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一種新型低熱膨脹材料及其燒結(jié)合成方法、用途與流程

文檔序號:11209926閱讀:3000來源:國知局
一種新型低熱膨脹材料及其燒結(jié)合成方法、用途與流程

本發(fā)明屬于無機非金屬材料領(lǐng)域,特別涉及一種新型低熱膨脹材料及其燒結(jié)合成方法、用途。



背景技術(shù):

熱脹冷縮是自然界普遍存在的一種現(xiàn)象,這對我們的日常生活及科研工作都有著廣泛的影響。一些器件在制備時往往會用到幾種不同的材料,而各類材料的熱膨脹性能若存在一定的差異,則當(dāng)溫度變化時,器件的各個部件之間可能會產(chǎn)生較大的熱應(yīng)力,導(dǎo)致器件的性能指標(biāo)變差,甚至某些小的部件脫落、損壞等。尤其是對一些應(yīng)用環(huán)境面臨較大溫度變化的精密器件,其結(jié)構(gòu)部件的熱膨脹性能尤為重要。為了減少不同材料之間的熱應(yīng)力,必須探索熱膨脹系數(shù)為零或接近零的材料。通過將負(fù)熱膨脹材料與正熱膨脹材料復(fù)合可以制備可控?zé)崤蛎浕蛄闩蛎洸牧?。然而,由于一些?fù)熱膨脹材料制備成本較高,而且存在結(jié)構(gòu)相變和易吸水等現(xiàn)象導(dǎo)致其負(fù)膨脹性能和機械性能變差,因此,研發(fā)一種沒有明顯吸水性、成本較低的新型低熱膨脹材料具有重要意義。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于提供一種沒有明顯吸水性、成本較低、且在室溫附近具有低熱膨脹性能的低熱膨脹材料及其燒結(jié)合成方法,同時還提供了其新的用途。

為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采取的技術(shù)方案如下:

一種新型低熱膨脹材料,該材料的分子式為k0.55wo3.275。低熱膨脹材料是指線膨脹系數(shù)滿足0<|α|<2×10-6k-1的材料。

燒結(jié)合成方法,按以下步驟完成:

(1)首先按摩爾比3∶8稱量k2co3和wo3,研磨,然后將研磨好的粉末在空氣氣氛下加熱至650~700℃,恒溫預(yù)燒結(jié)4~6h,冷卻至室溫后取出;

(2)將預(yù)燒結(jié)得到的粉末再次研磨,然后壓片,在空氣氣氛下加熱至650~700℃,恒溫?zé)Y(jié)4~6h,冷卻至室溫后取出,得到目標(biāo)產(chǎn)物。

較好地,k2co3和wo3均為分析純試劑。

本發(fā)明所述新型低熱膨脹材料不僅可與正熱膨脹材料復(fù)合制備可控?zé)崤蛎洸牧?,還具有新的特性--整流特性,因而具備新的用途,比如可用于制備整流器件(具有整流特性的器件)。

有益效果:

1.本發(fā)明的反應(yīng)原料在反應(yīng)過程中均為固態(tài),所用材料價格低廉,制備工藝簡單,無污染,適合于工業(yè)化生產(chǎn);

2.本發(fā)明產(chǎn)品在室溫附近(332~362k)具有低熱膨脹的性質(zhì),由300k升高到500k的過程中無明顯吸水性;

3.本發(fā)明產(chǎn)品具有新的特性--整流特性,因而具備新的用途,比如可用于制備整流器件,具有廣闊的應(yīng)用前景。

附圖說明

圖1:實施例1制備的k0.55wo3.275的元素分析圖譜。

圖2:實施例1制備的k0.55wo3.275的室溫xrd圖譜。

圖3:實施例1制備的k0.55wo3.275的相對長度隨溫度變化的曲線。

圖4:實施例1制備的k0.55wo3.275的變溫xrd圖譜。

圖5:實施例1制備的k0.55wo3.275的體積v隨溫度變化的曲線。

圖6:實施例1制備的k0.55wo3.275的相對質(zhì)量隨溫度變化的曲線。

圖7:使用實施例1制備的k0.55wo3.275制成的cu/k0.55wo3.275/al器件的i-v曲線。

具體實施方式

下面結(jié)合具體實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步解釋說明,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此。

實施例1

新型低熱膨脹材料k0.55wo3.275的燒結(jié)合成方法,按以下步驟完成:

(1)首先按摩爾比3∶8稱量k2co3和wo3,放到研缽內(nèi)研磨,然后將研磨好的粉末放在氧化鋁坩堝中,并置于燒結(jié)爐中在空氣氣氛下加熱至650℃,恒溫預(yù)燒結(jié)4h,隨爐冷卻至室溫后取出,得到白色的粉末;

(2)將預(yù)燒結(jié)得到的白色粉末再次放到研缽內(nèi)研磨,用壓片機將研磨好的白色粉末壓制成直徑10mm、高5mm的圓柱體,然后置于燒結(jié)爐中在空氣氣氛下加熱至700℃,恒溫?zé)Y(jié)4h,隨爐冷卻至室溫后取出,得到白色的目標(biāo)產(chǎn)物,取樣送去測試。

圖1是使用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(icp-aes)測得的本實施例制備的樣品k0.55wo3.275的元素分析圖譜,由該圖譜可計算出樣品中k和w的原子比值為0.55:1,而名義配比中k和w的比值為0.75:1,k含量的減少可能是由于在制備的過程中k容易揮發(fā)造成的。

圖2是本實施例制備的樣品k0.55wo3.275的室溫x射線衍射(xrd)圖譜,通過物相分析可知,xrd圖譜中沒有雜質(zhì)相和原料的峰,而且所有的衍射峰都可以用一個單斜晶胞指標(biāo)化,晶胞參數(shù)為a=15.9751?,b=7.7309?,c=10.9380?,β=108.4723?。

圖3是使用熱膨脹儀測得的本實施例制備的樣品k0.55wo3.275的相對長度隨溫度變化的曲線。由圖3可知樣品在室溫附近(332~362k)具有低熱膨脹的性質(zhì),在此溫區(qū)的宏觀線熱膨脹系數(shù)為1.54×10-6k-1。

由圖1~圖3的結(jié)果可知,通過本發(fā)明可以成功制備出新型低熱膨脹材料k0.55wo3.275。

圖4是采用變溫x射線衍射儀測得的本實施例制備的樣品k0.55wo3.275的變溫xrd圖譜。通過物相分析可知,當(dāng)溫度在153~573k范圍內(nèi)變化時,樣品晶體結(jié)構(gòu)類型保持不變,始終為純的單斜相,晶體結(jié)構(gòu)沒有發(fā)生相變。

根據(jù)圖4的測量結(jié)果,可以計算出不同溫度下的晶胞參數(shù),并由晶胞參數(shù)計算得到樣品k0.55wo3.275本征的體積v隨溫度變化的曲線,如圖5所示。通過比較可知:圖5中樣品本征的體積隨溫度變化的趨勢與圖3中由熱膨脹儀測得的樣品的相對長度隨溫度變化的趨勢基本一致。

表1列出了由圖3和圖5分別計算得到的樣品k0.55wo3.275的宏觀線熱膨脹系數(shù)以及本征線熱膨脹系數(shù)。由表1可知:樣品k0.55wo3.275在332~362k之間的宏觀線熱膨脹系數(shù)與本征線熱膨脹系數(shù)分別為1.54×10~6k-1和1.01×10~6k-1,兩者基本一致,這表明樣品在室溫附近(332~362k)具有低熱膨脹的性質(zhì)。

使用同步熱分析儀測得本實施例制備的樣品k0.55wo3.275的相對質(zhì)量隨溫度的變化情況,如圖6所示,在測試溫度由300k升高到500k的過程中,發(fā)現(xiàn)樣品的相對質(zhì)量只增加了2.2%,沒有失重的現(xiàn)象,表明樣品沒有明顯吸水性。

另外,利用本實施例制備的樣品k0.55wo3.275可以利用旋涂法制備成cu/k0.55wo3.275/al器件。具體制備過程為:首先在清洗干凈的玻璃片上粘一層鋁箔做為下電極,用砂紙打磨平整,并用去離子水清洗干凈;將k0.55wo3.275與松油醇按質(zhì)量比1:1均勻混合,利用旋涂法在3000r/min的轉(zhuǎn)速下旋涂20s,在鋁箔上制備一層均勻的k0.55wo3.275薄膜,并將一塊清洗干凈的銅箔輕輕覆蓋在薄膜表面;將此結(jié)構(gòu)放在干燥箱中在90℃和空氣氣氛下干燥1h即可。其i-v曲線如圖7所示,由其i-v曲線可以看出cu/k0.55wo3.275/al器件具有明顯的整流特性,可以用于制造阻變存儲器(rram)。

實施例2

與實施例1的不同之處在于:步驟(1)中,在650℃恒溫預(yù)燒6h。

實施例3

與實施例1的不同之處在于:步驟(2)中,在700℃恒溫?zé)Y(jié)6h。

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