專利名稱：一種可測頻研磨機的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及研磨機領域，具體地說是一種可測頻研磨機。
背景技術：
晶體產(chǎn)品成型都需要經(jīng)過研磨的過程，通過研磨使晶體產(chǎn)品達到一定的質(zhì)量要 求，目前現(xiàn)有的技術都是手動測量晶體產(chǎn)品的厚度，測量時就需要停機將上磨盤向上抬起， 拿出晶體產(chǎn)品進行測量，并且手動測量存在人為誤差，受操作工人的經(jīng)驗影響，經(jīng)常會出現(xiàn) 超片現(xiàn)象，即加工過多，導致晶體產(chǎn)品太薄，進而引起報廢，不能很好的保證合格率，從而影 響產(chǎn)品的有效輸出。

實用新型內(nèi)容本實用新型提供一種有效、精確檢測晶體產(chǎn)品的可測頻研磨機，該可測頻研磨機 結構簡單、操作方便。本實用新型是通過下述技術方案實現(xiàn)的一種可測頻研磨機，包括床身、上磨盤、下磨盤和立柱，所述下磨盤設于床身上，所 述上磨盤與立柱相連，所述可測頻研磨機還包括測頻裝置。所述測頻裝置包括頻率顯示儀、信號放大轉(zhuǎn)換器和電極探測棒，所述信號放大轉(zhuǎn) 換器分別與頻率顯示儀和電極探測棒電連接，所述電極探測棒設于上磨盤上。所述上磨盤上設有通孔，所述電極探測棒設于通孔中。所述信號放大轉(zhuǎn)換器設于立柱上或者床身上。所述信號放大轉(zhuǎn)換器與頻率顯示儀集成為一體。本實用新型所帶來的有益效果是本實用新型可測頻研磨機包括測頻裝置，用于檢測晶體產(chǎn)品，從而保證晶體產(chǎn)品 的合格率；所述測頻裝置包括頻率顯示儀、信號放大轉(zhuǎn)換器和電極探測棒，信號放大轉(zhuǎn)換器 電子振蕩信號放大并轉(zhuǎn)換，電極探測棒感應晶體產(chǎn)品的電子振動，通過信號放大轉(zhuǎn)換器傳 遞給頻率顯示儀，并顯示出相應的頻率，操作者只要觀察頻率顯示儀上頻率變化即可，頻率 顯示儀內(nèi)定一個頻率設定值，并隨時接收晶體產(chǎn)品的頻率信號，兩者進行比較，當接收值達 到設定值則機器停止工作，晶體產(chǎn)品加工完成，此種方式加工成型的晶體產(chǎn)品合格率大大 提高；所述上磨盤上設有通孔，所述電極探測棒設于通孔中，使得電極探測棒靠近晶體產(chǎn) 品，從而保證準確度。
以下結合附圖對本實用新型作進一步詳細說明。


圖1為本實用新型所述可測頻研磨機的結構示意圖；圖2為本實用新型所述電極探測棒與上磨盤的立體分解圖。圖中部件名稱對應的標號如下[0016]1、床身；2、上磨盤；21、上片；211、凹槽；22、下片；221、通孔；3、下磨盤；4、電極探
測棒；41、固定座；42、電極；43、電極接口 ；5、頻率顯示儀；6、信號放大轉(zhuǎn)換器；61、信號放 大轉(zhuǎn)換器接口 ；7、立柱。
具體實施方式
以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步的詳述實施例一作為本實用新型所述可測頻研磨機的實施例，如
圖1和圖2所示，包括床身1、上磨 盤2、下磨盤3和立柱7，所述下磨盤3設于床身1上，所述上磨盤2與立柱7相連，所述可 測頻研磨機還包括測頻裝置。本實施例中，所述測頻裝置包括頻率顯示儀5、信號放大轉(zhuǎn)換器6和電極探測棒4， 所述電極探測棒4包括固定座41、電極42和電極接口 43 ；所述上磨盤2包括上片21和下 片22，所述上片21上設有凹槽211，所述下片22上與凹槽211相應位置處設有通孔221，所 述電極42設于通孔221中；所述信號放大轉(zhuǎn)換器6包括信號放大轉(zhuǎn)換器接口 61，所述信號 放大轉(zhuǎn)換器接口 61分別與頻率顯示儀5和電極接口 43電連接。所述電極探測棒4感應晶 體產(chǎn)品的電子振動，通過信號放大轉(zhuǎn)換器6傳遞給頻率顯示儀5，并顯示出相應的頻率，操 作者只要觀察頻率顯示儀5上頻率變化即可，頻率顯示儀5內(nèi)定一個頻率設定值，并隨時接 收晶體產(chǎn)品的頻率信號，兩者進行比較，當接收值達到設定值則機器停止工作，晶體產(chǎn)品加 工完成，此種方式加工成型的晶體產(chǎn)品合格率大大提高；所述下片22上設有通孔221，所述 電極42設于通孔221中，使得電極42靠近晶體產(chǎn)品，從而保證準確度。本實施例中，所述信號放大轉(zhuǎn)換器6設于立柱7上，便于固定安裝。當然，所述信號放大轉(zhuǎn)換器也可以設于床身上；所述信號放大轉(zhuǎn)換器也可以與頻 率顯示儀集成為一體。那么，也都在本實用新型保護范圍之內(nèi)，這里不再一一贅述。
權利要求一種可測頻研磨機，包括床身、上磨盤、下磨盤和立柱，所述下磨盤設于床身上，所述上磨盤與立柱相連，其特征在于所述可測頻研磨機還包括測頻裝置。
2.如權利要求1所述的可測頻研磨機，其特征在于所述測頻裝置包括頻率顯示儀、信 號放大轉(zhuǎn)換器和電極探測棒，所述信號放大轉(zhuǎn)換器分別與頻率顯示儀和電極探測棒電連 接，所述電極探測棒設于上磨盤上。
3.如權利要求2所述的可測頻研磨機，其特征在于所述上磨盤上設有通孔，所述電極 探測棒設于通孔中。
4.如權利要求2所述的可測頻研磨機，其特征在于所述信號放大轉(zhuǎn)換器設于立柱上或 者床身上。
5.如權利要求2所述的可測頻研磨機，其特征在于所述信號放大轉(zhuǎn)換器與頻率顯示儀 集成為一體。
專利摘要本實用新型涉及研磨機領域，具體地說是一種可測頻研磨機。該可測頻研磨機包括床身、上磨盤、下磨盤和立柱，所述下磨盤設于床身上，所述上磨盤與立柱相連，其特征在于所述可測頻研磨機還包括測頻裝置。本實用新型提供一種有效、精確檢測晶體產(chǎn)品的可測頻研磨機，該可測頻研磨機結構簡單、操作方便。
文檔編號B24B37/34GK201711859SQ20102020263
公開日2011年1月19日 申請日期2010年5月25日 優(yōu)先權日2010年5月25日
發(fā)明者嚴鋒杰, 徐國斌 申請人:嘉興海盛電子有限公司