！靖綀D說明】

[0014]圖1是本實用新型實施例所述壓力測試裝置的剖面結構示意圖；
[0015]圖2是圖1中下試壓頭的剖面結構示意圖；
[0016]附圖標記說明:
[0017]10-下試壓頭，101-上堵頭容納腔，102-凸起，103-壓力測試通孔，20-上堵頭，30-外帽，40-0型密封圈，50-紫銅墊?！揪唧w實施方式】
[0018]下面結合附圖對本實用新型的實施例進行詳細說明。
[0019]實施例:
[0020]如圖1和圖2所示，一種壓力測試裝置，它包括下試壓頭10、上堵頭20和外帽30。所述下試壓頭10的頂部設有上堵頭容納腔101，所述上堵頭20通過0型密封圈40和紫銅墊50與所述上堵頭容納腔101密封配合;所述〇型密封圈40套于所述上堵頭20上，且0型密封圈40位于上堵頭20側壁與上堵頭容納腔101的側壁之間，所述紫銅墊50設于所述上堵頭20的底部與所述上堵頭容納腔101的底部之間；所述下試壓頭10底部具有與連通器連接的凸起102， 下試壓頭10的內部設有上下貫穿上堵頭容納腔101和下試壓頭10底部的壓力測試通孔103; 所述外帽30與所述下試壓頭10的頂部螺紋連接，并按壓于所述上堵頭20的頂部。
[0021]本實施例中，所述上堵頭20的高度大于或等于所述上堵頭容納腔101的深度，且上堵頭20的高度小于上堵頭容納腔101的深度加上所述外帽30的螺紋高度。目的是保證上堵頭20的頂部一直可以處于被外帽30按壓的狀態(tài)。[〇〇22] 本實施例中，所述上堵頭20上至少套有三個0型密封圈40。目的是保證密封的穩(wěn)定性。[〇〇23]本實施例中，所述0型密封圈40為耐高溫材料。目的是保證0型密封圈40不會因為壓力增加、溫度升高而受到損害，從而保證不影響壓力的測試。[〇〇24]本實施例所述的壓力測試裝置，lOOMPa以內的密封設計可以只采用耐高溫的0型密封圈40密封就可以了，但是大于lOOMPa的超高壓密封，僅僅靠0型密封圈40密封是不保險的，所以發(fā)明人采用了“紫銅墊50+0型密封圈40”的硬密封加軟密封的雙密封形式。密封性的測試從外部加壓測試和從內部加壓測試都是一樣的，外部高壓測試困難和危險，而內部加壓測試相對容易實現(xiàn)。[〇〇25]在開始測試時，將連通器放入烘箱，提供200°C的高溫環(huán)境。然后將下試壓頭10裝在連通器上，通過外部連接的活塞壓力計提供200MPa的壓力，將上堵頭20安裝0型密封圈40 和紫銅墊50與下試壓頭10緊密連接，來測試雙密封的高溫高壓密封性。為了安全保險，在外部還安裝了一個外帽30,從而防止堵頭承受不了高壓被彈射脫落的危險。[〇〇26]本實用新型所述的壓力測試裝置，采用了“紫銅墊50+0型密封圈40”的硬密封加軟密封的雙密封形式，試內部加壓測試變得更加容易實現(xiàn)。在外部安裝了一個外帽30，可以有效防止堵頭承受不了高壓被彈射脫落的危險。通過內部密封承壓的測試來代替外部承壓密封的測試，大大降低了測試的成本和提高了測試的安全性，構思巧妙，經濟實惠。
[0027]以上所述實施例僅表達了本實用新型的【具體實施方式】，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。
【主權項】
1.一種壓力測試裝置，其特征在于，它包括下試壓頭、上堵頭和外帽，所述下試壓頭的 頂部設有上堵頭容納腔，所述上堵頭通過0型密封圈和紫銅墊與所述上堵頭容納腔密封配 合;所述0型密封圈套于所述上堵頭上，且0型密封圈位于上堵頭側壁與上堵頭容納腔的側 壁之間，所述紫銅墊設于所述上堵頭的底部與所述上堵頭容納腔的底部之間；所述下試壓 頭底部具有與連通器連接的凸起，下試壓頭的內部設有上下貫穿上堵頭容納腔和下試壓頭 底部的壓力測試通孔;所述外帽與所述下試壓頭的頂部螺紋連接，并按壓于所述上堵頭的 頂部。2.根據(jù)權利要求1所述的壓力測試裝置，其特征在于，所述上堵頭的高度大于或等于所 述上堵頭容納腔的深度，且上堵頭的高度小于上堵頭容納腔的深度加上所述外帽的螺紋高度。3.根據(jù)權利要求1或2所述的壓力測試裝置，其特征在于，所述上堵頭上至少套有三個0 型密封圈。4.根據(jù)權利要求3所述的壓力測試裝置，其特征在于，所述0型密封圈為耐高溫材料。
【文檔編號】G01M3/26GK205691303SQ201620017051
【公開日】2016年11月16日
【申請日】2016年1月8日 公開號201620017051.X, CN 201620017051, CN 205691303 U, CN 205691303U, CN-U-205691303, CN201620017051, CN201620017051.X, CN205691303 U, CN205691303U
【發(fā)明人】楊軍
【申請人】成都信息工程大學