專利名稱:一種空間三維尺寸測量設備的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種空間三維尺寸測量設備，包括底座、測量工作臺和測量頭，所述底座上安裝有測量工作臺，測量工作臺中間放置有載物片，所述測量工作臺后側安裝有光學測頭，所述測量工作臺兩側設置有立柱，立柱上安裝有測量頭，測量頭與載物片相對應放置。本實用新型減少了原來多個零部件產品的公差累積，相對原有三坐標儀測量法，在保證測量精度條件下，提高檢測效率，簡化測量過程。
【專利說明】一種空間三維尺寸測量設備

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及測量設備領域，尤其是一種空間三維尺寸測量設備。

【背景技術】
[0002]目前常用的三坐標儀通過移動測頭相對被測件的三個軸，通過記錄測頭接觸零件時三向移動距離，來計算被測點的絕對坐標。用固定基準球建立坐標系，測頭調整方向后，重新校準。光學三坐標測量常采用雙鏡頭成像，測量零件外表面點云，用零件表面參照點建立基準，多角度拍攝后擬合，這種坐標儀操作復雜，步驟多，易出錯；少數(shù)三鏡頭采相儀器上只有一個成像設備，需要旋轉零件從3個角度成像，然后再合成，這樣動零件就容易有誤差。
實用新型內容
[0003]針對上述問題，本實用新型旨在提供一種空間三維尺寸測量設備。
[0004]為實現(xiàn)該技術目的，本實用新型的方案是:一種空間三維尺寸測量設備，包括底座、測量工作臺和測量頭，所述底座上安裝有測量工作臺，測量工作臺中間放置有載物片，所述測量工作臺后側安裝有光學測頭，所述測量工作臺兩側設置有立柱，立柱上安裝有測量頭，測量頭與載物片相對應放置。
[0005]作為優(yōu)選，所述底座底部安裝有四個水平調整墊。
[0006]作為優(yōu)選，所述測量頭為三維掃描儀，測量頭采用激光成像原理。
[0007]作為優(yōu)選，所述測量頭3可通過與立柱6的連接機構調節(jié)位置，在工作臺2周圍均布，并呈最佳觀測角度，測量時零件不用轉動，直接拍攝3個角度的照片，然后自動合成，有效提尚效率減小誤差。
[0008]本實用新型使用三個成像設備從三向分別測量零件表面，自動合成減小誤差，同時測量與零件固定的測量基準，建立坐標系。相對原有三坐標儀測量法，在保證測量精度條件下，提高檢測效率，簡化測量過程。

【附圖說明】

[0009]圖1為本實用新型的結構示意圖。

【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖和具體實施例對本實用新型做進一步詳細說明。
[0011]如圖1所示，本實用新型實施例的一種空間三維尺寸測量設備，包括底座1、測量工作臺2和測量頭3，所述底座I上安裝有測量工作臺2，測量工作臺2中間放置有載物片4，所述測量工作臺2后側安裝有光學測頭5，所述測量工作臺2兩側設置有立柱6，立柱6上安裝有測量頭3，測量頭3與載物片4相對應放置。
[0012]作為優(yōu)選，所述底座I底部安裝有四個水平調整墊。
[0013]作為優(yōu)選，所述測量頭3為三維掃描儀，測量頭3采用激光成像原理。
[0014]作為優(yōu)選，所述測量頭3可通過與立柱6的連接機構調節(jié)位置，在工作臺2周圍均布，并呈最佳觀測角度，測量時零件不用轉動，直接拍攝3個角度的照片，然后自動合成，有效提尚效率減小誤差。
[0015]作為優(yōu)選，所述載物片4裝有測量基準。
[0016]本實用新型使用三個成像設備從三向分別測量零件表面，自動合成減小誤差，同時測量與零件固定的測量基準，建立坐標系。本實用新型減少了原來多個零部件產品的公差累積，相對原有三坐標儀測量法，在保證測量精度條件下，提高檢測效率，簡化測量過程。
[0017]以上所述，僅為本實用新型的較佳實施例，并不用以限制本實用新型，凡是依據(jù)本實用新型的技術實質對以上實施例所作的任何細微修改、等同替換和改進，均應包含在本實用新型技術方案的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種空間三維尺寸測量設備，其特征在于，包括底座、測量工作臺和測量頭，所述底座上安裝有測量工作臺，測量工作臺中間放置有載物片，所述測量工作臺后側安裝有光學測頭，所述測量工作臺兩側設置有立柱，立柱上安裝有測量頭，測量頭與載物片相對應放置。2.根據(jù)權利要求1所述的一種空間三維尺寸測量設備，其特征在于:所述底座底部安裝有四個水平調整墊。3.根據(jù)權利要求1所述的一種空間三維尺寸測量設備，其特征在于:所述測量頭為三維掃描儀，測量頭采用激光成像原理。4.根據(jù)權利要求1所述的一種空間三維尺寸測量設備，其特征在于:所述測量頭的3個角度均裝有成像設備。
【文檔編號】G01B11-00GK204286361SQ201420774086
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