專利名稱：在電路板的預定區(qū)域中檢查電路板的方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種在電路板之預定區(qū)域中檢查電路板的方法，及用于配置此方法的裝置。
美國專利4,469,553中提出一種用于組裝、測試及維修電路板的裝置。此裝置具有一用于容納及維持將組裝之電路板的工作面。將該電路板應用一吸入裝置固定到此固定面。在該工作面之正上方固定一半銀鏡面，且一圖像投影器定位在該半銀鏡上方。圖像投影器用于將欲插入之組件的圖像及軌跡線數(shù)據(jù)投影到該鏡上。該裝置的使用者透過半銀鏡觀看投影設備投影在半銀鏡上的圖像及定位在其后方的電路板。因此使用者有一印象，即此投影的圖像投影在該電路板上，以標記將配置相關電路組件的位置。
美國專利5,513,099中說明一種用于維修及處理電路板的裝置。此裝置有一工作面，以固定將受檢的電路板。一相機安裝在工作面的上方，在一可以在水平面上移動的滑動機構中，使它可以自動定位在將檢查之電路板上任何需要的點上。此裝置有一具有顯示屏、鍵盤及計算機滑鼠的計算機。
使用此裝置，將受檢之電路板固定在該工作面上。然后由相機產生電路板的數(shù)字圖像，且顯示在顯示屏上。該所謂的“GERBER”數(shù)據(jù)疊加在此圖像上。然后操作員輸入缺陷信息，使得相機自動定位在與缺陷信息有關的電路板之部分中。然后操作員放大相機的圖像及“GERBER”數(shù)據(jù)圖像。應用此方式，操作員可以看到且分析放大的相關區(qū)域。
本發(fā)明要解決的問題是產生一種在電路板的預定區(qū)域中檢查電路板的方法以實現(xiàn)該方法的裝置，其中預定區(qū)域的放大圖像可以快速且輕易地被發(fā)現(xiàn)并觀察到，同時用于配置該方法的必須裝置也非常簡單且具成本效益。
具有權利要求1的特征的方法和具有權利要求12的特征的裝置解決了該問題。本發(fā)明的進一步優(yōu)點可由從屬權利要求給出。
在電路板之預定區(qū)域中檢查電路板的方法使用一種裝置，該裝置包含一靜止的相機及一顯示單元，該方法包含下列步驟a)在相機的掃瞄區(qū)域中定位將受檢的電路板，其中以相同的比例在顯示單元上顯示一相機圖像及與該相機圖像分開的電路板圖像，
b)移動將受檢之電路板，使得該相機圖像盡可能地與電路板圖像疊合，c)在顯示單元上以相同的比例放大該相機圖像及電路板圖像，d)移動該相機圖像以與該電路板圖像更相符，以及e)顯示將受檢的預定區(qū)域，使得在顯示單元上可以看到將受檢查之電路板的預定區(qū)域的放大視圖。
為了執(zhí)行本發(fā)明之方法，必需具有一連接到顯示單元的靜止相機，此顯示單元例如為一傳統(tǒng)計算機的顯示屏。將受檢的電路板置于相機的掃瞄區(qū)域中，其中該電路板可以自由移動。該顯示單元將顯示出該相機的圖像，即由相機所攝取的電路板的圖像，以及與相機圖像無關的顯示該電路板基本特征的電路板圖像。相機圖像及電路板圖像均以相同的比例顯示出來。經由移動將受檢的電路板，使得該相機圖像與電路板圖像盡可能地相符。因此該相機圖像及該電路板圖像將以相同的比例擴大。再度移動電路板，相機圖像將更精確地與該電路板圖像疊合。
通過使相機圖像與電路板圖像對準，至少在兩階段中，有可能得到一非常精確之重疊圖像，而不必有任何技術上的支出。
因此，依據(jù)本發(fā)明的方法先進行粗略對準，在完成此粗略的對準后，進行精細對準。這包含放大重疊的圖像，使得原先在粗略對準的比例下無法檢測出來的電路板圖像及相機圖像之間的差異變得可以辨識。因此，經由逐步放大并在平滑面上移動，可以非常精確地以一極度放大的圖像對準該電路板。
因為在顯示屏上極度放大電路板圖像的情況下，只有一部份電路板是可見的，所以實際上不可能對應此一部位而對準一電路板，除非該電路板至少在先前已粗略對準。依據(jù)本發(fā)明的逐步放大的過程，相對一電路板圖像而對準將受檢的電路板，結果允許快速且精確地對準一相當放大的電路板圖像。
依據(jù)本發(fā)明的較佳實施例，顯示單元的一個區(qū)域顯示該電路板圖像及相機圖像，而另一區(qū)域顯示CAD圖像。該CAD圖像顯示可見電路板測試點及軌跡線。這兩個區(qū)域相鄰，且以相同的比例顯示對應的圖像(電路板圖像，相機圖像，CAD圖像)，使得描畫實際電路板形態(tài)的相機圖像和CAD圖像可以在顯示單元上加以比較，且可以將任何的偏移歸類為缺陷。
依據(jù)本發(fā)明的另一較佳實施例，顯示單元中的另兩個區(qū)域分別顯示一缺陷表及一完成的電路板圖像，其中畫出相機所攝得的受檢電路板區(qū)域。
最好在電路板測試器中測試將受檢之電路板，基于此處的測量，產生缺陷文件。該缺陷文件包含由測量所決定的所有潛在缺陷的列表。然后按本發(fā)明的方法檢查該電路板，其中電路板測試器決定的缺陷位置表示表示用于檢查的電路板的預定區(qū)域。所有這些區(qū)域依序檢查，其方式為先粗略地相對該電路板圖像對準該電路板，然后更精確地對準相機圖像及電路板圖像的放大視圖。將受檢的預定區(qū)域顯示在顯示單元上，使得操作員可以看出將分析的區(qū)域。在此最好由單一按鍵啟動各個步驟，即以控制踏板的形式進行。
由下文中的說明可更進一步了解本發(fā)明之特征及優(yōu)點，閱讀時并請參考附圖。


圖1為用于檢查電路板預定區(qū)域中的電路板的本發(fā)明裝置的透視圖，圖2為圖1裝置的方塊圖，圖3是以流程形式顯示的本發(fā)明的方法，圖4a至4g是依據(jù)本發(fā)明圖3所示方法的各個步驟中的顯示屏顯示，以及圖5的方塊圖顯示依據(jù)本發(fā)明方法的電路板制造生產順序，從電路板的設計到電路板的最終檢查的整個過程。
使用以下詳細描述的根據(jù)本發(fā)明檢查電路板1(圖1)方法的實施例，本發(fā)明方法的使用者可以從放大的視圖中快速容易地看出使用電路板測試器2(圖2)所發(fā)現(xiàn)的電路板缺陷。這通過使用核對裝置3實現(xiàn)，該裝置在圖1的透視圖和圖2的方塊圖中示出。
電路板測試器2可以是平行測試器，如在歐洲專利0 875 767 A2中所示的，或者是手指測試器(finger tester)，如在歐洲專利0 468 153 A1及歐洲專利0 853242 A1中所示的。
核對裝置有一靜止相機4，在本實施例中，該相機通過一維持桿5固定到顯示屏6的上邊區(qū)域。放射一聚焦光束28的光指標器27可以視需要固定到在相機4側邊的固定桿5。相機4及顯示屏6電連接到計算機7。而且一鍵盤8及控制踏板9也連接到計算機7上。該顯示屏6在桌面10上方安裝有相機4，桌頂11形成放置受檢電路板1的工作面。將相機4安裝在桌頂11的正上方，而其掃瞄區(qū)域指向桌頂11。
計算機7為具有數(shù)據(jù)總線13的傳統(tǒng)個人計算機，其中CPU14及數(shù)據(jù)存儲器15連接該數(shù)據(jù)總線13。一接口裝置16也連接到該數(shù)據(jù)總線13，用于向鍵盤8、顯示屏6、相機4及控制踏板9提供接口。計算機7也經由接口裝置16連接到電路板測試器2。
相機4為分辨率為752×582像素的CCD相機。該相機有一電子控制可變焦聚透鏡，焦距范圍從4.1mm到73.8mm。例如可以使用型號為FCB-IX47P的索尼相機。此類型的相機為很容易取得且價格便宜的標準產品。
最好該光指標器27為一激光器形式的裝置。
將于下文中詳細說明本發(fā)明中在電路板的預定區(qū)域中檢查電路板的方法，現(xiàn)在請參考圖3的流程圖及圖4a到4g中的顯示屏顯示。
本發(fā)明的方法以計算機程序的形式呈現(xiàn)，此程序儲存在計算機7的數(shù)據(jù)存儲器15中。在將計算機7打開且啟動該程序后，可以經由啟動控制踏板9而分別開始該程序及本發(fā)明的方法(步驟S1)。這使相機4的可變焦聚透鏡進入初啟位置(焦距f0＝4.1mm)，使得相機4的掃瞄區(qū)域12覆蓋桌頂11上的區(qū)域，如測量400mm×300mm。此掃瞄區(qū)域大于將受檢之電路板的主要部位。應用較大的電路板，則只覆蓋一部份。
在顯示屏6中，顯示四個獨立的顯示屏，各在區(qū)域或窗口17到20之中(參見圖4a到4g)。在顯示屏6的左上方的窗口17顯示將受檢之電路板1的圖像，其中該圖像由CAD數(shù)據(jù)產生，而且包含電路板測試點和各個軌跡線。該CAD圖像26基于電路板測試器2中測量所用的電路板測試點數(shù)據(jù)和軌跡線數(shù)據(jù)，還顯示了基本無缺陷形式的受測電路板。
在顯示屏右上方的窗口18顯示一電路板圖像24，此電路板圖像包含了受檢電路板的一些電路板測試點。此電路板圖像24包含電路板信息，達到對準受檢電路板1的相機圖像(以下將詳細描述)與電路板圖像所必須的程度。因此，為了方便起見，電路板圖像24中沒有顯示所有電路板測試點和軌跡線，這是因為在對準該相機時不必大量的信息，且傾向于分散。
在步驟S2中，將一缺陷文件從電路板測試器2傳送到核對裝置3，且在窗口19中的列表中顯示出該缺陷。
由電路板測試器2事先決定的缺陷列表顯示在顯示屏6左下方的窗口19中。此列表以表格的形式顯示出來且包含數(shù)行，各指示缺陷的數(shù)目(No)，測量的執(zhí)行(Run)，電路板的數(shù)目(Panel)，缺陷類型(Fault type)，第一電路板測試點(Pad1)和第二電路板測試點(Pad2)，以及測量值(Measured value)。在缺陷類型的例子中，一般在開路(open)及短路(short)之間分辨該缺陷的類型。一般在兩電路板測試點之間進行兩點測量，其中測量在兩者之間之軌跡線的電阻。在該表中將相關的電阻值顯示成測量值。如果該電路板測試器2使用不同的測量方法，例如其中只接觸一個電路板測試點，則該表格將作相應的更正。此方法可參見美國專利案號5,903,160。
在該程序開始時，在窗口17及18中分別顯示CAD圖像26及電路板圖像24，其方式是在各窗口17及18的中心處粗略地顯示將受檢的電路板1的區(qū)域。在本實施例中，用連接到一軌跡線的電路板測試點預設受檢區(qū)域，其中基于先前的測量已認定該軌跡線存在缺陷。
由水平箭頭21及垂直箭頭22標示出這些電路板測試點。在圖4a到4g所示的實施例中，以適當?shù)募^21，22標示連接到認定具有缺陷的軌跡線的數(shù)個電路板測試點，同時電路板圖像24及CAD圖像26在圖4a到4f中中心對準各個窗口17，18中的上電路板測試點，而在圖4g中中心對準下電路板測試點。
在窗口19中，用相關線的反置強調出該列表中將受檢的現(xiàn)有缺陷。
在窗口20中，在窗口18的電路板顯示中顯示將受檢的整個電路板1，其中窗口17和18中顯示的將受檢的電路板區(qū)域用框23標示。而且在圖中以橫向細線29標示出，其交叉點標示將受檢之電路板測試點。
在步驟S3中，在相機4之掃瞄區(qū)域12的桌頂11上配置將受檢之電路板1(圖4b)。而相機4掃瞄該電路板，且產生將受檢之電路板的數(shù)字相機圖像25。在窗口18中顯示出此相機圖像25。
現(xiàn)在將電路板移位，直到在窗口18中的相機圖像25及電路板圖像24相符為止(步驟S4)。此導致電路板1與電路板圖像24相對準。
通過再次操作控制踏板9，相機圖像25及電路板圖像24以相同的比例放大(步驟S5)。該放大的顯示方式使得核對裝置的操作員可以清楚地看到相機圖像25及電路板圖像24之間的差異。然后再度將該電路板1移位(步驟S6)，而使得相機圖像25與電路板圖像24精確地對準(圖4e)。
在步驟S7中，再度將相機圖像25及電路板圖像24以相同的比例放大，且在步驟S8中再度將電路板1移位，在相機圖像25及電路板圖像24之間得到更精確的重疊。
原則上，有可能在一次步驟中實現(xiàn)步驟S5及S7中的相機圖像及電路板圖像的兩次放大。但是實際上已發(fā)現(xiàn)放大比例大于20則不切實際，因為用裝置放大在步驟S4中第一次對準之后相機圖像25和電路板圖像24之間的差異仍非常大，而只有一小部份的電路板仍可看見，要完成對準相當困難，尤其是在顯示區(qū)域中電路板具有非常均勻且規(guī)則的電路板測試點刪線時，更是如此。
一旦電路板圖像24及相機圖像25均以所需要的最大放大比例顯示在窗口18中時，必需標示出將受檢的區(qū)域(步驟S9)。此標示靠水平箭頭21及垂直箭頭22起作用，它們指示電路板測試點。在本實施例中，在該程序開始時(步驟S1)這些箭頭在右邊顯示。在本發(fā)明的內容中，也可以只在已進行所必需的最大放大比例后，顯示這些箭頭或其他適當?shù)臉耸尽?br> 設定光指標器27以使得光束28標示電路板1中對應于將受檢之區(qū)域的點。因為此區(qū)域總是在窗口17的中心，由光束所標示出的該點總是在工作面的相同點上，在本實施例中工作面由桌頂11表示。因此僅需調整光指標器一次即可。然后在依據(jù)本發(fā)明實施該方法期間，該光指標器仍靜止。
當本發(fā)明方法的使用者完成受檢的該電路板測試點及相關的軌跡線研究時(圖4f)，隨后它操作該控制踏板9，導致程序進行到步驟S10。在此步驟中，詢問窗口19中顯示的列表是否包括其它受檢電路板測試點。如果詢問結果揭示尚存在另一將受檢的電路板測試點，則該程序進行步驟S11，其中該相機再度設定于初始位置(焦距fo)，并且以與窗口18中心處另一受檢電路板測試點相同的比例在窗口18中顯示電路板圖像24。
然后該程序回到步驟S4，依據(jù)步驟S4到S8，重復使受檢電路板與電路板圖像對準的程序。在步驟S9中，依次顯示將受檢的點或區(qū)域(圖4g)。
另外，如果步驟S10中的詢問結果揭示該列表中沒有其它將受檢的點，則該程序跳到步驟S12中，以終止該程序。
在上述的程序的每個例子中，以相同的比例，且對應窗口18中的電路板圖像24的區(qū)域顯示該CAD圖像26。該CAD圖像26包含該電路板測試器2可以使用的數(shù)據(jù)，以測試該電路板。在圖4f和4g所示的例子中，CAD圖像26以圓圈的方式顯示電路板測試點。實際上，電路板測試點的正確形式為一具有橢圓凹陷的延長矩形，如在窗口18中以相機圖像輔助顯示的(圖4f及4g)。作為測量基礎的CAD數(shù)據(jù)和實際格式之間的這種差異在將原始CAD數(shù)據(jù)轉換成CAD測試數(shù)據(jù)的過程中產生，其間格式發(fā)生改變。以圖4f及4g的所示之放大顯示圖像作為輔助，使用者將受檢電路板測試點之間的電氣連接依序建立起來，而且該測量的缺陷是因該數(shù)據(jù)不符合實際格式所致。因此該連接被判斷為正確，程序可以繼續(xù)到列表中包含的下一缺陷的下一電路板測試點。
在圖4f到4g中的尺寸放大圖中，也可以目視開路及短路情況。如果辨識出此缺陷，則馬上更正，但是不可能達到，則以適當?shù)姆绞綐耸境?。如果該缺陷可以更正，則之后重新處理該電路板，否則將受檢的電路板報廢。
在上述例子中，將受檢的軌跡線的兩個電路板測試點相當接近，從而兩者同時在窗口17或18中以最大放大方式顯示出來(圖4f及4g)。但是，該軌跡線通常較長，使得無法在窗口17及18中同時顯示出該軌跡線的兩端點，相關電路板測試點。如果依循上述說明的程序，則在長軌跡線的例子中，在一次動作中顯示一個電路板測試點，在另一動作中顯示另一電路板測試點，該軌跡線的中間連接區(qū)域無法以最大的放大方法顯示出來。在本發(fā)明方法的較佳實施例中，當為長軌跡線時，檢查與該軌跡線有關于第一電路板測試點，然后在包含步驟S4到S9的下一動作中，顯示出對應軌跡線的一區(qū)域，而非與此軌跡線有關的電路板測試點。在各次的程序動作時，放大將受檢的軌跡線的其他相鄰區(qū)域，直到以連續(xù)的階段顯示完全放大的軌跡線為止。在該軌跡線檢查終止時，以放大形式顯示出與此軌跡線相關的且還未觀察到的電路板測試點。在依據(jù)本發(fā)明之該方法的較佳實施例中，在連續(xù)相鄰區(qū)域的各階段中顯示在窗口18中無法以放大形式完全顯示的長軌跡線。最好是這些區(qū)域中有部分重疊。
圖5顯示電路板的制造程序。首先，在一CAD站臺中顯示出一電路板。從該原始的CAD數(shù)據(jù)中，計算所謂的GERBER文件。這些包含絲網印刷及各個位置處含開孔表的焊阻信息，與此相并行的動作為進行一鉆孔程序，以在該電路板上行成穿孔。該GERBER數(shù)據(jù)及鉆孔程序送到CAM站臺，且其他特定的處理數(shù)據(jù)也一并送入。從CAM數(shù)據(jù)中得到用于制造電路板的生產數(shù)據(jù)、凈列表及測試點座標、以及軌跡線路由及凈對準信息。凈列表及測試點座標以ATFH格式(Atg測試格式)儲存。關于軌跡線路由及凈對準的信息以EP格式或IPC 356A格式儲存。
該生產數(shù)據(jù)傳送到電路板制造單元，而凈列表及測試點坐標和有關軌跡線路由的信息一起傳送到DPS站臺。在電路板制造單元上制造電路板，在DPS站臺上產生測試程序。在電路板測試器2上執(zhí)行該測試程序，使得電路板測試器可用于測試生產的電路板1。如果該項測試顯示該電路板沒有任何缺陷，則將它分配到一疊好的電路板。另外，如果該項測試的結果顯示該電路板存在一缺陷的話，則該電路板被標示為缺陷電路板。同時產生一缺陷文件，并傳送此文件到核對裝置3中，使得可以使用后者以應用上述方式檢查該缺陷電路板。因此之故，只包含電路板測試點數(shù)據(jù)的電路板測試器中的測試程序和有關軌跡線路由及凈對準的信息也被傳送到核對裝置中，且用于產生窗口17的CAD圖像26及窗口18、20的電路板圖像24。
依據(jù)本發(fā)明方法所檢查的缺陷電路板如果可以修好，則加入好的電路板的那一疊中，如果無法維修的話，則丟棄或報廢。
因此上述實施例就用于檢查已由電路板測試器測試的個別電路板。在本發(fā)明的架構內，有可能使用該方法以更正測試程序。如果在進行本發(fā)明的方法期間，發(fā)現(xiàn)在CAD圖像26與相機圖像25所示的實際更正軌跡線及電路板測試點之間存在差異的話，則依據(jù)本發(fā)明方法的發(fā)展，這些差異可以經由鍵盤8輸入且儲存起來。如果與該電路板類型相關的所有差異均已記錄下來的話，則由核對裝置3將相關的數(shù)據(jù)向DPS站臺傳送，以產生一修正的程序。因此本發(fā)明的方法還可用于更正測試程序。
在上述實施例的輔助下，上文中說明本發(fā)明的細節(jié)。但是，本發(fā)明并不受上述特定實施例的限制。在本發(fā)明的范圍內，例如有可能使用高分辨率的相機，此相機具有固定焦距的透鏡，而非具有可變焦聚透鏡的相機。然后通過選擇相機所記錄圖像的合適區(qū)域，由計算機中的計算使得在顯示屏上顯示的圖像可以為可變焦聚或放大。如果不使用控制踏板9，可使用任何其他種類的按鍵，雖然控制踏板是較佳的，因為它使操作員的手可以自由移動電路板。在上述實施例中，由各個電路板測試點定義預定的區(qū)域。但是，也可以獨立定義測試點的區(qū)域，尤其是定義成平坦的元件，而非點。
本發(fā)明的重要優(yōu)點為操作相當簡單，可以快速定位預定的區(qū)域，而且可以使用商業(yè)用硬體，不必使用高成本的機械或電結構。依據(jù)本發(fā)明的方法因此可以應用具成本效益的方式配置，而且允許高通量的受檢電路板。
上述實施例的目的在于檢查未加負載的電路板。但是原則上有可能使用此方法檢查裝配的電路板，尤其有助于電路板組件。如果不使用電路板測試點，也可以在顯示屏上顯示其他相關的元件，或者是應用光指標器。
在本發(fā)明的范圍內也可能提供聲控裝置，使得該控制踏板9可以不使用。
可以修改本發(fā)明的方法以使得電路板只需要移動一次即對準，且經由自動圖像辨識方法分析該相機圖像，以決定相機記錄的各個元件(電路板測試點、軌跡線)。然后該相機圖像自動與該電路板圖像疊合，因為互相線對準的相機圖像和電路板圖像的電路板測試點可以彼此互相指定。
圖號說明1.電路板
2.電路板測試器3.核對裝置4.相機5.維持桿6.顯示屏7.計算機8.鍵盤9.控制踏板10.桌面11.桌頂12.掃瞄區(qū)域13.數(shù)據(jù)總線14.CPU15.數(shù)據(jù)存儲器16.接口裝置17.窗口18.窗口19.窗口20.窗口21.水平箭頭22.垂直箭頭23.框24.電路板圖像25.相機圖像26.CAD圖像27.光指標器28.光束
權利要求
1.一種使用具有靜止相機(4)和顯示單元(6)的裝置在電路板(1)的預定區(qū)域中檢查電路板的方法，其特征在于，該方法包含下列步驟a)在相機(4)的掃瞄區(qū)域(12)中定位將受檢的電路板(1)，其中以相同的比例在顯示單元(6)上顯示一相機圖像(25)及與該相機圖像(25)分開的電路板圖像(24)，b)移動將受檢的電路板(1)，使得該相機圖像(25)盡可能地與該電路板圖像(24)相疊合，c)在顯示單元(6)上以相同的比例放大該相機圖像及電路板圖像，d)移動該相機圖像(25)以與該電路板圖像更相符，以及e)顯示將受檢的預定區(qū)域，使得在顯示單元(6)上可以看到將受檢查的電路板(1)預定區(qū)域中的放大視圖。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于通過移動該電路板(1)使相機圖像(25)與電路板圖像(24)進一步對準。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于應用一自動圖像辨識方法，而使該相機圖像(25)與該電路板圖像(24)進一步對準，在該方法中分析該相機圖像(25)，使該相機圖像自動與該電路板圖像(24)相疊合。
4.如權利要求1至3中任何一項所述的方法，其特征在于在顯示單元(6)的預定區(qū)域(18)中顯示電路板圖像(24)，其方式為使將受檢的預定區(qū)域大致定位于該顯示單元(6)的區(qū)域(18)的中心。
5.如權利要求1至4中任何一項所述的方法，其特征在于將受檢的預定區(qū)域對應于電路板中的缺陷位置，此缺陷事先已被電路板測試器(2)所檢測出。
6.如權利要求5所述的方法，其特征在于在電路板圖像(24)中，通過連接到電路板上軌跡線的電路板測試點，定義每個將受檢的預定區(qū)域，其中事先已由電路板測試器(2)進行的測量認定該電路板存在缺陷，而且由箭頭(21，22)指示該缺陷，箭頭的尖點于電路板測試點處終止。
7.如權利要求5所述的方法，其特征在于每個將受檢的區(qū)域對應于一個軌跡線部分，認定此部分中存在缺陷，而且在顯示單元中顯示出來，其中在顯示單元中應用重復步驟a)到e)的方式以放大圖連續(xù)顯示該軌跡線的數(shù)個相鄰部分。
8.如權利要求5到7所述的方法，其特征在于在該電路板測試器進行測量之后，產生一缺陷文件，其中包含所有測得缺陷的列表，并通過啟動單個按鍵，而重復執(zhí)行步驟a)及c)，使得通過移動電路板(1)及啟動按鍵(9)，將受檢的所有區(qū)域均以放大視圖的方式在顯示單元(6)上顯示。
9.如權利要求8所述的方法，其特征在于使用控制踏板(9)作為該按鍵。
10.如權利要求1至9中任何一項所述的方法，其特征在于對于每個將受檢的區(qū)域重復步驟c)兩次或三次，該步驟包含放大相機圖像及電路板圖像并移動將受檢的電路板，其中對于相機圖像及電路板圖像每次放大的放大因素不超過20。
11.如權利要求1至10中任一項所述的方法，其特征在于該顯示單元(6)提供兩個部分(17，18)，其中在部分(18)中顯示該電路板圖像(24)及該相機圖像(25)，而在另一部分(17)中用與電路板圖像(24)及相機圖像(25)相同的比例顯示該電路板的圖像(26)，且顯示電路板測試點及軌跡線。
12.一種用于實現(xiàn)權利要求1至11中任一項所述方法的裝置，其特征在于，該裝置包含-一靜止相機(4)，-連接到相機(4)的顯示單元(6)，用于以相同的比例顯示將受檢的電路板的電路板圖像(24)及相機所記錄的相機圖像(25)，-一用于在顯示單元(6)上以相同比例放大相機圖像及電路板圖像的裝置。
13.如權利要求12所述的裝置，其特征在于包含一計算機(7)，此計算機(7)具有一中央處理單元(14)，一數(shù)據(jù)及程序存儲器(15)及表示該顯示單元的顯示屏(6)。
14.如權利要求12或13所述的裝置，其特征在于該裝置通過一數(shù)據(jù)線連接到一電路板測試器(2)以傳送缺陷文件。
15.如權利要求12至14中任一項所述的裝置，其特征在于該相機有一可變焦聚透鏡，其焦距可以電子方式選擇。
16.如權利要求12至15中任一項所述的裝置，其特征在于該相機有—聚焦裝置。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種在電路板預定區(qū)域中檢查電路板的方法，該方法使用一種包含一靜止相機及一顯示單元的裝置。配置該電路板使之可以在相機的掃瞄區(qū)域中自由移動。依據(jù)本發(fā)明，由相機記錄的該電路板的圖像，即相機圖像，與電路板圖像相疊合，其中在第一對準處理之后，該相機圖像與該電路板圖像至少以相同的比例放大一次，再行對準。這導致在相機圖像及電路板圖像之間達到更大的對準程度，且在該放大視圖中標示出將受檢的預定區(qū)域。依據(jù)此方式，本發(fā)明方法的使用者可以將受檢電路板的區(qū)域快速定位在一放大顯示中，且據(jù)此進行需要的分析。
文檔編號G01R31/28GK1430768SQ01810010
公開日2003年7月16日 申請日期2001年4月20日 優(yōu)先權日2000年5月24日
發(fā)明者V·羅曼諾夫, A·比亞茨克, M·皮瑟克 申請人:Atg試驗體系兩合公司