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基于雙光子與受激輻射損耗效應(yīng)的超分辨激光直寫與成像方法和裝置

文檔序號(hào):40637370發(fā)布日期:2025-01-10 18:43閱讀:6來(lái)源:國(guó)知局
基于雙光子與受激輻射損耗效應(yīng)的超分辨激光直寫與成像方法和裝置

本發(fā)明涉及超精密激光直寫與超分辨顯微成像領(lǐng)域,具體地,涉及一種基于雙光子與受激輻射損耗效應(yīng)的超分辨激光直寫與成像方法和裝置。


背景技術(shù):

1、隨著飛秒激光器的發(fā)明,材料中的非線性特性被相繼發(fā)現(xiàn)并得以利用。近年來(lái),基于飛秒脈沖激光引發(fā)的光與物質(zhì)的非線性相互作用的微納結(jié)構(gòu)加工取得了長(zhǎng)足進(jìn)步,并在科學(xué)、技術(shù)以及各產(chǎn)業(yè)中展現(xiàn)光明的前景。在激光直寫中,相比于傳統(tǒng)的單光子吸收引發(fā)的聚合作用,利用材料的雙光子或多光子特性,可以將刻寫分辨率提升至亞百納米量級(jí),并使其具有任意三維結(jié)構(gòu)的加工能力。然而欲突破亞五十納米量級(jí)的刻寫分辨率,僅利用雙光子效應(yīng)還不足以實(shí)現(xiàn)。近年來(lái),受到sted超分辨顯微成像的啟發(fā),在所配備的光刻膠中加入某種光引發(fā)劑,如detc,itx等,并在刻寫激發(fā)光邊緣再引入另一束光作為抑制光,消除光刻膠邊緣由雙光子激發(fā)光所引發(fā)的聚合效應(yīng),可以將分辨率進(jìn)一步提升至亞五十納米,并有效減小刻寫的臨界效應(yīng)。

2、為了對(duì)刻寫的高精度結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征,傳統(tǒng)的方法通常是對(duì)刻寫結(jié)構(gòu)進(jìn)行顯影后,然后噴金,再用電子顯微鏡或者原子力顯微鏡進(jìn)行觀測(cè)。但是由于電鏡成像速度慢,環(huán)境要求高,且成本高昂。此外,在光刻膠材料中加入特定染料進(jìn)行標(biāo)記實(shí)現(xiàn)光學(xué)超分辨成像亦有報(bào)道,但是加入染料難免對(duì)光刻膠本身的化學(xué)特性產(chǎn)生不可測(cè)度的影響,進(jìn)而影響刻寫質(zhì)量。為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明僅利用光刻膠中所加入的用于引發(fā)刻寫聚合的光引發(fā)劑的熒光發(fā)光特性,特別的,利用其雙光子吸收特性以及受激輻射損耗特性,通過(guò)橫向和軸向光斑調(diào)控?fù)p耗結(jié)構(gòu)邊緣的發(fā)光情況,可以實(shí)現(xiàn)橫向與軸向的三維超分辨成像。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,也是對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的一項(xiàng)擴(kuò)充,提供了一種基于雙光子與受激輻射損耗效應(yīng)的超分辨激光直寫與成像方法和裝置。

2、本發(fā)明利用光刻膠中引發(fā)劑的雙光子與受激損耗效應(yīng),可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)兩種功能:其一,引發(fā)光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合,并在激發(fā)光邊緣引入一束空心抑制光,抑制邊緣聚合,從而實(shí)現(xiàn)高精度微納結(jié)構(gòu)的超分辨激光直寫;同時(shí)無(wú)需在光刻膠中額外摻雜染料,而是利用引發(fā)劑本身的熒光發(fā)光特性,在激發(fā)光產(chǎn)生雙光子激發(fā)的邊緣,引入一束空心損耗光,損耗邊緣雙光子激發(fā)所產(chǎn)生的熒光,從而實(shí)現(xiàn)刻寫結(jié)構(gòu)的超分辨顯微成像表征。本發(fā)明用于引發(fā)光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合的激發(fā)光和抑制其聚合的抑制光與用于成像中產(chǎn)生雙光子激發(fā)的激發(fā)光與損耗其發(fā)光的損耗光可以分別為相同的光束,因此可在一個(gè)光學(xué)系統(tǒng)中同時(shí)實(shí)現(xiàn)高精度刻寫與超分辨成像,通過(guò)刻寫與成像的激發(fā)光和損耗光光路進(jìn)行復(fù)用,可有效簡(jiǎn)化系統(tǒng)復(fù)雜性。

3、本發(fā)明的的第一個(gè)方面涉及基于雙光子與受激輻射損耗效應(yīng)的超分辨激光直寫與成像方法,包括如下步驟:

4、(1)制備光刻膠:在光刻膠單體中加入光引發(fā)劑;

5、(2)基于雙光子與受激輻射損耗效應(yīng)的激光直寫:將兩束激光經(jīng)過(guò)物鏡聚焦在光刻膠上,其中一束為激發(fā)光,形成實(shí)心光斑,引發(fā)光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合,另一束為抑制光,形成空心光斑,抑制光刻膠聚合,通過(guò)將激發(fā)實(shí)心光光斑與抑制空心光斑中心重合,可實(shí)現(xiàn)高精度微納結(jié)構(gòu)的超分辨激光直寫;

6、(3)顯影:將刻寫完的結(jié)構(gòu)進(jìn)行顯影并風(fēng)干操作;

7、(4)基于雙光子與受激輻射損耗效應(yīng)的雙光子sted超分辨顯微成像:將所述風(fēng)干的刻寫結(jié)構(gòu)放回到樣品臺(tái)上,將兩束激光經(jīng)過(guò)物鏡聚焦在樣品上,一束為激發(fā)光,形成實(shí)心光斑,激發(fā)引發(fā)劑產(chǎn)生雙光子效應(yīng)發(fā)出熒光,另一束為損耗光,形成空心光斑,損耗結(jié)構(gòu)邊緣所產(chǎn)生的熒光,通過(guò)將激發(fā)光與損耗光中心重合,可以實(shí)現(xiàn)刻寫結(jié)構(gòu)的雙光子sted超分辨顯微成像;

8、作為優(yōu)選的,所述刻寫過(guò)程可以采用兩種模式:激發(fā)光和抑制光經(jīng)過(guò)物鏡、油、基底,再匯聚到滴在基底上的光刻膠上進(jìn)行刻寫,或?qū)⒔?jīng)過(guò)物鏡直接匯聚到物鏡上方與基底之間的光刻膠上進(jìn)行刻寫;

9、作為優(yōu)選的,所述成像過(guò)程可以采用兩種模式:激發(fā)光和損耗光經(jīng)過(guò)物鏡、油、基底,匯聚到基底上表面的刻寫結(jié)構(gòu)進(jìn)行雙光子sted成像,或經(jīng)過(guò)物鏡、油、基底,匯聚浸沒在基底下表面的刻寫結(jié)構(gòu)進(jìn)行雙光子sted成像;

10、作為優(yōu)選的,引發(fā)劑可以為7-二乙基氨-3-(2-噻吩基)香豆素(detc)等發(fā)光效率較高的材料;

11、作為優(yōu)選的,所述detc占比光刻膠材料單體與detc的混合物總重量的比例為1%。

12、本發(fā)明的第二個(gè)方面涉及實(shí)施本發(fā)明的一種基于雙光子與受激損耗效應(yīng)的激光直寫與成像方法的裝置,包括用于引發(fā)光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合的激發(fā)光路;用于抑制光刻膠聚合的抑制光路;刻寫的激發(fā)光路與抑制光路的合束光路;用于對(duì)刻寫結(jié)構(gòu)中引發(fā)劑進(jìn)行雙光子激發(fā)產(chǎn)生熒光的激發(fā)光路;用于損耗引發(fā)劑產(chǎn)生熒光的損耗光路;成像的激發(fā)光路和損耗光路的合束光路;熒光成像探測(cè)光路;對(duì)刻寫結(jié)構(gòu)進(jìn)行雙光子sted超分辨顯微成像的高精度壓電三維位移臺(tái);用于雙光子sted超分辨顯微成像的激發(fā)光路和損耗光路;

13、所述引發(fā)光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合的激發(fā)光路依次設(shè)置有第一激光器、脈沖預(yù)壓縮模塊、第一聲光調(diào)制器、第一物鏡、第一針孔、第一透鏡、第一二分之一波片;

14、所述抑制光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合的抑制光路依次設(shè)置有第二激光器、第二聲光調(diào)制器、第二物鏡、第二針孔、第二透鏡、第一反射鏡、第二二分之一波片;

15、所述刻寫激發(fā)光和抑制光的合束光路依次設(shè)置有偏振分束鏡、第三二分之一波片、空間光調(diào)制器、第四二分之一波片、四分之一波片、二向色鏡、掃描振鏡、掃描透鏡、第二反射鏡、場(chǎng)鏡、第三物鏡、高精度壓電三維位移臺(tái)、樣品架、基底、含引發(fā)劑的光刻膠樣品;

16、所述成像的激發(fā)光光路和損耗光光路與刻寫的激發(fā)光路和抑制光路分別為同一光路;

17、所述成像的激發(fā)光路和損耗光路的合束光路與刻寫的激發(fā)光光路和抑制光路的合束光路為同一光路;

18、所述熒光成像探測(cè)光路依次設(shè)置有刻寫樣品、基底、樣品架、高精度壓電三維位移臺(tái)、第三物鏡、場(chǎng)鏡、第二反射鏡、掃描透鏡、掃描振鏡、二向色鏡、第三反射鏡、濾光片、第三透鏡、多模光纖、雪崩二極管光電探測(cè)器;

19、還包括計(jì)算機(jī),連接有第一聲光調(diào)制器、第二聲光調(diào)制器、空間光調(diào)制器、掃描振鏡、高精度壓電三維位移臺(tái)以及雪崩二極管光電探測(cè)器;

20、第一激光器發(fā)出的激光作為引發(fā)光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合的激發(fā)光,所述激發(fā)光經(jīng)過(guò)色散預(yù)補(bǔ)償模塊,用于壓縮飛秒激光脈沖,以補(bǔ)償后續(xù)光學(xué)元件對(duì)飛秒激光脈沖的色散展寬,所述補(bǔ)償色散后的激光再經(jīng)過(guò)第一聲光調(diào)制器對(duì)其進(jìn)行強(qiáng)度與開關(guān)控制,然后經(jīng)過(guò)第一物鏡進(jìn)行匯聚,再經(jīng)過(guò)第一針孔進(jìn)行空間濾波,濾除前序光學(xué)元件對(duì)光斑質(zhì)量造成的影響,所述第一針孔位于第一物鏡焦面處,所述濾波后的光束再經(jīng)過(guò)第一透鏡進(jìn)行準(zhǔn)直并擴(kuò)束,以保證其擴(kuò)束后光束直徑能充滿最后油浸的第三物鏡的入瞳,所述擴(kuò)束激光再經(jīng)過(guò)第一二分之一波片,以調(diào)整其線偏振方向?yàn)榇怪逼瘢?/p>

21、第二激光器發(fā)出的激光作為抑制光刻膠聚合的抑制光,所述抑制光經(jīng)過(guò)第二聲光調(diào)制器對(duì)其進(jìn)行強(qiáng)度與開關(guān)控制,然后經(jīng)過(guò)第二物鏡進(jìn)行匯聚,再經(jīng)過(guò)第二針孔進(jìn)行空間濾波,濾除前序光學(xué)元件對(duì)光斑質(zhì)量造成的影響,所述第二針孔位于第二物鏡焦面處,所述濾波后的光束再經(jīng)過(guò)第二透鏡進(jìn)行準(zhǔn)直并擴(kuò)束,以保證其擴(kuò)束后光束直徑能充滿最后油浸的第三物鏡的入瞳,所述擴(kuò)束的抑制光再經(jīng)過(guò)第一反射鏡反射,然后經(jīng)過(guò)第二二分之一波片,以調(diào)整其偏振方向?yàn)樗狡瘢?/p>

22、所述激發(fā)光經(jīng)過(guò)偏振合束器進(jìn)行反射,抑制光經(jīng)過(guò)偏振合束器進(jìn)行透射,實(shí)現(xiàn)激發(fā)光與抑制光的合束,所述合束光經(jīng)過(guò)第三二分之一波片,再經(jīng)過(guò)空間光調(diào)制器,改變第三二分之一波片的快慢軸,調(diào)整抑制光的偏振方向與空間光調(diào)制器的偏振方向一致,所述空間光調(diào)制器分為左右屏,左屏加載相應(yīng)相位調(diào)制激發(fā)光為實(shí)心光并調(diào)整光斑像差為最小,右屏加載相應(yīng)相位以調(diào)制抑制光為空心光,或配合調(diào)節(jié)第三二分之一波片快慢軸方向,左右屏反過(guò)來(lái)調(diào)節(jié)光斑,即左屏調(diào)節(jié)抑制光為空心光,右屏調(diào)節(jié)激發(fā)光為實(shí)心光,所述調(diào)制后的光束經(jīng)過(guò)第四二分之一波片和四分之一波片,以使抑制光最后經(jīng)過(guò)第三物鏡后為中心暗到底的空心光斑,然后再經(jīng)過(guò)二向色鏡反射進(jìn)入掃描振鏡對(duì)激發(fā)光和抑制光進(jìn)行掃描,然后經(jīng)過(guò)掃描透鏡,再經(jīng)過(guò)第二反射鏡反射進(jìn)入到場(chǎng)鏡,所述場(chǎng)鏡將光束準(zhǔn)直成平行光入射到第三物鏡,然后再經(jīng)過(guò)第三物鏡聚焦成匯聚光入射到配置有引發(fā)劑的光刻膠上等待進(jìn)行刻寫,其中激發(fā)光在樣品面為實(shí)心光斑,抑制光為套在激發(fā)光邊緣的橫向分布或軸向分布的空心光;

23、計(jì)算機(jī)調(diào)控第一光調(diào)制器和第二聲光調(diào)制器,對(duì)激光的開關(guān)和光強(qiáng)調(diào)控,并控制掃描振鏡以及高精度壓電三維位移臺(tái)的掃描和移動(dòng),實(shí)現(xiàn)高精度微納結(jié)構(gòu)的雙光子sted刻寫。

24、所述雙光子sted超分辨顯微成像過(guò)程中用到的激發(fā)光路和損耗光路與實(shí)現(xiàn)高精度刻寫所用的激發(fā)光路和抑制光路分別為同一光路;

25、所述刻寫結(jié)構(gòu)中引發(fā)劑所發(fā)出的熒光經(jīng)過(guò)第三物鏡接收后,再經(jīng)過(guò)場(chǎng)鏡匯聚,再由第二反射鏡反射,然后經(jīng)過(guò)掃描透鏡,并經(jīng)過(guò)掃描振鏡實(shí)現(xiàn)解掃描,再經(jīng)過(guò)二向色鏡透射,然后經(jīng)過(guò)第三反射鏡反射,再經(jīng)過(guò)濾光片濾除激光以及環(huán)境等因素造成的雜散光,再經(jīng)過(guò)第三透鏡匯聚,匯聚光然后經(jīng)過(guò)多模光纖接收并傳輸,最后由雪崩二極管光電探測(cè)器對(duì)熒光信號(hào)進(jìn)行探測(cè);

26、所述計(jì)算機(jī)控制第一聲光調(diào)制器和第二聲光調(diào)制器調(diào)控引發(fā)劑激發(fā)光光強(qiáng)和開關(guān),控制掃描振鏡掃描光束,并對(duì)接收的熒光信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與傳輸,實(shí)現(xiàn)刻寫結(jié)構(gòu)的雙光子sted超分辨顯微成像。

27、作為優(yōu)選的,第一激光器為飛秒激光器;

28、作為優(yōu)選的,第一激光器的波長(zhǎng)可在500nm-800nm之間;

29、作為優(yōu)選的,第二激光器可為連續(xù)光激光器,或?yàn)閜s或ns激光器;

30、作為優(yōu)選的,第二激光器波長(zhǎng)可為532nm;

31、作為優(yōu)選的,多模光纖直徑選擇經(jīng)過(guò)系統(tǒng)放大后1個(gè)艾里斑直徑大小尺寸;

32、作為優(yōu)選的,掃描振鏡、掃描透鏡、場(chǎng)鏡以及第三物鏡入瞳處形成4f系統(tǒng);

33、作為優(yōu)選的,所述基底可以為蓋玻片、石英、藍(lán)寶石等透明材質(zhì),或硅片等非透明材質(zhì)。

34、本發(fā)明的第三個(gè)方面涉及應(yīng)用本發(fā)明的裝置進(jìn)行超分辨刻寫與成像的方法,具體包括如下步驟:

35、(1)第一激光器發(fā)出的激光作為引發(fā)光刻膠產(chǎn)生雙光子聚合的激發(fā)光,所述激發(fā)光經(jīng)過(guò)色散預(yù)補(bǔ)償模塊,用于壓縮飛秒激光脈沖,以補(bǔ)償后續(xù)光學(xué)元件對(duì)飛秒激光脈沖的色散展寬,所述補(bǔ)償色散后的激光再經(jīng)過(guò)第一聲光調(diào)制器對(duì)其進(jìn)行強(qiáng)度與開關(guān)控制,然后經(jīng)過(guò)第一物鏡進(jìn)行匯聚,再經(jīng)過(guò)第一針孔進(jìn)行空間濾波,濾除前序光學(xué)元件對(duì)光斑質(zhì)量造成的影響,所述第一針孔位于第一物鏡焦面處,所述濾波后的光束再經(jīng)過(guò)第一透鏡進(jìn)行準(zhǔn)直并擴(kuò)束,以保證其擴(kuò)束后光束直徑能充滿最后油浸的第三物鏡的入瞳,所述擴(kuò)束激光再經(jīng)過(guò)第一二分之一波片,以調(diào)整其線偏振方向?yàn)榇怪逼瘢?/p>

36、(2)第二激光器發(fā)出的激光作為抑制光刻膠聚合的抑制光,所述抑制光經(jīng)過(guò)第二聲光調(diào)制器對(duì)其進(jìn)行強(qiáng)度與開關(guān)控制,然后經(jīng)過(guò)第二物鏡進(jìn)行匯聚,再經(jīng)過(guò)第二針孔進(jìn)行空間濾波,濾除前序光學(xué)元件對(duì)光斑質(zhì)量造成的影響,所述第二針孔位于第二物鏡焦面處,所述濾波后的光束再經(jīng)過(guò)第二透鏡進(jìn)行準(zhǔn)直并擴(kuò)束,以保證其擴(kuò)束后光束直徑能充滿最后油浸的第三物鏡的入瞳,所述擴(kuò)束的抑制光再經(jīng)過(guò)第一反射鏡反射,然后經(jīng)過(guò)第二二分之一波片,以調(diào)整其偏振方向?yàn)樗狡瘢?/p>

37、(3)所述激發(fā)光經(jīng)過(guò)偏振合束器進(jìn)行反射,抑制光經(jīng)過(guò)偏振合束器進(jìn)行透射,實(shí)現(xiàn)激發(fā)光與抑制光的合束,所述合束光經(jīng)過(guò)第三二分之一波片,再經(jīng)過(guò)空間光調(diào)制器,改變第三二分之一波片的快慢軸,調(diào)整抑制光的偏振方向與空間光調(diào)制器的偏振方向一致,所述空間光調(diào)制器分為左右屏,左屏加載相應(yīng)相位調(diào)制激發(fā)光為實(shí)心光并調(diào)整光斑像差為最小,右屏加載相應(yīng)相位以調(diào)制抑制光為空心光,(或配合調(diào)節(jié)第三二分之一波片快慢軸方向,左右屏反過(guò)來(lái)調(diào)節(jié)光斑,即左屏調(diào)節(jié)抑制光為空心光,右屏調(diào)節(jié)激發(fā)光為實(shí)心光),所述調(diào)制后的光束經(jīng)過(guò)第四二分之一波片和四分之一波片,以使抑制光最后經(jīng)過(guò)第三物鏡后為中心暗到底的空心光斑,然后再經(jīng)過(guò)二向色鏡反射進(jìn)入掃描振鏡對(duì)激發(fā)光和抑制光進(jìn)行掃描,然后經(jīng)過(guò)掃描透鏡,再經(jīng)過(guò)第二反射鏡反射進(jìn)入到場(chǎng)鏡,所述場(chǎng)鏡將光束準(zhǔn)直成平行光入射到第三物鏡,然后再經(jīng)過(guò)第三物鏡聚焦成匯聚光入射到配置有引發(fā)劑的光刻膠上等待進(jìn)行刻寫,其中激發(fā)光在樣品面為實(shí)心光斑,抑制光為套在激發(fā)光邊緣的橫向分布或軸向分布的空心光;

38、(4)所述刻寫的模式分為兩種,第一種為在第三物鏡上方滴上油,并在第三物鏡上方放置基底(蓋玻片、石英等透明基底),再將基底放置在樣品架上,樣品架放置在高精度壓電三維位移臺(tái)上,在所述基底滴上光刻膠,光斑匯聚到基底上表面往上進(jìn)行刻寫;第二種為浸沒式刻寫模式,即在所述第三物鏡上方滴光刻膠,將所述匯聚光聚焦在基底(蓋玻片、石英等透明基底,或硅片等非透明基底)下表面,往下進(jìn)行刻寫;

39、(5)通過(guò)計(jì)算機(jī)調(diào)控第一光調(diào)制器和第二聲光調(diào)制器,實(shí)現(xiàn)激光的開關(guān)和光強(qiáng)調(diào)控,并通過(guò)計(jì)算機(jī)控制掃描振鏡以及高精度壓電三維位移臺(tái)的掃描和移動(dòng),實(shí)現(xiàn)高精度微納結(jié)構(gòu)的雙光子sted刻寫;

40、(6)將刻寫完的微納結(jié)構(gòu)完成顯影工藝,然后再將其放回到高精度壓電三維位移臺(tái)上等待對(duì)刻寫結(jié)構(gòu)進(jìn)行雙光子sted超分辨顯微成像;

41、(7)所述雙光子sted超分辨顯微成像過(guò)程中用到的激發(fā)光路和損耗光路與實(shí)現(xiàn)高精度刻寫所用的激發(fā)光路和抑制光路分別為同一光路;

42、(8)所述進(jìn)行雙光子sted超分辨顯微成像的過(guò)程也包括兩種模式:第一種為經(jīng)過(guò)第三物鏡聚焦的激發(fā)光和損耗經(jīng)過(guò)第三物鏡上方的油,再透過(guò)基底(蓋玻片等透明基底),匯聚到滴有油的基底上表面的刻寫結(jié)構(gòu)上實(shí)現(xiàn)刻寫結(jié)構(gòu)中引發(fā)劑的雙光子激發(fā)和sted損耗;第二種模式為在第三物鏡上方滴油,并把刻有結(jié)構(gòu)的基底(透鏡或非透鏡基底)朝下放置在第三物鏡上方,經(jīng)過(guò)第三物鏡聚焦的激發(fā)光和損耗光匯聚在基底下表面的刻寫結(jié)構(gòu)上實(shí)現(xiàn)雙光子激發(fā)和sted損耗;

43、(9)所述刻寫結(jié)構(gòu)中引發(fā)劑所發(fā)出的熒光經(jīng)過(guò)第三物鏡接收后,再經(jīng)過(guò)場(chǎng)鏡匯聚,再由第二反射鏡反射,然后經(jīng)過(guò)掃描透鏡,并經(jīng)過(guò)掃描振鏡實(shí)現(xiàn)解掃描,再經(jīng)過(guò)二向色鏡透射,然后經(jīng)過(guò)第三反射鏡反射,再經(jīng)過(guò)濾光片濾除激光以及環(huán)境等因素造成的雜散光,再經(jīng)過(guò)第三透鏡匯聚,匯聚光然后經(jīng)過(guò)多模光纖接收并傳輸,最后由雪崩二極管光電探測(cè)器對(duì)熒光信號(hào)進(jìn)行探測(cè);

44、(10)所述計(jì)算機(jī)輸出控制信號(hào)控制第一聲光調(diào)制器和第二聲光調(diào)制器調(diào)控引發(fā)劑激發(fā)光光強(qiáng)和開關(guān),控制掃描振鏡掃描光束,并對(duì)接收的熒光信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與傳輸,實(shí)現(xiàn)刻寫結(jié)構(gòu)的雙光子sted超分辨顯微成像。

45、本發(fā)明在光刻膠中加入光引發(fā)劑,利用其雙光子吸收效應(yīng)與受激損耗效應(yīng),可以實(shí)現(xiàn)雙光子sted高精度微納結(jié)構(gòu)激光直寫;同時(shí),利用其本身的熒光發(fā)光特性,進(jìn)一步地利用其雙光子吸收特性和受激損耗(sted)特性,可以對(duì)所刻寫的結(jié)構(gòu)進(jìn)行雙光子sted超分辨顯微成像。本發(fā)明利用引發(fā)劑的雙光子與sted效應(yīng),可同時(shí)實(shí)現(xiàn)超分辨刻寫與成像,相比于在光刻膠中額外摻雜熒光染料進(jìn)行超分辨顯微成像的方式,本發(fā)明簡(jiǎn)化了光刻膠的成分。此外,在刻寫與成像中可分別利用相同的激發(fā)光與損耗光,因此可在一個(gè)光學(xué)系統(tǒng)中同時(shí)實(shí)現(xiàn)高精度刻寫與超分辨成像,通過(guò)刻寫與成像的激發(fā)光和損耗光光路進(jìn)行復(fù)用,可有效簡(jiǎn)化系統(tǒng)復(fù)雜性。

46、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下有益的技術(shù)效果:

47、(1)利用光刻膠中的光引發(fā)劑,在實(shí)現(xiàn)雙光子sted高精度納米結(jié)構(gòu)刻寫的同時(shí),可以利用其熒光發(fā)光特性,特別的利用其雙光子激發(fā)和受激輻射損耗特性,實(shí)現(xiàn)對(duì)刻寫結(jié)構(gòu)的雙光子sted超分辨光學(xué)顯微成像,無(wú)需在光刻膠中摻雜染料,簡(jiǎn)化了光刻膠的成分復(fù)雜性,減小了摻雜對(duì)光刻膠化學(xué)性能的影響;

48、(2)成像過(guò)程所用的雙光子激發(fā)和損耗光與刻寫用的雙光子聚合激發(fā)光與抑制光分別為相同的光路,實(shí)現(xiàn)刻寫與成像激發(fā)光路的復(fù)用,簡(jiǎn)化了系統(tǒng),使系統(tǒng)更加緊湊簡(jiǎn)單。

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