本發(fā)明涉及測試圖卡設計領域,特別涉及一種解析度測試圖卡和超廣角鏡頭的解析度測試方法。
背景技術:
目前,比較常用的解析度測試圖卡為ISO12233圖卡和SFR(Spatial Frequency Response,空間頻率響應)圖卡,參考圖1a和圖1b所示,其中圖1a為ISO12233圖卡的示意圖,圖1b為SFR圖卡示意圖。
常規(guī)的解析度測試方法為,將圖1a中的ISO12233圖卡或圖1b中的SFR圖卡粘貼在平面面板上,參考圖2,將攝像機放置在離平面面板一定距離的位置,利用攝像機拍攝平面面板上的圖卡,然后利用各種算法對照片進行分析,計算攝像機鏡頭的解析度。
但上述兩種圖卡都適用于視場角小于120°的攝像機鏡頭,當鏡頭視場角大于150°時,平面圖卡需要很龐大的面積,測試環(huán)境很難搭建;當鏡頭視場角大于180°時,圖卡粘貼在平面上,無論面積多大,都已無法測試到所有視場。并且鏡頭視場角大于150°時,攝像機鏡頭存在很大畸變,如圖3a和圖3b所示,拍攝得到的圖片帶有很大的變形,在計算解析度過程中會產(chǎn)生較大的誤差,影響測試結(jié)果。
技術實現(xiàn)要素:
本發(fā)明提供了一種解析度測試圖卡和超廣角鏡頭的解析度測試方法,以解決利用現(xiàn)有測試圖卡測試超廣角鏡頭時,測試環(huán)境難以搭建,基于由于鏡頭畸變大導致的獲得測試圖像變形嚴重,影響測試結(jié)果的精度的問題。
為達到上述目的,本發(fā)明的技術方案是這樣實現(xiàn)的:
一方面,本發(fā)明提供了一種解析度測試圖卡,包括下端具有開口的球面罩,球面罩內(nèi)表面上設置有若干水平測試條紋和若干豎直測試條紋;
水平測試條紋沿著球面罩的水平方向延伸,從球面罩的頂點向開口處分布,形成第一測試區(qū)域,水平測試條紋在水平面上的投影為同心圓環(huán);
豎直測試條紋沿著球面罩的豎直方向分布,從開口的一側(cè)延伸經(jīng)過球面罩的頂部到達開口相對的一側(cè),形成第二測試區(qū)域,第二測試區(qū)域居中分布在球面罩的內(nèi)表面,豎直測試條紋覆蓋與其交叉的水平測試條紋,且豎直測試條紋在水平面上的投影為相互平行的直條。
另一方面,本發(fā)明還提供了一種超廣角鏡頭的解析度測試方法,該方法包括:
采用上述技術方案中的解析度測試圖卡;
將待測量的超廣角鏡頭朝向解析度測試圖卡的球面罩內(nèi)表面設置,并且將待測量的超廣角鏡頭的光學中心設置在球面罩的球心上;
使超廣角鏡頭拍攝測試區(qū)域,得到測試圖像;
利用得到的測試圖像檢測所述超廣角魚眼鏡頭的解析度。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過采用球面罩形狀的測試圖卡,減少測量大視場角鏡頭解析度時所需測試圖卡的尺寸,便于搭建測試場景;并且針對畸變具有相對圖像中心徑向伸縮變形的特征,本發(fā)明通過在球面罩內(nèi)表面設置水平測試條紋和豎直測試條紋,保證在測試大畸變鏡頭的解析度時,所得到的測試圖像中的條紋基本樣式不變,提高測試精度。
附圖說明
圖1a為ISO12233圖卡的示意圖;
圖1b為SFR圖卡示意圖;
圖2為現(xiàn)有技術中攝像機與測試圖卡位置關系示意圖;
圖3a為利用超廣角鏡頭拍攝圖1a中的圖卡所得到圖片;
圖3b為利用超廣角鏡頭拍攝圖1b中的圖卡所得到圖片;
圖4為一種現(xiàn)有測試條紋;
圖5為畸變很大的廣角鏡頭拍攝圖4得到的圖像;
圖6為本發(fā)明實施例提供的解析度測試圖卡的仰視圖;
圖7為本發(fā)明實施例提供的解析度測試圖卡的側(cè)視圖;
圖8為本發(fā)明實施例提供的超廣角鏡頭的解析度測試方法流程圖。
具體實施方式
為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚,下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施方式作進一步地詳細描述。
圖4為一種現(xiàn)有測試條紋,圖5為畸變很大的廣角鏡頭拍攝圖4得到的圖像,對比文件圖4和圖5,可以看出,圖5圖像中的條紋具有較大變形,尤其是圖像邊緣部分的條紋扭曲較為嚴重,利用圖5這種圖像檢測鏡頭的解析度,測試結(jié)果并可靠性差。
分析圖5可知,大畸變鏡頭拍攝平面測試圖卡時,拍攝得到的測試圖像具有圖像中心徑向伸縮變形的特征,針對該特征,本實施例通過設置球面罩形狀的解析度測試圖卡,并在球面罩內(nèi)表面上設置水平測試條紋和豎直測試條紋來克服測試圖像中心徑向伸縮變形的問題。
圖6為本發(fā)明實施例提供的解析度測試圖卡的仰視圖,圖7為本發(fā)明實施例提供的解析度測試圖卡的側(cè)視圖。
參考圖6和圖7,本實施例的解析度測試圖卡,包括下端具有開口的球面罩,球面罩內(nèi)表面上設置有若干水平測試條紋1和若干豎直測試條紋2;
水平測試條紋1沿著球面罩的水平方向延伸,從球面罩的頂點O向開口處分布,形成第一測試區(qū)域A,水平測試條紋1在水平面上的投影為同心圓環(huán);
豎直測試條紋2沿著球面罩的豎直方向分布,從開口的一側(cè)延伸經(jīng)過球面罩的頂部O到達開口相對的一側(cè),形成第二測試區(qū)域B1,B2,第二測試區(qū)域B1,B2居中在球面罩的內(nèi)表面,豎直測試條紋2覆蓋與其交叉的水平測試條紋1,且豎直測試條紋2在水平面上的投影為相互平行的直條。
需要說明的是,本實施例中“第二測試區(qū)域居中在球面罩的內(nèi)表面”可以理解為第二測試區(qū)域的中心線經(jīng)過球面罩的頂點。示例性地,參考圖4,以第二測試區(qū)域B1為例,該第二測試區(qū)域B1包括5條豎直測試條紋,則中間位置的豎直測試條紋(即第3條豎直測試條紋)經(jīng)過球面罩的頂點O。
本實施例通過采用球面罩形狀的測試圖卡,減少測量大視場角鏡頭解析度時所需測試圖卡的尺寸,便于搭建測試場景;并且針對畸變具有相對圖像中心徑向伸縮變形的特征,本實施例通過在球面罩內(nèi)表面設置水平測試條紋和豎直測試條紋,保證在測試大畸變鏡頭的解析度時,所得到的測試圖像中的條紋基本樣式不變,提高測試精度。
為了提高鏡頭解析度測試結(jié)果的精度,在本實施例的一個優(yōu)選方案中,球面罩內(nèi)表面上設置有兩個以上的第二測試區(qū)域,球面罩內(nèi)表面上還設置有空白區(qū)域,空白區(qū)域覆蓋兩個以上的第二測試區(qū)域的交叉區(qū)域,且空白區(qū)域在水平面上的投影為圓形。
示例性地,以在球面罩內(nèi)表面上設置兩個第二測試區(qū)域為例進行說明,如圖6所述,圖6中的球面罩內(nèi)表面上設置兩個第二測試區(qū)域B1、B2,和一個空白區(qū)域C,空白區(qū)域C在水平面上的投影為圓形,空白區(qū)域C覆蓋兩個第二測試區(qū)域B1,B2的交叉區(qū)域。
需要說明的是,圖6示例性地示出兩個第二測試區(qū)域均勻分布在球面罩的內(nèi)表面上,在設計時,兩個第二測試區(qū)域也可分散分布在球面罩的內(nèi)表面,只要每個第二測試區(qū)域居中在球面罩的內(nèi)表面即可。
本實施例中的空白區(qū)域內(nèi)還設置有第三測試區(qū)域,第三測試區(qū)域由若干個形狀相同的子區(qū)域組成,每個子區(qū)域內(nèi)設置有若干短測試條紋;其中,第三測試區(qū)域及其各個子區(qū)域在水平面上的投影均為矩形,每個子區(qū)域內(nèi)的短測試條紋在水平面上的投影為直條,且相鄰子區(qū)域的短測試條紋在水平面上的投影相互垂直。
參考圖6和圖7,示例性地第三測試區(qū)域D由四個形狀相同的子區(qū)域組成,第三測試區(qū)域D及其各個子區(qū)域在水平面上的投影均為矩形,每個子區(qū)域內(nèi)設置有若干短測試條紋3,每個子區(qū)域內(nèi)的短測試條紋3在水平面上的投影為直條,且相鄰子區(qū)域的短測試條紋3在水平面上的投影相互垂直。
需要說明的是,本實施例中上述的水平測試條紋1、豎直測試條紋2和短測試條紋3的寬度,以及相鄰測試條紋的間距可以根據(jù)待測試鏡頭解析度的精度和球面罩尺寸確定,本實施例優(yōu)選地,上述各測試條紋的寬度相同,每個測試區(qū)域內(nèi)相鄰測試條紋的間距相同,以便于分析測試圖像,降低鏡頭解析度的計算復雜度。
進一步需要說明的是,本實施例不限定測試條紋的顏色,測試條紋可為黑白間隔條紋,也可為黑紅等具有明顯對比度的間隔條紋。本實施例中的球面罩透光或不透光,在制作過程中可以采用玻璃、塑料或鐵等材料制造球面罩。
圖8為本發(fā)明實施例提供的超廣角鏡頭的解析度測試方法流程圖,該方法包括:
S800,采用上述實施例提供的解析度測試圖卡。
S820,將待測量的超廣角鏡頭朝向解析度測試圖卡的球面罩內(nèi)表面設置,并且將待測量的超廣角鏡頭的光學中心設置在球面罩的球心上。
S840,使用超廣角鏡頭拍攝測試區(qū)域,得到測試圖像;
S860,利用得到的測試圖像檢測超廣角魚眼鏡頭的解析度。
在實際檢測時,可以利用相關軟件分析測試圖像上測試條紋的亮度差異計算超廣角魚眼鏡頭的解析度。
其中,本實施例中的超廣角鏡頭的視場角大于或等于150°。
本實施例利用球面罩形狀的測試圖卡作為超廣角鏡頭的解析度測試圖像,能夠減少測量大視場角鏡頭解析度時所需測試圖卡的尺寸,便于搭建測試場景;并且本實施例通過采用內(nèi)表面設置有水平測試條紋和豎直測試條紋,保證鏡頭在畸變較大的情況下,拍攝得到的測試圖像中的條紋基本樣式不變,提高測試精度。
為了便于清楚描述本發(fā)明實施例的技術方案,在發(fā)明的實施例中,采用了“第一”、“第二”等字樣對功能和作用基本相同的相同項或相似項進行區(qū)分,本領域技術人員可以理解“第一”、“第二”等字樣并不對數(shù)量和執(zhí)行次序進行限定。
以上所述,僅為本發(fā)明的具體實施方式,在本發(fā)明的上述教導下,本領域技術人員可以在上述實施例的基礎上進行其他的改進或變形。本領域技術人員應該明白,上述的具體描述只是更好的解釋本發(fā)明的目的,本發(fā)明的保護范圍應以權(quán)利要求的保護范圍為準。